JP2009129150A - 遅延解析支援プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析支援装置、および遅延解析支援方法 - Google Patents
遅延解析支援プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析支援装置、および遅延解析支援方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009129150A JP2009129150A JP2007302775A JP2007302775A JP2009129150A JP 2009129150 A JP2009129150 A JP 2009129150A JP 2007302775 A JP2007302775 A JP 2007302775A JP 2007302775 A JP2007302775 A JP 2007302775A JP 2009129150 A JP2009129150 A JP 2009129150A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay
- node
- predicted value
- circuit
- distribution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
- G06F30/3308—Design verification, e.g. functional simulation or model checking using simulation
- G06F30/3312—Timing analysis
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】回路グラフ内のノード群のうち、複数の信号が合流するノードの統計的MAX演算による見積もり誤差が大きくなると予測され、かつ、回路遅延に与える影響が大きいクリティカルパス上に存在し、かつ、回路遅延の改善可能性が高いノードを通過するパスからなる部分回路の遅延分布を、ブロックベース解析の替わりにモンテカルロシミュレーションで求めることにより、遅延解析の高速化および高精度化を図る。
【選択図】図1
Description
まず、本実施の形態にかかるブロックベース解析について説明する。ブロックベース解析とは、解析対象の回路グラフをトポロジカルに走査することにより、回路グラフ内の各ノードの遅延分布を算出する解析手法である。このブロックベース解析によれば、回路全体を高速に解析することができる。
ノードN2の遅延=(始点Sにおける遅延)+(エッジE2の遅延)=5 …(2)
まず、本実施の形態にかかる遅延解析支援装置のハードウェア構成について説明する。図4は、本実施の形態にかかる遅延解析支援装置のハードウェア構成を示す説明図である。
つぎに、遅延解析支援装置の機能的構成について説明する。図5は、遅延解析支援装置の機能的構成を示すブロック図である。図5において、遅延解析支援装置400は、検出部501と、予測値算出部502と、判定部503と、出力部504と、遅延算出部505と、抽出部506と、決定部507と、切替部508と、を備えている。
ここで、予測値算出部502による算出処理の具体例について説明する。予測値算出部502は、例えば、前段のノード群の遅延の上限値のばらつきを表わす上限遅延分布と、前段のノード群の遅延の下限値のばらつきを表わす下限遅延分布とを用いて、予測値を算出することができる。
つぎに、本実施の形態にかかる遅延解析支援装置400の遅延解析処理手順について説明する。図16および図17は、遅延解析支援装置の遅延解析処理手順の一例を示すフローチャート(その1)である。
つぎに、図17に示したステップS1701(または、図18に示したステップS1805、図19に示したステップS1905)の予測値算出処理手順について説明する。図21は、予測値算出処理手順の一例を示すフローチャート(その1)である。図21のフローチャートにおいて、まず、複数の信号が入力される一のノードの前段のノード群の遅延分布を取得する(ステップS2101)。
前記コンピュータを、
前記回路グラフの中から、複数の信号が入力される一のノードを検出する検出手段、
前記検出手段によって検出された一のノードに接続された前段のノード群の遅延分布に基づいて、前記一のノードの遅延分布の見積もり誤差に関する予測値を算出する予測値算出手段、
前記予測値算出手段によって算出された予測値が所定の閾値以上となるか否かを判定する判定手段、
前記判定手段によって判定された判定結果を出力する出力手段、
として機能させることを特徴とする遅延解析支援プログラム。
前記前段のノード群の遅延の上限値のばらつきを表わす上限遅延分布と、前記前段のノード群の遅延の下限値のばらつきを表わす下限遅延分布とを用いて、前記予測値を算出することを特徴とする付記1に記載の遅延解析支援プログラム。
前記判定手段によって前記予測値が閾値以上と判定された場合、モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを通過するパスの遅延分布を算出する遅延算出手段として機能させ、
前記出力手段は、
前記遅延算出手段によって算出された算出結果を出力することを特徴とする付記1または2に記載の遅延解析支援プログラム。
前記一のノードがクリティカルパスに含まれるか否かを判定し、
前記遅延算出手段は、
前記判定手段によって前記一のノードがクリティカルパスに含まれると判定された場合、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを通過するパスの遅延分布を算出することを特徴とする付記3に記載の遅延解析支援プログラム。
前記一のノードの遅延分布に関するパラメータの変化割合を示す素子感度が所定の閾値以上であるか否かを判定し、
前記遅延算出手段は、
前記判定手段によって前記素子感度が閾値以上と判定された場合、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを通過するパスの遅延分布を算出することを特徴とする付記3または4に記載の遅延解析支援プログラム。
前記判定手段によって前記予測値が閾値以上と判定された場合、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを含むサブツリーの遅延分布を算出することを特徴とする付記3に記載の遅延解析支援プログラム。
前記一のノードがクリティカルパスに含まれるか否かを判定し、
前記遅延算出手段は、
前記判定手段によって前記一のノードがクリティカルパスに含まれると判定された場合、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを含むサブツリーの遅延分布を算出することを特徴とする付記6に記載の遅延解析支援プログラム。
前記一のノードの遅延分布に関するパラメータの変化割合を示す感度が所定の閾値以上であるか否かを判定し、
前記遅延算出手段は、
前記判定手段によって前記感度が閾値以上と判定された場合、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを含むサブツリーの遅延分布を算出することを特徴とする付記6または7に記載の遅延解析支援プログラム。
前記判定手段によって前記予測値が閾値以上と判定された場合、前記回路グラフの遅延分布を算出する遅延解析の実行を、前記ブロックベース解析からモンテカルロシミュレーションに切り替える切替手段、
前記切替手段によって切り替えられた結果、前記ブロックベース解析から得られた前記前段のノード群の遅延分布を用いて、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを含むサブツリーの遅延分布を算出する遅延算出手段として機能させ、
前記出力手段は、
前記遅延算出手段によって算出された算出結果を出力することを特徴とする付記1または2に記載の遅延解析支援プログラム。
前記切替手段によって切り替えられた結果、前記前段のノード群の遅延分布を用いて、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードの遅延分布を算出することを特徴とする付記9に記載の遅延解析支援プログラム。
前記遅延算出手段によって前記一のノードの遅延分布が算出された結果、前記回路グラフの遅延分布を算出する遅延解析の実行を、前記モンテカルロシミュレーションから前記ブロックベース解析に切り替え、
前記遅延算出手段は、
前記切替手段によって切り替えられた結果、前記一のノードの遅延分布を用いて、前記ブロックベース解析を実行することにより、前記一のノードよりも後段のノードの遅延分布を算出することを特徴とする付記10に記載の遅延解析支援プログラム。
前記回路グラフの中から、複数の信号が入力される一のノードを検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された一のノードに接続された前段のノード群の遅延分布に基づいて、前記一のノードの遅延分布の見積もり誤差に関する予測値を算出する予測値算出手段と、
前記予測値算出手段によって算出された予測値が所定の閾値以上となるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって判定された判定結果を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする遅延解析支援装置。
前記回路グラフの中から、複数の信号が入力される一のノードを検出する検出工程と、
前記検出工程によって検出された一のノードに接続された前段のノード群の遅延分布に基づいて、前記一のノードの遅延分布の見積もり誤差に関する予測値を算出する予測値算出工程と、
前記予測値算出工程によって算出された予測値が所定の閾値以上となるか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程によって判定された判定結果を出力する出力工程と、
を含んだことを特徴とする遅延解析支援方法。
310,320 クリティカルパス
330 パス
400 遅延解析支援装置
501 検出部
502 予測値算出部
503 判定部
504 出力部
505 遅延算出部
506 抽出部
507 決定部
508 切替部
600 セルライブラリ
600−1〜600−n 遅延情報
710,810,900 再解析対象回路
1010 サブツリー
1200 再解析対象回路グラフ
Claims (7)
- 解析対象の回路グラフをブロックベース解析して、前記回路グラフの遅延分布を見積もる遅延解析の実行をコンピュータに支援させる遅延解析支援プログラムであって、
前記コンピュータを、
前記回路グラフの中から、複数の信号が入力される一のノードを検出する検出手段、
前記検出手段によって検出された一のノードに接続された前段のノード群の遅延分布に基づいて、前記一のノードの遅延分布の見積もり誤差に関する予測値を算出する予測値算出手段、
前記予測値算出手段によって算出された予測値が所定の閾値以上となるか否かを判定する判定手段、
前記判定手段によって判定された判定結果を出力する出力手段、
として機能させることを特徴とする遅延解析支援プログラム。 - 前記予測値算出手段は、
前記前段のノード群の遅延の上限値のばらつきを表わす上限遅延分布と、前記前段のノード群の遅延の下限値のばらつきを表わす下限遅延分布とを用いて、前記予測値を算出することを特徴とする請求項1に記載の遅延解析支援プログラム。 - 前記コンピュータを、
前記判定手段によって前記予測値が閾値以上と判定された場合、モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを通過するパスの遅延分布を算出する遅延算出手段として機能させ、
前記出力手段は、
前記遅延算出手段によって算出された算出結果を出力することを特徴とする請求項1または2に記載の遅延解析支援プログラム。 - 前記判定手段は、
前記一のノードがクリティカルパスに含まれるか否かを判定し、
前記遅延算出手段は、
前記判定手段によって前記一のノードがクリティカルパスに含まれると判定された場合、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを通過するパスの遅延分布を算出することを特徴とする請求項3に記載の遅延解析支援プログラム。 - 前記判定手段は、
前記一のノードの遅延分布に関するパラメータの変化割合を示す素子感度が所定の閾値以上であるか否かを判定し、
前記遅延算出手段は、
前記判定手段によって前記素子感度が閾値以上と判定された場合、前記モンテカルロシミュレーションを実行することにより、前記一のノードを通過するパスの遅延分布を算出することを特徴とする請求項3または4に記載の遅延解析支援プログラム。 - 解析対象の回路グラフをブロックベース解析して、前記回路グラフの遅延分布を見積もる遅延解析を支援する遅延解析支援装置であって、
前記回路グラフの中から、複数の信号が入力される一のノードを検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された一のノードに接続された前段のノード群の遅延分布に基づいて、前記一のノードの遅延分布の見積もり誤差に関する予測値を算出する予測値算出手段と、
前記予測値算出手段によって算出された予測値が所定の閾値以上となるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって判定された判定結果を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする遅延解析支援装置。 - 解析対象の回路グラフをブロックベース解析して、前記回路グラフの遅延分布を見積もる遅延解析を支援する遅延解析支援方法であって、
前記回路グラフの中から、複数の信号が入力される一のノードを検出する検出工程と、
前記検出工程によって検出された一のノードに接続された前段のノード群の遅延分布に基づいて、前記一のノードの遅延分布の見積もり誤差に関する予測値を算出する予測値算出工程と、
前記予測値算出工程によって算出された予測値が所定の閾値以上となるか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程によって判定された判定結果を出力する出力工程と、
を含んだことを特徴とする遅延解析支援方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007302775A JP5076832B2 (ja) | 2007-11-22 | 2007-11-22 | 遅延解析支援プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析支援装置、および遅延解析支援方法 |
US12/193,431 US7934182B2 (en) | 2007-11-22 | 2008-08-18 | Method and apparatus for supporting delay analysis, and computer product |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007302775A JP5076832B2 (ja) | 2007-11-22 | 2007-11-22 | 遅延解析支援プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析支援装置、および遅延解析支援方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009129150A true JP2009129150A (ja) | 2009-06-11 |
JP5076832B2 JP5076832B2 (ja) | 2012-11-21 |
Family
ID=40670825
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007302775A Expired - Fee Related JP5076832B2 (ja) | 2007-11-22 | 2007-11-22 | 遅延解析支援プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析支援装置、および遅延解析支援方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7934182B2 (ja) |
JP (1) | JP5076832B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5056478B2 (ja) * | 2008-02-28 | 2012-10-24 | 富士通株式会社 | リーク電流解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、リーク電流解析装置、およびリーク電流解析方法 |
JP5652003B2 (ja) * | 2010-06-02 | 2015-01-14 | 富士通株式会社 | 遅延解析プログラム,遅延解析装置および遅延解析方法 |
US8589846B2 (en) * | 2011-12-02 | 2013-11-19 | Synopsys, Inc. | Modeling transition effects for circuit optimization |
US9323875B2 (en) * | 2012-02-28 | 2016-04-26 | Globalfoundries Inc. | Dynamically determining number of simulations required for characterizing intra-circuit incongruent variations |
US8555220B2 (en) | 2012-02-29 | 2013-10-08 | Umm Al-Qura University | Timing verification method for deterministic and stochastic networks and circuits |
WO2020176684A1 (en) * | 2019-02-26 | 2020-09-03 | Synopsys, Inc. | Novel method to compute timing yield and yield bottleneck using correlated sample generation and efficient statistical simulation |
CN111898335B (zh) * | 2020-06-23 | 2022-07-26 | 北京大学 | 一种电路可靠性分析方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005019524A (ja) * | 2003-06-24 | 2005-01-20 | Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk | 半導体集積回路の性能分散系算出装置及びその算出方法 |
WO2007068690A1 (en) * | 2005-12-16 | 2007-06-21 | International Business Machines Corporation | System and method of criticality prediction in statistical timing analysis |
JP2007183932A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-07-19 | Fujitsu Ltd | タイミング解析方法及びタイミング解析装置 |
JP2007233550A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Fujitsu Ltd | 遅延解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析方法、および遅延解析装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5093807A (en) * | 1987-12-23 | 1992-03-03 | Texas Instruments Incorporated | Video frame storage system |
JP2006268479A (ja) | 2005-03-24 | 2006-10-05 | Fujitsu Ltd | 設計支援装置、設計支援方法、設計支援プログラム、および記録媒体 |
US7350171B2 (en) * | 2005-11-17 | 2008-03-25 | Lizheng Zhang | Efficient statistical timing analysis of circuits |
JP4773903B2 (ja) * | 2006-07-05 | 2011-09-14 | 富士通株式会社 | 統計的タイミング解析の悲観的誤差を評価する方法 |
US8204730B2 (en) * | 2008-06-06 | 2012-06-19 | Synopsys, Inc. | Generating variation-aware library data with efficient device mismatch characterization |
-
2007
- 2007-11-22 JP JP2007302775A patent/JP5076832B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-08-18 US US12/193,431 patent/US7934182B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005019524A (ja) * | 2003-06-24 | 2005-01-20 | Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk | 半導体集積回路の性能分散系算出装置及びその算出方法 |
JP2007183932A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-07-19 | Fujitsu Ltd | タイミング解析方法及びタイミング解析装置 |
WO2007068690A1 (en) * | 2005-12-16 | 2007-06-21 | International Business Machines Corporation | System and method of criticality prediction in statistical timing analysis |
JP2007233550A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Fujitsu Ltd | 遅延解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析方法、および遅延解析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5076832B2 (ja) | 2012-11-21 |
US20090138838A1 (en) | 2009-05-28 |
US7934182B2 (en) | 2011-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5076832B2 (ja) | 遅延解析支援プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析支援装置、および遅延解析支援方法 | |
JP4061295B2 (ja) | デジタル回路の統計的タイミング解析のためのシステムおよび方法 | |
US7707530B2 (en) | Incremental timing-driven, physical-synthesis using discrete optimization | |
US20060155521A1 (en) | Method and apparatus for supporting verification, and computer product | |
US8281275B2 (en) | Reducing leakage power in integrated circuit designs | |
JP2005512236A (ja) | タイミンググラフ縮小によるタイミングモデル抽出 | |
JP2007087342A (ja) | 遅延解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析装置、および遅延解析方法 | |
US11755797B2 (en) | System and method for predicting performance, power and area behavior of soft IP components in integrated circuit design | |
Chowdhary et al. | How accurately can we model timing in a placement engine? | |
JP4414444B2 (ja) | 遅延解析支援プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析支援装置、および遅延解析支援方法 | |
Echavarria et al. | FAU: Fast and error-optimized approximate adder units on LUT-Based FPGAs | |
WO2010092825A1 (ja) | 回路解析方法 | |
Coward et al. | Automatic datapath optimization using e-graphs | |
US20210384901A1 (en) | Glitch power analysis and optimization engine | |
US20090049417A1 (en) | Method of designing a circuit for optimizing output bit length and integrated circuit therefor | |
US8069026B2 (en) | Clock gating analyzing apparatus, clock gating analyzing method, and computer product | |
US20060290378A1 (en) | Estimation of average-case activity for digital state machines | |
JP2006268479A (ja) | 設計支援装置、設計支援方法、設計支援プログラム、および記録媒体 | |
Kumar et al. | A framework for block-based timing sensitivity analysis | |
US8024684B2 (en) | Apparatus, method, and computer product for estimating power consumption of LSI | |
Brusamarello et al. | Fast and accurate statistical characterization of standard cell libraries | |
US11263376B1 (en) | System and method for fixing unknowns when simulating nested clock gaters | |
JP2008225569A (ja) | 遅延解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、遅延解析装置および遅延解析方法 | |
US8689161B2 (en) | Methods for designing integrated circuits employing pre-determined timing-realizable clock-insertion delays and integrated circuit design tools | |
KR102109101B1 (ko) | Ntv 영역에서의 정적 타이밍 분석 방법 및 그 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100616 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120124 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120131 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120330 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120731 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120813 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |