JP3370389B2 - 視力検査装置 - Google Patents
視力検査装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、外乱光の影響を極力低
減して視力検査精度の向上を図ることができる視力検査
装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】従来から、視力検査装置には、筺体内に
視標と凹面鏡とを設置すると共に、この視標と凹面鏡と
の間に半透鏡を介在させ、半透鏡を透過させて視標を凹
面鏡に投影し、凹面鏡に投影された視標を半透鏡により
反射させて、視標の像を被検者に呈示するものが知られ
ている。 【０００３】この従来の視力検査装置では、視標と半透
鏡との間でかつ視標の近傍に偏光板が視標照明光学系の
光路に進退可能に設けられている。 【０００４】両眼視機能の検査においては、被検者は偏
光メガネを装用してあるいはビジョンテスター等の偏光
レンズを装用して検査を受けることになっている。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
視力検査装置では、蛍光灯等の外乱光が筺体内に入射
し、この外乱光が半透鏡により反射されて凹面鏡に導か
れ、この凹面鏡により反射された外乱光が再び半透鏡に
より反射されて、被検者に向かって出射される。 【０００６】このため、被検者は呈示された視標を視認
する際に、外乱光の影響を受けることになり、従来の視
力検査装置では、半透鏡の透過率Ｔと反射率Ｒとの比率
が５：５に設定されているので、外乱光の入射光量を１
とすると、半透鏡による２回反射により、その外乱光の
１／４の光量が戻ってくる（凹面鏡の反射率を考慮から
除く）ことになり、外乱光の影響が極めて大きい。 【０００７】一方、半透鏡の透過率と反射率との比率を
異ならせることにすると、両眼視機能検査に支障が生じ
るおそれがある。 【０００８】 【０００９】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、両眼視機能検査に支障を生じることなく外乱光の
影響を極力低減して視力検査精度の向上を図ることがで
きる視力検査装置を提供することを目的とする。 【００１０】 【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に記載
の視力検査装置は、筐体内に視標と凹面鏡とを設置する
と共に、前記視標と前記凹面鏡との間に半透鏡を介在さ
せ、前記半透鏡を透過させて前記視標を前記凹面鏡に投
影し、該凹面鏡に投影された視標を前記半透鏡により反
射させて、視標の像を被検者に呈示する視力検査装置に
おいて、前記半透鏡の可視光に対する反射率値がその透
過率値よりも小さくされ、前記視標と前記半透鏡との間
に偏光板が介在され、該偏光板の偏光軸と被検者が装用
する偏光メガネの偏光軸又はビジョンテスターの偏光軸
とが前記半透鏡の反射率値と透過率値との差異に基づく
偏光方向のずれに対応して相対的にずらされていること
を特徴とする。 【００１１】 【作用】本発明に係わる視力検査装置によれば、視標は
半透鏡を透過して凹面鏡に投影される。凹面鏡はその視
標を半透鏡に向けて反射する。視標はその半透鏡の反射
により被検者に呈示される。外乱光の影響による見えに
くさを解消するために、半透鏡の可視光に対する透過率
値と反射率値とを異ならせた場合、両眼視機能検査に支
障が生じるおそれがあるが、本発明によれば、偏光板の
偏光軸又は被検者が装用する偏光レンズの偏光軸とを半
透鏡の反射率値と透過率値との差異に基づく偏光方向の
ずれに対応してずらしてあるので、両眼視機能検査に支
障が生じるのを防止できる。 【００１２】 【００１３】 【実施例】以下に、本発明に係わる視力検査装置の実施
例を図面を参照しつつ説明する。 【００１４】図１において、１は筺体である。この筺体
１の内部は暗箱となっている。この筺体１には視標照明
光学系２と凹面鏡３とが設けられている。視標照明光学
系２は光源４、コンデンサレンズ５、拡散板６、視標
７、偏光板８が設けられている。 【００１５】拡散板６は照明光をやわらげるために使用
され、視標７は拡散板６を介して照明される。視標７に
は複数種のものが準備され、図２はその一例としてのラ
ンドルト環チャートである。 【００１６】視標照明光学系２には視標７が選択して挿
入される。偏光板８は視標７の近傍に設けられている。
この偏光板８は両眼視機能検査のときに視標照明光学系
２の光路に挿入される。その偏光板８の設計については
後述する。 【００１７】凹面鏡３と視標照明光学系２との間には、
半透鏡９が照明光学系２の光軸Ｏに対して４５度の角度
で配置されている。この半透鏡９は平行平面ガラス板に
誘電体膜を付着することにより形成される。この半透鏡
９はその透過率と反射率との比率が約７：３になるよう
に設計されている。 【００１８】視標７は符号Ｐ１で示すように半透鏡９を
透過して凹面鏡３に投影され、この凹面鏡３により反射
されて符号Ｐ２で示すように再び半透鏡９に向けられ、
この半透鏡９により符号Ｐ３で示すように被検者の左眼
Ｅ１、右眼Ｅ２が存在する方向に反射される。これによ
り、被検者に視標７の像７´が呈示されることになる。
その像７´の呈示位置はこの実施例では被検者の前方約
５ｍの位置である。 【００１９】外乱光は符号Ｐ４で示すように筺体１内に
入射して半透鏡９により反射されて凹面鏡３に導かれ
る。この凹面鏡３により反射された外乱光は符号Ｐ５で
示すように半透鏡９により反射されて被検者に向かうこ
とになるが、半透鏡９の反射率が０．３であるので、半
透鏡９の２回反射により、外乱光Ｐ４の入射時の光量に
対して出射時の光量が約１０分の１（０．０９）程度と
なり、半透鏡９の透過率Ｔに対して反射率Ｒの比率を小
さく設定することにより、外乱光Ｐ４の影響を極力少な
くすることができる。 【００２０】すなわち、半透鏡９の反射率を０．５に設
計した従来の場合に較べて、この実施例では、（０．
３）2／（０．５）2＝０．３６であり、従来に較べて外
乱光Ｐ４の影響を約２．８分の１に減少させることがで
きる。 【００２１】両眼視機能検査を行うときには、被検者は
ビジョンテスターあるいは偏光メガネを装用して視標７
の像７´を視認する。図３において、符号１０は偏光メ
ガネである。この偏光メガネ１０の偏光レンズ１０ａは
右４５度の偏光軸１１を有し、偏光レンズ１０ｂは左４
５度の偏光軸１２を有する。 【００２２】半透鏡９の透過率Ｔと反射率Ｒとの比が
５：５である場合には、以下に説明する理由により、図
４に示すように偏光板８の偏光レンズ１０ａに対応する
半分８ａの偏光軸１３を右４５度に設計し、偏光板８の
偏光レンズ１０ｂに対応する半分８ｂの偏光軸１４を左
４５度に設計すれば、左眼Ｅ１は視標７ａの像のみを視
認でき、右眼Ｅ２は視標７ｂの像のみを視認でき、両眼
視機能検査に支障は生じない。 【００２３】すなわち、半透鏡９の透過率Ｔと反射率Ｒ
との比が５：５の場合には、Ｐ成分の透過振幅Ｔｐ、Ｓ
成分の透過振幅Ｔｓ、Ｐ成分の反射振幅Ｒｐ、Ｓ成分の
反射振幅Ｒｓは概略以下のごとくになる。 【００２４】Ｔｐ＝０．５８、Ｔｓ＝０．４２、Ｒｐ＝
０．４２、Ｒｓ＝０．５８ 従って、Ｐ成分の透過反射振幅は（０．５８×０．４
２）1/2となり、Ｓ成分の透過反射振幅は（０．４２×
０．５８）1/2となり、Ｐ成分の振幅、Ｓ成分の振幅と
も同量となるので、半透鏡９を透過反射した視標照明光
の偏光軸１３、１４の回転はなく、垂直水平に対して４
５度の角度を保ったまま、視標照明光が左眼Ｅ１、右眼
Ｅ２に達することになる。 【００２５】これに対して、半透鏡９の透過率Ｔと反射
率Ｒとの比が７：３の場合には、Ｐ成分の透過振幅Ｔ
ｐ、Ｓ成分の透過振幅Ｔｓ、Ｐ成分の反射振幅Ｒｐ、Ｓ
成分の反射振幅Ｒｓは概略以下のごとくになる。 【００２６】Ｔｐ＝０．８３、Ｔｓ＝０．５７、Ｒｐ＝
０．１７、Ｒｓ＝０．４３ 従って、半透鏡９を透過反射した視標照明光のＰ成分の
振幅とＳ成分の振幅との量が異なり、その比により偏光
軸は tan-1（（Ｔｐ×Ｒｐ）1/2／（Ｔｓ×Ｒｓ）1/2）＝ ＝tan-1（（０．１４１）1/2／（０．２４５）1/2）〜
３７．２°となり、レンズ１０ａ、１０ｂの４５°の偏
光軸１１、１２に対してそれぞれ７．８°ずつずれるこ
とになる。 【００２７】従って、偏光板８の偏光軸１３、１４を４
５度に設計すると、両眼視機能検査に支障を生じること
になる。 【００２８】そこで、図４に示すように、偏光板８の偏
光軸１３、１４が破線で示すように偏光レンズ１０ａ、
１０ｂの偏光軸１１、１２に対して半透鏡９の反射率値
と透過率値との差異に基づき４５°から約７．８度だけ
あらかじめずらされている。 【００２９】このように偏光板８の偏光軸１３、１４を
設計すると、視標の半透鏡９の透過、反射により偏光レ
ンズ１０ａ、１０ｂの偏光軸１１、１２の方向と一致
し、従って、従来通り左眼Ｅ１は視標７ａの像のみを視
認でき、右眼Ｅ２は視標７ｂの像のみを視認できる。 【００３０】なお、偏光板８の偏光軸１３、１４をずら
す代わりに被検者が装用する偏光メガネ１０の偏光軸１
１、１２又はビジョンテスター等の偏光軸をずらしてお
いてもよい。 【００３１】 【効果】本発明は、以上説明したように構成したので、
両眼視機能検査に支障を生じることなく外乱光の影響を
極力低減して視力検査精度の向上を図ることができると
いう効果を奏する。
減して視力検査精度の向上を図ることができる視力検査
装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】従来から、視力検査装置には、筺体内に
視標と凹面鏡とを設置すると共に、この視標と凹面鏡と
の間に半透鏡を介在させ、半透鏡を透過させて視標を凹
面鏡に投影し、凹面鏡に投影された視標を半透鏡により
反射させて、視標の像を被検者に呈示するものが知られ
ている。 【０００３】この従来の視力検査装置では、視標と半透
鏡との間でかつ視標の近傍に偏光板が視標照明光学系の
光路に進退可能に設けられている。 【０００４】両眼視機能の検査においては、被検者は偏
光メガネを装用してあるいはビジョンテスター等の偏光
レンズを装用して検査を受けることになっている。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
視力検査装置では、蛍光灯等の外乱光が筺体内に入射
し、この外乱光が半透鏡により反射されて凹面鏡に導か
れ、この凹面鏡により反射された外乱光が再び半透鏡に
より反射されて、被検者に向かって出射される。 【０００６】このため、被検者は呈示された視標を視認
する際に、外乱光の影響を受けることになり、従来の視
力検査装置では、半透鏡の透過率Ｔと反射率Ｒとの比率
が５：５に設定されているので、外乱光の入射光量を１
とすると、半透鏡による２回反射により、その外乱光の
１／４の光量が戻ってくる（凹面鏡の反射率を考慮から
除く）ことになり、外乱光の影響が極めて大きい。 【０００７】一方、半透鏡の透過率と反射率との比率を
異ならせることにすると、両眼視機能検査に支障が生じ
るおそれがある。 【０００８】 【０００９】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、両眼視機能検査に支障を生じることなく外乱光の
影響を極力低減して視力検査精度の向上を図ることがで
きる視力検査装置を提供することを目的とする。 【００１０】 【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に記載
の視力検査装置は、筐体内に視標と凹面鏡とを設置する
と共に、前記視標と前記凹面鏡との間に半透鏡を介在さ
せ、前記半透鏡を透過させて前記視標を前記凹面鏡に投
影し、該凹面鏡に投影された視標を前記半透鏡により反
射させて、視標の像を被検者に呈示する視力検査装置に
おいて、前記半透鏡の可視光に対する反射率値がその透
過率値よりも小さくされ、前記視標と前記半透鏡との間
に偏光板が介在され、該偏光板の偏光軸と被検者が装用
する偏光メガネの偏光軸又はビジョンテスターの偏光軸
とが前記半透鏡の反射率値と透過率値との差異に基づく
偏光方向のずれに対応して相対的にずらされていること
を特徴とする。 【００１１】 【作用】本発明に係わる視力検査装置によれば、視標は
半透鏡を透過して凹面鏡に投影される。凹面鏡はその視
標を半透鏡に向けて反射する。視標はその半透鏡の反射
により被検者に呈示される。外乱光の影響による見えに
くさを解消するために、半透鏡の可視光に対する透過率
値と反射率値とを異ならせた場合、両眼視機能検査に支
障が生じるおそれがあるが、本発明によれば、偏光板の
偏光軸又は被検者が装用する偏光レンズの偏光軸とを半
透鏡の反射率値と透過率値との差異に基づく偏光方向の
ずれに対応してずらしてあるので、両眼視機能検査に支
障が生じるのを防止できる。 【００１２】 【００１３】 【実施例】以下に、本発明に係わる視力検査装置の実施
例を図面を参照しつつ説明する。 【００１４】図１において、１は筺体である。この筺体
１の内部は暗箱となっている。この筺体１には視標照明
光学系２と凹面鏡３とが設けられている。視標照明光学
系２は光源４、コンデンサレンズ５、拡散板６、視標
７、偏光板８が設けられている。 【００１５】拡散板６は照明光をやわらげるために使用
され、視標７は拡散板６を介して照明される。視標７に
は複数種のものが準備され、図２はその一例としてのラ
ンドルト環チャートである。 【００１６】視標照明光学系２には視標７が選択して挿
入される。偏光板８は視標７の近傍に設けられている。
この偏光板８は両眼視機能検査のときに視標照明光学系
２の光路に挿入される。その偏光板８の設計については
後述する。 【００１７】凹面鏡３と視標照明光学系２との間には、
半透鏡９が照明光学系２の光軸Ｏに対して４５度の角度
で配置されている。この半透鏡９は平行平面ガラス板に
誘電体膜を付着することにより形成される。この半透鏡
９はその透過率と反射率との比率が約７：３になるよう
に設計されている。 【００１８】視標７は符号Ｐ１で示すように半透鏡９を
透過して凹面鏡３に投影され、この凹面鏡３により反射
されて符号Ｐ２で示すように再び半透鏡９に向けられ、
この半透鏡９により符号Ｐ３で示すように被検者の左眼
Ｅ１、右眼Ｅ２が存在する方向に反射される。これによ
り、被検者に視標７の像７´が呈示されることになる。
その像７´の呈示位置はこの実施例では被検者の前方約
５ｍの位置である。 【００１９】外乱光は符号Ｐ４で示すように筺体１内に
入射して半透鏡９により反射されて凹面鏡３に導かれ
る。この凹面鏡３により反射された外乱光は符号Ｐ５で
示すように半透鏡９により反射されて被検者に向かうこ
とになるが、半透鏡９の反射率が０．３であるので、半
透鏡９の２回反射により、外乱光Ｐ４の入射時の光量に
対して出射時の光量が約１０分の１（０．０９）程度と
なり、半透鏡９の透過率Ｔに対して反射率Ｒの比率を小
さく設定することにより、外乱光Ｐ４の影響を極力少な
くすることができる。 【００２０】すなわち、半透鏡９の反射率を０．５に設
計した従来の場合に較べて、この実施例では、（０．
３）2／（０．５）2＝０．３６であり、従来に較べて外
乱光Ｐ４の影響を約２．８分の１に減少させることがで
きる。 【００２１】両眼視機能検査を行うときには、被検者は
ビジョンテスターあるいは偏光メガネを装用して視標７
の像７´を視認する。図３において、符号１０は偏光メ
ガネである。この偏光メガネ１０の偏光レンズ１０ａは
右４５度の偏光軸１１を有し、偏光レンズ１０ｂは左４
５度の偏光軸１２を有する。 【００２２】半透鏡９の透過率Ｔと反射率Ｒとの比が
５：５である場合には、以下に説明する理由により、図
４に示すように偏光板８の偏光レンズ１０ａに対応する
半分８ａの偏光軸１３を右４５度に設計し、偏光板８の
偏光レンズ１０ｂに対応する半分８ｂの偏光軸１４を左
４５度に設計すれば、左眼Ｅ１は視標７ａの像のみを視
認でき、右眼Ｅ２は視標７ｂの像のみを視認でき、両眼
視機能検査に支障は生じない。 【００２３】すなわち、半透鏡９の透過率Ｔと反射率Ｒ
との比が５：５の場合には、Ｐ成分の透過振幅Ｔｐ、Ｓ
成分の透過振幅Ｔｓ、Ｐ成分の反射振幅Ｒｐ、Ｓ成分の
反射振幅Ｒｓは概略以下のごとくになる。 【００２４】Ｔｐ＝０．５８、Ｔｓ＝０．４２、Ｒｐ＝
０．４２、Ｒｓ＝０．５８ 従って、Ｐ成分の透過反射振幅は（０．５８×０．４
２）1/2となり、Ｓ成分の透過反射振幅は（０．４２×
０．５８）1/2となり、Ｐ成分の振幅、Ｓ成分の振幅と
も同量となるので、半透鏡９を透過反射した視標照明光
の偏光軸１３、１４の回転はなく、垂直水平に対して４
５度の角度を保ったまま、視標照明光が左眼Ｅ１、右眼
Ｅ２に達することになる。 【００２５】これに対して、半透鏡９の透過率Ｔと反射
率Ｒとの比が７：３の場合には、Ｐ成分の透過振幅Ｔ
ｐ、Ｓ成分の透過振幅Ｔｓ、Ｐ成分の反射振幅Ｒｐ、Ｓ
成分の反射振幅Ｒｓは概略以下のごとくになる。 【００２６】Ｔｐ＝０．８３、Ｔｓ＝０．５７、Ｒｐ＝
０．１７、Ｒｓ＝０．４３ 従って、半透鏡９を透過反射した視標照明光のＰ成分の
振幅とＳ成分の振幅との量が異なり、その比により偏光
軸は tan-1（（Ｔｐ×Ｒｐ）1/2／（Ｔｓ×Ｒｓ）1/2）＝ ＝tan-1（（０．１４１）1/2／（０．２４５）1/2）〜
３７．２°となり、レンズ１０ａ、１０ｂの４５°の偏
光軸１１、１２に対してそれぞれ７．８°ずつずれるこ
とになる。 【００２７】従って、偏光板８の偏光軸１３、１４を４
５度に設計すると、両眼視機能検査に支障を生じること
になる。 【００２８】そこで、図４に示すように、偏光板８の偏
光軸１３、１４が破線で示すように偏光レンズ１０ａ、
１０ｂの偏光軸１１、１２に対して半透鏡９の反射率値
と透過率値との差異に基づき４５°から約７．８度だけ
あらかじめずらされている。 【００２９】このように偏光板８の偏光軸１３、１４を
設計すると、視標の半透鏡９の透過、反射により偏光レ
ンズ１０ａ、１０ｂの偏光軸１１、１２の方向と一致
し、従って、従来通り左眼Ｅ１は視標７ａの像のみを視
認でき、右眼Ｅ２は視標７ｂの像のみを視認できる。 【００３０】なお、偏光板８の偏光軸１３、１４をずら
す代わりに被検者が装用する偏光メガネ１０の偏光軸１
１、１２又はビジョンテスター等の偏光軸をずらしてお
いてもよい。 【００３１】 【効果】本発明は、以上説明したように構成したので、
両眼視機能検査に支障を生じることなく外乱光の影響を
極力低減して視力検査精度の向上を図ることができると
いう効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係わる視力検査装置の全体構成を示す
図である。 【図２】図１に示す視標の一例を示す図である。 【図３】偏光メガネの説明図である。 【図４】偏光板の偏光軸の説明図である。 【符号の説明】 １…筺体 ３…凹面鏡 ７…視標 ８…偏光板 ９…半透鏡 １０…偏光メガネ １０ａ、１０ｂ…偏光レンズ １１〜１４…偏光軸
図である。 【図２】図１に示す視標の一例を示す図である。 【図３】偏光メガネの説明図である。 【図４】偏光板の偏光軸の説明図である。 【符号の説明】 １…筺体 ３…凹面鏡 ７…視標 ８…偏光板 ９…半透鏡 １０…偏光メガネ １０ａ、１０ｂ…偏光レンズ １１〜１４…偏光軸
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
A61B 3/00 - 3/18
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 筐体内に視標と凹面鏡とを設置すると共
に、前記視標と前記凹面鏡との間に半透鏡を介在させ、
前記半透鏡を透過させて前記視標を前記凹面鏡に投影
し、該凹面鏡に投影された視標を前記半透鏡により反射
させて、視標の像を被検者に呈示する視力検査装置にお
いて、 前記半透鏡の可視光に対する反射率値がその透過率値よ
りも小さくされ、前記視標と前記半透鏡との間に偏光板
が介在され、該偏光板の偏光軸と被検者が装用する偏光
メガネの偏光軸又はビジョンテスターの偏光軸とが前記
半透鏡の反射率値と透過率値との差異に基づく偏光方向
のずれに対応して相対的にずらされていることを特徴と
する視力検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20400293A JP3370389B2 (ja) | 1993-08-18 | 1993-08-18 | 視力検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20400293A JP3370389B2 (ja) | 1993-08-18 | 1993-08-18 | 視力検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0751228A JPH0751228A (ja) | 1995-02-28 |
| JP3370389B2 true JP3370389B2 (ja) | 2003-01-27 |
Family
ID=16483153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20400293A Expired - Fee Related JP3370389B2 (ja) | 1993-08-18 | 1993-08-18 | 視力検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3370389B2 (ja) |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2463606B1 (fr) * | 1979-08-22 | 1986-04-11 | Essilor Int | Dispositif pour le controle de la phorie d'un individu en vision rapprochee |
| JPS5815128A (ja) * | 1981-07-22 | 1983-01-28 | オクルス・オプテイクゲレ−テ・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 薄明視および眩光感度の検査装置 |
| JPS61196933A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-09-01 | キヤノン株式会社 | 視力計 |
| DE9017409U1 (de) * | 1990-12-22 | 1991-04-25 | Oculus Optikgeräte GmbH, 6330 Wetzlar | Einrichtung für Sehtests |
| JPH06165756A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-06-14 | Nidek Co Ltd | 検眼装置 |
| JP2972044B2 (ja) * | 1992-11-12 | 1999-11-08 | 株式会社トプコン | 視力表表示装置 |
-
1993
- 1993-08-18 JP JP20400293A patent/JP3370389B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0751228A (ja) | 1995-02-28 |
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