JP2008508722A - Euv光源の内部コンポーネント上のプラズマ生成デブリの影響を減少させるためのシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2004年11月1日に出願された、代理人生理番号第2004−0088−01、LPP EUV LIGHT SOURCEという表題の米国特許出願連続番号第10/979,945号の一部継続出願である、2005年6月29日に出願された、SYSTEM AND METHODS FOT REDUCING THE INFLUENCE OF PLASMA GENERATED DEBRIS ON THE INTERNAL COMPONENTS OF AN EUV LIGHT SOURCEという表題の米国特許出願連続番号第11/174,442号に基づく優先権を主張するものであり、2004年7月27日に出願された、代理人生理番号第2004−0044−01号、EUV LIGHT SOURCEという表題の米国特許出願連続番号第10/900,839号の一部継続出願であり、2004年3月17日に出願された、代理人生理番号第2003−0125−01号、HIGH REPETITION RATE LPP EUV LIGHT SOURCEという表題の米国特許出願連続番号第10/803,526号の一部継続出願であり、2004年3月10日に出願された、代理人生理番号第2003−0083−01号、COLLECTOR FOR EUV LIGHTという表題の米国特許出願連続番号第10/798,740号の一部継続出願であり、その各々の開示は、ここに引用により組み入れられている。
Claims (43)
- プラズマ形成によりデブリを生成するEUV光源のためのEUV測定モニタであって、
放射線検出器と、
前記EUV光源により生成された放射線をフィルタ処理し、フィルタ処理された放射線を前記検出器に送るための、或る位置に配置された素子と、
を含み、プラズマ形成により生成されたデブリが前記素子上に堆積し、
前記堆積したデブリの少なくとも一部を除去するのに十分な温度に前記素子を加熱するヒータと、
を含むことを特徴とするモニタ。 - 前記素子が多層ミラーであることを特徴とする請求項1に記載のEUV測定モニタ。
- 前記多層ミラーが、少なくとも一層のMoSi2と一層のSiとを含むことを特徴とする請求項2に記載のEUV測定モニタ。
- 前記素子が金属ホイルであることを特徴とする請求項1に記載のEUV測定モニタ。
- 前記ホイルがジルコニウムを含むことを特徴とする請求項4に記載のEUV測定モニタ。
- 前記ヒータが、オーム・ヒータ、放射ヒータ、高周波ヒータ、及びマイクロ波ヒータからなるヒータの群から選択されることを特徴とする請求項1に記載のEUV測定モニタ。
- 前記プラズマがプラズマ形成物質を含み、前記プラズマ形成物質のエッチング剤が前記モニタに導入され、前記ヒータが200℃より高い温度に前記素子を加熱して、堆積したSnと前記エッチング剤との間の化学反応を開始させることを特徴とする請求項1に記載のEUV測定モニタ。
- 前記プラズマ形成物質がSnを含むことを特徴とする請求項7に記載のEUV測定モニタ。
- 前記エッチング剤が、HBr、Br2、Cl2、HCl、H2及びこれらの組み合わせからなるエッチング剤の群から選択されることを特徴とする請求項7に記載のEUV測定モニタ。
- 前記プラズマがプラズマ形成物質を含み、前記ヒータが、堆積したプラズマ形成物質を気化させるように、400℃より高い温度に前記素子を加熱することを特徴とする請求項1に記載のEUV測定モニタ。
- 前記プラズマ形成物質がLiを含むことを特徴とする請求項10に記載のEUV測定モニタ。
- プラズマ形成により生成されたデブリを、コレクタ・ミラー上の異なる区域において異なるデブリ堆積速度を生じさせるようにプラズマ形成場所に対して位置決めされたEUV光源コレクタ・ミラーから除去するためのデバイスであって、
前記コレクタ・ミラーの第1区域を第1温度T1に加熱して、前記第1区域からデブリを除去するための第1加熱システムと、
前記コレクタ・ミラーの第2区域をT1≠T2である第2温度T2に加熱して、前記第2区域からデブリを除去するための第2加熱システムと、
を含むことを特徴とするデバイス。 - 前記第1加熱システムが、オーム・ヒータ、放射ヒータ、高周波ヒータ、及びマイクロ波ヒータからなるヒータの群から選択されたヒータを含むことを特徴とする請求項12に記載のデバイス。
- 前記コレクタ・ミラーがチャンバ内に配置され、前記プラズマがSnを含み、エッチング剤が前記チャンバに導入され、前記第1温度T1及び前記第2温度T2の各々が、堆積したSnと前記エッチング剤と間の化学反応を開始させるように、150から400℃までの範囲にあることを特徴とする請求項12に記載のデバイス。
- 前記エッチング剤が、HBr、Br2、Cl2、HCl、H2及びこれらの組み合わせからなるエッチング剤の群から選択されることを特徴とする請求項14に記載のデバイス。
- 前記プラズマがLiを含み、前記第1温度T1及び前記第2温度T2の各々が、堆積したLiを気化させるように、400℃より高いことを特徴とする請求項12に記載のデバイス。
- EUV光源光学素子の表面をプラズマ形成により生成されたデブリから保護するためのシステムであって、
管腔を取り囲む管壁を有する少なくとも1つの中空管を含む遮蔽物
を含み、前記管が、プラズマ形成場所と前記表面との間に置かれ、前記表面の方向に向けられる前記デブリの少なくとも一部が前記表面に到達することを防ぐように方位付けられており、かつ前記プラズマ形成場所において生成された光の少なくとも一部が前記管腔を通って前記表面に到達することを可能にし、
前記管壁を加熱して堆積したデブリを除去するためのヒータ、
を含むことを特徴とするシステム。 - 前記ヒータが、オーム・ヒータ、放射ヒータ、高周波ヒータ、及びマイクロ波ヒータからなるヒータの群から選択されることを特徴とする請求項17に記載のシステム。
- 前記プラズマがプラズマ形成物質を含み、前記プラズマ形成物質のエッチング剤が前記モニタに導入され、前記ヒータが200℃より高い温度に前記素子を加熱して、堆積したSnと前記エッチング剤との間の化学反応を開始させることを特徴とする請求項17に記載のシステム。
- 前記プラズマ形成物質がSnを含むことを特徴とする請求項19に記載のシステム。
- 前記エッチング剤が、HBr、Br2、Cl2、HCl、H2及びこれらの組み合わせからなるエッチング剤の群から選択されることを特徴とする請求項19に記載のシステム。
- 前記プラズマがプラズマ形成物質を含み、前記ヒータが、堆積したプラズマ形成物質を気化させるように、400℃より高い温度に前記素子を加熱することを特徴とする請求項1に記載のEUV測定モニタ。
- 前記プラズマ形成物質がLiを含むことを特徴とする請求項22に記載のEUV測定モニタ。
- 前記エッチング剤が前記管を通して、前記検出器表面から離れるように向けられることを特徴とする請求項19に記載のシステム。
- 前記遮蔽物が、各々がそれぞれの管腔を有する複数の中空管を含み、各々の管が、プラズマ形成場所で生成された光が前記それぞれの管腔を通って前記検出器表面に到達することを可能にするように方位付けられ、各々の中空管がそれぞれの第1端部及びそれぞれの第2端部と、それぞれの管腔直径dとを有して、前記それぞれの第1端部から前記それぞれの第2端部までにおいて、それぞれの線形管軸を定義し、各々の管が前記それぞれの第1端部とそれぞれの第2端部との間のそれぞれの中間部分をもって形成されており、前記それぞれの中間部分が、
であるオフセット距離Dだけ、前記それぞれの管軸から横方向にオフセットされていることを特徴とする請求項17に記載のシステム。 - 前記光学素子が、検出器と画像形成ウィンドウとからなる光学素子の群から選択されることを特徴とする請求項17に記載のシステム。
- プラズマ形成によりデブリを生成するEUV光源と共に用いるためのコレクタ・ミラー・システムであって、
前記デブリと結びついて前記コレクタの表面上に水素化物を生成する水素源と、
スパッタリング分子を前記コレクタ表面の方向に向けて、前記コレクタ表面から前記水素化物をスパッタさせるためのスパッタリング・システムと、
を含むことを特徴とするシステム。 - 前記デブリがLiを含み、及び前記水素化物がLiHであることを特徴とする請求項27に記載のコレクタ・ミラー・システム。
- 前記水素がH2として導入されることを特徴とする請求項27に記載のコレクタ・ミラー・システム。
- 前記スパッタリング・システムがRFプラズマを生成することを特徴とする請求項27に記載のコレクタ・ミラー・システム。
- 前記スパッタリング分子がアルゴンを含むことを特徴とする請求項30に記載のコレクタ・ミラー・システム。
- 前記スパッタリング分子がヘリウムを含むことを特徴とする請求項30に記載のコレクタ・ミラー・システム。
- 前記システムが多層コレクタ・ミラーを含むことを特徴とする請求項27に記載のコレクタ・ミラー・システム。
- 前記ミラーが少なくとも一層のMoSi2と一層のSiとを含むことを特徴とする請求項33に記載のコレクタ・ミラー・システム。
- 制御されたプラズマ・エッチング速度を用いてEUV光源コレクタ・ミラーの表面からデブリをエッチングするための装置であって、
プラズマ・エッチング速度を変更する少なくとも1つの制御可能パラメータを有する、デブリをエッチングするためのプラズマ・エッチ・システムと、
前記コレクタ・ミラー表面の少なくとも1つの区域と実質的に同量のデブリ蓄積を受けるように位置決めされた表面を有する基準物質と、
前記基準物質表面からの放射を分析して、前記基準物質表面上のデブリ蓄積量を示す出力を生成するための機器と、
前記出力に応答して、プラズマ・エッチング速度を制御するエッチング速度パラメータを変更するコントローラと、
を含むことを特徴とする装置。 - 前記放射がエッチング・プラズマ放射を含むことを特徴とする請求項35に記載の装置。
- 前記基準物質がインジウムを含むことを特徴とする請求項35に記載の装置。
- 前記基準物質がアンチモンを含むことを特徴とする請求項35に記載の装置。
- 前記機器が分光計であることを特徴とする請求項35に記載の装置。
- 前記出力が前記基準物質に対するスペクトル線強度であることを特徴とする請求項39に記載の装置。
- 前記EUV光源が、EUV光を生成するためのスズを含むプラズマを生成し、前記出力が、前記基準物質に対するスペクトル線強度とスズに対するスペクトル線強度の比率であることを特徴とする請求項39に記載の装置。
- 前記プラズマ・エッチ・システムがRFプラズマを確立し、前記エッチング速度パラメータがRF電力であることを特徴とする請求項35に記載の装置。
- 前記放射を前記機器に伝送するための光ファイバ・ケーブルをさらに含むことを特徴とする請求項35に記載の装置。
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