JP2009181123A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009181123A5
JP2009181123A5 JP2008328780A JP2008328780A JP2009181123A5 JP 2009181123 A5 JP2009181123 A5 JP 2009181123A5 JP 2008328780 A JP2008328780 A JP 2008328780A JP 2008328780 A JP2008328780 A JP 2008328780A JP 2009181123 A5 JP2009181123 A5 JP 2009181123A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
scanning microscope
detection
microscope according
housing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008328780A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5512122B2 (ja
JP2009181123A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102008007452A external-priority patent/DE102008007452A1/de
Application filed filed Critical
Publication of JP2009181123A publication Critical patent/JP2009181123A/ja
Publication of JP2009181123A5 publication Critical patent/JP2009181123A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5512122B2 publication Critical patent/JP5512122B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (10)

  1. 試料を照明するための照明光を放出する光源を備え、該試料から出る検出光を検出するための少なくとも1つの第1の検出器を備え、かつ照明用放射線経路内にも検出用放射線経路内にも配置されており、該試料をこれを通して照明および検出し得る対物レンズと、該試料から出る該検出光を非デスキャン検出するための第2の検出器と、を備えた走査型顕微鏡において、
    顕微鏡スタンドに連接され、かつ合焦のために前記スタンドで垂直に変位可能であり、該走査型顕微鏡の該照明用放射線経路および該検出用放射線経路のうちの少なくとも一つのための顕微鏡対物レンズ用の少なくとも1つの収容部を備えるハウジングから成るサブアセンブリが設けられ、その際、少なくとも該第2の検出器が、該ハウジング内に配置されており、かつ試料光によって作用され得
    少なくとも前記第2の検出器の信号のための評価電子機器が、前記ハウジング内に配置され、少なくとも前記第2の検出器が、熱伝導性媒体を介して、前記ハウジングの外に配置された冷却手段と接続されることを特徴とする走査型顕微鏡。
  2. 前記顕微鏡の前記検出用放射線経路が、旋回可能なミラーを介して前記第2の検出器の方向に偏向され得る、請求項1に記載の走査型顕微鏡。
  3. 部分透過性ミラーが、第1および第2の検出器を介した同時検出のために、前記検出用放射線経路内に設けられる、請求項1または2に記載の走査型顕微鏡。
  4. 前記ハウジング内に更なる偏向ミラーが、前記第2の検出器の方向への前記検出光のために設けられる、請求項1乃至のいずれか1項に記載の走査型顕微鏡。
  5. 合焦光学系が、前記第2の検出器上に前記検出光を合焦するために、前記検出用放射線経路内に設けられる、請求項1乃至のいずれか1項に記載の走査型顕微鏡。
  6. 前記検出器の前に、検出波長を選択するためのフィルタが設けられる、請求項1乃至のいずれか1項に記載の走査型顕微鏡。
  7. NDD検出光の分割が行われ、かつ少なくとも1つの更なる検出器が、該分割の後に配置される、請求項1乃至のいずれか1項に記載の走査型顕微鏡。
  8. 前記少なくとも1つの更なる検出器が前記ハウジング内に配置される、請求項7に記載の走査型顕微鏡。
  9. 前記光源はパルス状の光源である、請求項1乃至8のいずれか1項に記載の走査型顕微鏡。
  10. 前記冷却手段は冷却リブである、請求項1乃至9のいずれか1項に記載の走査型顕微鏡。
JP2008328780A 2008-01-31 2008-12-24 走査型レーザ顕微鏡および非デスキャン検出のためのサブアセンブリ Active JP5512122B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008007452.7 2008-01-31
DE102008007452A DE102008007452A1 (de) 2008-01-31 2008-01-31 Laser-Scanning-Mikroskop und Baugruppe zur non-descannten Detektion

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009181123A JP2009181123A (ja) 2009-08-13
JP2009181123A5 true JP2009181123A5 (ja) 2012-10-18
JP5512122B2 JP5512122B2 (ja) 2014-06-04

Family

ID=40635840

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008328780A Active JP5512122B2 (ja) 2008-01-31 2008-12-24 走査型レーザ顕微鏡および非デスキャン検出のためのサブアセンブリ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7655888B2 (ja)
EP (1) EP2085805B1 (ja)
JP (1) JP5512122B2 (ja)
DE (1) DE102008007452A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009038028B4 (de) * 2009-08-18 2024-06-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Detektoranordnung mit erhöhter Empfindlichkeit durch Lichtablenkelemente mit einer ebenen Lichteintrittsfläche
EP2312367A1 (en) * 2009-10-16 2011-04-20 Olympus Corporation Laser scanning microscope
JP6203022B2 (ja) * 2013-12-04 2017-09-27 オリンパス株式会社 走査型顕微鏡

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2966514B2 (ja) 1990-11-19 1999-10-25 オリンパス光学工業株式会社 焦準機構付き顕微鏡
JPH04231950A (ja) * 1990-12-28 1992-08-20 Olympus Optical Co Ltd 手術用顕微鏡用アダプター及びそれを用いた立体テレビ観察・撮影システム
JPH0584016U (ja) * 1992-04-10 1993-11-12 株式会社堀場製作所 光電子増倍管の冷却装置
DE19758748C2 (de) 1997-01-27 2003-07-31 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop
DE19822870C2 (de) 1998-05-22 2001-01-25 Zeiss Carl Jena Gmbh Einrichtung zur Schaltung und Fokussierung von Mikroskopobjektiven
JP3283499B2 (ja) 1999-03-18 2002-05-20 オリンパス光学工業株式会社 レーザ顕微鏡
DE10120424B4 (de) 2001-04-26 2004-08-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop und Auskoppelelement
DE10127137A1 (de) * 2001-06-02 2002-12-19 Leica Microsystems Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop
US6947127B2 (en) * 2001-12-10 2005-09-20 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample
US6888148B2 (en) * 2001-12-10 2005-05-03 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for the optical capture of excited and /or back scattered light beam in a sample
DE10253609A1 (de) * 2002-11-15 2004-05-27 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop
JP2005300655A (ja) * 2004-04-07 2005-10-27 Olympus Corp レーザ走査型観察装置
DE102004058565B4 (de) * 2004-10-18 2022-04-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop
DE102005008619A1 (de) * 2005-02-23 2006-09-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop und Detektormodul

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006201465A5 (ja)
US7304282B2 (en) Focus detection device and fluorescent observation device using the same
CA3013946A1 (en) Method and system for improving lateral resolution in optical scanning microscopy
ATE455312T1 (de) Laser-scanning-mikroskop
JPWO2015137179A1 (ja) カメラモニタ付レーザ加工ヘッド装置
JP2010540995A5 (ja)
JP4599941B2 (ja) 自動焦点検出装置およびこれを備える顕微鏡システム
JP2004086009A5 (ja)
JP2009109788A5 (ja)
JP2009505126A (ja) 全反射顕微鏡検査用の顕微鏡および方法
JP6522533B2 (ja) 顕微鏡および観察方法
JP2012133368A5 (ja)
JP2009181123A5 (ja)
JP2015152405A5 (ja)
WO2016132451A1 (ja) 顕微鏡
JP5356804B2 (ja) ラマン散乱光測定装置
JP2008203417A5 (ja)
JP2003270524A (ja) 焦点検出装置およびこれを備えた顕微鏡、および、焦点検出方法
US6906312B2 (en) Scanning microscope having a microscope stand
JP2008204047A5 (ja)
JP2010026241A5 (ja)
US7655888B2 (en) Laser scanning microscope and assembly for non-descanned detection
JP6249681B2 (ja) 顕微鏡システムおよび測定方法
JP2005181581A5 (ja)
JP4878751B2 (ja) 顕微鏡用照明装置および蛍光顕微鏡装置