JP2009109788A - レーザー走査型顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】上記課題は、赤外線パルスレーザーと、前記赤外線パルスレーザーからの赤外光を標本上に集光させる対物レンズと、非線形光学効果により前記赤外光よりも短い波長の観察光を集めるために前記標本を挟んで前記対物レンズの反対側に配置されたコンデンサレンズと、前記コンデンサレンズで集められた前記観察光を検出する可視光検出器を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記コンデンサレンズの前側焦点位置近傍に部分的に赤外光の透過特性を変えたIR部分透過フィルタを配置し、前記コンデンサレンズで集められた前記標本からの透過光を、前記IR部分透過フィルタを通して検出する赤外光検出器を備えることを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。
【選択図】図1
Description
多光子励起では、吸収波長のほぼ整数倍の波長を持つ波長の光線を同時に蛍光体に照射することにより、本来の吸収波長と同等な励起現象が引き起こされる。この多光子励起現象は非線形現象と呼ばれ、たとえば2光子励起の場合は励起光の強度の2乗に比例した確率で励起現象が起きる。
また、SHG(Second-Harmonic Generation:第2高調波)を利用した顕微鏡も、照射光の半波長に相当する光が検出される。つまり、SHG顕微鏡においても、レイリー散乱の影響が少ないことや標本を光侵襲の影響が少ないなどの長所を持つ。
DIC観察では、対物レンズの像側にノマルスキープリズムあるいはウォーラストンプリズムを配置する必要があるが、対物レンズに入射されるレーザーがこれらプリズムにより標本位置で僅かに横ズレした2光束に分岐されてスポットを結ぶため、分解能の低下や明るさの低下が問題となる。このため、レーザーによる観察時にはこれらプリズムを光路から外し、透過照明光によるDIC観察時に光路に入れる作業が必要であり、パッチクランプなどの作業を行う際には、僅かな振動により電極が外れるなど問題があった。
また、本発明の上記の課題は、赤外線パルスレーザーと、前記赤外線パルスレーザーからの赤外光を標本上に集光させる対物レンズと、非線形光学効果により前記赤外光よりも短い波長の観察光を集めるために前記標本を挟んで前記対物レンズの反対側に配置されたコンデンサレンズと、前記コンデンサレンズで集められた前記観察光を検出する可視光検出器を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記コンデンサレンズの前側焦点位置近傍に部分的に赤外光の透過特性を変えたIR部分透過フィルタを配置し、前記コンデンサレンズと前記IR部分透過フィルタを通じて前記標本を照明する赤外線光源と、前記対物レンズで集められた前記標本からの透過光を検出する赤外光検出器を備えることを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によっても解決される。
上記構成において、前記IR部分透過フィルタは、可視光を有効光束径の全領域で透過し、赤外光を有効光束径に対して偏心した領域を透過するように構成することが望ましい。このとき、前記IR部分透過フィルタは、第1の扇形領域は赤外光を透過せずに可視光を透過し、第2の扇形領域は赤外光と可視光の両方を透過するように構成することが考えられる。
実施例2においても、励起光源は赤外線パルスレーザー1が一般的に用いられる。ここで発射された赤外光はスキャンユニット2に導入され、走査手段4と瞳投影レンズ5と結像レンズ6などを通過し、対物レンズ7を通じて標本8に照射される。このとき、スキャンユニット2は顕微鏡3に内蔵される形態をとっても、外部に設置する形態をとっても構わないことは実施例1と同様である。
以下では、図3を参照しながら、上記の実施例1と実施例2で利用されたIR部分透過フィルタの実施例を説明する。
2・・・スキャンユニット
3・・・顕微鏡
4・・・走査手段
5・・・瞳投影レンズ
6・・・結像レンズ
7・・・対物レンズ
8・・・標本
9・・・コンデンサレンズ
10・・・IR部分透過フィルタ
11・・・ダイクロイックミラー
12・・・蛍光検出ユニット
13・・・赤外線カットフィルタ
14・・・検出器
15・・・赤外光検出器
16・・・ミラー
17・・・ミラー
18・・・赤外線光源
19・・・ダイクロイックミラー
20・・・赤外光撮像素子
21・・・第1のIR部分透過フィルタ
22・・・第2のIR部分透過フィルタ
Claims (7)
- 赤外線パルスレーザーと、
前記赤外線パルスレーザーからの赤外光を標本上に集光させる対物レンズと、
非線形光学効果により前記赤外光よりも短い波長の観察光を集めるために前記標本を挟んで前記対物レンズの反対側に配置されたコンデンサレンズと、
前記コンデンサレンズで集められた前記観察光を検出する可視光検出器を備えたレーザー走査型顕微鏡において、
前記コンデンサレンズの前側焦点位置近傍に部分的に赤外光の透過特性を変えたIR部分透過フィルタを配置し、
前記コンデンサレンズで集められた前記標本からの透過光を、前記IR部分透過フィルタを通して検出する赤外光検出器を備えることを特徴とするレーザー走査型顕微鏡。 - 前記可視光検出器と前記赤外光検出器は光電子増倍管であることを特徴とする請求項1に記載のレーザー走査型顕微鏡。
- 赤外線パルスレーザーと、
前記赤外線パルスレーザーからの赤外光を標本上に集光させる対物レンズと、
非線形光学効果により前記赤外光よりも短い波長の観察光を集めるために前記標本を挟んで前記対物レンズの反対側に配置されたコンデンサレンズと、
前記コンデンサレンズで集められた前記観察光を検出する可視光検出器を備えたレーザー走査型顕微鏡において、
前記コンデンサレンズの前側焦点位置近傍に部分的に赤外光の透過特性を変えたIR部分透過フィルタを配置し、
前記コンデンサレンズと前記IR部分透過フィルタを通じて前記標本を照明する赤外線光源と、
前記対物レンズで集められた前記標本からの透過光を検出する赤外光検出器を備えることを特徴とするレーザー走査型顕微鏡。 - 前記可視光検出器は光電子増倍管であり、前記赤外光検出器は2次元撮像素子であることを特徴とする請求項3に記載のレーザー走査型顕微鏡。
- 前記IR部分透過フィルタは、可視光を有効光束径の全領域で透過し、赤外光を有効光束径に対して偏心した領域を透過するように構成することを特徴とする請求項1から請求項4の何れかに記載のレーザー走査型顕微鏡。
- 前記IR部分透過フィルタは、第1の扇形領域は赤外光を透過せずに可視光を透過し、第2の扇形領域は赤外光と可視光の両方を透過するように構成することを特徴とする請求項1から請求項4の何れかに記載のレーザー走査型顕微鏡。
- 前記IR部分透過フィルタは、第1の光学フィルタと第2の光学フィルタを重ね合わせて構成され、前記第1の光学フィルタと前記第2の光学フィルタの相対的位置を変えることによって偏射照明を可変できることを特徴とする請求項1から請求項4の何れかに記載のレーザー走査型顕微鏡。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016056252A1 (ja) * | 2014-10-08 | 2016-04-14 | オリンパス株式会社 | 結像光学系、照明装置および観察装置 |
KR101775177B1 (ko) * | 2011-04-12 | 2017-09-05 | 가부시키가이샤 제이올레드 | 유기 el 소자의 제조 방법 및 레이저 초점 위치 설정 방법 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5363199B2 (ja) * | 2009-06-04 | 2013-12-11 | 日本分光株式会社 | 顕微全反射測定装置 |
EP2556350A4 (en) * | 2010-04-09 | 2017-10-18 | Northeastern University | A tunable laser-based infrared imaging system and method of use thereof |
EP3640701B1 (en) | 2011-10-25 | 2022-06-15 | Daylight Solutions Inc. | Infrared imaging microscope using tunable laser radiation |
CN103676128A (zh) * | 2012-09-17 | 2014-03-26 | 昆山尚达智机械有限公司 | 一种新型的光学比较显微仪器 |
JP6525161B2 (ja) | 2013-04-12 | 2019-06-05 | デイライト ソリューションズ、インコーポレイテッド | 赤外光用屈折対物レンズ・アセンブリ |
US11506877B2 (en) | 2016-11-10 | 2022-11-22 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Imaging instrument having objective axis and light sheet or light beam projector axis intersecting at less than 90 degrees |
US20190101489A1 (en) * | 2017-09-29 | 2019-04-04 | Michael John Darwin | Method and Apparatus for Simultaneously Measuring 3Dimensional Structures and Spectral Content of Said Structures |
CN108387562B (zh) * | 2018-02-02 | 2020-09-15 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 共聚焦显微系统中针孔轴向位置的调节方法 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH036511A (ja) * | 1989-06-05 | 1991-01-14 | Nikon Corp | 赤外線用可変濃度フィルタ |
JPH1020198A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Olympus Optical Co Ltd | 近赤外線顕微鏡及びこれを用いた顕微鏡観察システム |
JPH11133308A (ja) * | 1997-08-29 | 1999-05-21 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡透過照明装置 |
JP2001235683A (ja) * | 2000-01-27 | 2001-08-31 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | 顕微鏡組立物 |
JP2002031758A (ja) * | 2000-07-17 | 2002-01-31 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JP2002532748A (ja) * | 1998-12-17 | 2002-10-02 | ライカ マイクロシステムス ヴェツラー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | マルチバンド蛍光顕微鏡における、励起強度を個別に整合させる方法、およびこの方法を実施するためのマルチバンド蛍光顕微鏡 |
JP2003042845A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Sony Corp | 光学装置 |
JP2003264842A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | フィルタ及び調光板及び固体撮像素子 |
JP2004302421A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-10-28 | Nikon Corp | 全反射顕微鏡 |
JP2007065149A (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-15 | Nano Photon Kk | レーザ顕微鏡 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2931268B2 (ja) | 1993-06-03 | 1999-08-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザスキャン光学装置 |
EP0627643B1 (en) | 1993-06-03 | 1999-05-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser scanning optical system using axicon |
CN1145820C (zh) | 1997-08-29 | 2004-04-14 | 奥林巴斯光学工业株式会社 | 显微镜透过明视野照明装置 |
CA2318892A1 (en) * | 1998-01-27 | 1999-07-29 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Signal enhancement for fluorescence microscopy |
HU227859B1 (en) * | 2005-01-27 | 2012-05-02 | E Szilveszter Vizi | Real-time 3d nonlinear microscope measuring system and its application |
US7542137B2 (en) * | 2006-07-24 | 2009-06-02 | University Of Ottawa | Pathogen detection using coherent anti-stokes Raman scattering microscopy |
KR100829439B1 (ko) * | 2007-06-08 | 2008-05-15 | 한국표준과학연구원 | 적외선 사광파 혼합 편광 이미징 장치 |
-
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH036511A (ja) * | 1989-06-05 | 1991-01-14 | Nikon Corp | 赤外線用可変濃度フィルタ |
JPH1020198A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Olympus Optical Co Ltd | 近赤外線顕微鏡及びこれを用いた顕微鏡観察システム |
JPH11133308A (ja) * | 1997-08-29 | 1999-05-21 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡透過照明装置 |
JP2002532748A (ja) * | 1998-12-17 | 2002-10-02 | ライカ マイクロシステムス ヴェツラー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | マルチバンド蛍光顕微鏡における、励起強度を個別に整合させる方法、およびこの方法を実施するためのマルチバンド蛍光顕微鏡 |
JP2001235683A (ja) * | 2000-01-27 | 2001-08-31 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | 顕微鏡組立物 |
JP2002031758A (ja) * | 2000-07-17 | 2002-01-31 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JP2003042845A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Sony Corp | 光学装置 |
JP2003264842A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | フィルタ及び調光板及び固体撮像素子 |
JP2004302421A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-10-28 | Nikon Corp | 全反射顕微鏡 |
JP2007065149A (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-15 | Nano Photon Kk | レーザ顕微鏡 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101775177B1 (ko) * | 2011-04-12 | 2017-09-05 | 가부시키가이샤 제이올레드 | 유기 el 소자의 제조 방법 및 레이저 초점 위치 설정 방법 |
WO2016056252A1 (ja) * | 2014-10-08 | 2016-04-14 | オリンパス株式会社 | 結像光学系、照明装置および観察装置 |
WO2016056147A1 (ja) * | 2014-10-08 | 2016-04-14 | オリンパス株式会社 | 結像光学系、照明装置および観察装置 |
JPWO2016056252A1 (ja) * | 2014-10-08 | 2017-07-27 | オリンパス株式会社 | 結像光学系、照明装置および観察装置 |
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