JP2009016929A - 負電圧検知回路及びこの負電圧検知回路を用いた半導体集積回路装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】温度変動や製造プロセスのバラツキの影響を受け難く、より精度の高い負電圧検知を実現できる負電圧検知回路を提供する。
【解決手段】負電圧検知回路は、基準電流Irefを生成する基準電流生成回路37と、一端に検知すべき負電圧が印加され、他端に上記基準電流のミラー電流が供給される抵抗分割回路38と、上記基準電流に対応する第1の電圧Vrefと抵抗分割回路にミラー電流を流したときの他端の第2の電圧とを比較する第1のコンパレータ32を備える。基準電流生成回路は、カレントミラー回路から供給される電流に基づいて負及び正の温度係数を持った第3,第4の電圧をそれぞれ生成する第1,第2の回路部と、第1の電圧を生成する第3の回路部、及び第3の電圧と第4の電圧の電圧差が一致するように、カレントミラー回路を制御する第2のコンパレータ31とを備える。
【選択図】図1
【解決手段】負電圧検知回路は、基準電流Irefを生成する基準電流生成回路37と、一端に検知すべき負電圧が印加され、他端に上記基準電流のミラー電流が供給される抵抗分割回路38と、上記基準電流に対応する第1の電圧Vrefと抵抗分割回路にミラー電流を流したときの他端の第2の電圧とを比較する第1のコンパレータ32を備える。基準電流生成回路は、カレントミラー回路から供給される電流に基づいて負及び正の温度係数を持った第3,第4の電圧をそれぞれ生成する第1,第2の回路部と、第1の電圧を生成する第3の回路部、及び第3の電圧と第4の電圧の電圧差が一致するように、カレントミラー回路を制御する第2のコンパレータ31とを備える。
【選択図】図1
Description
この発明は、例えば負電圧昇圧回路を備えたアナログ電源回路に使用される負電圧検知回路、及びこの負電圧検知回路を用いた半導体集積回路装置に関する。
従来、この種の負電圧検知回路では、抵抗分割回路の一端に検知すべき負電圧を印加した状態で、他端に定電流を流して正の検知レベルの電圧を生成し、この正の検知レベルの電圧と基準電圧とをコンパレータで比較することで負電圧を検知している。上記抵抗分割回路の他端に流す定電流には、定電流源の電流をカレントミラー回路に通して生成したミラー電流を用いる。上記基準電圧は、例えば特許文献1に記載されているバンドギャップリファレンス回路のような基準電圧生成回路で生成している。バンドギャップリファレンス回路は、通常動作時には温度や電源電圧に対する依存性が小さい1.25V程度の基準電圧を発生する。この基準電圧は、レギュレータ電圧検知回路や電流制限比較回路などの基準電圧源としても用いられている。
バンドギャップリファレンス回路から出力される基準電圧はコンパレータの反転入力端に印加し、このコンパレータの出力をPチャネル型MOSトランジスタのゲートに供給する。上記MOSトランジスタの電流通路の一端は電源に接続し、他端から抵抗に電流を流して電圧を生成する。そして、上記抵抗で生成した電圧を上記コンパレータの非反転入力端にフィードバックし、上記MOSトランジスタのゲートを制御することで基準となる定電流(基準電流)を生成している。この生成した基準電流をカレントミラー回路に通してミラー電流を生成し、上記抵抗分割回路の他端に供給する。
しかし、コンパレータを用いたフィードバック回路により基準電流を生成すると、温度の変動や製造プロセスのバラツキによる影響でコンパレータのオフセット電圧が変動し、基準電流にバラツキが発生する。このような基準電流のバラツキはミラー電流に影響を及ぼし、検知する負電圧レベルの変動を招く。このため、従来の負電圧検知回路は、温度変動や製造バラツキの影響を受けて検知精度が低下するという問題があった。
特開2004−350290
この発明は上記のような事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、温度変動や製造プロセスのバラツキの影響を受け難く、より精度の高い負電圧検知を実現できる負電圧検知回路及びこの負電圧検知回路を用いた半導体集積回路装置を提供することにある。
この発明の一態様によると、基準電流を生成する基準電流生成回路と、一端に検知すべき負電圧が印加され、他端に前記基準電流生成回路で生成した基準電流のミラー電流が供給される抵抗分割回路と、前記基準電流生成回路で生成した基準電流に対応する第1の電圧と、前記抵抗分割回路にミラー電流を流したときの前記抵抗分割回路の他端の第2の電圧とを比較する第1のコンパレータとを具備し、前記基準電流生成回路は、カレントミラー回路と、前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、負の温度係数を持った第3の電圧を生成する第1の回路部と、前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、正の温度係数を持った第4の電圧を生成する第2の回路部と、前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、前記第1の電圧を生成する第3の回路部と、前記第3の電圧と前記第4の電圧の電圧差が一致するように、前記カレントミラー回路から前記第1乃至第3の回路部に供給する電流を制御する第2のコンパレータとを備え、前記第3の回路部を流れる電流のミラー電流を前記抵抗分割回路の他端に供給する負電圧検知回路が提供される。
この発明の他の一態様によると、基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、前記基準電圧生成回路から供給される基準電圧に基づいて、正の電圧を生成する正電圧生成回路と、前記基準電圧生成回路から供給される基準電圧に基づいて、負の電圧を生成する負電圧生成回路と、前記正電圧生成回路から出力される正電圧出力、及び前記負電圧生成回路から出力される負電圧出力がそれぞれ供給され、一方を選択して出力する電源出力切り替えスイッチ回路とを備え、前記負電圧生成回路は、オシレータと、前記オシレータの発振出力が供給され、負電圧を生成する負電圧昇圧回路と、前記負電圧昇圧回路で生成した負電圧を検知して前記オシレータの動作を制御する負電圧検知回路とを備え、前記負電圧検知回路は、基準電流を生成する基準電流生成回路と、一端に前記負電圧昇圧回路で生成した負電圧が印加され、他端に前記基準電流生成回路で生成した基準電流のミラー電流が供給される抵抗分割回路と、前記基準電流生成回路で生成した基準電流に対応する第1の電圧と、前記抵抗分割回路にミラー電流を流したときの前記抵抗分割回路の他端の第2の電圧とを比較する第1のコンパレータとを具備し、前記基準電流生成回路は、カレントミラー回路と、前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、負の温度係数を持った第3の電圧を生成する第1の回路部と、前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、正の温度係数を持った第4の電圧を生成する第2の回路部と、前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、前記第1の電圧を生成する第3の回路部と、前記第3の電圧と前記第4の電圧の電圧差が一致するように、前記カレントミラー回路から前記第1乃至第3の回路部に供給する電流を制御する第2のコンパレータとを備え、前記第1のコンパレータは、反転入力端が前記第3の回路部と前記カレントミラー回路との接続点に接続され、非反転入力端が前記抵抗分割回路の他端に接続される半導体集積回路装置が提供される。
この発明によれば、温度変動や製造プロセスのバラツキの影響を受け難く、より精度の高い負電圧検知を実現できる負電圧検知回路及びこの負電圧検知回路を用いた半導体集積回路装置を提供できる。
以下、この発明の実施形態について図面を参照して説明する。
[第1の実施形態]
図1は、この発明の実施形態に係る負電圧検知回路の構成例を示す回路図である。図2は、上記負電圧検知回路を用いた半導体集積回路装置の一例として不揮発性半導体記憶装置、ここではフラッシュメモリを示している。図2では、負電圧昇圧回路を備えたアナログ電源回路と、このアナログ電源回路から電源電圧が供給される回路部を抽出して示している。
[第1の実施形態]
図1は、この発明の実施形態に係る負電圧検知回路の構成例を示す回路図である。図2は、上記負電圧検知回路を用いた半導体集積回路装置の一例として不揮発性半導体記憶装置、ここではフラッシュメモリを示している。図2では、負電圧昇圧回路を備えたアナログ電源回路と、このアナログ電源回路から電源電圧が供給される回路部を抽出して示している。
図2に示す回路部には、メモリセルアレイ11、ロウデコーダ(アドレスデコーダ回路)12、カラムデコーダ/センスアンプ(セレクタ/読み出し比較回路)13、コントローラ14、電圧システムコントロール回路(電圧生成コントロール回路)15、バンドギャップリファレンス回路(基準電圧生成回路)16、正電圧システム(正電圧生成回路)17、負電圧システム(負電圧生成回路)18、及び電圧スイッチコントロール回路(電源出力切り替えスイッチ回路)19等が含まれている。
上記メモリセルアレイ11には、メモリセルが行及び列方向に配列されている。上記メモリセルの行はロウデコーダ12によって選択される。上記メモリセルの列はカラムデコーダによって指定され、選択されたメモリセルからビット線に読み出されたデータがセンスアンプで増幅される。あるいは外部から入力された書き込みデータがセンスアンプで増幅されてビット線に供給され、選択されたメモリセルに書き込まれる。
上記コントローラ14は、メモリセルアレイ11、カラムデコーダ/センスアンプ13及び電圧システムコントロール回路15など、不揮発性半導体記憶装置全体の動作を制御するものである。
上記バンドギャップリファレンス回路16から出力される温度依存性のない基準電圧(例えば+1.25V)は、上記正電圧システム17と負電圧システム18にそれぞれ供給される。これら正電圧システム17と負電圧システム18は、上記電圧システムコントロール回路15により動作が制御され、正電圧システム17は+12Vの正電圧を生成し、負電圧システム18は−8Vの負電圧を生成する。
上記負電圧システムは、負電圧検知回路(SVNEG)21、オシレータ(クロック生成回路)22及びネガティブチャージポンプ(負電圧昇圧回路)23等を備えている。オシレータ22の発振出力を、ネガティブチャージポンプ23に供給して昇圧し、負電圧を生成する。そして、上記負電圧検知回路21に、上記バンドギャップリファレンス回路16から出力される温度依存性のない基準電圧(+1.25V)と上記ネガティブチャージポンプ23から出力される負電圧(−8V)を供給してオシレータ22の動作を制御する。この負電圧検知回路21では、抵抗分割回路の一端に上記ネガティブチャージポンプ23から出力される負電圧を印加した状態で、他端に定電流を流して正の検知レベルの電圧を生成し、この正の検知レベルの電圧と基準電圧とをコンパレータで比較して負電圧を検知する。
上記正電圧システム17の正電圧出力(+12V)と負電圧システム18の負電圧出力(−8V)はそれぞれ、電圧スイッチコントロール回路(電源出力切り替えスイッチ回路)19に供給される。この電圧スイッチコントロール回路19で選択された+12Vの電圧、または−8Vの電圧がメモリセルアレイ11、ロウデコーダ12及びカラムデコーダ/センスアンプ13の電源端子に供給される。これらメモリセルアレイ11、ロウデコーダ12及びカラムデコーダ/センスアンプ13はコントローラ14により制御され、データの読み出し動作、書き込み動作、消去動作などに応じて電源電圧が選択的に切り替えられる。
図1に示す負電圧検知回路は、コンパレータ31,32、Pチャネル型MOSトランジスタ33〜36、抵抗R1〜R4,R11〜R13、及びダイオードD1,D2−1〜D2−nを含んで構成されている。上記コンパレータ31、MOSトランジスタ33〜35、抵抗R1,R11〜R13及びダイオードD1,D2−1〜D2−nは、基準電流Irefを生成する基準電流生成回路37を構成している。
抵抗R2〜R4は抵抗分割回路38を構成しており、この抵抗分割回路38の一端にネガティブチャージポンプ23から検知すべき負電圧が印加される。また、抵抗分割回路38の他端には上記基準電流生成回路37で生成された基準電流Irefのミラー電流が供給される。そして、コンパレータ32で、上記基準電流生成回路37で生成した基準電流に対応する電圧Vrefと、上記抵抗分割回路38にミラー電流を流したときの他端の電圧とを比較する。
すなわち、上記コンパレータ31の出力端には、カレントミラー回路を構成する上記MOSトランジスタ33〜36のゲートがそれぞれ接続される。上記MOSトランジスタ33の電流通路の一端は電源Vccに接続され、他端はダイオードD1のアノード及び抵抗R11の一端(ノードa1)に接続される。このノードa1は、上記コンパレータ31の非反転入力端(+)に接続される。上記ダイオードD1のカソードと抵抗R11の他端は接地点に接続される。
上記MOSトランジスタ34の電流通路の一端は電源Vccに接続され、他端は抵抗R12,R13の一端(ノードb1)に接続される。このノードb1は、コンパレータ31の反転入力端(−)に接続される。上記抵抗R12の他端は接地点に接続され、上記抵抗R13の他端はダイオードD2−1〜D2−nのアノードに共通接続される。これらダイオードD2−1〜D2−nのカソードはそれぞれ接地点に接続される。上記ダイオードD1とダイオードD2−1〜D2−nはそれぞれ実質的に同じ構成であり、例えば並列接続の数の比は1:100、換言すればn=100である。
上記MOSトランジスタ35の電流通路の一端は電源Vccに接続され、他端は抵抗R1の一端及びコンパレータ32の反転入力端(−)に接続される。上記抵抗R1の他端は接地点に接続される。
上記MOSトランジスタ36の電流通路の一端は電源Vccに接続され、他端は抵抗R2の一端及びコンパレータ32の非反転入力端(+)に接続される。上記抵抗R2の他端には抵抗R3の一端が接続され、この抵抗R3の他端には抵抗R4の一端が接続される。上記抵抗R4の他端には、ネガティブチャージポンプ23が接続されている。このネガティブチャージポンプ23には、オシレータ22の発振出力が供給され、この発振出力を昇圧して負電圧を出力する。上記オシレータ22には上記コンパレータ32の出力が供給されて動作が制御されるようになっている。
図1に示す負電圧検知回路は、カレントミラー回路による基準電流Irefの生成にダイオードのバンドギャップリファレンスを利用した回路である。ダイオードD1に電流を流したときの電圧が負の温度係数になるのに対して、ダイオードD2−1〜D2−nと抵抗R13を直列に接続したときの抵抗R13の両端電圧(電圧降下)は正の温度係数になる。すなわち、ダイオードD1に流れる電流I1とダイオードD2に流れる電流I2は温度が変動した場合においても一定の電流比も持っており、この電流レベルはノードa1及びb1の電圧差が常に一致するように制御される。このため、抵抗R1に流れる基準電流Irefは常に安定しているので、抵抗分割回路38(抵抗R2,R3,R4)にも常に安定したミラー電流を供給できる。従って、温度変動や製造プロセスのバラツキの影響を受け難く、より精度の高い負電圧検知が可能となる。
上述したように、負電圧昇圧回路において、基準電流の生成にコンパレータを使用しないので、オフセット電圧が温度変動や製造プロセスのバラツキによる悪影響を受けることがなく、より精度の高い負電圧検知を実現できる。
従って、この発明の一つの側面によれば、基準電流と抵抗分割回路に流れる電流とを電流比でダイレクトに比較するので、温度変化や製造プロセスのバラツキの影響を受け難く、より精度の高い負電圧検知を実現できるため、負電圧昇圧における負電圧レベルのバラツキを抑えることが可能となる。
以上実施形態を用いてこの発明の説明を行ったが、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で変形することが可能である。また、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件の適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題の少なくとも1つが解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果の少なくとも1つが得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
11…メモリセルアレイ、12…ロウデコーダ(アドレスデコーダ回路)、13…カラムデコーダ/センスアンプ(セレクタ/読み出し比較回路)、14…コントローラ、15…電圧システムコントロール回路(電圧生成コントロール回路)、16…バンドギャップリファレンス回路(基準電圧生成回路)、17…正電圧システム(正電圧生成回路)、18…負電圧システム(負電圧生成回路)、19…電圧スイッチコントロール回路(電源出力切り替えスイッチ回路)、21…負電圧検知回路(SVNEG)、22…オシレータ(クロック生成回路)、23…ネガティブチャージポンプ(負電圧昇圧回路)、31,32…コンパレータ、33〜36…Pチャネル型MOSトランジスタ、R1〜R4,R11〜R13…抵抗、D1,D2−1〜D2−n…ダイオード、Iref…基準電流、37…基準電流生成回路、38…抵抗分割回路。
Claims (5)
- 基準電流を生成する基準電流生成回路と、
一端に検知すべき負電圧が印加され、他端に前記基準電流生成回路で生成した基準電流のミラー電流が供給される抵抗分割回路と、
前記基準電流生成回路で生成した基準電流に対応する第1の電圧と、前記抵抗分割回路にミラー電流を流したときの前記抵抗分割回路の他端の第2の電圧とを比較する第1のコンパレータとを具備し、
前記基準電流生成回路は、
カレントミラー回路と、
前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、負の温度係数を持った第3の電圧を生成する第1の回路部と、
前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、正の温度係数を持った第4の電圧を生成する第2の回路部と、
前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、前記第1の電圧を生成する第3の回路部と、
前記第3の電圧と前記第4の電圧の電圧差が一致するように、前記カレントミラー回路から前記第1乃至第3の回路部に供給する電流を制御する第2のコンパレータとを備え、
前記第3の回路部を流れる電流のミラー電流を前記抵抗分割回路の他端に供給する
ことを特徴とする負電圧検知回路。 - 前記カレントミラー回路は、電流通路の一端がそれぞれ電源に接続され、ゲートに前記第2のコンパレータの出力端がそれぞれ接続されたPチャネル型の第1乃至第3MOSトランジスタを含み、
前記第1の回路部は、アノードが前記第1MOSトランジスタの電流通路の他端に接続され、カソードが接地点に接続された第1ダイオードと、一端が前記第1MOSトランジスタの電流通路の他端に接続され、他端が接地点に接続された第1抵抗とを含み、
前記第2の回路部は、一端が前記第2MOSトランジスタの電流通路の他端に接続され、他端が接地点に接続された第2抵抗と、一端が前記第2MOSトランジスタの電流通路の他端に接続された第3抵抗と、各々のアノードが前記第3抵抗の他端に接続され、各々のカソードが接地点に接続された複数の第2ダイオードとを含み、
前記第3の回路部は、一端が前記第3MOSトランジスタの電流通路の他端に接続され、他端が接地点に接続された第4抵抗を含み、
前記第2のコンパレータは、非反転入力端が前記第1MOSトランジスタの電流通路の他端に接続され、反転入力端が前記第2MOSトランジスタの電流通路の他端に接続され、
前記第4抵抗に流れる基準電流のミラー電流が前記抵抗分割回路の他端に供給されることを特徴とする請求項1に記載の負電圧検知回路。 - 電流通路の一端が前記電源に接続され、電流通路の他端が前記抵抗分割回路の他端に接続され、ゲートに前記第2のコンパレータの出力端が接続され、前記第1乃至第3MOSトランジスタと共にカレントミラー回路を構成するPチャネル型の第4MOSトランジスタを更に具備し、
前記第1のコンパレータは、反転入力端が前記第3MOSトランジスタの電流通路の他端に接続され、非反転入力端が前記第4MOSトランジスタの電流通路の他端に接続されることを特徴とする請求項2に記載の負電圧検知回路。 - 基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、
前記基準電圧生成回路から供給される基準電圧に基づいて、正の電圧を生成する正電圧生成回路と、
前記基準電圧生成回路から供給される基準電圧に基づいて、負の電圧を生成する負電圧生成回路と、
前記正電圧生成回路から出力される正電圧出力、及び前記負電圧生成回路から出力される負電圧出力がそれぞれ供給され、一方を選択して出力する電源出力切り替えスイッチ回路とを備え、
前記負電圧生成回路は、
オシレータと、
前記オシレータの発振出力が供給され、負電圧を生成する負電圧昇圧回路と、
前記負電圧昇圧回路で生成した負電圧を検知して前記オシレータの動作を制御する負電圧検知回路とを備え、
前記負電圧検知回路は、
基準電流を生成する基準電流生成回路と、
一端に前記負電圧昇圧回路で生成した負電圧が印加され、他端に前記基準電流生成回路で生成した基準電流のミラー電流が供給される抵抗分割回路と、
前記基準電流生成回路で生成した基準電流に対応する第1の電圧と、前記抵抗分割回路にミラー電流を流したときの前記抵抗分割回路の他端の第2の電圧とを比較する第1のコンパレータとを具備し、
前記基準電流生成回路は、
カレントミラー回路と、
前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、負の温度係数を持った第3の電圧を生成する第1の回路部と、
前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、正の温度係数を持った第4の電圧を生成する第2の回路部と、
前記カレントミラー回路から供給される電流に基づいて、前記第1の電圧を生成する第3の回路部と、
前記第3の電圧と前記第4の電圧の電圧差が一致するように、前記カレントミラー回路から前記第1乃至第3の回路部に供給する電流を制御する第2のコンパレータとを備え、
前記第1のコンパレータは、反転入力端が前記第3の回路部と前記カレントミラー回路との接続点に接続され、非反転入力端が前記抵抗分割回路の他端に接続されることを特徴とする半導体集積回路装置。 - 前記電源出力切り替えスイッチ回路で選択された正電圧または負電圧が電源端子に供給されるメモリセルアレイ、ロウデコーダ及びカラムデコーダ/センスアンプを更に具備することを特徴とする請求項4に記載の半導体集積回路装置。
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