JP2009129962A - 表面微細構造製造方法およびダイヤモンドナノ電極製造方法とその電極体 - Google Patents

表面微細構造製造方法およびダイヤモンドナノ電極製造方法とその電極体 Download PDF

Info

Publication number
JP2009129962A
JP2009129962A JP2007300368A JP2007300368A JP2009129962A JP 2009129962 A JP2009129962 A JP 2009129962A JP 2007300368 A JP2007300368 A JP 2007300368A JP 2007300368 A JP2007300368 A JP 2007300368A JP 2009129962 A JP2009129962 A JP 2009129962A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diamond
fine particles
seeded
manufacturing
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007300368A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5062748B2 (ja
Inventor
Hiroshi Uetsuka
洋 上塚
Nianjun Yang
ネンジョン ヤン
Christoph Nebel
クリストフ ネーベル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority to JP2007300368A priority Critical patent/JP5062748B2/ja
Publication of JP2009129962A publication Critical patent/JP2009129962A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5062748B2 publication Critical patent/JP5062748B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】ナノダイヤモンド微粒子を用いた表面微細構造製造方法と、この微細構造を利用したダイヤモンドナノ電極の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン、ガリウム砒素、ダイヤモンドからなる試料P1の試料表面にナノダイヤモンド微粒子P2を種付けしてこれを微小ハードマスクとして使用し、ドライエッチングを行うことによりナノメートルオーダーの凹凸P3を製造することを特徴とする表面微細構造製造方法及びこの微細構造を利用したダイヤモンドナノ電極の製造方法。
【選択図】図1

Description

本発明は、ナノダイヤモンド微粒子を微小マスクとして用いてドライエッチングを行いナノメートルオーダーの表面微細構造を製造することを特徴とする微細構造製造方法およびダイヤモンドナノ電極製造方法およびダイヤモンドナノ電極体に関する。本発明の表面微細加工方法及びその構造体は、電極だけでなく、電子放出源、MEMS、バイオデバイス、光学素子、切削工具、研磨工具、金型、プローブ、ヒートシンク、触媒担体等のダイヤモンドデバイスとして利用可能である。
表面微細構造を製造する場合、多くの場合、MEMS技術が用いられている。表面のパターニングには、通常、フォトリソグラフィー技術や電子ビームリソグラフィー技術が用いられている。しかし、パターンの大きさは、せいぜい100nmを切る程度であり、これ以下の数十〜数nmのオーダーの構造を製造することは非常に困難であるという問題がある。
表面にナノメートルオーダーの微細な凹凸を製造する場合、マスク材のサイズもナノメートルスケールであることが必須である。従来、金属薄膜を表面に蒸着し、蒸着中あるいはその後に熱処理等を加えて粒状に加工することにより微小ハードマスクを製造し、これをエッチングすることにより、表面に微細構造を製造する方法が公知である。しかし、ナノメートルオーダーの微細構造を製造する場合、薄膜の厚さもナノメートルオーダーでなければならず、かつ、均一である必要があり、非常に困難である。さらに、金属微粒子の粒径をナノメートルオーダーで均一に加工することは非常に困難である。
微小電極製造方法では、陽極酸化ポーラスアルミナを用いた方法が公開されている(特許文献1参照)。この場合任意の大きさのパターンの製造が可能であるが、最初に微細な凹凸パターンを持つ金型をアルミナ表面へ押し付けることによる表面微細構造の転写が必要であり、この金型をナノメートルオーダーで製造することは困難である。
ダイヤモンドは、化学的安定性、生体適合性、半導体特性、硬度、熱伝導性等の物性の高さから、電子デバイス、バイオデバイス、マイクロ切削工具等への応用が期待されている。しかし、その化学的安定性から、ウエットエッチング法のような簡便なエッチング方法が適用できず、ダイヤモンド自体の正確な微細加工が困難であるという問題がある。
このように、ナノメートルオーダーの微細構造を、再現性よく、均一で、かつ、簡便に製造可能な方法は存在しない。したがって、ダイヤモンドを用いたナノメートルオーダーの電極体は存在しないのが実情である。
特開2004−285405号公報
本発明は、上記問題を解決するためになされたものであり、ナノダイヤモンド微粒子を微小ハードマスクとして使用することによる、ナノメートルオーダーの表面微細構造製造方法およびこれを用いたダイヤモンドナノ電極製造方法およびダイヤモンドナノ電極体を提供する。
本発明は、シリコン、ガリウム砒素、ダイヤモンドからなる試料の試料表面にナノダイヤモンド微粒子を種付けしてこれを微小ハードマスクとして使用し、ドライエッチングを行うことによりナノメートルオーダーの凹凸を製造することを特徴とする表面微細構造製造方法である。
また、本発明では、種付けするナノダイヤモンド微粒子を直径1nm〜1000nmのナノダイヤモンド微粒子とすることができる。
さらに、本発明は、試料をナノダイヤモンド微粒子のアルコール分散液若しくは水分散液に浸漬させ10〜120分の超音波処理を行うことにより種付けすることができる。
また、本発明においては、ナノダイヤモンド微粒子のアルコール分散液若しくは水分散液を試料表面に滴下し、スピンコート法により表面に種付けすることができる。
さらに、本発明では、種付けされるダイヤモンド試料が、単結晶ダイヤモンド、多結晶ダイヤモンド、ホモエピタキシャルダイヤモンド、ヘテロエピタキシャルダイヤモンド、ナノダイヤモンド、及び上記ダイヤモンドにホウ素、リン、窒素の不純物がドープされた各種ダイヤモンドとすることができる。
また、本発明では、表面に種付けされたナノダイヤモンド微粒子を、常温硬化性樹脂、熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂を用いて固定化した後、ドライエッチングを行うことができる。
さらに、本発明は、表面に種付けされたナノダイヤモンド微粒子を核としてダイヤモンドを結晶成長させてナノダイヤモンド微粒子を固定化した後、ドライエッチングを行うことができる。
また、本発明は、ダイヤモンド試料が、導電性ダイヤモンドであり、本発明の表面微細構造製造方法により製造された表面微細構造を有するダイヤモンドナノ電極体である。
さらに本発明は、本発明の表面微細構造製造方法により製造された微細構造表面に絶縁物質を成膜する工程と、絶縁物質をエッチングする工程により、ナノメートルオーダーの導電性ダイヤモンド部位を露出させることを特徴とするダイヤモンドナノ電極製造方法である。
また、本発明は、本発明のダイヤモンドナノ電極製造方法で得られたダイヤモンドナノ電極体において、絶縁性ダイヤモンドをナノ電極の突起部分に成膜する工程の後、絶縁物質をすべて除去する工程により、表面がすべてダイヤモンドであり、かつ、ナノサイズの電極を露出させることを特徴とするダイヤモンドナノ電極製造方法である。
本発明の表面微細構造製造方法は、ナノダイヤモンド微粒子をダイヤモンド試料表面に種付けし、これを微小マスクとして用いてドライエッチングを行いナノメートルオーダーの表面微細構造を製造することができる。さらに、この微細構造表面を用いた、ダイヤモンドナノ電極の製造方法および、ダイヤモンドナノ電極体に関するものである。本発明の表面微細加工方法及びその電極構造製造方法および電極は、化学的に安定で速い応答速度や高いS/N比を有する電極としてだけでなく、電子放出源、MEMS、バイオデバイス、光学素子、切削工具、研磨工具、金型、プローブ、ヒートシンク、触媒担体等のダイヤモンドデバイスとして利用可能である。
本発明で用いる試料は、ナノダイヤモンド微粒子の種付けをすることができる表面を有する物質であれば、どのような物質でも良い。代表的には、シリコン、ガリウム砒素、ダイヤモンドを挙げることができる。
本発明は、試料表面にナノダイヤモンド微粒子を種付けしてこれを微小ハードマスクとして使用し、次いでドライエッチングを行うことにより、ナノメートルオーダーの表面微細構造の製造方法と、さらにこの微細構造から、ダイヤモンドナノ電極を製造する方法およびダイヤモンドナノ電極に関するものである。ダイヤモンドは化学的に安定で、かつ、非常に硬度が高いため、いかなる基板に対しても良好なハードマスク材となる。
また、本発明は、種付けするダイヤモンド微粒子が直径1nm〜1000nmナノダイヤモンド微粒子を用いることができる。これらのナノダイヤモンド微粒子をダイヤモンド表面に種付けすることにより、次いで行うドライエッチングの際にハードマスクの役割を担うため、表面に1nm〜1000nmの任意のサイズの微細構造を製造することができる。
さらに本発明は、試料をダイヤモンド微粒子のアルコール分散液若しくは水分散液に浸漬させ10〜120分の超音波処理を行うことにより種付けすることができる。超音波処理を行うことにより、ダイヤモンド表面に均一にダイヤモンド微粒子を種付けすることができる。
また、本発明は、ダイヤモンド微粒子のアルコール分散液若しくは水分散液を試料表面に滴下し、スピンコート法により表面に種付けすることができる。スピンコート法を用いて種付けを行うことにより、ダイヤモンド表面に均一にダイヤモンド微粒子を種付けすることができる。
さらに本発明は、種付けされるダイヤモンド試料として、単結晶ダイヤモンド、多結晶ダイヤモンド、ホモエピタキシャルダイヤモンド、ヘテロエピタキシャルダイヤモンド、ナノダイヤモンド、及び上記ダイヤモンドにホウ素、リン、窒素等の不純物がドープされた各種ダイヤモンドを用いることができる。種付けする物質がダイヤモンドであり、これをハードマスクとして用いるため、ダイヤモンド試料の種類にかかわらず、表面微細構造が製造可能である。
また、本発明は、ダイヤモンド試料として、導電性ダイヤモンドを用いることができる。導電性ダイヤモンドは、化学的に安定でノイズの少ない電極材料として用いることができる。これにより、ナノメートルオーダーのダイヤモンド微小電極の製造が可能である。
さらに本発明は、表面に種付けされたダイヤモンド微粒子を常温硬化性、熱硬化性、光硬化性樹脂を用いて固定化することができる。これにより、表面に種付けされたダイヤモンド微粒子のダイヤモンド試料への密着性が高まり、ドライエッチングの際に安定なハードマスクとなるため、より均一性の高い微細構造が製造できる。
また、本発明は、表面に種付けされたナノダイヤモンド微粒子を核としてダイヤモンドを結晶成長させて固定化することができる。これにより、表面に種付けされたダイヤモンド微粒子のダイヤモンド試料への密着性が高まり、ドライエッチングの際に安定なハードマスクとなるため、より均一性の高い微細構造が製造できる。ナノダイヤモンド微粒子の成長に、プラズマCVD、熱フィラメント等の既存の手法および装置が利用できる。ダイヤモンド成長時には、ダイヤモンド種付け基板を600〜1000℃に保持し、炭素源ガスおよび水素ガスを任意の混合比で混ぜ合わせたガスを使用することができる。さらに、これに加えて、酸素源ガス、アルゴンガス、窒素ガスを用いることができる。これにより、成膜されるダイヤモンドの粒径を制御することができる。また、n型およびp型の半導体ダイヤモンドを成膜する場合には、ホウ素源ガス、リン源ガスを用いることができる。
また、本発明は、ダイヤモンド試料として、導電性ダイヤモンドを用いることができる。これにより、ナノメートルオーダーのダイヤモンドナノ電極の製造が可能である。
さらに本発明は、製造した導電性ダイヤモンド微細構造表面に、絶縁物質を成膜し、さらに、絶縁物質をエッチングする工程により、ナノサイズのダイヤモンド電極を露出させることができる。ダイヤモンド試料を用いて製造したダイヤモンド微細構造を電極として用いることにより、化学的に安定でノイズの少ない電極となる。また、ダイヤモンド電極を微小化することにより、応答速度やS/N比の向上が見込まれる。
また、本発明は、前記ダイヤモンド電極体において、絶縁性ダイヤモンドを成膜する工程と、前記絶縁物質を除去する工程により、表面がすべてダイヤモンドであり、かつ、ナノサイズの電極を露出させることができる。表面がすべてダイヤモンドであるため、化学的に非常に安定でノイズの少ない電極となる。また、ダイヤモンド電極を微小化することにより、応答速度やS/N比の向上が見込まれる。
以下に、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明に係る表面微細構造製造方法である。(1)試料P1を、ナノダイヤモンド微粒子のアルコール分散液若しくは水分散液に浸漬し、10〜120分間の超音波処理により、種付け処理を行う。若しくはスピンコート法により種付け処理を行っても良い。(2)表面にナノダイヤモンド微粒子P2が種付けされる。これをハードマスクとして、ドライエッチングを行う。(3)ナノダイヤモンド微粒子が鋳型となり、使用するナノダイヤモンド微粒子の粒径と同等の表面微細構造P3が製造される。ここでは、一例として、針状構造を示しているが、ドライエッチング時間を短くすれば、ナノダイヤモンド微粒子が完全にはエッチングされないため、ドライエッチング後に、ナノダイヤモンド微粒子を除去すれば、先端が平らな突起構造が得られる。このように、非常に簡便な手法ながら、表面にナノメートルオーダーの微細構造が、製造可能である。
図2は、本発明に係るダイヤモンドナノ電極体の製造方法である。(1)導電性ダイヤモンド試料を用いて図1の方法で製造された表面微細構造P3上に絶縁物質P4を成膜する。絶縁物質としては、例えば、シリコン酸化物、アルミニウム酸化物等の酸化物が利用できる。(2)絶縁物質P4をエッチングすることにより、ナノメートルオーダーの導電性電極部位P5を露出する。エッチング方法は、既存のウエットエッチングおよびドライエッチングが適用可能である。P5はダイヤモンドナノ電極として、化学的に安定でノイズが少なく、応答速度およびS/N比の向上を実現する。
図3は、本発明に係る表面がすべてダイヤモンドであるダイヤモンドナノ電極体の製造方法である。(1)図2で製造したダイヤモンドナノ電極体表面に、さらに、絶縁性ダイヤモンド成膜を行う。絶縁性ダイヤモンド薄膜P6は、ダイヤモンドが露出した部分にのみ成膜される。ダイヤモンド成膜に、プラズマCVD、熱フィラメント等の既存の手法および装置が利用できる。ダイヤモンド成膜時には、ダイヤモンド種付け基板を600〜1000℃に保持し、炭素源ガスおよび水素ガスを任意の混合比で混ぜ合わせたガスを使用することができる。さらに、これに加えて、酸素源ガス、アルゴンガス、窒素ガスを用いることができる。(2)絶縁物質を酸処理により除去することにより、ナノメートルオーダーの導電性電極部位P7を露出する。エッチング方法は、既存のウエットエッチングおよびドライエッチングが適用可能である。P7はダイヤモンドナノ電極として、化学的に非常に安定でノイズが少なく、応答速度およびS/N比の向上を実現する。
次に本発明の実施例を詳述するが、本発明は、本実施形態に開示された特定の構成になんら限定されるものではなく、したがって、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の態様で実施しうることはいうまでもない。
ダイヤモンド基板として、単結晶Ib(100)基板を用いた。種付けには、ナノダイヤモンド微粒子のエタノール分散液を用いた。本実施例で使用したナノダイヤモンド微粒子は粒径がそろっており、平均粒径は約10nmであった。ダイヤモンド試料を分散液に浸漬し30分間の超音波処理を行った。ダイヤモンド試料を取り出し、ドライエッチングを行った。エッチングガスは酸素とCFの混合ガス、ICPバイアスは100Wを用いた。エッチング時間は、10秒であった。ダイヤモンド試料表面の観察は、Molecular Imaging社製の走査型プローブ顕微鏡を用いて行った。図4に原子間力顕微鏡(AFM)像を示す。表面凹凸がナノメートルオーダーであるのに対し、1μm四方に渡って均一な微細構造が製造されていることがわかる。図5に、図4の断面図を示す。高さ、幅共に、約8nmの微細構造が製造されている。この値は、用いたナノダイヤモンド微粒子の粒径と非常に良く一致している。このように、非常に簡便な手法を用いて、表面微細構造が製造可能であった。
ホウ素ドープ多結晶ダイヤモンド基板を用いて、実施例1と同一の方法で、表面微細構造を製造した。図6はサイクリックボルタモグラムであり、作用電極を該ダイヤモンド基板とし、参照電極にAg/AgCl、対極にPtを用いた。溶液は、pH7.4のリン酸緩衝液に、1.0mMのFe(CN) 3−/4−を加えたものを用いた。また、スキャン速度は100mV/秒であった。このようなサイクリックボルタモグラムから、作用電極上で進行するFe(CN) 3−/4−の酸化還元反応が電流として測定できるため、この電流値から電極表面の情報が得られる。図6aは表面微細構造製造後のサイクリックボルタモグラムである。+0.6V付近の酸化ピークは、+5.4μAであった。また、−0.3V付近の還元ピークは、−5.6μAであった。一方、図6bは、図6aの表面を1本鎖DNAで化学修飾したものである。+0.7V付近の酸化ピークは、+4.5μAであった。また、−0.4V付近の還元ピークは、−3.8μAであった。DNA化学修飾層が抵抗として働くために、図6bのピークは、図6aのピークと比較して、小さくなり、酸化および還元ピーク間の幅が広がっている。しかし、両表面の差異は比較的少ない。この表面は、さらに相補的な1本鎖DNAを導入し、2本鎖DNAとすることで、1本鎖DNAと2本鎖DNAの電流強度の違いから、特定のDNAを検出することが可能なDNAセンサーとして用いることができる。2本鎖DNAの場合は、1本鎖DNAよりもさらに電流強度が小さくなる。本発明の表面微細構造製造方法で製造した表面微細構造を有するダイヤモンドナノ電極は、1本鎖DNAを化学修飾した時点でも大きなシグナルが観察できることから、この表面は、ダイヤモンドナノ電極として使用することができ、DNAセンサーとして非常に良い。
(比較例1)
表面が平坦なホウ素ドープダイヤモンド基板を用いて、実施例2と同一条件でのサイクリックボルタモグラム計測および、同一条件での1本鎖DNAの化学修飾を行った。図7aは平坦表面でのサイクリックボルタモグラムである。+0.6V付近の酸化ピークは、+3.9μAであった。また、−0.3V付近の還元ピークは、−3.5μAであった。実施例2の結果と比較して、ピークが小さい。これは、実施例2の表面が、本発明の表面微細構造製造法により、確かに表面微細構造が製造されて表面積が広がっていることを示す。一方、図7bは、図7aの表面を1本鎖DNAで化学修飾したものである。一見してほとんどピークが観察されていないことが明らかである。これは、DNA化学修飾層が抵抗として働くために、図7bのピークは、図7aのピークと比較して、小さくなったためである。図7bでは、実施例2と同一条件でDNA修飾を行ったにもかかわらず、電気化学的シグナルが計測できなくなった。この表面は、さらに相補的な1本鎖DNAを導入し、2本鎖DNAとすることで、1本鎖DNAと2本鎖DNAの電流強度の違いから、特定のDNAを検出することが可能なDNAセンサーとして用いることができる。2本鎖DNAの場合は、1本鎖DNAよりもさらに電流強度が小さくなることから、1本鎖DNAを化学修飾した時点でシグナルが観察できなくなるこの表面は、DNAセンサーとして不適切である。従って、本発明の表面微細構造はダイヤモンドナノ電極として使用することができ、DNAセンサーとして性能が良い。
本発明の微細構造製造方法と、ダイヤモンドナノ電極製造方法およびダイヤモンドナノ電極は、電極、電子放出源、MEMS、バイオデバイス、光学素子、切削工具、研磨工具、金型、プローブ、ヒートシンク、触媒担体等のダイヤモンドデバイスとして利用可能であり、産業上の利用可能性が高い非常に重要な技術である。
本発明に係る表面微細構造製造方法である。 本発明に係るダイヤモンドナノ電極体の製造方法である。 本発明に係る表面がすべてダイヤモンドであるダイヤモンドナノ電極体の製造方法である。 実施例1のダイヤモンド試料表面のAFM像である。 実施例1のダイヤモンド試料表面の断面図である。 実施例2のホウ素ドープ多結晶ダイヤモンド表面上で計測したサイクリックボルタモグラムである。 比較例1のホウ素ドープ多結晶ダイヤモンド表面上で計測したサイクリックボルタモグラムである。
符号の説明
P1・・・試料、P2・・・ナノダイヤモンド微粒子、P3・・・表面微細構造、P4・・・絶縁物質、P5・・・ナノメートルオーダーの導電性電極部位、P6・・・絶縁性ダイヤモンド薄膜、P7・・・ナノメートルオーダーの導電性電極部位。

Claims (10)

  1. シリコン、ガリウム砒素、ダイヤモンドからなる試料の試料表面にナノダイヤモンド微粒子を種付けしてこれを微小ハードマスクとして使用し、ドライエッチングを行うことによりナノメートルオーダーの凹凸を製造することを特徴とする表面微細構造製造方法。
  2. 種付けするナノダイヤモンド微粒子が直径1nm〜1000nmのナノダイヤモンド微粒子であることを特徴とする請求項1に記載の表面微細構造製造方法。
  3. 試料をナノダイヤモンド微粒子のアルコール分散液若しくは水分散液に浸漬させ10〜120分の超音波処理を行うことにより種付けすることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の表面微構造製造方法。
  4. ナノダイヤモンド微粒子のアルコール分散液若しくは水分散液を試料表面に滴下し、スピンコート法により表面に種付けすることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の表面微細構造製造方法。
  5. 種付けされるダイヤモンド試料が、単結晶ダイヤモンド、多結晶ダイヤモンド、ホモエピタキシャルダイヤモンド、ヘテロエピタキシャルダイヤモンド、ナノダイヤモンド、及び上記ダイヤモンドにホウ素、リン、窒素の不純物がドープされた各種ダイヤモンドであることを特徴とする、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の表面微細構造製造方法。
  6. 表面に種付けされたナノダイヤモンド微粒子を、常温硬化性樹脂、熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂を用いて固定化した後、ドライエッチングを行うことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の表面微細構造製造方法。
  7. 表面に種付けされたナノダイヤモンド微粒子を核としてダイヤモンドを結晶成長させてナノダイヤモンド微粒子を固定化した後、ドライエッチングを行うことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の表面微細構造製造方法。
  8. ダイヤモンド試料が、導電性ダイヤモンドであり、請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の表面微細構造製造方法により製造された表面微細構造を有するダイヤモンドナノ電極体。
  9. 請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の表面微細構造製造方法により製造された微細構造表面に絶縁物質を成膜する工程と、絶縁物質をエッチングする工程により、ナノメートルオーダーの導電性ダイヤモンド部位を露出させることを特徴とするダイヤモンドナノ電極製造方法。
  10. 請求項9で得られたダイヤモンドナノ電極体において、絶縁性ダイヤモンドをナノ電極の突起部分に成膜する工程の後、絶縁物質をすべて除去する工程により、表面がすべてダイヤモンドであり、かつ、ナノサイズの電極を露出させることを特徴とするダイヤモンドナノ電極製造方法。
JP2007300368A 2007-11-20 2007-11-20 表面微細構造製造方法およびダイヤモンドナノ電極製造方法とその電極体 Expired - Fee Related JP5062748B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007300368A JP5062748B2 (ja) 2007-11-20 2007-11-20 表面微細構造製造方法およびダイヤモンドナノ電極製造方法とその電極体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007300368A JP5062748B2 (ja) 2007-11-20 2007-11-20 表面微細構造製造方法およびダイヤモンドナノ電極製造方法とその電極体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009129962A true JP2009129962A (ja) 2009-06-11
JP5062748B2 JP5062748B2 (ja) 2012-10-31

Family

ID=40820629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007300368A Expired - Fee Related JP5062748B2 (ja) 2007-11-20 2007-11-20 表面微細構造製造方法およびダイヤモンドナノ電極製造方法とその電極体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5062748B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105154855A (zh) * 2015-09-25 2015-12-16 唐山实为半导体科技有限公司 加热器的制备工艺
US11387069B2 (en) 2020-12-03 2022-07-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Electron-emitting electrode including multiple diamond members and magnetron including same

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104724664A (zh) * 2015-03-14 2015-06-24 王宏兴 单晶金刚石纳米柱阵列结构的制备方法和应用

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005310448A (ja) * 2004-04-19 2005-11-04 Sumitomo Electric Ind Ltd 突起構造の形成方法、突起構造、および電子放出素子
WO2005116306A1 (ja) * 2004-05-27 2005-12-08 Toppan Printing Co., Ltd. ナノクリスタルダイヤモンド膜、その製造方法、及びナノクリスタルダイヤモンド膜を用いた装置
JP2006261659A (ja) * 2005-02-18 2006-09-28 Sumitomo Chemical Co Ltd 半導体発光素子の製造方法
JP2007019318A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Sumitomo Chemical Co Ltd 半導体発光素子、半導体発光素子用基板の製造方法及び半導体発光素子の製造方法
JP2007027564A (ja) * 2005-07-20 2007-02-01 Shibaura Mechatronics Corp 表面処理方法及び表面処理装置
JP2007039742A (ja) * 2005-08-03 2007-02-15 Permelec Electrode Ltd 電解用電極及びその製造方法
JP2007112653A (ja) * 2005-10-19 2007-05-10 Central Japan Railway Co 針状突起配列構造を表面に有するダイヤモンドの製造方法、ダイヤモンド材料、電極、及び電子デバイス
JP2007273746A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Sumitomo Chemical Co Ltd 固体表面の微細加工方法および発光素子

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005310448A (ja) * 2004-04-19 2005-11-04 Sumitomo Electric Ind Ltd 突起構造の形成方法、突起構造、および電子放出素子
WO2005116306A1 (ja) * 2004-05-27 2005-12-08 Toppan Printing Co., Ltd. ナノクリスタルダイヤモンド膜、その製造方法、及びナノクリスタルダイヤモンド膜を用いた装置
JP2006261659A (ja) * 2005-02-18 2006-09-28 Sumitomo Chemical Co Ltd 半導体発光素子の製造方法
JP2007019318A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Sumitomo Chemical Co Ltd 半導体発光素子、半導体発光素子用基板の製造方法及び半導体発光素子の製造方法
JP2007027564A (ja) * 2005-07-20 2007-02-01 Shibaura Mechatronics Corp 表面処理方法及び表面処理装置
JP2007039742A (ja) * 2005-08-03 2007-02-15 Permelec Electrode Ltd 電解用電極及びその製造方法
JP2007112653A (ja) * 2005-10-19 2007-05-10 Central Japan Railway Co 針状突起配列構造を表面に有するダイヤモンドの製造方法、ダイヤモンド材料、電極、及び電子デバイス
JP2007273746A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Sumitomo Chemical Co Ltd 固体表面の微細加工方法および発光素子

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105154855A (zh) * 2015-09-25 2015-12-16 唐山实为半导体科技有限公司 加热器的制备工艺
US11387069B2 (en) 2020-12-03 2022-07-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Electron-emitting electrode including multiple diamond members and magnetron including same

Also Published As

Publication number Publication date
JP5062748B2 (ja) 2012-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6982519B2 (en) Individually electrically addressable vertically aligned carbon nanofibers on insulating substrates
US20080241755A1 (en) Contact metallization of carbon nanotubes
CN103958397B (zh) 用于制造和对准纳米线的方法和这种方法的应用
Zoval et al. Implementation of electrochemically synthesized silver nanocrystallites for the preferential SERS enhancement of defect modes on thermally etched graphite surfaces
EP1378486A1 (en) Nanostructure, electron emitting device, carbon nanotube device, and method of producing the same
US20090194424A1 (en) Contact metallization of carbon nanotubes
JP2009521332A (ja) ナノギャップおよびナノギャップセンサの製造方法
US20090197209A1 (en) Lithographically patterned nanowire electrodeposition
JP4911410B2 (ja) ダイヤモンド微小電極およびその製造方法
JP2012511714A (ja) ナノチューブの電気化学
JP4148517B2 (ja) 微細構造
JP2007078373A (ja) ISFETからなるpHセンサー及びその製造方法
Li et al. Nanochannel-Directed Growth of Multi-Segment Nanowire Heterojunctions of Metallic Au1–x Ge x and Semiconducting Ge
US8168251B2 (en) Method for producing tapered metallic nanowire tips on atomic force microscope cantilevers
JP5062748B2 (ja) 表面微細構造製造方法およびダイヤモンドナノ電極製造方法とその電極体
Hassel et al. Preparation and specific properties of single crystalline metallic nanowires
Mao et al. Micro/nanoelectrodes and their use in electrocrystallization: Historical perspective and current trends
JP2008292375A (ja) 走査プローブ顕微鏡に用いる探針及びカンチレバー
JP2000314714A (ja) 電極及びその製造方法及び該電極を用いた電気化学センサー
Kromka et al. Simplified procedure for patterned growth of nanocrystalline diamond micro-structures
JP5334085B2 (ja) 基板への種付け処理方法、ダイヤモンド微細構造体及びその製造方法
US20230017101A1 (en) Molecule Sensor Component and Method for Manufacturing Same
Yang Diamond electrochemical devices
Cai et al. Fabrication of gas sensor based on field ionization from SWCNTs with tripolar microelectrode
KR101358989B1 (ko) 전이금속 나노 전극 및 이의 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100108

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110428

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120515

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120731

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120802

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150817

Year of fee payment: 3

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees