JP2009186338A - 欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査対象となる物体の一部又は全ての輪郭線を含む画像から複数のエッジ点を検出する。所定の大きさの参照範囲内に存在する複数のエッジ点を代表する代表エッジ点を、参照範囲を順次移動させつつ、前記参照範囲の各移動位置にて算出する。算出された複数の代表エッジ点と対応するエッジ点との残差を算出し、算出された残差に基づいて欠陥の位置及び大きさを特定する。残差に重み付けをし、代表エッジ点を繰り返し算出して、擬似近似曲線(代表エッジ点列)を求める。
【選択図】図2
Description
図1は、本発明の実施の形態1に係る欠陥検出装置の構成を模式的に示すブロック図である。図1に示すように本実施の形態1に係る欠陥検出装置は、多値画像を撮像する撮像手段であるカメラ1及び撮像された多値画像又は生成された画像を表示する表示装置3に接続されている。
本発明の実施の形態2に係る欠陥検出装置の構成は、実施の形態1と同様であることから、同一の符号を付することにより詳細な説明は省略する。本実施の形態2では、残差に基づいて各エッジ点に重み付けを行い、該重み付けに基づいて代表エッジ点列を算出する点で実施の形態1と相違する。
2 欠陥検出装置
3 表示装置
4 可搬型記録媒体
5 コンピュータプログラム
21 主制御部
22 RAM
23 記憶手段
24 入力手段
25 出力手段
26 通信手段
27 補助記憶手段
28 内部バス
Claims (13)
- 検査対象となる物体の輪郭線を含む画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出装置において、
検査対象となる物体の一部又は全ての輪郭線を含む画像から複数のエッジ点を検出するエッジ点検出手段と、
予め定められた所定の幅の参照範囲内に存在する複数の前記エッジ点を代表する代表エッジ点を、前記参照範囲を順次移動させつつ、前記参照範囲の各移動位置にて算出する代表エッジ点算出手段と、
算出された複数の代表エッジ点と対応するエッジ点との残差を算出する残差算出手段と、
算出された残差に基づいて欠陥の位置及び大きさを特定する欠陥特定手段と
を備えることを特徴とする欠陥検出装置。 - 前記エッジ点検出手段で検出されたすべてのエッジ点と、対応するすべての代表エッジ点とを、同一の位置座標上で重ねて表示する第1の表示手段を備えることを特徴とする請求項1記載の欠陥検出装置。
- 前記残差算出手段で算出された残差を表示する第2の表示手段を備えることを特徴とする請求項1又は2記載の欠陥検出装置。
- 前記残差算出手段で算出された残差に基づいて、前記エッジ点に割り振る重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の欠陥検出装置。
- 前記重み付け係数算出手段は、前記残差が大きい(小さい)ほど、重み付け係数を小さく(大きく)算出するようにしてあることを特徴とする請求項4記載の欠陥検出装置。
- 前記代表エッジ点算出手段は、
前記重み付け係数算出手段で算出された前記重み付け係数に基づいて前記代表エッジ点を再算出するようにしてあることを特徴とする請求項4又は5記載の欠陥検出装置。 - 検査対象となる物体の輪郭線を含む画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出装置で実行することが可能な欠陥検出方法において、
検査対象となる物体の一部又は全ての輪郭線を含む画像から複数のエッジ点を検出し、
予め定められた所定の幅の参照範囲内に存在する複数の前記エッジ点を代表する代表エッジ点を、前記参照範囲を順次移動させつつ、前記参照範囲の各移動位置にて算出し、
算出された複数の代表エッジ点と対応するエッジ点との残差を算出し、
算出された残差に基づいて欠陥の位置及び大きさを特定することを特徴とする欠陥検出方法。 - 検出されたすべてのエッジ点と、対応するすべての代表エッジ点とを、同一の位置座標上で重ねて表示することを特徴とする請求項7記載の欠陥検出方法。
- 算出された残差を表示することを特徴とする請求項7又は8記載の欠陥検出方法。
- 算出された残差に基づいて、前記エッジ点を割り振る重み付け係数を算出することを特徴とする請求項7乃至9のいずれか一項に記載の欠陥検出方法。
- 前記残差が大きい(小さい)ほど、重み付け係数を小さく(大きく)算出することを特徴とする請求項10記載の欠陥検出方法。
- 算出された前記重み付け係数に基づいて前記代表エッジ点を再算出することを特徴とする請求項10又は11記載の欠陥検出方法。
- 検査対象となる物体の輪郭線を含む画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記欠陥検出装置を、
検査対象となる物体の一部又は全ての輪郭線を含む画像から複数のエッジ点を検出するエッジ点検出手段、
予め定められた所定の幅の参照範囲内に存在する複数の前記エッジ点を代表する代表エッジ点を、前記参照範囲を順次移動させつつ、前記参照範囲の各移動位置にて算出する代表エッジ点算出手段、
算出された複数の代表エッジ点と対応するエッジ点との残差を算出する残差算出手段、及び
算出された残差に基づいて欠陥の位置及び大きさを特定する欠陥特定手段
として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008027143A JP5422129B2 (ja) | 2008-02-07 | 2008-02-07 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラム |
US12/352,717 US8086023B2 (en) | 2008-02-07 | 2009-01-13 | Defect detection apparatus, defect detection method and computer program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008027143A JP5422129B2 (ja) | 2008-02-07 | 2008-02-07 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009186338A true JP2009186338A (ja) | 2009-08-20 |
JP2009186338A5 JP2009186338A5 (ja) | 2011-01-06 |
JP5422129B2 JP5422129B2 (ja) | 2014-02-19 |
Family
ID=40938919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008027143A Active JP5422129B2 (ja) | 2008-02-07 | 2008-02-07 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8086023B2 (ja) |
JP (1) | JP5422129B2 (ja) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5422129B2 (ja) | 2014-02-19 |
US8086023B2 (en) | 2011-12-27 |
US20090202135A1 (en) | 2009-08-13 |
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