JP2009064978A - GaN系化合物半導体発光装置およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本GaN系化合物半導体発光装置1は、少なくとも一方の主面101m側にGaN系化合物半導体層を含む基板101と、主面101m上に形成されているGaN系化合物半導体層積層体120とを備え、GaN系化合物半導体層積層体120は、発光層106と、発光層106より基板101側に位置する第1のバッファ層102と、発光層106より基板と反対側に位置する第2のバッファ層109と含み、第1および第2のバッファ層102,109は、AlxGa1-xN(0<x≦0.05)層である
【選択図】図1
Description
本発明にかかるGaN系化合物半導体発光装置の一実施形態は、図1を参照して、少なくとも一方の主面101m側にGaN系化合物半導体層を含む基板101と、主面101m上に形成されているGaN系化合物半導体層積層体120とを備え、GaN系化合物半導体層積層体120は、発光層106と、発光層106より基板側に位置する第1のバッファ層102と、発光層106より基板側と反対側に位置する第2のバッファ層109とを含み、第1および第2のバッファ層102,109は、AlxGa1-xN(0<x≦0.05)層である。GaN系化合物半導体積層体120中にかかるバッファ層102,109が存在することにより、これらのバッファ層102,109から上方(基板と反対側)のGaN系化合物半導体各層の平坦性が高められる。ここで、GaN系化合物半導体とは、GaN半導体およびGaNの一部のGaを他の1つ以上のIII族金属元素(たとえば、Al、Inなど)に置き換えた化合物の半導体をいう。
本発明にかかるGaN系化合物半導体発光装置の製造方法の一実施形態は、図1を参照して、少なくとも一方の主面101m側にGaN系化合物半導体層を含む基板101の主面101m上に、MOCVD(有機金属化学気相堆積)法により、厚さ50μm以下の第1のバッファ層102(Alx1Ga1-x1N層(0<x1≦0.05、たとえばx1は0.05程度)、厚さ2μm以下程度のn型GaN下地層103、厚さ1.5μm程度の第1のn型Ala1Ga1-a1N(0.01<a1<0.1、たとえばa1は0.05程度)クラッド層1041、厚さ0.1μm程度の第2のn型Ala2Ga1-a2N(0.01<a2<0.1、たとえばa2は0.08程度)クラッド層1042、厚さ0.75μm程度の第3のn型Ala3Ga1-a3N(0.01<a3<0.1、たとえばa3は0.05程度)クラッド層1043、厚さ0.1μm程度のn型GaNガイド層105、厚さ10nm(100Å)程度のGaN障壁層と厚さ5nm(50Å)程度のInpG1-pN(0<p<1、好ましくは0.08≦p<0.4、たとえばpは0.08程度)井戸層を1周期として3周期程度で構成される発光層106、厚さ50nm(500Å)μm程度のGaN中間層107、厚さ20nm(200Å)程度のAlcGa1-cN(0.2<c<0.5、たとえばcは0.4程度)キャリアブロック層108、厚さ50nm以下の第2のバッファ層109(Alx2Ga1-x2N層(0<x2≦0.05))、厚さ0.1μm程度のp型GaNガイド層110、厚さ0.5μm程度のp型AlbGa1-bN(0.01<b<0.1、たとえばbは0.06程度)クラッド層111、厚さ0.1μm程度のp型GaNコンタクト層112が、順次成長させられる。
図1を参照して、本実施例のGaN系化合物半導体発光装置1は、以下のようにして製造される。
第1および第2のバッファ層を成長させない他は実施例1と同様にしてGaN系化合物半導体発光装置を得た。このGaN系化合物半導体発光装置の代表的特性は、発振閾値電流が45mA、電圧が4.9V、スロープ効率1.1であった。また、60℃における光出力45mWの寿命試験において、推定寿命3000時間であった。
Claims (8)
- 少なくとも一方の主面側にGaN系化合物半導体層を含む基板と、前記主面上に形成されているGaN系化合物半導体層積層体とを備え、
前記GaN系化合物半導体層積層体は、発光層と、前記発光層より前記基板側に位置する第1のバッファ層と、前記発光層より前記基板と反対側に位置する第2のバッファ層と含み、
第1および第2の前記バッファ層は、AlxGa1-xN(0<x≦0.05)層であるGaN系化合物半導体発光装置。 - 第1の前記バッファ層は前記基板の前記主面に隣接している請求項1に記載のGaN系化合物半導体発光装置。
- 前記GaN系化合物半導体層積層体は、前記第2のバッファ層より前記基板と反対側に位置するクラッド層をさらに含む請求項1に記載のGaN系化合物半導体発光装置。
- 第1および第2の前記バッファ層の厚さが50nm以下である請求項1から請求項3までのいずれかに記載のGaN系化合物半導体発光装置。
- 第1および第2の前記バッファ層は結晶質である請求項1から請求項4までのいずれかに記載のGaN系化合物半導体発光装置。
- 前記基板の前記主面は、(0001)面からの[1−100]方向への傾斜角θ1が0.3°以下であり、[11−20]方向への傾斜角θ2が前記傾斜角θ1の1/2以下であることを特徴とする請求項1から請求項5までのいずれかに記載のGaN系化合物半導体発光装置。
- 請求項1から請求項6までのいずれかのGaN系化合物半導体発光装置の製造方法であって、
第1および第2の前記バッファ層を成長させる工程は、その成長温度に到達後、III族金属元素原料および窒素原料の供給を停止するサブ工程と、III族金属元素原料を供給して金属粒子を堆積させるサブ工程と、窒素原料を供給して前記金属粒子を窒化させる工程とを含むGaN系化合物半導体発光装置の製造方法。 - 第1および第2の前記バッファ層の成長温度は1000℃以上である請求項7に記載のGaN系化合物半導体発光装置の製造方法。
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