JP2009084120A - ガラス基板の欠陥修正方法、ガラス基板の製造方法、表示パネル用ガラス基板、及び表示パネル - Google Patents

ガラス基板の欠陥修正方法、ガラス基板の製造方法、表示パネル用ガラス基板、及び表示パネル Download PDF

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Abstract

【課題】表示パネルを構成するためのガラス基板において、欠陥を修正する技術を提供する。
【解決手段】本発明のガラス基板の欠陥修正方法は、ガラス基板1に形成された内部泡1bの位置する突起1pに対して、アルミナからなる砥粒12aを噴射して該ガラス基板1から少なくとも上記内部泡1bを含む領域のガラス材料の除去加工を行うことにより、ガラス基板1へのダメージを与える虞をなくして、ガラス基板1の内部泡1bを完全に修正することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、表示パネルを構成するためのガラス基板の欠陥修正に関するものである。
液晶表示パネルやプラズマディスプレイパネル(PDP)などのフラットディスプレイ用パネルを構成する基板には、ガラス基板が用いられることが多い。このフラットディスプレイ用のガラス基板(以下、単に「ガラス基板」と称する。)に対する要求は、近年のディスプレイの大画面化にともなって厳しくなってきている。
ガラス基板に対する要求の1つとして、ガラス基板の欠陥の低減がある。ここで、ガラス基板の欠陥とは、内部泡や内部異物などの内部欠陥と、表面に形成された突起や傷などの表面欠陥とを意味する。
欠陥を有するガラス基板を用いてフラットディスプレイを作成すると、欠陥の近傍において輝点や黒点などの表示不良が生じることになる。したがって、ガラス基板の欠陥はできるだけ少ないことが望ましい。
ここで、ガラス基板の欠陥の発生原因について説明しておく。
内部泡は、ガラス基板を製造する際のガラス原料を溶解する工程において、空気の巻き込みや耐火材からのガスの放出などによって、溶解したガラス原料の中に泡が形成されることにより発生する。さらに、使用するガラス原料によっては、ガラス原料自らガスを発生するものもある。このような内部泡は、体積に応じてある確率で存在し、その確率を下げることは容易ではない。なお、ガラス基板に存在する泡の位置が表面に近い場合には、ガラス基板の表面に突起(盛り上がりやうねりを含む)を伴うこともある。
内部異物は、原料に起因するものと、外部からのコンタミネーションに起因するものとがある。原料に起因する内部異物としては、ガラス原料が溶解されずに残ることにより異物化したものや、ガラス原料に混在していた難溶解性の異物がある。また、外部からのコンタミネーションとしては、ガラス原料を溶解する際に用いた耐火材がガラスに混入することによって異物となったものがある。なお、ガラス基板に存在する異物の位置が表面に近い場合には、内部泡と同じく、ガラス基板の表面に突起(盛り上がりやうねりを含む)を伴うこともある。
ガラス基板の表面に形成される突起は、上述したように内部泡や内部異物に伴って生じる表面欠陥である。
また、ガラス基板の表面に形成される傷は、原板といわれる大型のガラス板からガラス基板を切り出して周辺加工を施す加工工程において、ガラス基板同士が接触することなどによって生じるものである。
ところで、上記ガラス基板の欠陥に対処するための技術ではないが、不良画素に起因する輝点不良を解消するために、ガラス基板における不良画素に対応する領域に凹所を形成し、その凹所に遮光性樹脂を充填することによって光の漏れを防止する技術が知られている(例えば、特許文献1,2参照)。
また、液晶表示パネルのカラーフィルタに形成される微小突起を研削により除去する研磨装置も知られている(例えば、特許文献3参照)。
特開平5−210074号公報(公開日1993年8月20日) 特開2005−189360号公報(公開日2005年7月14日) 特開平6−313871号公報(公開日1994年11月8日)
上述したガラス基板の欠陥は、フラットディスプレイにおける表示不良を招来し得る。
例えば、ある程度の大きさ(例えば直径100μm以上)の内部泡が存在すると、その付近が輝点として観察されることになる。内部泡によって輝点が生じるメカニズムについては必ずしも明らかではないが、内部泡が存在することにより、内部泡周辺のガラスによるレンズ効果や、内部泡周辺のガラスに残留する応力による偏光状態の乱れなどが原因であるものと考えられる。
また、ある程度の大きさの内部異物が存在する場合についても、内部異物が遮光性の材料からなる場合には黒点を生じることもある。
さらに、突起や傷などの表面欠陥についても、ガラス基板の本来の表面とは異なる方向に微小な屈折面や反射面が形成されることになる結果、これらに起因した輝点を生じ得る。
したがって、表示品位の観点からは欠陥のないガラス基板を用いることが理想ではあるが、そのようなガラス基板を製造することは不可能である。また、ガラス基板の製造工程を見直すことによって、欠陥の発生をある程度までは低減できたとしても所詮限界がある。
一方、表示不良を招来するような欠陥を含むガラス基板すべてを不良品とした場合には、歩留りの低下、ひいてはガラス基板やフラットディスプレイのコストアップという問題を招来することになる。特に大画面に対応した大型のガラス基板では、確率的に欠陥を含みやすいため、歩留り低下の問題は深刻である。
したがって、製造されたガラス基板に欠陥が含まれていたとしても、それを修正することによって良品化する技術が求められている。
なお、このような要求は、液晶表示パネルやプラズマディスプレイパネルなどのフラットディスプレイ用パネルを構成するガラス基板にとって共通ではあるが、次の理由により、特に液晶表示パネル用のガラス基板において顕著である。
液晶表示パネル用のガラス基板には、その表面に半導体素子を形成する必要があり、半導体素子はアルカリ金属から悪影響を受けやすい。そのため、液晶表示パネル用のガラス基板には、添加成分としてアルカリ金属を含まない(不純物としてのアルカリ金属は1%以下)無アルカリガラスを用いることが一般的である。しかしながら、無アルカリガラスは融点が高いため、無アルカリガラスでは、ガラス原料の溶解時において泡が抜けにくく、内部泡が残りやすい。したがって、液晶表示パネル用のガラス基板は、内部泡としての欠陥を含みやすいため、特に欠陥を修正することによって良品化する技術への要求が特に高い。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、表示パネルを構成するためのガラス基板において、欠陥を修正する技術を提供することにある。
上記課題を解決する方法としては、例えば、ガラス基板の欠陥箇所のガラス材料をドリルで削る方法があるが、修正対象の欠陥部分のガラス材料をある程度除去できるものの、気泡の周囲のガラスまで完全に除去することは難しい。
また、ガラス基板の欠陥を完全に修正する方法としては、ガラス基板の欠陥箇所のガラス材料を砥石で削る方法が考えられるが、砥石をガラス基板に直接接触させているので、砥石によるガラス基板への加圧、および砥石とガラス基板との摩擦による加工熱によってガラス基板にダメージを与える虞がある。
そこで、本願発明者等は、鋭意検討した結果、ガラス基板へのダメージを与える虞がなく、ガラス基板の欠陥を完全に修正することを容易にする方法として、ガラス基板に砥粒となる粉体を噴き付ける砥粒ブラストが有効であることを見出した。なお、噴き付けるのは粉体以外に、流体であってもよく、粉体を含んだ流体であってもよい。
本発明に係るガラス基板の欠陥修正方法は、上記課題を解決するために、表示パネルを構成するためのガラス基板の欠陥修正方法であって、上記ガラス基板に形成された修正対象欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板から少なくとも上記修正対象欠陥を含む領域のガラス材料の除去加工を行うことを特徴としている。
上記の構成によれば、ガラス基板に形成された修正対象欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板から少なくとも上記修正対象欠陥を含む領域のガラス材料の除去加工を行うことで、ガラス基板へのダメージを与える虞がなく、ガラス基板の欠陥を完全に修正することを容易にできる。
つまり、上記構成の修正欠陥方法では、噴射された粉体または流体が修正対象欠陥を含む領域に衝突することによって生じる微細な脆性加工の積み重ねにより研削を進展させているため、微細な加工(研削)が可能となるので、除去対象となる部位のガラス材料の研削量の調整を容易にできる。これにより、ガラス基板へのダメージを与える虞がなく、ガラス基板の欠陥を完全に修正することを容易にできる。
ここで、ガラス基板から少なくとも修正対象欠陥を含む領域のガラス材料の除去加工を行うことで、修正対象欠陥に起因する表示不良を緩和することができる。
上記修正対象欠陥には、ガラス基板の内部に形成される内部欠陥(内部泡など)とガラス基板の表面に形成される表面欠陥(突起、傷など)がある。
上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の内部に形成される内部欠陥である場合、上記除去加工では、上記ガラス基板に形成された内部欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の表面から少なくとも上記内部欠陥に達するまでガラス材料を除去することが好ましい。
また、上記除去加工では、上記内部欠陥を取り巻くガラス材料を併せて除去することが好ましい。
上記方法では、ガラス基板の表面から内部欠陥に達するまでのガラス材料を含み、さらに内部欠陥を取り巻くガラス材料、つまり、内部欠陥の側方や裏側のガラス材料を併せて除去することにより、上記レンズ効果や偏光状態の乱れをより一層軽減することができる。
一方、上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の表面に形成される突起である場合、上記除去加工では、上記ガラス基板の表面に形成された突起の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の表面を平坦化するようにガラス材料を除去することが好ましい。
上記方法では、上記突起を粉体または流体の少なくとも一方を噴射してガラス材料を除去することで平坦化する。ここで、突起を平坦化するとは、突起の一部又は全部を除去することによって突起の高さを低くすることを意味する。突起を平坦化する際には、その部分にやや窪みが形成されてもよい。
これにより、突起の形成された表面を本来の表面形状に近づけることができる。その結果、上記突起に起因した輝点を生じ難くすることができる。
このように上記方法では、ガラス基板の表面欠陥に起因する表示不良が緩和されるように、ガラス基板の表面欠陥を修正することができる。
また、上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の表面に形成される傷である場合、上記除去加工では、上記ガラス基板の表面に形成された傷の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の傷によって形成される表面を平滑化するようにガラス材料を除去することが好ましい。
上記方法では、上記傷を粉体または流体の少なくとも一方を噴射することでガラス材料を除去して平滑化する。ここで、傷によって形成される表面を平滑化するとは、ガラス基板の本来の表面に対して、傷によって形成される表面がなしている角度を小さくすることをいう。
これにより、傷の形成された表面を本来の表面形状に近づけることができる。その結果、上記傷に起因した輝点を生じ難くすることができる。
このように上記方法では、ガラス基板の表面欠陥に起因する表示不良が緩和されるように、ガラス基板の表面欠陥を修正することができる。
上記除去加工では、上記ガラス基板の表面に形成された突起または傷を取り巻くガラス材料を併せて除去することが好ましい。
上記方法では、ガラス基板の表面に形成された突起または傷を取り巻くガラス材料を併せて除去することにより、上記レンズ効果や偏光状態の乱れをより一層軽減することができる。
上記粉体は、アルミナであることが好ましい。このアルミナは、硬度(モース)が9であり、研削用の砥粒として好適に用いることができる。
上記ガラス基板の修正対象欠陥に相当する部位に噴射され、研削を行う粉体は、研削部位で残留するため、次の粉体の噴射による研削の邪魔になり、粉体の噴射を続ければ続けるほど、研削効率が低下する。
従って、上記除去加工では、粉体を噴射によりガラス材料を除去する場合、粉体の噴射と、粉体を噴射するための媒体であるエアーのみの噴射とを交互に行うようにしている。
上記の方法では、ガラス基板の修正対象部位の研削と、研削部位に残留する粉体などの残留物の除去とを交互に行うことになるので、不要な粉体の残留を無くすことができ、この結果、研削効率を高めることが可能となる。
上記除去加工によってガラス材料が除去された部位に透明材料を充填することが好ましい。
上記方法では、除去加工によってガラス材料が除去された部位(窪み、溝など)に透明材料(個体)が充填されることにより、この部位内が空の状態と比較して、この部位における屈折率変化を小さくすることができる。その結果、上記除去加工によってガラス材料が除去された部位を目立ち難くすることができる。
また、上記欠陥修正方法において、上記ガラス基板が液晶表示パネルを構成するためのものであってもよい。
液晶表示パネルを構成するためのガラス基板は、アルカリ金属の含有量が少なく融点が高いため、内部泡を発生しやすい。したがって、上記の内部欠陥を除去する方法は液晶表示パネルを構成するためのガラス基板に対して特に有効である。
なお、上述した各欠陥修正方法は、ガラス基板の製造方法としても捉えることができる。
本発明のガラス基板の製造方法は、表示パネルを構成するためのガラス基板の製造方法であって、上記ガラス基板に形成された修正対象欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板から少なくとも上記修正対象欠陥を含む領域のガラス材料の除去加工を行う工程を含むことを特徴としている。
そして、上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の内部に形成される内部欠陥(内部泡など)である場合、上記除去加工を行う工程では、上記ガラス基板に形成された内部欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の表面から少なくとも上記内部欠陥に達するまでガラス材料を除去することが好ましい。
上記除去加工を行う工程では、上記内部欠陥を取り巻くガラス材料を併せて除去することが好ましい。
また、上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の表面に形成される突起である場合、上記除去加工を行う工程では、上記ガラス基板の表面に形成された突起の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の表面を平坦化するようにガラス材料を除去することが好ましい。
さらに、上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の表面に形成される傷である場合、上記除去加工を行う工程では、上記ガラス基板の表面に形成された傷の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の傷によって形成される表面を平滑化するようにガラス材料を除去することが好ましい。
そして、上記除去加工を行う工程では、上記ガラス基板の表面に形成された突起または傷を取り巻くガラス材料を併せて除去することが好ましい。
上記粉体は、アルミナであることが好ましい。
上記除去加工を行う工程では、粉体を噴射によりガラス材料を除去する場合、粉体の噴射と、粉体を噴射するための媒体であるエアーのみの噴射とを交互に行うことが好ましい。
上記除去加工を行う工程によってガラス材料が除去された部位に透明材料を充填する充填工程を含むことが好ましい。
上記ガラス基板が液晶表示パネルを構成するためのものであることが好ましい。
上記構成では、表示パネルを構成したときの表示領域内においても、ガラス材料の除去加工が施され、かつ、透光性を維持する部位を有することにより、もともとガラス基板に形成されていた内部欠陥や表面欠陥を上記部位に置き替えることができる。これにより、ガラス基板の内部欠陥や表面欠陥に起因する表示不良を緩和することができる。
本発明のガラス基板は、表示パネルを構成するためのガラス基板であって、表示パネルを構成したときの表示領域内の表面において、粉体または流体の少なくとも一方を噴射してガラス材料の除去加工が施され、かつ、透光性を維持する部位を有し、当該部位は窪んでいることを特徴としている。
そして、表示パネルを上記窪みに透明材料が充填されていることが好ましい。
これにより、窪みを目立ち難くすることができる。
また、前記表示パネル用ガラス基板を用いて表示パネルを構成することにより、その表示パネルにおいて、ガラス基板の内部欠陥や表面欠陥に起因する表示不良を緩和することができる。
本発明に係るガラス基板の欠陥修正方法は、以上のように、表示パネルを構成するためのガラス基板の欠陥修正方法であって、上記ガラス基板に形成された修正対象欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板から少なくとも上記修正対象欠陥を含む領域のガラス材料の除去加工を行うことにより、ガラス基板へのダメージを最小限にして、ガラス基板の欠陥を完全に修正することができるという効果を奏する。
〔実施形態1〕
本発明の第1の実施形態について説明すれば、以下の通りである。
本実施形態の欠陥修正方法は、表示パネルを構成するためのガラス基板の欠陥修正方法であり、修正対象となる欠陥はガラス基板に形成された内部欠陥である。
また、本実施形態の欠陥修正方法は、液晶表示パネルやプラズマディスプレイパネル(PDP)等種々の表示パネルを構成するためのガラス基板に対して適用できる。
さらに、本実施形態の欠陥修正方法は、ガラス基板や表示パネルの製造における種々の段階において実施することができる。例えば、ガラス製造者においてガラス基板を原板から切り出した後、出荷するまでの段階、表示装置の製造者においてガラス基板を受け入れた後、表示パネルに用いるまでの段階、構成された表示パネルを検査した後、表示装置として組み立てられるまでの段階などの種々の段階において本実施形態の欠陥修正方法を実施することができる。特に、ガラス製造者においてガラス基板を原板から切り出した後、出荷するまでの段階において本実施形態の欠陥修正方法を実施する場合には、本実施形態の欠陥修正方法はガラス基板の製造方法をなすことになる。
以下では、ガラス基板として液晶表示パネル用のものを想定するとともに、欠陥修正方法の実施段階として、構成された表示パネルを検査した後、表示装置として組み立てられるまでの段階を想定する。また、内部欠陥として内部泡を想定し、内部泡の修正方法について説明する。
なお、液晶表示パネルを構成するためのガラス基板は、アルカリ金属の含有量が少なく融点が高いため、内部泡を発生しやすい。したがって、本実施形態の欠陥修正方法は液晶表示パネルを構成するためのガラス基板に対して特に有効である。
図2は、修正対象となる内部欠陥としての内部泡1bが形成されたガラス基板1の断面図である。
図2に示す内部泡1bは、そのサイズが比較的大きく、また、その位置がガラス基板1の表面1sに比較的近いことから、ガラス基板1の表面1sに突起1pを伴っている。なお、内部泡1bは、そのサイズや位置によっては、突起1pを伴わないこともある。
内部泡1bは、最大径が100μm以下のものから、ガラス基板1の厚さ(例えば0.7mm)と同程度のものまで様々な大きさのものが存在しうる。最大径が例えば100μm以下の小さな内部泡1bについては、表示への悪影響が小さいことから、特段の措置をとらないことも考えられる。また、最大径が例えば100〜300μmの内部泡1bについては、黒点化するといった措置をとることも考えられる。しかしながら、最大径が例えば300μmを超える内部泡1bについては、表示への悪影響を十分に低減する有効な措置は、以下において説明する本実施形態の欠陥修正方法を除いて考え難い。
このように、本実施形態の欠陥修正方法は、内部泡1bとして小さなものから大きなものまで広く対応できるが、他の有効な措置が考え難い大きな内部泡1bに対して特に有効である。
ガラス基板1に形成される内部泡1bに起因して、輝点が観察される。その理由としては、詳細なメカニズムは必ずしも明らかではないが、次のように考えることができる。
内部泡1bが形成されたガラス基板1を用いて液晶表示パネルを構成すると、内部泡1bの周辺のガラス(取巻部1d)によるレンズ効果や、内部泡1bの周辺のガラスに残留する応力による偏光状態の乱れなどによって、内部泡1b付近が輝点として観察されることになる。
そこで、本実施形態にかかる欠陥修正方法は、上記ガラス基板1に形成された内部欠陥である内部泡1bの位置する部位において、砥粒を噴射して該ガラス基板1の表面1sから少なくとも上記内部泡1bに達するまでガラス材料の除去加工を行うことを特徴とする欠陥修正方法である。
また、図2に示すように、内部泡1bを取り巻くガラス材料(以下、取巻部と称する)1dは、レンズ効果や偏光状態の乱れが生じる虞があるので、内部泡1bとともに除去するのが好ましい。
図1(a)〜図1(c)は、本実施形態に係る欠陥修正方法による内部欠陥の除去工程を示す図である。
図1(a)に示すように、ガラス基板1の表面1sの突起1pに対して、所定の噴射速度で砥粒12aを噴き付ける。このとき、砥粒12aとして、粒径が800番(約0.03mm)のアルミナを用いる。そして、砥粒12aの噴射速度は、0.2mm/s〜0.6mm/sに設定されている。
さらに、上記の噴射速度により砥粒12aを噴き付け続けて、図1(b)に示すように、砥粒12aが内部泡1bに達するまで、砥粒12aによって突起1pのガラス材料を除去する。そして、さらに、砥粒12aを噴射し続けることで、砥粒12aによる研削領域が内部泡1bにまで達する。この状態で、さらに、砥粒12aを噴射し続けて、図1(c)に示すように、レンズ効果や偏光状態の乱れが生じる虞のない修正面1eが露出するまで、内部泡1bの取巻部1dのガラス材料を除去する。
上記の研削は、噴射された砥粒12aの衝突によって生じる微細な脆性加工の積み重ねによって加工が進展するため、微細かつ高品位な加工を行うことができる。
ここで、本実施形態にかかる欠陥修正方法を実現するための装置について以下に説明する。
図3は、本実施形態の欠陥修正方法を実施するための欠陥修正装置10の断面図である。
この欠陥修正装置10は、載置台11の載置面11a上に、修正対象物としてのガラス基板1を地面に対して垂直方向に固定するための基板載置台13と、基板載置台13に固定されたガラス基板1の修正箇所1bに対して砥粒12aを噴射するための修正ヘッド12を搭載したヘッド搭載台14とが設けられている。
上記修正ヘッド12は、上記ヘッド搭載台14において、地面に対して水平方向及び垂直方向に移動可能に設けられており、砥粒12aの噴射方向が地面に対して水平方向となるようになっている。
また、修正ヘッド12は、ガラス基板1を研削するための砥粒12aを噴射する噴射ノズル(後述する)を備えている。つまり、欠陥修正装置10は、修正ヘッド12をガラス基板1の内部泡1bに対向する位置へ移動させ、その位置において砥粒12aをガラス基板1の表面1sに噴射して研削加工を行うようになっている。
本実施形態の欠陥修正方法を実施するにあたっては、例えば次の手順で行うことができる。まずは欠陥修正前のガラス基板1を用いて液晶表示パネルを作成する。そして、作成された液晶表示パネルの裏面から均一な光を照射しつつ、ガラス基板1に形成された内部泡1bに起因して輝点が観察されるか否かを検査し、観察された場合には、その位置を特定しておく。その後、液晶表示パネルを欠陥修正装置10の基板載置台13に固定し、上記特定した位置において、後述する研削加工を行う。なお、ガラス基板1の表面に偏光板が貼り付けられる場合には、研削加工を行う前に一旦偏光板を剥がし、研削加工終了後に偏光板を貼り直すようにすればよい。
図4は、上記欠陥修正装置10に備えられた修正ヘッド12の模式図である。
上記修正ヘッド12は、図4に示すように、砥粒12aを定量供給するための砥粒供給ノズル121を有する構造となっている。
上記砥粒供給ノズル121は、円筒からなり、砥粒12aの吐出孔となる円筒先端孔121aと、エアーの供給孔となる円筒後端孔121bと、上記円筒先端孔121aと円筒後端孔121bとの間に形成され、砥粒12aの供給孔となる砥粒供給孔121cとを有している。
上記砥粒供給ノズル121の砥粒供給孔121cは、砥粒を貯蔵する砥粒タンク122に接続され、円筒後端孔121bは、高速電磁弁123に接続されている。
上記砥粒タンク122には、上記砥粒供給ノズル121との接続部分に開閉蓋(図示せず)が設けられており、砥粒12aの供給時のみ上記開閉蓋が開放するようになっている。
上記高速電磁弁123は、上記砥粒供給ノズル121の円筒後端孔121bに接続される接続用筒123aと、エアー供給部(図示せず)からの供給用エアーを取り込むためのエアー取込口123bと有し、当該高速電磁弁123が開状態のとき、エアー取込口123bから取り込んだ供給用エアーを接続用筒123aに供給し、当該高速電磁弁123が閉状態のとき、エアー取込口123bから取り込んだ供給用エアーを接続用筒123aに供給するのを停止するようになっている。
従って、上記構成の修正ヘッド12では、上記高速電磁弁123が開状態であって、且つ砥粒タンク122の開閉蓋が開状態のとき、供給エアーによって砥粒供給ノズル121から砥粒12aが噴射される。また、上記高速電磁弁123が閉状態であれば、砥粒タンク122の開閉蓋の開閉状態に関わらず、砥粒12aは砥粒供給ノズル121から噴射されない。なお、上記高速電磁弁123が開状態であって、且つ砥粒タンク122の開閉蓋が閉状態であれば、砥粒供給ノズル121からは、砥粒12aを含まないエアーのみを噴射させることができる。
上記構成の修正ヘッド12は、ガラス基板1の表面1sの突起1pに対して、粒度が800番のアルミナからなる砥粒12aを加工速度0.2mm/s〜0.6mm/s(噴射速度150〜200m/s)で噴射することで、内部欠陥である内部泡1bに達するまでガラス材料を除去するようになる。
通常、修正ヘッド12から砥粒12aをガラス基板1の表面1aに噴射し続けると、該ガラス基板1の研削部位に砥粒12aが残る。このような場合、新たに噴射される砥粒12aが、研削部位に残った砥粒12aに衝突し、実際の研削対象面に直接研削できないようになるので、研削効率が低下するという問題が生じる。
そこで、砥粒12aの噴射と、砥粒12aを噴射するための媒体であるエアーのみの噴射とを交互に行うことで、エアーのみの噴射によって、研削部位に残った砥粒12aを除去することができる。これにより、研削効率の向上を図ることが可能となる。この場合の具体的な方法としては、上述したように、高速電磁弁123を開状態として、砥粒タンク122の開閉蓋の開閉を断続的に行うようにすれば、砥粒12aを含むエアーと砥粒12aを含まないエアーとを交互に噴射することができる。
上記のような修正ヘッド12としては、例えば(株)仙台ニコン製のAJM(ABRASIVE Jet Machining)を使用することが可能である。
本実施形態の欠陥修正方法では、上記図1(b)の状態までの除去加工を行ってもよく、上記図1(c)の状態までの除去加工を行ってもよい。それぞれの場合における除去加工後のガラス基板1の状態をそれぞれ図5(a)及び図5(b)に示す。
図5(a)及び図5(b)それぞれに示した状態は、ガラス基板1の形状としては必ずしも理想的な状態ではないが、実際に表示への影響を確認した結果では、上記除去加工を行う前の状態と比較して、内部泡1bに起因する輝点は観察され難くなった。
図5(a)に示した状態では、ガラス基板1の表面1sから内部泡1bに達するまでガラス材料の除去加工を行うことにより、レンズ効果や偏光状態の乱れを引き起こす内部泡1b周辺のガラス(取巻部1d)の少なくとも一部(表面側の部分)が除去された状態となっている。その結果、上記レンズ効果や偏光状態の乱れが軽減され、輝点として観察され難くなるものと考えられる。
また、図5(b)に示した状態では、内部泡1bの側方や裏側のガラス材料(取巻部1d)までが除去されることにより、レンズ効果や偏光状態の乱れが生じる虞のない修正面1eが露出するまで研削された状態となっている。その結果、上記レンズ効果や偏光状態の乱れをより一層軽減することができるものと考えられる。
次に、望ましい加工形状について説明する。図6(a)に示すように、加工面1wの一部が表面1sに対して垂直に切り立った形状の窪みが形成された場合には、表面1sに垂直な観察方向Dでは、加工面1wの垂直部分と観察方向Dとが一致するため、この観察方向Dにおいて加工面1wの表示への影響が累積される。その結果、加工面1wが目立ちやすくなってしまう。
これに対し、図6(b)に示すように、加工面1wが上記のように表面1sに対して垂直に切り立っておらず、加工面1wの任意の位置における接平面(図6(b)において一点鎖線により示す)が、表面1sに対して平行又は傾斜している場合には、観察方向Dにおいて加工面1wの表示への影響が累積されることはなく、加工面1wを目立ち難くすることができる。
したがって、加工形状としては、図6(b)に示すように、加工面1wの任意の位置における接平面が、表面1sに対して平行又は傾斜していることが望ましい。このような加工形状を得るには、例えば修正ヘッド12から噴射する砥粒12aの噴射速度を欠陥位置によって変えればよい。例えば、図6(b)に示すような形状の窪みを得ようとする場合には、窪みの中央となる部位では砥粒12aの噴射速度は早くし、窪みの中央から外側に向かって砥粒12aの噴射速度を徐々に遅くすればよい。
また、除去加工によって形成された窪みには、図7に示すように、透明材料2を充填することが望ましい。上記窪みに透明材料が充填されることにより、この窪み内が空の状態と比較して、この窪みにおける屈折率変化を小さくすることができる。その結果、上記窪みを目立ち難くすることができる。このように除去加工によって形成された窪みに透明材料2を充填するには、液体状の透明樹脂を窪みに充填して固化するなどすればよい。
上記欠陥修正装置10では、砥粒12aとして、アルミナを使用しているが、これに限定されるものではなく、炭化珪素、炭化ホウ素、酸化セリウムなどを使用してもよい。また、砥粒12aの粒度としては、800番に限定されず、他の粒度であってもよく、800番で加工した後に2000番で仕上げるとなお好ましく、研削対象物に応じて変更すればよい。
以上の説明は、内部欠陥としての内部泡1bが形成されたガラス基板1を修正対象とするものであるが、図8に示すように、内部欠陥としての内部異物1cが形成されたガラス基板1を修正対象としてもよい。この場合でも、上述したレンズ効果や偏光状態の乱れの軽減を実現することができる。また、内部異物1cが遮光性の材料からなる場合において、図5(b)に示したように内部異物1cを完全に除去してしまうような加工を施すことにより、黒点を除去するという効果も得られる。
また、本実施形態では、修正対象となる欠陥をガラス基板1の内部に形成される内部泡1bや内部異物1cを想定した欠陥修正方法の例について説明したが、以下の実施の形態2では、修正対象となる欠陥はガラス基板に形成された表面欠陥としての突起を研削により除去する例について説明する。
〔実施形態2〕
本発明の第2の実施形態について説明すれば以下の通りである。
本実施形態の欠陥修正方法は、表示パネルを構成するためのガラス基板の欠陥修正方法であり、修正対象となる欠陥はガラス基板に形成された表面欠陥としての突起である。この突起は、実施形態1において説明したように、内部欠陥の存在によって形成されることもあるが、内部欠陥とは無関係に形成されることもある。
また、本実施形態の欠陥修正方法は、実施形態1の場合と同じく、液晶表示パネルやプラズマディスプレイパネル(PDP)等種々の表示パネルを構成するためのガラス基板に対して適用できる。
さらに、本実施形態の欠陥修正方法は、実施形態1の場合と同じく、ガラス基板や表示パネルの製造における種々の段階において実施することができる。
図9は、修正対象となる表面欠陥としての突起1pが形成されたガラス基板1の断面図である。本実施形態の欠陥修正方法を実施するための装置としては、実施形態1において説明した欠陥修正装置10を利用することができる。
図10(a)〜図10(c)は、研削加工の進行状況を示す図である。修正ヘッド12により、砥粒12aが噴射されると、図10(a)に示すように、噴射された砥粒12aがガラス基板1の突起1pに当接することによって研削加工が始まる。さらに砥粒12aを噴射し続けると、図10(b)に示すように、突起1pの高さは低くなる。さらに砥粒12aを噴射し続けると、図10(c)に示すように、突起1pは完全に除去される。
なお、砥粒12aを噴射する際にには、修正ヘッド12をガラス基板の研削面に対して水平方向に揺動させることにより、突起1pが除去された表面1sをほぼ平坦にすることができる。
本実施形態の欠陥修正方法では、上記図10(b)の状態までの除去加工を行ってもよく、上記図10(c)の状態までの除去加工を行ってもよい。このように、本実施形態の欠陥修正方法では、突起1pの一部又は全部を除去することによって突起1pの高さを低くしており、これを突起1pの平坦化と称する。これにより、突起1pの形成された表面1sを本来の表面形状に近づけることができる。その結果、突起1pに起因した輝点を生じ難くすることができる。
なお、突起1pを平坦化することによって、突起1pが形成されていた部分に多少の窪みが形成されてもよい。その場合には、加工形状としては、実施形態1において図6(b)に示したように、加工面1wの任意の位置における接平面が、表面1sに対して平行又は傾斜していることが望ましい。また、形成された窪みには、実施形態1において図7に示したように、透明材料2を充填することが望ましい。
また、砥粒12aとしては、前記実施形態1と同様に、粒度が800番のアルミナを用いて、加工速度0.2mm/s〜0.6mm/s(噴射速度150〜200m/s)で噴射するようにしてもよいし、砥粒12aの材料、粒度、噴射速度を必要に応じて変更してもよい。
以上のように、本実施形態2では、ガラス基板1の修正対象となる欠陥を突起1pとしていたが、以下の実施形態3では、ガラス基板1の修正対象となる欠陥を表面の傷の場合を例にして説明する。
〔実施形態3〕
本発明の第3の実施形態について説明すれば以下の通りである。
本実施形態の欠陥修正方法は、表示パネルを構成するためのガラス基板の欠陥修正方法であり、修正対象となる欠陥はガラス基板に形成された表面欠陥としての傷である。
また、本実施形態の欠陥修正方法は、実施形態1の場合と同じく、液晶表示パネルやプラズマディスプレイパネル(PDP)等種々の表示パネルを構成するためのガラス基板に対して適用できる。
さらに、本実施形態の欠陥修正方法は、実施形態1の場合と同じく、ガラス基板や表示パネルの製造における種々の段階において実施することができる。
図11は、修正対象となる表面欠陥としての傷1vが形成されたガラス基板1の断面図である。本実施形態の欠陥修正方法を実施するための装置としては、実施形態1において説明した欠陥修正装置10を利用することができる。
図12(a)〜図12(b)は、研削加工の進行状況を示す図である。修正ヘッド12により、砥粒12aが噴射されると、図12(a)に示すように、噴射された砥粒12aがガラス基板1の表面1sに当接することによって研削加工が始まる。そして修正ヘッド12を水平方向に揺動させつつ砥粒12aを噴射させることによって、図12(b)に示すように、ガラス基板1の本来の表面1sに対して、傷1vによって形成される表面がなしている角度を小さくすることができる。
このように、本実施形態の欠陥修正方法では、ガラス基板1の本来の表面1sに対して、傷1vによって形成される表面がなしている角度を小さくしており、これを傷1vの平滑化と称する。これにより、傷1vの形成された表面1sを本来の表面形状に近づけることができる。その結果、傷1vに起因した輝点を生じ難くすることができる。
なお、傷1vを平滑化することによって形成された窪みの加工形状としては、実施形態1において図6(b)に示したように、加工面1wの任意の位置における接平面が、表面1sに対して平行又は傾斜していることが望ましい。また、形成された窪みには、実施形態1において図7に示したように、透明材料2を充填することが望ましい。
以上、実施形態1から3において述べたガラス基板1を用いて構成される表示パネルとしての液晶表示パネル20を図13に示す。
液晶表示パネル20は、2枚のガラス基板1・1を所定間隔隔てて互いに対向させ、互いの間に液晶21を挟持した状態で周囲をシールすることによって構成される。なお、図示していないが、ガラス基板1・1の外側表面には偏光板などが貼り付けられている。
ガラス基板1・1には、液晶表示パネル20の表示領域20a内の表面において、実施形態1から3において述べたガラス材料の除去加工が施された加工面1wを有している。なお、この加工面1wは、ガラス基板1・1の両方が有している場合もあれば、何れか一方が有している場合もある。また、加工面1wには、透明材料が充填されていることが望ましい。
この液晶表示パネル20では、もともとガラス基板1・1に形成されていた内部欠陥や表面欠陥に対して、実施形態1から3において述べたガラス材料の除去加工が施された結果、表示への悪影響が低減されることになり、従来であれば不良品として扱わざるを得なかった液晶表示パネル20をも良品化することができるようになる。
なお、上述の各実施形態では、粉体である砥粒をエアーによって噴射して修正対象物を研削するようにした例について説明したが、粉体以外に、流体、すなわち水を噴射することにより、修正対象物を研削することも可能である。この場合、修正ヘッド12として水を噴射するヘッドに変更すればよい。
また、上述の各実施形態では、図3に示すように、砥粒12aの噴射方向が地面に対して水平方向となるように、修正ヘッド12が設置された欠陥修正装置10を使用した例について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、図14に示すように、砥粒12aの噴射方向が地面に対して垂直方向となるように、修正ヘッド12が設置された欠陥修正装置110を使用することもできる。
この欠陥修正装置110は、ガラス基板1を載置するための載置面111aを有する筐体111と、筐体111の天井部分からつり下げられ、水平方向及び垂直方向に移動可能な修正ヘッド12とを備えている。
上記欠陥修正装置10は、修正ヘッド12をガラス基板1の内部泡1bの上方へ移動させ、その位置において砥粒12aをガラス基板1の表面1sに噴射して研削加工を行うようになっている。
また、上記の修正ヘッド12では、図4に示したように、供給用エアーのみが供給されるので、供給用エアーの供給制御がそのまま砥粒12aの噴射・停止の制御となるものの、砥粒12aを含まないエアーのみを噴射するためには砥粒タンク122の開閉蓋の開閉を制御する必要がある。
そこで、砥粒タンク122の開閉蓋の開閉制御を行うことなく、砥粒12aを含まないエアーのみを噴射することのできる修正ヘッドを図15に示す。
図15に示す修正ヘッド112は、図4に示した修正ヘッド12に対して、供給用エアーに加えて加速エアーを供給できるように加速ノズル124を加えている。他の構成要素については図4に示す修正ヘッド12と同じである。
上記修正ヘッド112は、図15に示すように、砥粒供給ノズル121によって供給された砥粒12aを加速させて噴射する加速ノズル124が新たに追加された構造となっている。
上記加速ノズル124は、砥粒12aを外部に噴射する噴射孔124aと、該砥粒12aを加速して上記噴射孔124aから噴射させるための加速用エアーを供給するためのエアー供給孔124bと、上記噴射孔124aとエアー供給孔124bとの間に形成され、砥粒12aと加速エアーとを混合して上記噴射孔124aへ導く混合室124cとを有している。
上記砥粒供給ノズル121の円筒先端孔121aは、上記加速ノズル124の混合室124cに突出した状態で配置されている。
従って、上記構成の修正ヘッド112では、上記高速電磁弁123が開状態のとき、供給エアーによって砥粒供給ノズル121から砥粒12aが加速ノズル124に供給され、ここで、エアー供給孔124bから取り込まれた加速エアーによって、噴射孔124aから砥粒12aを含んだエアーが噴射される。また、上記高速電磁弁123が閉状態のとき、供給エアーが砥粒供給ノズル121に供給されないので、砥粒12aが加速ノズル124に供給されない。このため、加速ノズル124の噴射孔124aからは、砥粒12aを含まないエアーのみが噴射される。
なお、加速エアーの圧力をP1、供給エアーの圧力をP2としたとき、P1<P2の関係が成り立つように各エアー供給が調整されている。これにより、砥粒供給ノズ121内の砥粒12aは必ず加速ノズル124に供給されるようになり、逆流は生じない。
通常、修正ヘッド112から砥粒12aをガラス基板1の表面1aに噴射し続けると、該ガラス基板1の研削部位に砥粒12aが残る。このような場合、新たに噴射される砥粒12aが、研削部位に残った砥粒12aに衝突し、実際の研削対象面に直接研削できないようになるので、研削効率が低下するという問題が生じる。
そこで、修正ヘッド112の高速電磁弁124に、パルス状の駆動信号を供給することによって、エアー取込口123bから取り込んだエアーを断続的に上記接続用筒123aに供給するようにして、砥粒供給ノズル121から加速ノズル124への砥粒12aの供給を断続的に行うにようにすれば、砥粒12aの噴射と、砥粒12aを噴射するための媒体であるエアーのみの噴射とを交互に行うことで、エアーのみの噴射によって、研削部位に残った砥粒12aを除去することができる。これにより、研削効率の向上を図ることが可能となる。
なお、図15に示す修正ヘッド112は、図4に示す修正ヘッド12と同様に、図3に示す欠陥修正装置10、図14に示す欠陥修正装置110の何れにも搭載可能である。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明は、液晶表示パネルやプラズマディスプレイパネル(PDP)などのフラットディスプレイ用パネルについて好適に利用することができる。
(a)から(c)は、本発明の第1実施形態における研削加工の進行状況を示す断面図である。 本発明の第1実施形態において、欠陥修正の対象となるガラス基板の要部を示す断面図である。 本発明の第1実施形態において用いる欠陥修正装置の構成を示す断面図である。 図3に示す欠陥修正装置に備えられた修正ヘッドの概略構成図である。 (a)及び(b)は、上記研削加工の施されたガラス基板の要部を示す断面図である。 (a)及び(b)は、上記研削加工による加工面の形状を示す断面図である。 上記研削加工によって形成された窪みに透明材料を充填した状態を示す断面図である。 本発明の第1実施形態において、欠陥修正の対象となる他のガラス基板の要部を示す断面図である。 本発明の第2の実施形態において、欠陥修正の対象となるガラス基板の要部を示す断面図である。 (a)から(c)は、本発明の第2の実施形態における研削加工の進行状況を示す断面図である。 本発明の第3の実施形態において、欠陥修正の対象となるガラス基板の要部を示す断面図である。 (a)及び(b)は、本発明の第3の実施形態における研削加工の進行状況を示す断面図である。 (a)は本発明の実施形態における液晶表示パネルを示す平面図であり、(b)は上記液晶表示パネルを示す断面図である。 本発明の欠陥修正方法において使用する他の欠陥修正装置の構成を示す断面図である。 本発明の欠陥修正方法において使用する他の修正ヘッドの概略構成図である。
符号の説明
1 ガラス基板
1a 表面
1b 内部泡(修正対象欠陥、内部欠陥)
1c 内部異物(修正対象欠陥、内部欠陥)
1d ガラス材料
1d 取巻部
1e 修正面
1p 突起(修正対象欠陥、内部欠陥)
1s 表面
1v 傷(修正対象欠陥、内部欠陥)
1w 加工面
2 透明材料
10 欠陥修正装置
11 筐体
11a 載置面
12 修正ヘッド
12a 砥粒
20 液晶表示パネル
20a 表示領域
21 液晶
121 砥粒供給ノズル
121a 円筒先端孔
121b 円筒後端孔
121c 砥粒供給孔
122 加速ノズル
122a 噴射孔
122b エアー供給孔
122c 混合室
123 砥粒タンク
124 高速電磁弁
124a 接続用筒
124b エアー取込口

Claims (25)

  1. 表示パネルを構成するためのガラス基板の欠陥修正方法であって、
    上記ガラス基板に形成された修正対象欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板から少なくとも上記修正対象欠陥を含む領域のガラス材料の除去加工を行うことを特徴とする欠陥修正方法。
  2. 上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の内部に形成される内部欠陥である場合、
    上記除去加工では、
    上記ガラス基板に形成された内部欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の表面から少なくとも上記内部欠陥に達するまでガラス材料を除去することを特徴とする請求項1に記載の欠陥修正方法。
  3. 上記除去加工では、上記内部欠陥を取り巻くガラス材料を併せて除去することを特徴とする請求項2に記載の欠陥修正方法。
  4. 上記内部欠陥が内部泡であることを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の欠陥修正方法。
  5. 上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の表面に形成される突起である場合、
    上記除去加工では、
    上記ガラス基板の表面に形成された突起の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の表面を平坦化するようにガラス材料を除去することを特徴とする請求項1に記載の欠陥修正方法。
  6. 上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の表面に形成される傷である場合、
    上記除去加工では、
    上記ガラス基板の表面に形成された傷の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の傷によって形成される表面を平滑化するようにガラス材料を除去することを特徴とする請求項1に記載の欠陥修正方法。
  7. 上記除去加工では、上記ガラス基板の表面に形成された突起または傷を取り巻くガラス材料を併せて除去することを特徴とする請求項5または6に記載の欠陥修正方法。
  8. 上記粉体は、アルミナであることを特徴とする請求項1から7の何れか1項に記載の欠陥修正方法。
  9. 上記除去加工では、
    粉体を噴射によりガラス材料を除去する場合、粉体の噴射と、粉体を噴射するための媒体であるエアーのみの噴射とを交互に行うことを特徴とする請求項1から8の何れか1項に記載の欠陥修正方法。
  10. 上記除去加工によってガラス材料が除去された部位に透明材料を充填することを特徴とする請求項1から9の何れか1項に記載の欠陥修正方法。
  11. 上記ガラス基板が液晶表示パネルを構成するためのものであることを特徴とする請求項1から10の何れか1項に記載の欠陥修正方法。
  12. 表示パネルを構成するためのガラス基板の製造方法であって、
    上記ガラス基板に形成された修正対象欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板から少なくとも上記修正対象欠陥を含む領域のガラス材料の除去加工を行う工程を含むことを特徴とするガラス基板の製造方法。
  13. 上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の内部に形成される内部欠陥である場合、
    上記除去加工を行う工程では、
    上記ガラス基板に形成された内部欠陥の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の表面から少なくとも上記内部欠陥に達するまでガラス材料を除去することを特徴とする請求項12に記載のガラス基板の製造方法。
  14. 上記除去加工を行う工程では、上記内部欠陥を取り巻くガラス材料を併せて除去することを特徴とする請求項13に記載のガラス基板の製造方法。
  15. 上記内部欠陥が内部泡であることを特徴とする請求項12から14の何れか1項に記載のガラス基板の製造方法。
  16. 上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の表面に形成される突起である場合、
    上記除去加工を行う工程では、
    上記ガラス基板の表面に形成された突起の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の表面を平坦化するようにガラス材料を除去することを特徴とする請求項12に記載のガラス基板の製造方法。
  17. 上記修正対象欠陥が上記ガラス基板の表面に形成される傷である場合、
    上記除去加工を行う工程では、
    上記ガラス基板の表面に形成された傷の位置する部位に対して、粉体または流体の少なくとも一方を噴射して該ガラス基板の傷によって形成される表面を平滑化するようにガラス材料を除去することを特徴とする請求項12に記載のガラス基板の製造方法。
  18. 上記除去加工を行う工程では、
    上記ガラス基板の表面に形成された突起または傷を取り巻くガラス材料を併せて除去することを特徴とする請求項16または17に記載のガラス基板の製造方法。
  19. 上記粉体は、アルミナであることを特徴とする請求項12から18の何れか1項に記載のガラス基板の製造方法。
  20. 上記除去加工を行う工程では、
    粉体を噴射によりガラス材料を除去する場合、粉体の噴射と、粉体を噴射するための媒体であるエアーのみの噴射とを交互に行うことを特徴とする請求項12から19の何れか1項に記載のガラス基板の製造方法。
  21. 上記除去加工を行う工程によってガラス材料が除去された部位に透明材料を充填する充填工程を含むことを特徴とする請求項12から20の何れか1項に記載のガラス基板の製造方法。
  22. 上記ガラス基板が液晶表示パネルを構成するためのものであることを特徴とする請求項12から21の何れか1項に記載のガラス基板の製造方法。
  23. 表示パネルを構成するためのガラス基板であって、
    表示パネルを構成したときの表示領域内の表面において、粉体または流体の少なくとも一方を噴射してガラス材料の除去加工が施され、かつ、透光性を維持する部位を有し、当該部位は窪んでいることを特徴とする表示パネル用ガラス基板。
  24. 表示パネルを
    上記窪みに透明材料が充填されていることを特徴とする請求項23に記載の表示パネル用ガラス基板。
  25. 請求項23または24の何れか1項に記載の表示パネル用ガラス基板を用いて構成されていることを特徴とする表示パネル。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011007476A1 (ja) * 2009-07-15 2011-01-20 シャープ株式会社 基板の加工装置および基板の加工方法、並びに加工基板の製造方法
US8665395B2 (en) 2010-04-23 2014-03-04 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of manufacturing the same

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012111517A1 (ja) * 2011-02-18 2012-08-23 シャープ株式会社 画像表示パネルの修正方法
US9246036B2 (en) * 2012-08-20 2016-01-26 Universal Display Corporation Thin film deposition
CN103676242B (zh) * 2013-12-23 2016-05-04 合肥京东方光电科技有限公司 彩膜基板的修补方法
CN104362079A (zh) * 2014-09-15 2015-02-18 合肥京东方光电科技有限公司 一种轻薄型显示面板及其制作方法、以及显示装置

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0682735A (ja) * 1992-09-01 1994-03-25 Sharp Corp 液晶表示装置の欠陥修正方法
JPH09199745A (ja) * 1995-11-13 1997-07-31 Sharp Corp 太陽電池用基板及びその製造方法、基板加工装置、並びに薄膜太陽電池及びその製造方法
JPH10239828A (ja) * 1996-12-25 1998-09-11 Konica Corp フォトマスク用ガラスの欠陥修復方法
JP2000131853A (ja) * 1998-10-22 2000-05-12 Fuji Seisakusho:Kk 低融点ガラスのパターニング方法及び該方法に用いるレジストマスク材組成物
JP2000294141A (ja) * 1999-04-08 2000-10-20 Hitachi Ltd プラズマディスプレイ装置の製造方法およびプラズマディスプレイ装置
JP2002239895A (ja) * 2001-01-31 2002-08-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 研磨用保持部材、研磨方法および研磨装置
JP2003292346A (ja) * 2002-01-31 2003-10-15 Shin Etsu Chem Co Ltd 大型基板及びその製造方法
JP2004303630A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Optrex Corp ガラス基板、ガラス基板の加工方法、および有機elディスプレイ
WO2006120872A1 (ja) * 2005-05-02 2006-11-16 Asahi Glass Company, Limited 無アルカリガラスおよびその製造方法
JP2007145656A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Nippon Electric Glass Co Ltd 縦穴を有するガラス基板およびその製造方法
WO2008015809A1 (fr) * 2006-08-03 2008-02-07 Sharp Kabushiki Kaisha Procédé d'élimination d'un défaut dans un substrat de verre, procédé de fabrication d'un substrat de verre, substrat de verre pour panneau d'affichage, et panneau d'affichage

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2890599B2 (ja) * 1990-02-06 1999-05-17 ソニー株式会社 加工方法
TWI250133B (en) * 2002-01-31 2006-03-01 Shinetsu Chemical Co Large-sized substrate and method of producing the same
GB0313362D0 (en) * 2003-06-10 2003-07-16 Chicago Glass Uk Ltd Method and system for repairing glass surfaces

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0682735A (ja) * 1992-09-01 1994-03-25 Sharp Corp 液晶表示装置の欠陥修正方法
JPH09199745A (ja) * 1995-11-13 1997-07-31 Sharp Corp 太陽電池用基板及びその製造方法、基板加工装置、並びに薄膜太陽電池及びその製造方法
JPH10239828A (ja) * 1996-12-25 1998-09-11 Konica Corp フォトマスク用ガラスの欠陥修復方法
JP2000131853A (ja) * 1998-10-22 2000-05-12 Fuji Seisakusho:Kk 低融点ガラスのパターニング方法及び該方法に用いるレジストマスク材組成物
JP2000294141A (ja) * 1999-04-08 2000-10-20 Hitachi Ltd プラズマディスプレイ装置の製造方法およびプラズマディスプレイ装置
JP2002239895A (ja) * 2001-01-31 2002-08-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 研磨用保持部材、研磨方法および研磨装置
JP2003292346A (ja) * 2002-01-31 2003-10-15 Shin Etsu Chem Co Ltd 大型基板及びその製造方法
JP2004303630A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Optrex Corp ガラス基板、ガラス基板の加工方法、および有機elディスプレイ
WO2006120872A1 (ja) * 2005-05-02 2006-11-16 Asahi Glass Company, Limited 無アルカリガラスおよびその製造方法
JP2007145656A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Nippon Electric Glass Co Ltd 縦穴を有するガラス基板およびその製造方法
WO2008015809A1 (fr) * 2006-08-03 2008-02-07 Sharp Kabushiki Kaisha Procédé d'élimination d'un défaut dans un substrat de verre, procédé de fabrication d'un substrat de verre, substrat de verre pour panneau d'affichage, et panneau d'affichage

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011007476A1 (ja) * 2009-07-15 2011-01-20 シャープ株式会社 基板の加工装置および基板の加工方法、並びに加工基板の製造方法
CN102470509A (zh) * 2009-07-15 2012-05-23 夏普株式会社 基板的加工装置、基板的加工方法及加工基板的制造方法
US8665395B2 (en) 2010-04-23 2014-03-04 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of manufacturing the same

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