JP2009008769A - 光電気変換装置の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】基板に形成する45°ミラーや導波路との関係で光素子の実装精度が確保できる光電気変換装置の製造方法を提供する。
【解決手段】電気信号を光信号にまたは光信号を電気信号に変換する光素子4Aと、光信号を伝搬する導波路31を形成した基板3と、導波路31の端部に面して基板3に形成され、導波路31と光素子4Aとを光学的に結合する45°ミラー33とを備えた光電気変換装置の製造方法であって、前記導波路31の長手方向をX軸とし、前記45°ミラー33の上辺33a若しくは45°ミラー設置位置の上辺33aをY軸とした座標により、45°ミラー33に対して、光素子4Aを位置合わせしながら基板3に実装する。
【選択図】図1

Description

本発明は、光電気変換装置の製造方法に関するものである。
従来、電気信号を光信号にまたは光信号を電気信号に変換する光素子と、光信号を伝搬する導波路を形成した基板と、導波路の端部に面して基板に形成され、導波路と光素子とを光学的に結合する45°ミラーとを備えた光電気変換装置がある。
この光電気変換装置の製造工程においては、光素子を基板に実装する際に、基板に形成した45°ミラーや導波路との間で高い位置精度が要求されている。
そのために、はんだが溶融して再度凝固する際の表面張力を利用したセルフアライメントにより、基板の電気接続パット(光素子の実装用電極)に対して光素子の実装精度を確保する方法が提案されている(引用文献1参照)。
特開平10−170769号公報
しかしながら、この方法では、光素子と基板の電気接続パットとの間で位置合わせを行っていることになり、位置精度が必要とされる光素子と45°ミラーや導波路との間の位置合わせではなく、しかも基板に形成する45°ミラーや導波路は、加工形状にバラツキが発生することから、光素子の実装精度が確保できないので、光結合損失が大きくなるという問題があった。
本発明は、前記問題を解決するために成されたもので、基板に形成する45°ミラーや導波路との関係で光素子の実装精度が確保できる光電気変換装置の製造方法を提供するものである。
前記課題を解決するために、本発明は、電気信号を光信号にまたは光信号を電気信号に変換する光素子と、光信号を伝搬する導波路を形成した基板と、導波路の端部に面して基板に形成され、導波路と光素子とを光学的に結合する45°ミラーとを備えた光電気変換装置の製造方法であって、前記導波路の長手方向をX軸とし、前記45°ミラーの上辺若しくは45°ミラー設置位置の上辺をY軸とした座標により、45°ミラーに対して、光素子を位置合わせしながら基板に実装することを特徴とする光電気変換装置の製造方法を提供するものである。
請求項2のように、前記光素子の位置合わせは、X軸に対しては導波路の幅の1/2、Y軸に対しては導波路の高さの(√2)/2でシフトした直線の交点であることが好ましい。
請求項3のように、前記導波路は成型で形成し、45°ミラーはエッチングで形成することが好ましい。
請求項4のように、前記導波路を成型で形成する時に、導波路の中心から幅方向に等距離の位置に、一対の円形状のマーカを同時に基板の表面に形成することが好ましい。
請求項5のように、前記45°ミラー設置位置に、反射率の高い金属薄膜を形成することが好ましい。
請求項6のように、前記45°ミラーの幅を導波路の幅よりも広くすることが好ましい。
請求項7のように、前記45°ミラーと導波路の端部との間に隙間を形成することが好ましい。
請求項8のように、前記光素子の実装前に、前記基板の表面に形成された光素子の実装用電極を画像認識して予備調整を行い、その後、光素子を微調整しながら基板に実装することが好ましい。
本発明によれば、光素子の基板実装時の位置決め軸として、導波路の長手方向のX軸と、45°ミラーの上辺等のY軸との2つの軸の直交座標とする位置に、光素子を微調整しながら基板に実装することで、基板に形成する45°ミラーや導波路の加工形状にバラツキが発生しても、光素子の実装精度が確保できるから、光結合損失を最小に抑えることができる。
請求項2によれば、X軸に対しては導波路の幅の1/2、Y軸に対しては導波路の高さの(√2)/2でシフトした直線の交点に光素子を位置合わせすれば良いので、光素子の実装位置の中心となる点である座標の交点を、容易かつ正確に決定できる。
請求項3によれば、導波路は成型で、45°ミラーはエッチングで形成することで、導波路は低光学損失、45°ミラーは高反射率となるように、それぞれに適したプロセス条件を設定でき、光素子の実装精度も確保できるようになる。
請求項4によれば、光素子の実装前の予備調整に際して、導波路の中心から幅方向に等距離の位置に、一対の円形状のマーカを導波路の成型と同時に基板の表面に形成することで、成型時の抜き勾配(テーパ)でマーカの円形状が太く若しくは2重に見えるような形状誤差があっても、マーカの中心位置を求めれば良いため、位置認識がしやすくなり、位置認識の誤差を最小に抑えることができる。
請求項5によれば、45°ミラーの反射率を高くできるとともに、45°ミラー周辺部分とのコントラストが大きくなり、光素子の実装前の位置認識がしやすくなる。
請求項6によれば、導波路の幅方向の成型位置のバラツキによる光結合損失の影響を受けにくくなるので、光結合損失を最小に抑えることができる。
請求項7によれば、45°ミラーの加工形状にバラツキがあっても、導波路の端部が45°ミラーと干渉しないので、45°ミラーと導波路を歩留まり良く作製できるようになる。
請求項8によれば、基板に対してコントラストのある光素子の実装用電極を予備調整の画像認識に用いることで、光素子の微調整の精度が向上するようになる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図8および図9は、光電気変換装置1の基本構造であり、この光電気変換装置1は、発光側光電気変換部1Aと、受光側光電気変換部1Bと、これらの変換部1A,1Bを光学的に連結する外部の導波路9とを備えている。なお、図8において、図8の上下方向を上下方向、紙面と直交する方向を左右方向というとともに、発光側光電気変換部1Aに対しては図8の右側を前方、左側を後方といい、受光側光電気変換部1Bに対しては図8の左側を前方、右側を後方という。
発光側光電気変換部1Aは、配線基板2と、この配線基板2の上面に所定の間隔を隔てて実装されるマウント基板3とを備えている。また、マウント基板3の下面3aには、電気信号を光信号に変換する発光素子4Aと、この発光素子4Aに電気信号を送信するためのIC回路50Aが形成されたIC基板5Aとが実装されている。そして、マウント基板3には、発光素子4Aと光学的に結合する導波路31が形成されている。
発光素子4Aとしては、上面から上方に発光する平面視で300μm□の大きさのVCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)が採用されている。IC基板5Aは、VCSELを駆動させるドライバICであり、発光素子4Aの近傍に配置されている。そして、発光素子4AおよびIC基板5Aは、金バンプ11(図9参照)でマウント基板3の下面3aに形成された図略の配線パターンに接続されている。なお、発光素子4Aとしては、LED等も採用可能であるが、LED等は指向性がなく、導波路31に光結合する割合が小さいので、光の効率に余裕があることが条件となり、その場合には低価格という点で有利である。
マウント基板3は、平面視で前後方向に延びる長方形状をなしており、半田バンプ10で配線基板2の上面に形成された図略の配線パターンに接続されている。このマウント基板3は、実装時の熱の影響や使用環境による応力の影響を避けるために、剛性が必要である。また、光伝送の場合は、発光素子から受光素子までの光伝送効率が必要になるので、光素子を高精度に実装することや使用中の位置変動を極力抑制する必要がある。このため、マウント基板3としては、シリコン基板が採用されている。また、マウント基板3は、発光素子4Aと線膨張係数の近い材料で構成されていることが好ましく、シリコン以外には、VCSEL材料と同系統のGaAs等の化合物半導体で構成されていてもよい。
また、マウント基板3には、発光素子4Aの真上となる位置に、光路を90°屈曲させるための45°ミラー33が形成されている。
導波路31は、45°ミラー33から前方に延在していて、マウント基板3の前端面と略面一となる端面を有している。この導波路31は、図9に示すように、断面略正方形状のコア31aと、コア31aを周囲から覆うクラッド31bとからなっており、マウント基板3に形成された導波路形成用溝32内に配設されている。
コア31aおよびクラッド31bのサイズは、発光素子4Aから導波路31までの距離、発光素子4Aの発散角度および後述する受光素子4Bのサイズから光効率を優先して決定される。
例えば、5〜10Gbps以上の高速伝送に使用される一般的なVCSELや受光素子4BであるPD(フォトダイオード)では、VCSELの発光径が5〜10μm、発散角度が20°程度であり、PDの受光径が60μm程度であるので、コア31aのサイズを40μm□、クラッド31bの厚みを2〜10μmとする。
マウント基板3の前端部には、下面3aに導波路31を挟んで離間する左右一対の樹脂構造部6が設けられているとともに、アダプタ7Aが取り付けられている。そして、アダプタ7Aに、外部の導波路9の端部に設けられた光コネクタ8Aが着脱可能に装着されることによって、外部の導波路9がマウント基板3の導波路31に光学的に結合されるようになっている。
外部の導波路9は、所定幅を有したフレキシブルなフィルム状のものであり、具体的に図示しないが、下クラッドの上にコアが載置され、このコアが上クラッドで覆われた構成となっている。
そして、光コネクタ8Aがアダプタ7Aに装着されると、マウント基板3の導波路31のコア31aの位置と外部導波路9のコアの位置とが合致するようになる。
受光側光電気変換部1Bの基本的な構成は、発光側光電気変換部1Aと同様であるため、詳細な説明は省略する。なお、発光側光電気変換部1Aと異なる点としては、マウント基板3の下面3aに、光信号を電気信号に変換する受光素子4Bと、この受光素子4Bから電気信号を受信するためのIC回路50Bが形成されたIC基板5Bとが実装されている点である。受光素子4Bとしては、PDが採用されており、IC基板5Bは、電流・電圧の変換を行うTIA(Trans−impedance Amplifier)素子である。また、マウント基板3には、アンプ素子が実装されることもある。
次に、本発明の光電気変換装置1の製造方法を図1〜図7に基づいて説明する。なお、光電気変換装置1は、発光側光電気変換部1Aと受光側光電気変換部1Bとを別々に製造することが可能であり、それらの製造方法は同じであるため、代表して発光側光電気変換部1Aの製造方法を説明する。なお、図1〜図7では、作図の都合により、マウント基板3の下面3aを上向きに表示している。
初めに、図1を参照しながら、マウント基板3に導波路31と45°ミラー(45°の傾斜面)33とを形成する方法を簡単に説明する。なお、通常は、シリコンウエハ(シリコン基板)を用いて、複数個のマウント基板3を同時に形成し、最終的にシリコンウエハを切断してマウント基板3を個片化するものであるが、以下では、マウント基板3として説明する。この場合、後述する発光素子4Aの実装は、導波路31を形成したシリコンウエハに対して行えば、実装位置を同量でシフトするだけで行うことができる。
先ず、マウント基板3に、導波路形成用溝32および45°ミラー33を形成する。これらは、シリコン結晶のエッチング速度の違いを利用した異方性エッチングにより形成する。45°ミラー33を形成するためには、エッチング形成とエッチャント濃度、組成を調整して形成する。異方性エッチング以外にも、導波路形成用溝32の形成には、反応性イオンエッチング等のドライエッチングの形成方法がある。
次に、マウント基板3上に発光素子4Aを実装するための実装用電極36を形成する。
この電極36は、マウント基板3上に金を蒸着することによりパターンニングを行う。このとき、45°ミラー33にも金(反射率が高い)を同時に蒸着する。なお、使用する波長にもよるが、45°ミラー33に金を蒸着しないことも可能である。
そして、導波路形成用溝32内にクラッド材(下クラッド材)を塗布し、次いで、金型(図示せず)を用いてクラッド材を押圧してコア用溝(図示せず)を形成し、このコア用溝に、コア材を充填してコア31aを形成し、最後にコア31aの上にクラッド材(上クラッド材)を塗布して、クラッド31bを形成する。
その後、マウント基板3に発光素子4Aを実装するのであるが、発光素子4Aに、スタッドバンプボンディングにより金バンプ11を形成し、マウント基板3と発光素子4Aを200℃に加熱して超音波接合または熱圧着接合等を行う。なお、IC基板5Aは、発光素子4Aと同時にマウント基板3に実装される。
図1は、マウント基板3に発光素子4Aを実装するための第1実施形態の製造方法である。
マウント基板(基板)3の導波路31の長手方向をX軸(図1はコア幅の2本、コア幅の中心1本でも可)とし、45°ミラー33の上辺(若しくは45°ミラー設置位置の上辺…マウント基板3の下面3a側の辺を云う。以下同様。)33aをY軸とした座標により、45°ミラー33に対して、発光素子(光素子)4Aを位置合わせしながらマウント基板3の実装用電極36に超音波接合または熱圧着接合等で実装する。
なお、45°ミラー33の上辺33aをY軸とする他に、45°ミラー設置位置の上辺33aをY軸とするとしたのは、マウント基板3に導波路形成用溝32と45°ミラー33を形成する際に、45°ミラー33は、単なる45°の傾斜面だけとして、それに反射率が高い金等を蒸着することで45°ミラー33を形成する場合には、45°の傾斜面が45°ミラー設置位置となるからである。
第1実施形態のように、発光素子4Aのマウント基板3の実装時の位置決め軸として、導波路31の長手方向のX軸と、45°ミラー33の上辺33a等のY軸との2つの軸の直交座標とする位置に、発光素子4Aを微調整しながらマウント基板3に実装することで、マウント基板3に形成する45°ミラー33や導波路31の加工形状にバラツキが発生しても、発光素子4Aの実装精度が確保できるから、光結合損失を最小に抑えることができる。
図2は、マウント基板3に発光素子4Aを実装するための第2実施形態の製造方法である。
図1の第1実施形態と対比すれば、発光素子4Aの発光中心4A(C)の位置合わせは、X軸に対しては導波路31の幅Wの1/2、Y軸に対しては導波路31の高さHの(√2)/2でシフトした直線X1,T1の交点としている。なお、発光素子4Aの発光中心4A(C)の位置合わせは、交点としないで、交点からいずれかの方向にオフセットさせる場合もある。
第2実施形態のように、X軸に対しては導波路31の幅Wの1/2、Y軸に対しては導波路31の高さの(√2)/2でシフトした直線の交点に発光素子4Aを位置合わせすれば良いので、発光素子4Aの実装位置の中心となる点である座標の交点を、容易かつ正確に決定できる。
図3は、マウント基板3に発光素子4Aを実装するための第3実施形態の製造方法である。
図3(b)のように、マウント基板3に、導波路形成用溝32および45°ミラー33を異方性エッチングにより形成する。そして、図3(c)のように、導波路形成用溝32内にクラッド材31cを充填し、次いで、図3(d)のように、エンボス成型やフォトリソグラフィによりコア用溝31dを形成し、このコア用溝31dに、図4(e)のように、コア材を充填してコア31aを形成し、最後にコア31aの上にクラッド材を塗布して、クラッド31bを形成する〔図3(a)参照〕。
第3実施形態のように、導波路、つまりコア31aは成型で、45°ミラー33はエッチングで形成することで、コア31aは低光学損失、45°ミラー33は高反射率となるように、それぞれに適したプロセス条件を設定でき、発光素子4Aの実装精度も確保できるようになる。
図4は、マウント基板3に発光素子4Aを実装するための第4実施形態の製造方法である。
図3の第3実施形態における図3(d)のように、導波路31を成型で形成する時、つまり、エンボス成型やフォトリソグラフィによりコア用溝31dを形成する時に、導波路31の中心31(C)から幅方向に等距離W1,W1の位置に、一対の円形状のマーカ40を同時にマウント基板3の表面に形成する。
第4実施形態のように、発光素子4Aの実装前の予備調整に際して、導波路31の中心31(C)から幅方向に等距離W1,W1の位置に、一対の円形状のマーカ40を導波路31の成型と同時にマウント基板3の表面に形成することで、成型時の抜き勾配(テーパ)でマーカ40の円形状が太く若しくは2重に見えるような形状誤差があっても、マーカ40の中心位置40(C)を求めれば良いため、位置認識がしやすくなり、位置認識の誤差を最小に抑えることができる。
図5は、マウント基板3に発光素子4Aを実装するための第5実施形態の製造方法である。
図5(a)(b)のように、45°ミラー33の設置位置に、反射率の高い金属薄膜33bを形成する。金属薄膜33bとしては、発光素子4Aが赤外線を発光するのであれば、金(Au)、銅(Cu)、銀(Ag)等の材料が良好であるが、発光素子4Aの使用波長に応じて、高反射率の材料を適当に選定すれば良い。
第5実施形態のように、45°ミラー33の設置位置に、反射率の高い金属薄膜33bを形成することで、45°ミラー33の反射率を高くできるとともに、45°ミラー33の周辺部分とのコントラストが大きくなり、発光素子4Aの実装前の位置認識がしやすくなる。
また、図5(c)のように、45°ミラー33の設置位置と、その周辺の上下の平面部にも金属薄膜33cを形成すれば、上方から観察したとき、45°ミラー33と上下の平面部とのコントラストがつきやすくなり、発光素子4Aの実装前の位置認識がよりしやすくなる。
図6は、マウント基板3に発光素子4Aを実装するための第6実施形態の製造方法である。
45°ミラー33の幅W3を導波路31、つまりコア31aの幅W4よりも広くしている。
第6実施形態のように、45°ミラー33の幅W3をコア31aの幅W4よりも広くすることで、コア31aの幅方向の成型位置のバラツキ(二点鎖線参照)による光結合損失の影響を受けにくくなるので、光結合損失を最小に抑えることができる。
図7は、マウント基板3に発光素子4Aを実装するための第7実施形態の製造方法である。
図7(a)のように、導波路形成用溝32のミラー溝長さL1を導波路31、つまりコア31aの長さL2よりも長くする。
第6実施形態のように、導波路形成用溝32のミラー溝長さL1をコア31aの長さL2よりも長くすることで、45°ミラー33とコア31aの端部との間に隙間(L2−L1)が形成されるので、45°ミラー33の加工形状にバラツキがあっても、コア32aの端部が45°ミラー33と干渉しないので、45°ミラー33と導波路31を歩留まり良く作製できるようになる。
図7(b)は、マウント基板3の導波路形成用溝32の両端に45°ミラー33をそれぞれ形成した例であり、この例であっても、導波路形成用溝32のミラー溝長さL1をコア31aの長さL2よりも長くすれば良い。本例であれば、両端の45°ミラー33に対して、発光素子4Aと受光素子4Bとを実装することになるので、実装後に光の入出力の動作検査ができる。
図7(c)は、マウント基板3の表面に、導波路31と、その両端に45°ミラー33をそれぞれ形成した例であり、この例であっても、ミラー溝長さL1をコア31aの長さL2よりも長くすれば良い。本例以外の各実施形態では、マウント基板3の導波路形成用溝32に導波路31と45°ミラー33を形成したものであるが、それぞれ本例のように、マウント基板3の表面に、導波路31と45°ミラー33を形成したものであっても良い。
流用する図6は、マウント基板3に発光素子4Aを実装するための第8実施形態の製造方法である。
発光素子4Aの実装前に、マウント基板3の表面に形成された発光素子4Aの実装用電極36を画像認識して予備調整を行い、その後、発光素子4Aを微調整しながらマウント基板3に実装する。
第8実施形態のように、マウント基板3に対してコントラストのある発光素子4Aの実装用電極36を予備調整の画像認識に用いることで、発光素子4Aの位置合わせが高速になるとともに微調整の精度が向上するようになる。
本発明の第1実施形態に係る光電気変換装置の要部斜視図である。 第2実施形態に係る光電気変換装置の要部斜視図である。 第3実施形態に係る光電気変換装置であり、(a)は要部斜視図、(b)〜(e)は、製造工程の断面図である。 第4実施形態に係る光電気変換装置の要部平面図である。 第5実施形態に係る光電気変換装置であり、(a)は要部平面図、(b)は要部断面図、(c)は変形例の要部断面図である。 第6,8実施形態に係る光電気変換装置の要部平面図である。 第7実施形態に係る光電気変換装置であり、(a)は要部断面図、(b)(c)は、それぞれ変形例の要部断面図である。 本発明に係る光電気変換装置の基本構造の側面図である。 (a)はマウント基板の側面図、(b)は(a)のA−A線断面図である。
符号の説明
1 光電気変換装置
3 マウント基板(基板)
31 導波路
31a コア
31b クラッド
32 導波路形成用溝
33 45°ミラー
33a 上辺
33b 金属薄膜
4A 発光素子(光素子)
4B 受光素子(光素子)

Claims (8)

  1. 電気信号を光信号にまたは光信号を電気信号に変換する光素子と、光信号を伝搬する導波路を形成した基板と、導波路の端部に面して基板に形成され、導波路と光素子とを光学的に結合する45°ミラーとを備えた光電気変換装置の製造方法であって、
    前記導波路の長手方向をX軸とし、前記45°ミラーの上辺若しくは45°ミラー設置位置の上辺をY軸とした座標により、45°ミラーに対して、光素子を位置合わせしながら基板に実装することを特徴とする光電気変換装置の製造方法。
  2. 前記光素子の位置合わせは、X軸に対しては導波路の幅の1/2、Y軸に対しては導波路の高さの(√2)/2でシフトした直線の交点であることを特徴とする請求項1に記載の光電気変換装置の製造方法。
  3. 前記導波路は成型で形成し、45°ミラーはエッチングで形成することを特徴とする請求項1または2に記載の光電気変換装置の製造方法。
  4. 前記導波路を成型で形成する時に、導波路の中心から幅方向に等距離の位置に、一対の円形状のマーカを同時に基板の表面に形成することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光電気変換装置の製造方法。
  5. 前記45°ミラー設置位置に、反射率の高い金属薄膜を形成したことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光電気変換装置の製造方法。
  6. 前記45°ミラーの幅を導波路の幅よりも広くしたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光電気変換装置の製造方法。
  7. 前記45°ミラーと導波路の端部との間に隙間を形成したことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光電気変換装置の製造方法。
  8. 前記光素子の実装前に、前記基板の表面に形成された光素子の実装用電極を画像認識して予備調整を行い、その後、光素子を微調整しながら基板に実装することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光電気変換装置の製造方法。
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