JP2009103516A - 位置検出装置、及び、バイアス磁界発生装置 - Google Patents

位置検出装置、及び、バイアス磁界発生装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009103516A
JP2009103516A JP2007274092A JP2007274092A JP2009103516A JP 2009103516 A JP2009103516 A JP 2009103516A JP 2007274092 A JP2007274092 A JP 2007274092A JP 2007274092 A JP2007274092 A JP 2007274092A JP 2009103516 A JP2009103516 A JP 2009103516A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
magnetic
magnetic field
bias
recording medium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007274092A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5046850B2 (ja
Inventor
Nobuhiro Nakagawa
信洋 中川
Kunichi Nakamura
薫一 中村
Masaaki Kusumi
雅昭 久須美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2007274092A priority Critical patent/JP5046850B2/ja
Priority to EP08016712.5A priority patent/EP2053362B1/en
Priority to CN200810167926.4A priority patent/CN101419049B/zh
Priority to US12/255,015 priority patent/US7965074B2/en
Publication of JP2009103516A publication Critical patent/JP2009103516A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5046850B2 publication Critical patent/JP5046850B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/142Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices
    • G01D5/145Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage using Hall-effect devices influenced by the relative movement between the Hall device and magnetic fields
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/244Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
    • G01D5/24428Error prevention
    • G01D5/24433Error prevention by mechanical means
    • G01D5/24438Special design of the sensing element or scale
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/244Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
    • G01D5/245Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains using a variable number of pulses in a train
    • G01D5/2454Encoders incorporating incremental and absolute signals
    • G01D5/2455Encoders incorporating incremental and absolute signals with incremental and absolute tracks on the same encoder

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

【課題】 さらなる高精度を実現することができる位置検出装置を提供する。
【解決手段】 2つのインクリメンタル層12、13とアブソリュート層14とからなり、アブソリュート層14がインクリメンタル層12、13の間に設けられ、各層に磁気情報が記録された磁気記録媒体15と、磁気記録媒体15の各層が延在された方向に対し、相対移動し、各層と対向配置される3つの磁気抵抗効果素子24、25、26からなり、各磁気抵抗効果素子24、25、26により各層の磁気情報をそれぞれ検出する磁気検出手段22とを備え、磁気検出手段22には、各磁気抵抗効果素子24、25、26に対向配置され、各磁気抵抗効果素子24、25、26に対応したバイアス磁界を発生させるバイアス磁界発生手段30が設けられる。
【選択図】 図4

Description

本発明は、工作期間や産業機械、精密測長・測角装置等に適用される磁気式のスケール、ロータリエンコーダ等の位置検出装置及びこの位置検出装置に用いられるバイアス磁界発生装置に関する。
従来、工作機械や産業機械、精密測長・測角装置等に適用される磁気式のスケール、ロータリエンコーダ等である位置検出装置の検出ヘッドとして、Fe−Ni、Ni−Co等の薄膜による磁気抵抗効果を利用した磁気抵抗効果素子(MR素子)が用いられている。
このMR素子による検出ヘッドを使用したスケール、ロータリエンコーダにおいても、その目的、用途等により様々な形状、構造の物が有るが、その性能として高精度、高分解能を必要とする種類の物については、基本的に磁気記録のピッチ(記録波長)を短くし、又はMRセンサの出力波形においてその波形の高調波歪の低減やS/N比の向上を行って一波長内における内挿時の誤差を減らす様にして高精度、高分解能を実現している。
また、このような検出ヘッドにおいて、さらなる高精度、高分解能を実現するために、MRセンサにバイアス磁石を設けることにより、バイアス磁界を発生させ、センサ精度を向上させることが知られている。
ところで、上述の位置検出装置は、MRセンサと対向する位置に磁気情報が記録された磁気記録媒体を有し、MRセンサと磁気記録媒体とが相対移動した際に、MRセンサが、磁気記録媒体の磁気情報を検出することにより、位置を検出している。この位置検出装置に用いられる磁気記録媒体としては、インクリメンタル層とアブソリュート層を備えるものが提案されている。このインクリメンタル層とアブソリュート層とを備える磁気記録媒体においては、インクリメンタル層とアブソリュート層とを各1つずつ備え、互いに平行配置する2トラック構成のものが一般的である。また、アブソリュート層とインクリメンタル層との位相差を少なくする目的で、アブソリュート層を2つのインクリメンタル層とで挟み、3層を平行配置する3トラック構成からなる磁気記録媒体も提案されている。
ここで、複数のトラックを有する磁気記録媒体の磁気情報を検出する検出ヘッドからなる位置検出装置に、上述のバイアス磁界発生手段を設ける場合、アブソリュート層とインクリメンタル層のそれぞれに対応するMRセンサに対しては、同じバイアス磁界しかかけられず、インクリメンタル層に合わせると、アブソリュート層におけるMRセンサの感度が悪くなり、磁気情報の検出精度が悪くなる。また、当該バイアス磁界をアブソリュート層に合わせると、インクリメンタル層における戻り誤差と内挿精度が大幅に悪化する。
特開平8−68661号公報
本発明は、このような従来の実情に鑑みてなされたものであり、MR素子を検出ヘッドに用いて高精度を得られる構成とした磁気式のスケール、エンコーダ等の位置検出装置において、さらなる高精度を実現することができる位置検出装置、及び、この位置検出装置に適用されるバイアス磁界発生装置を提供することを目的とする。
上述した目的を達成するために、本発明に係る位置検出装置は、2つのインクリメンタル層とアブソリュート層とからなり、該アブソリュート層が該インクリメンタル層の間に設けられ、上記各層に磁気情報が記録された磁気記録媒体と、上記磁気記録媒体の各層が延在された方向に対し、相対移動し、上記各層と対向配置される3つの磁気抵抗効果素子からなり、該各磁気抵抗効果素子により上記各層の磁気情報をそれぞれ検出する磁気検出手段とを備える。そして、上記磁気検出手段には、上記各磁気抵抗効果素子に対向配置され、該各磁気抵抗効果素子に対応したバイアス磁界を発生させるバイアス磁界発生手段が設けられることを特徴とする。
また、本発明に係るバイアス磁界発生装置は、2つのインクリメンタル層とアブソリュート層とからなり、該アブソリュート層が該インクリメンタル層の間に設けられ、上記各層に磁気情報が記録された磁気記録媒体と、該磁気記録媒体の各層が延在された方向に対し、相対移動し、該各層と対向配置される3つの磁気抵抗効果素子からなり、該磁気抵抗効果素子により該各層の磁気情報をそれぞれ検出する磁気検出手段とを有する位置検出装置に適用されるバイアス磁界発生装置であって、上記磁気検出手段の各磁気抵抗効果素子に対向配置され、該各磁気抵抗効果素子に対応したバイアス磁界を発生させるバイアス磁界発生手段を備えることを特徴とする。
本発明によれば、アブソリュート層とインクリメンタル層とを備える磁気記録媒体の磁気情報を検出する各磁気抵抗効果素子に対して、最適なバイアス磁界を発生させることができ、インクリメンタル層においては、戻り誤差と内挿が最も向上し、アブソリュート層においては磁気情報の検出を高精度に行うことができる。
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。本発明を適用した位置検出装置1は、工作機械や産業機械、精密測長・測角装置等に設けられ、図1に示すように、例えば、各種工作機械の被工作物取付台側に設けられた取付基台部2に取り付けられるスケール部材3と、刃物送り台4に設けられ、スケール部材3と対向して配置される磁気検出手段としてのセンサユニット5とを備える。
位置検出装置1は、被工作物取付台に対して刃物送り台4が相対移動し、その相対位置、すなわち刃物送り台4に取り付けた刃物による被工作物に対する加工位置を刻々と検出して工作機械の制御部に対して検出信号を出力する。
なお、位置検出装置1は、上述した構造に限定されず、例えば刃物送り台4や被工作物取付台の動作に追従する部位にそれぞれセンサユニット5とスケール部材3を取り付けるようにしてもよい。また、位置検出装置1は、例えば刃物送り台4側にスケール部材3を取り付けるとともに、被工作物送り台側にセンサユニット5を取り付けるようにしてもよい。また、位置検出装置1は、上述した構造を有する工作機械ばかりでなく他の構造を有する工作機械にも取り付けられるとともに様々な機器にも取り付けられることはもちろんである。
工作機械の取付基台部2に取り付けられるスケール部材3は、図2及び図3に示すように、長尺状のスケール基材11と、2つのインクリメンタル層12、13とアブソリュート層14とを備える磁気記録媒体15とから構成されている。スケール部材3は、例えば、平角断面形状のガラス基材からなるスケール基材11の表面に磁性体を無電解メッキで2〜3[μm]被着したものを用いて通常の磁気記録ヘッドにより長手方向に所定のパターンを記録することにより磁気記録媒体15のインクリメンタル層12、13及びアブソリュート層14を形成する。スケール部材3は、スケール基材11に設けられた取付孔を介して取付基台部2にボルト等により螺着される。
スケール部材3を構成するインクリメンタル層12、13及びアブソリュート層14は、アブソリュート層14がインクリメンタル層12、13の間に設けられている。インクリメンタル層12、13及びアブソリュート層14は、それぞれ図2に示すようなパターンの磁気信号が記録されている。スケール部材3のインクリメンタル層12、13は、例えば、それぞれN極とS極とを一定のピッチで交互に着磁して磁気信号が記録されている。また、スケール部材3のアブソリュート層14は、例えば所定の定点位置に対応した位置に磁気情報が記録された磁気記録部と、それ以外の位置において磁気情報が記録されていない非記録部とから構成されている。
スケール部材3に対して長手方向に相対移動するセンサユニット5は、図1に示すように、例えば、合成樹脂材により形成される取付部を介して刃物送り台4の取付部に取り付けられる筐体21と、この筐体21に一定の取付姿勢に保持して取り付けする図示しない支持機構を介して搭載された検出ヘッド22と、図示しない検出回路等を備えて構成される。センサユニット5は、スケール部材3に対して走行ガイド機構23を介して対向配置され、被工作物の加工が行われることにより図1中矢印Aで示す方向に、刃物送り台4と一体的に往復移動する。
センサユニット5の検出ヘッド22は、第1のインクリメンタル層用センサ24、第2のインクリメンタル層用センサ25、アブソリュート層用センサ26の3つのセンサと、各センサに対向する位置に配置される磁界発生手段30とから構成されている。各センサは、例えば、磁気抵抗効果素子(MR素子)から構成されている。なお、各センサは、上述に限らず、高精度にスケール部材3の磁気情報を検出することができるものであれば、いかなるものであってもよく、例えば、人工格子膜構造の磁気抵抗効果素子であってもよい。第1のインクリメンタル層用センサ24は、スケール部材3のインクリメンタル層12と一定の間隔を保って対向配置される。第2のインクリメンタル層用センサ25は、スケール部材3のインクリメンタル層13と一定の間隔を保って対向配置される。アブソリュート層用センサ26は、スケール部材3のアブソリュート層14と一定の間隔を保って対向配置される。
磁界発生手段30は、各センサの磁気記録媒体15と対向する面とは反対側の面に対向配置され、当該対向配置した各センサにバイアス磁界をかける。具体的には、磁界発生手段30は、図4(A)〜図4(C)に示すように、第1及び第2のインクリメンタル層用センサ24、25及びアブソリュート層用センサ26を覆うように対向配置されるアブソリュート層用バイアス磁石部材31と、アブソリュート層用バイアス磁石部材31に積層され、第1のインクリメンタル層用センサ24を覆うように対向配置される第1のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32と、アブソリュート層用バイアス磁石部材31に積層され、第2のインクリメンタル層用センサ25を覆うように対向配置される第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材33とから構成されている。
アブソリュート層用バイアス磁石部材31は、薄板形状を有する永久磁石からなり、長辺がスケール部材3の長手方向と直交し、短辺がスケール部材3の長手方向と平行となるように、主面が3つのセンサ24、25、26を覆う大きさに形成されている。第1のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32は、アブソリュート層用バイアス磁石部材31と同様に、薄板形状を有する永久磁石からなり、アブソリュート層14と対向する位置を除き、第1のインクリメンタル層用センサ24のみを覆うような大きさに形成されている。第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材33は、アブソリュート層用バイアス磁石部材31と同様に、薄板形状を有する永久磁石からなり、アブソリュート層14と対向する位置を除き、第2のインクリメンタル層用センサ25を覆うような大きさに形成されている。
第1及び第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32、33は、それぞれアブソリュート層用バイアス磁石部材31と略同一の厚みを有し、アブソリュート層用バイアス磁石部材31の短辺よりやや短い幅に形成されている。磁界発生手段30は、アブソリュート層用バイアス磁石部材31と第1及び第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32、33とが、接着剤等により接着されて、図4(B)に示すように、断面が略コ字状となるように一体に組み合わされている。
磁界発生手段30は、アブソリュート層用バイアス磁石部材31に第1及び第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32、33が設けられた側の面が、各センサ24、25、26と対向し、所定の間隔を空けて配置される。
また、磁界発生手段30は、図5に示すように、第1のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32と第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材33とが、着磁方向が異なるように配置される。図5の例においては、第1のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32と第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材33は、S極同士が近接するように形成されている。
このような構成を有する磁界発生手段30は、対向するセンサ24、25、26にかけるバイアス磁界に応じて、磁石の厚みを変えるようにする、すなわち、第1及び第2のインクリメンタル層用センサ24、25に対するバイアス磁石の厚みと、アブソリュート層用センサ26に対するバイアス磁石の厚みとでは、アブソリュート層用センサ26に対するバイアス磁石が薄く形成されている。さらに、磁界発生手段30では、第1のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32と第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材33とが、その着磁方向が異なるように配置されていることから、これらの間に介在されるアブソリュート層用センサ26に対するバイアス磁界は減磁されている。
このような構成を有する磁界発生手段30は、図6に示すように、中央において、磁界の発生が抑えられていることが分かる。図6に示すシミュレーション結果においては、アブソリュート層用バイアス磁石部材31として、9×14×0.5[mm]の大きさの磁石を用い、第1及び第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32、33として、8×6×0.5[mm]の大きさの磁石2つを用いて、図4に示す磁界発生手段30のように形成し、発生する磁界のシミュレーションを行った。図6においては、第1及び第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32、33の最近傍にあたる領域Aでは、最も磁界が強く、第1及び第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32、33の間の位置にあたる領域B、C、Dでは、領域Aと比較して弱い磁界が発生しており、かつ、領域B、C、Dの順に領域Aの磁界の強さに近づき、領域Bで最も磁界が抑えられていることがわかる。なお、本測定においては、第1及び第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材32、33の着磁方向は同一のものを使用した。この測定結果からも、それぞれの位置において発生する磁界の強さが異なることがわかる。
以上のような構成を備える位置検出装置では、アブソリュート層が2つのインクリメンタル層により挟まれるスケール部材を備え、磁気記録媒体の磁気情報を検出する各磁気抵抗効果素子に対して、最適なバイアス磁界を発生させることができ、インクリメンタル層においては、戻り誤差と内挿が最も向上し、アブソリュート層においては磁気情報の検出を高精度に行うことができる。
なお、本発明に係る位置検出装置の磁界発生手段は、上述のように、バイアス磁石の厚みと着磁方向との組み合わせに限らず、いずれか一方のみを用いて、バイアス磁界の調整を図るようにしてもよい。また、磁界発生手段30のように、複数の部材の組み合わせに限らず、同様の形状を有する一体ものを形成するものであってもよい。さらに、磁界発生手段は、バイアス磁石の着磁方向を異なるようにすることに着目すると、例えば、図7に示すように、アブソリュート層用バイアス磁石部材31をなくし、着磁方向が異なる2枚の薄板状の永久磁石からなる磁界発生手段40を用いるようにしても同様の目的を達成することができる。
なお、本発明は上述した実施の形態のみに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることは勿論である。
本発明の第1の実施の形態として示す位置検出装置の取付構造を示す要部斜視図である。 スケール部材の磁気記録媒体に記録されている磁気信号パターンを示す模式図である。 検出ヘッドとスケール部材との位置関係を示すための要部斜視図である。 (A)は、磁界発生手段の平面図であり、(B)は、正面図であり、(C)は、側面図である。 磁界発生手段の他の実施の形態を示す斜視図である。 図4の磁界発生手段における発生する磁界のシミュレーション図である。 磁界発生手段の他の実施の形態を示す斜視図である。
符号の説明
1 位置検出装置、2 取付基台部、3 スケール部材、4 刃物送り台、5 センサユニット、11 スケール基材、12、13 インクリメンタル層、14 アブソリュート層、15 磁気記録媒体、21 筐体、22 検出ヘッド、23 走行ガイド機構、24 第1のインクリメンタル層用センサ、25 第2のインクリメンタル層用センサ、26 アブソリュート層用センサ、30 磁界発生手段、31 アブソリュート層用バイアス磁石部材、32 第1のインクリメンタル層用バイアス磁石部材、33 第2のインクリメンタル層用バイアス磁石部材

Claims (6)

  1. 2つのインクリメンタル層とアブソリュート層とからなり、該アブソリュート層が該インクリメンタル層の間に設けられ、上記各層に磁気情報が記録された磁気記録媒体と、
    上記磁気記録媒体の各層が延在された方向に対し、相対移動し、上記各層と対向配置される3つの磁気抵抗効果素子からなり、該各磁気抵抗効果素子により該各層の磁気情報をそれぞれ検出する磁気検出手段とを備え、
    上記磁気検出手段には、上記各磁気抵抗効果素子に対向配置され、該各磁気抵抗効果素子に対応したバイアス磁界を発生させるバイアス磁界発生手段が設けられることを特徴とする位置検出装置。
  2. 上記バイアス磁界発生手段は、上記磁気記録媒体の各層に対向する上記磁気検出手段の磁気抵抗効果素子に応じて厚みが異なるバイアス磁石からなることを特徴とする請求項1記載の位置検出装置。
  3. 上記バイアス磁界発生手段は、上記磁気記録媒体の各層に対向する上記磁気検出手段の磁気抵抗効果素子に応じて、着磁方向が異なる複数のバイアス磁石からなることを特徴とする請求項1記載の位置検出装置。
  4. 2つのインクリメンタル層とアブソリュート層とからなり、該アブソリュート層が該インクリメンタル層の間に設けられ、上記各層に磁気情報が記録された磁気記録媒体と、該磁気記録媒体の各層が延在された方向に対し、相対移動し、該各層と対向配置される3つの磁気抵抗効果素子からなり、該磁気抵抗効果素子により該各層の磁気情報をそれぞれ検出する磁気検出手段とを有する位置検出装置に適用されるバイアス磁界発生装置において、
    上記磁気検出手段の各磁気抵抗効果素子に対向配置され、該各磁気抵抗効果素子に対応したバイアス磁界を発生させるバイアス磁界発生手段を備えることを特徴とするバイアス磁界発生装置。
  5. 上記バイアス磁界発生手段は、上記磁気記録媒体の各層に対向する上記磁気検出手段の磁気抵抗効果素子に応じて厚みが異なるバイアス磁石からなることを特徴とする請求項4記載のバイアス磁界発生装置。
  6. 上記バイアス磁界発生手段は、上記磁気記録媒体の各層に対向する上記磁気検出手段の磁気抵抗効果素子に応じて、着磁方向が異なる複数のバイアス磁石からなることを特徴とする請求項4記載のバイアス磁界発生装置。
JP2007274092A 2007-10-22 2007-10-22 位置検出装置、及び、バイアス磁界発生装置 Active JP5046850B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007274092A JP5046850B2 (ja) 2007-10-22 2007-10-22 位置検出装置、及び、バイアス磁界発生装置
EP08016712.5A EP2053362B1 (en) 2007-10-22 2008-09-23 Position sensor and bias magnetic field generating device
CN200810167926.4A CN101419049B (zh) 2007-10-22 2008-10-16 位置传感器和偏磁场生成装置
US12/255,015 US7965074B2 (en) 2007-10-22 2008-10-21 Position sensor and bias magnetic field generating device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007274092A JP5046850B2 (ja) 2007-10-22 2007-10-22 位置検出装置、及び、バイアス磁界発生装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009103516A true JP2009103516A (ja) 2009-05-14
JP5046850B2 JP5046850B2 (ja) 2012-10-10

Family

ID=40332302

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007274092A Active JP5046850B2 (ja) 2007-10-22 2007-10-22 位置検出装置、及び、バイアス磁界発生装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7965074B2 (ja)
EP (1) EP2053362B1 (ja)
JP (1) JP5046850B2 (ja)
CN (1) CN101419049B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009204340A (ja) * 2008-02-26 2009-09-10 Tokai Rika Co Ltd 位置検出装置及びシフトレバー装置
JP2014059297A (ja) * 2012-08-20 2014-04-03 Dmg Mori Seiki Co Ltd スケール装置、位置情報生成方法及び多軸ステージ装置
JP2022109020A (ja) * 2021-01-14 2022-07-27 大銀微系統股▲分▼有限公司 位置検出機構

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7932684B2 (en) * 2008-03-25 2011-04-26 Bose Corporation Absolute position sensing
JP5567823B2 (ja) * 2009-11-09 2014-08-06 ヤマハ発動機株式会社 リニアスケール、リニアモータ、及びリニアモータの制御装置
CN102322878B (zh) * 2011-05-28 2013-07-17 安徽大学 高精度编码器和角度传感器的制备方法
DE102011121028B4 (de) * 2011-12-14 2014-10-16 Paragon Ag "Messanordnung zur Bestimmung des Abstands zu einer magnetischen Wechselfeldquelle und Verfahren zur Messung des Abstands zwischen einer Magnetsensoranordnung und einer magnetischen Wechselfeldquelle"
US9733317B2 (en) * 2014-03-10 2017-08-15 Dmg Mori Seiki Co., Ltd. Position detecting device
CN105910528B (zh) * 2015-02-20 2019-09-20 亚德诺半导体集团 检测传感器误差
CN105910637B (zh) 2015-02-20 2018-10-19 亚德诺半导体集团 检测传感器误差
CN105953713A (zh) * 2016-07-12 2016-09-21 上海平信机电制造有限公司 一种绝对值磁栅位移测量系统
US10612946B2 (en) * 2018-05-30 2020-04-07 Rockwell Automation Technologies, Inc. Encoder system for position determination with inclined scale
JP6973421B2 (ja) * 2019-01-14 2021-11-24 株式会社デンソー 回転検出装置
CN111486878A (zh) * 2020-05-08 2020-08-04 长春晟博光学技术开发有限公司 一种具有限位功能的集成式磁栅尺编码器

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07134045A (ja) * 1993-11-11 1995-05-23 Nikon Corp アブソリュートエンコーダ
JP2003004484A (ja) * 2001-06-19 2003-01-08 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd 回転センサ
JP2004117101A (ja) * 2002-09-25 2004-04-15 Yaskawa Electric Corp 磁気式エンコーダ装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4757257A (en) * 1984-05-28 1988-07-12 Canon Kabushiki Kaisha Magnetoresistive displacement sensor and signal processing circuit
US4785241A (en) * 1985-08-08 1988-11-15 Canon Denshi Kabushiki Kaisha Encoder unit using magnetoresistance effect element
JP2924236B2 (ja) * 1991-03-20 1999-07-26 ソニー・プレシジョン・テクノロジー株式会社 磁気センサおよび位置検出装置
JPH0868661A (ja) 1994-08-30 1996-03-12 Sony Corp 位置検出装置
JP3367230B2 (ja) * 1994-10-25 2003-01-14 ソニー・プレシジョン・テクノロジー株式会社 位置検出装置
DE19530904B4 (de) * 1995-08-23 2005-08-04 Siemens Ag Vorrichtung zur Erfassung einer Position eines sich relativ zu einer Basis rotatorisch oder translatorisch bewegenden Objektes
JPH10293042A (ja) * 1997-04-16 1998-11-04 Yaskawa Electric Corp 磁気式エンコーダ装置
EP0905523B1 (de) * 1997-09-24 2004-11-10 Infineon Technologies AG Sensoreinrichtung zur Richtungserfassung eines äu eren Magnetfeldes mittels eines magnetoresistiven Sensorelementes
US7009386B2 (en) * 2002-01-02 2006-03-07 Stoneridge Control Devices, Inc. Non-contact position sensor utilizing multiple sensor elements
JP2004103120A (ja) * 2002-09-10 2004-04-02 Hitachi Ltd 差動バイアス型磁区制御構造を有する記録再生分離型磁気ヘッド
CN100565234C (zh) * 2002-10-23 2009-12-02 雅马哈株式会社 磁传感器制造方法
JP2007199007A (ja) * 2006-01-30 2007-08-09 Alps Electric Co Ltd 磁気エンコーダ
JP4992272B2 (ja) 2006-03-30 2012-08-08 富士通株式会社 呼制御サーバ

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07134045A (ja) * 1993-11-11 1995-05-23 Nikon Corp アブソリュートエンコーダ
JP2003004484A (ja) * 2001-06-19 2003-01-08 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd 回転センサ
JP2004117101A (ja) * 2002-09-25 2004-04-15 Yaskawa Electric Corp 磁気式エンコーダ装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009204340A (ja) * 2008-02-26 2009-09-10 Tokai Rika Co Ltd 位置検出装置及びシフトレバー装置
JP2014059297A (ja) * 2012-08-20 2014-04-03 Dmg Mori Seiki Co Ltd スケール装置、位置情報生成方法及び多軸ステージ装置
JP2022109020A (ja) * 2021-01-14 2022-07-27 大銀微系統股▲分▼有限公司 位置検出機構

Also Published As

Publication number Publication date
CN101419049B (zh) 2015-08-19
US20090116151A1 (en) 2009-05-07
US7965074B2 (en) 2011-06-21
EP2053362B1 (en) 2015-11-04
EP2053362A2 (en) 2009-04-29
JP5046850B2 (ja) 2012-10-10
EP2053362A3 (en) 2013-04-17
CN101419049A (zh) 2009-04-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5046850B2 (ja) 位置検出装置、及び、バイアス磁界発生装置
JP5244912B2 (ja) 磁気エンコーダおよび基準マークアプリケータ
JP6472175B2 (ja) 位置検出装置
JP2009036637A (ja) 変位測定装置
JP2819507B2 (ja) 磁気的測定システム
JP3487452B2 (ja) 磁気検出装置
JP3367230B2 (ja) 位置検出装置
US5955882A (en) Magnetic position measuring device using a plurality of sensors and a scale
US7679226B2 (en) Synchronous linear motor with non-contacting scanning of the toothed structure of the secondary part
US7511486B2 (en) Non-contact magnetic sensor system
JP4281913B2 (ja) 移動体検出装置
JPH10206104A (ja) 位置検出装置
JP6548357B2 (ja) 位置検出装置
JP5086605B2 (ja) 移動体検出装置
JP4506960B2 (ja) 移動体位置検出装置
US6894486B2 (en) Magnetic encoder with double Frequency output
JP2619621B2 (ja) エンコーダ装置
KR102533278B1 (ko) 위치감측기구
JP6216227B2 (ja) 位置検出装置およびその製造方法ならびにスケール部材
GB2616478A (en) Graphene Based Linear Encoder
JPH0711429B2 (ja) エンコ−ダ装置
JPH0868661A (ja) 位置検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100305

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20100907

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111027

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120131

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120329

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20120423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120515

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120529

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120626

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120717

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150727

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5046850

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250