JP2008292370A - 距離測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】レーザ光を用いる距離測定装置において、波長に依存する課題を解決しつつ、レーザ光を生成する装置を小型化および低コスト化する。
【解決手段】レーザ装置100は、レーザ共振器103の出力側の光軸に非線形結晶107を配置する。レーザ共振器103から出力されたパルスレーザ光が非線形結晶107に入射すると、レーザ共振器103から出力されるパルスレーザ光(基本波)の高調波が生成される。そして、基本波と高調波が同時に出力される。同時に出力された2波長のレーザ光は受光側で選択的に使用される。レーザ装置100は、非線形結晶107を追加するだけで、2波長を同時に出力することができるため、装置を小型化および低コスト化することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、レーザ光を用いて距離を測定する距離測定装置に係り、特に2波長のレーザ光を同時出力する距離測定装置に関する。
レーザ光を利用して距離を測定する技術において、異なる2波長のレーザ光を用いる技術が知られている。例えば、特許文献1には、異なる2種類の波長のレーザ光を合成したものを対象物に照射し、その反射光における2波長の強度比に基づいて、測定対象を特定し、さらに反射光の戻り時間から対象物までの距離を算出する構成が記載されている。この特許文献1には、装置内に2波長分のレーザ発振装置を備え、それらを適宜光学系で合成あるいは切り換える構造が記載されている。
特開平9−318743号公報(要約書)
ところで、レーザ光を用いる距離の測定においては、以下のような問題がある。まず第1の問題は、測定対象物における反射強度の波長依存性の問題である。これは、測定対象物の色や材質によって、反射率の波長依存性があり、測定対象物と波長との組み合わせによっては、反射光の強度が微弱になり、その検出が困難になるという問題である。
第2の問題は、測定環境の問題である。これは、霧やスモッグのある環境下では、短い波長のレーザ光ほど散乱を受け、減衰が大きくなるという問題である。
第3の問題は、アイセーフ(目への安全性)の問題である。これは、可視光領域以下の波長は、眼球を透過し、眼底に吸収され易い傾向が大となるので、その強度によっては、目への悪影響が懸念されるという問題である。
例えば、波長1400nm以上の赤外波長は、角膜、水晶体、硝子体の透過率と眼底の吸収率が共にゼロに近いため、高出力のレーザ光を用いても比較的安全である。このため、波長1400nm以上の赤外波長のレーザ光は、アイセーフレーザと称されている。しかしながら、波長1000nm付近のレーザ光は、水晶体等の透過率が約40%、眼底吸収率が約10%であり、出力によっては、目への悪影響が問題となる。さらに、波長500nm付近のレーザ光は、水晶体等の透過率が約90%、眼底吸収率が約70%であり、眼への悪影響の問題はさらに深刻となる。
第4の問題は、長波長光は、長距離の計測に有利であるが、回折広がりが大きくなるため、測定分解能の点で不利となり、逆に短波長光は、測定分解能の点で有利であるが、散乱を受けやすくなるので、長距離の計測には、不利となるという問題である。
これらの問題を解決する方法として、異なる波長のレーザ光を利用する方法が挙げられる。しかしながら、引用文献1に記載されているような波長毎にレーザ発振装置を備える構成は、構成が複雑になり、装置の小型化および低コスト化の点で不利となる。
このような背景において、本発明は、レーザ光を用いる距離測定装置において、レーザ光を生成する装置を小型化および低コスト化できる技術を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、第1の波長のレーザ光を発振するレーザ発振部と、前記レーザ発振部が発振した第1の波長のレーザ光を入射して第2の波長を生成する非線形結晶と、前記レーザ発振部が発振した第1の波長のレーザ光と前記非線形結晶が生成した第2の波長のレーザ光とを集光して平行光束にするコリメーターレンズとを備えるレーザ装置が生成する第1の波長のレーザ光と第2の波長のレーザ光とを測定エリアを走査しながら同時に出力する出力部と、前記測定エリアの測定点で反射した第1の波長のレーザ光と第2の波長のレーザ光とを選択的に反射する選択反射ミラーと、前記選択反射ミラーが選択した第1の波長のレーザ光を受光する第1の受光部と、前記選択反射ミラーが選択した第2の波長のレーザ光を受光する第2の受光部と、前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定する信号処理部とを備えることを特徴とする距離測定装置である。
請求項1に記載の発明によれば、レーザ発振部が発振した第1の波長のレーザ光から非線形結晶の作用によって第1の波長の高調波である第2の波長のレーザ光が生成される。これら2波長のレーザ光はコリメーターレンズによって平行光束とされて、同じ光路から同時に出力される。したがって、波長毎にレーザ発振装置を備える必要がないため、レーザ装置の構成を簡素化でき、装置の小型化および低コスト化の点で有利となる。また、2波長は同じ光路から同時に出力されるため、出力動作においてサイクルタイムを阻害することもない。
なお、利用する高調波は、n次(n=2、3、4・・・の自然数)高調波を利用することができる。レーザ発振部は、所望の波長および出力のレーザ光を生成することができる構成であればよい。また、コリメーターレンズは同時出力する2波長を相対的にコリメート(平行光束)にする光軸上の位置に調整される。
さらに、測定点で反射した2波長のレーザ光は、選択反射ミラーによって選択されて第1の受光部および第2の受光部に同時に受光される。この際、信号処理部が第1の受光部の出力信号および第2の受光部の出力信号を適宜選択して信号処理するという構成となっている。したがって、波長毎に信号処理する必要がないため、回路規模が縮小される。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記第1の波長のレーザ光は、相対的に長波長の赤外光であり、前記第2の波長のレーザ光は、前記第1の波長の第2高調波であり、相対的に短波長の可視光であることを特徴とする。
請求項2に記載の発明によれば、散乱に強く長距離の距離測定に有利な赤外光レーザと、測定分解能に優れる可視光帯域のレーザ光とを利用するため、反射強度の波長依存性の問題、測定距離の波長依存性の問題、アイセーフの波長依存性の問題および測定環境の波長依存性の問題を解決することが可能となる。
請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の発明において、前記レーザ発振部は、レーザ媒質を含み、前記レーザ媒質は、Nd3+またはEr3+をドープした結晶またはファイバーであることを特徴とする。この態様によれば、励起されるレーザ媒質は4準位動作で発振するため、比較的容易に反転分布を形成でき、蛍光寿命も相対的に長いため、高出力のレーザ光を発振することができる。したがって、受光信号の強度不足による距離測定の不良や測定精度の低下を抑えることができる。
請求項4に記載の発明は、請求項1〜3のいずれか一項に記載の発明において、前記測定エリアまでの距離の相対的な遠近を選択する選択部を備え、前記信号処理部は、前記選択部で選択された前記測定エリアまでの距離の相対的な遠近に基づいて前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定することを特徴とする。この態様によれば、信号処理部は測定エリアまでの大まかな距離に基づいて最適な波長の受光信号を選択して距離を計測することができる。
請求項5に記載の発明は、請求項1〜4のいずれか一項に記載の発明において、前記測定エリアにおける空気の透明度を選択する選択部を備え、前記信号処理部は、前記選択部で選択された前記測定エリアにおける空気の透明度に基づいて前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定することを特徴とする。この態様によれば、信号処理部は測定環境の空気の透明度に基づいて最適な波長の受光信号を選択して距離を計測することができる。
請求項6に記載の発明は、請求項1〜5のいずれか一項に記載の発明において、前記測定エリアの画像を撮影する画像撮影部と、前記画像撮影部で撮影された画像を赤緑青の3色の画像に色分解する画像処理部とを備え、前記信号処理部は、前記画像処理部が色分解した画像の色成分に基づいて前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定することを特徴とする。この態様によれば、対象物の材質や色による反射効率を考慮した測距光の波長選択を行うことができる。すなわち、より反射効率の高い波長を利用して距離を計測することができる。これにより、反射光が微弱になることによる距離測定の不良や測定精度の低下を抑えることができる。
請求項7に記載の発明は、請求項1〜6のいずれか一項に記載の発明において、前記信号処理部は、前記第1の受光部および前記第2の受光部の受光強度に基づいて前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定することを特徴とする。この態様によれば、反射光の強度の高いレーザ光を用いた距離の測定が行われる。これにより、微弱な反射光に起因する距離測定の不良や測定精度の低下を抑えることができる。
本発明によれば、レーザ光を用いる距離測定装置において、波長に依存する課題を解決しつつ、レーザ光を生成する装置を小型化および低コスト化することができる。
(1)第1の実施形態
(1−1:レーザ装置の構成)
まず、2波長のレーザ光を同時出力するレーザ装置の一例を説明する。ここで例示するレーザ装置は、異なる波長のパルスレーザ光を同時に出力する機能を備える。図1は、2波長のレーザ光を同時出力するレーザ装置の一例を示す概念図である。図1には、Qスイッチによりパルスレーザ光を生成するレーザ装置100が示されている。レーザ装置100は、LD(レーザダイオード)励起固体レーザ装置であり、半導体レーザ装置101、集光レンズ102、レーザ共振器103、非線形結晶107およびコリメーターレンズ108を備えている。
半導体レーザ装置101は、ピーク発振波長808nmの励起用レーザ光を生成するAlGaAs系レーザダイオードを備えている。集光レンズ102は、半導体レーザ装置101からの出力光を集光する。この集光された波長808nmのレーザ光は、レーザ共振器103に入射される。
レーザ共振器103は、レーザ半導体装置101が生成した波長808nmのレーザ光に励起されてレーザ発振を行う。レーザ共振器103の内部には、レーザ媒質104、可飽和吸収体105および出力鏡106が備えられている。レーザ媒質104の励起用レーザ光の入射側には、図示省略したミラー面がコーティングされている。このミラー面は、入射する波長808nmの光を透過し、レーザ媒質104の内部から外側に向かう波長1064nmの光を反射する光学特性を有している。
レーザ媒質104は、レーザ発振を行うための増幅媒質であり、ネオジムイオン(Nd3+)またはエルビウムイオン(Er3+)等をドープした結晶またはファイバーである。ドーピングされる結晶は、イットリウム・アルミニウム・ガーネット結晶(YAl12)やイットリウム・バナデート結晶(YVO)等である。すなわち、Nd:YAGやNd:YVOである。レーザ媒質104は、半導体レーザ装置101によって励起されて反転分布を形成し、波長1064nmのレーザ光を誘電放出する。
可飽和吸収体105は、受動Qスイッチとして機能する部材であり、光が弱い間は吸収体として作用し、光が強くなると光吸収係数が減少(光吸収が飽和)してレーザ光に対して透明になる性質を有している。この性質を利用することで、レーザ光を間欠的に出力することができる。すなわち、レーザ媒質104が励起されて反転分布を徐々に形成している間、可飽和吸収体105は誘電放出された波長1064nmのレーザ光を吸収して発振に至らないようにする(Q値を小さくする)。
そして、レーザ媒質104が大きな反転分布を形成して蓄積エネルギーが十分になったときに、可飽和吸収体105がレーザ光に対して透明になると(Q値が急激に増大すると)、通常発振時の約10〜10倍の発振が瞬間的に立ち上がり蓄積エネルギーを短時間で放出して発振が停止する。すなわち、Qスイッチ発振によるジャイアントパルスの放出である。可飽和吸収体105は、クロムイオン(Cr4+)をドープしたYAG結晶である。なお、可飽和吸収体105は、Qスイッチとして電気光学的な手法や音響光学的な手法による構成を採用することも可能である。
出力鏡106は、入射する波長1064nmのレーザ光の約90%を反射し、約10%を透過する機能を備えている。レーザ媒質104の入射面に形成された図示省略したミラー面と出力鏡106との間の寸法は、波長1064nmの定常波を形成するためのキャビティー(共振器)となる値に設定されている。
非線形結晶107は、レーザ共振器103がパルス出力したレーザ光の高調波を生成する。非線形結晶107は、光学的な非線形性によって第2高調波を効率良く発生する性質を有している。例えば、非線形結晶107は、KTP結晶(KTiOPO)やLBO結晶(LiB)等である。非線形結晶107は、波長1064nmのレーザ光(基本波)を入射すると、波長1064nmのレーザ光と共に第2高調波である波長532nmのレーザ光を出力する。
コリメーターレンズ108は、入射する2波長のレーザ光を集光し、距離計測に適した平行光束(ビーム形状)に変換する機能を有する。コリメーターレンズ108の焦点は、レーザ共振器103の共振器の光軸中央に位置するように調整される。また、コリメーターレンズ108および非線形結晶107の光軸上の位置は、コリメーターレンズ108から同時出力される2波長(波長1064nmと波長532nm)のレーザ光のビーム径が等しく、コリメート(平行光束)となるように調整される。コリメーターレンズ108の光軸上の位置は、波長1064nmのレーザ光がコリメーターレンズ108によって正確に平行光束になる位置と、波長532nmのレーザ光がコリメーターレンズ108によって正確に平行光束になる位置との中間に位置するように調整される。
(1−2:レーザ装置の動作)
図2は、図1に示すレーザ装置の動作の一例を示す概念図である。図2は、波長1064nm(=λ)および波長532nm(=λ)のパルスレーザ光が同時出力される状態を概念的に示す。まず、半導体レーザ装置101が波長808nmのレーザ光を連続発振(CW発振)する。このレーザ光は、集光レンズ102で集光され、レーザ共振器103に入射する。レーザ媒質104は、波長808nmの入射光により励起されて反転分布を形成し、波長1064nm(λ)のコヒーレントなレーザ光が誘導放出される。この際、レーザ光の一部は、出力鏡106から外部に出力して、非線形結晶107に入射する。非線形結晶107に入射したパルスレーザ光は、そこを透過し、コリメーターレンズ108に至る。
レーザ光の積算強度が所定のレベルに達すると、可飽和吸収体105の光吸収が飽和してレーザ光に対して透明になり、レーザ媒質104で大きな反転分布によって蓄積された波長1064nmのレーザ光は図示省略したミラー面と出力鏡106との間で反射往復して、急速に振幅の大きな定常波を生成し、Qスイッチ発振に至る。そして、出力鏡106から波長1064nmのレーザ光が放出する。
その後、レーザ共振器103はレーザ発振を停止して、再び半導体レーザ装置100から入射した波長808nmのレーザ光により励起されて徐々に反転分布を形成し、波長1064nm(λ)のレーザ光が誘導放出される。レーザ光の積算強度が所定のレベルに達すると、可飽和吸収体105の光吸収が飽和して透明になり、再びQスイッチ発振が開始される。この動作を周期的に繰り返すことで、波長1064nm(λ)のレーザ光のパルス発振が行われる。
また、レーザ共振器103から出力された波長1064nm(λ)のパルスレーザ光は、非線形結晶107に入射し、その光学的な非線形作用によって第2高調波を発生(SHG)する。その結果、非線形結晶107から波長1064nm(λ)のパルスレーザ光と波長532nm(λ)のパルスレーザ光とが出力される。非線形結晶107から出力された2波長のパルスレーザ光は、コリメーターレンズ108によって集光される。コリメーターレンズ108に入射したこれらのパルスレーザ光は、ビーム径がほぼ等しい平行光束とされ、装置外に出力する。
(1−3:レーザ装置の優位性)
図1および2に示すレーザ装置の優位性について説明する。レーザ装置100は、非線形結晶107の作用によって相対的に長い波長のレーザ光である波長1064nmのパルスレーザ光と相対的に短い波長のレーザ光である波長532nmのパルスレーザ光を同時に出力する。この仕組みによれば、波長別に装置を用意する場合に比較して装置構成を簡略化することができるため、波長に依存する課題を解決しつつ、装置を小型化し、低コスト化することができる。
また、2波長のパルスレーザ光は同時出力する構成とされているため、レーザ装置100を用いて測定対象物までの距離を計測する場合には、測定対象物の反射強度、測定距離および測定環境などによって2波長を切り換えて順番に距離を計測する必要がなく、距離計測時のサイクルタイムが阻害されることがない。また、波長1064nmのパルスレーザ光と波長532nmのパルスレーザ光の光路が異なっている場合には、その光路差分だけレーザ光の出射位置を補正する必要があるが、2波長のレーザ光は同じ光路で出射されるため補正する必要性もない。したがって、波長に依存する課題を解決しつつ、高速に距離を計測することができる。
また、コリメーターレンズ108から同時出力される2波長のパルスレーザ光は、許容範囲内においてコリメートされ、ビーム径が調整されるため、測定対象物に照射されたスポット径が波長によって相対的に大きく異なることがない。このため、レーザ装置100を用いて測定エリアを走査して3次元計測する場合に、波長に依存して分解能(データ間隔)が相対的に異なることもない。一方、図3に示すように測定対象物に照射されたレーザ光のスポット径(λ:Sおよびλ:S)が波長によって相対的に大きく異なる場合には、波長に依存して分解能が異なるため精度が劣悪になる。
(2)第2の実施形態
以下、第1の実施形態で例示したレーザ装置を利用した距離測定装置の一例を説明する。図4は、本発明を利用した距離測定装置の一例である。
(距離測定装置の概要)
図4には、距離測定装置1が示されている。距離測定装置1は、本体2と、この本体2に対して回転可能な回転光学部3とを備えている。回転光学部3は、ベアリング41および42を介して本体2に対して回転自在な状態で固定されている。本体2と回転光学部3との間のデータ信号のやり取り、および本体2から回転光学部3への電力供給は、データ伝送装置40および電力伝送装置50で行われる。これら伝送装置は、回転中心を軸とするコイルを本体2側と回転光学部3側に備え、両コイルは僅かに離間している。この構成によれば、回転光学部3の回転に関係なく、コイル間の相互誘導によりデータ信号および電力の電送が行われる。
(回転機構)
本体2には、ステータ201が配置されている。このステータ201は、コイルが巻かれた複数の磁極を円周上に配置した構造を備えている。ステータ201に対向する回転光学部3の部分には、ロータ301が配置されている。ロータ301は永久磁石を円周上に複数備えた構造を有している。ステータ201の複数の磁極への通電が、図4には図示しない制御回路によってスイッチングされることで、ステータ201に対するロータ301の回転力が発生し、本体2に対して回転光学部3が回転する。ステータ201とロータ301による回転機構は、DCブラシレスモータの原理を利用したDD(ダイレクト・ドライブ)モータを構成している。
(本体2の構成)
以下、本体2の構成について説明する。本体2は、集光レンズ202を備えている。集光レンズ202の後ろ(図の下方)には、斜め反射ミラー210が配置されている。斜め反射ミラー210は、両面が反射面とされている。斜め反射ミラー210の下方には、選択反射ミラー203が配置されている。選択反射ミラー203は、ダイクロイックミラーであり、図の上方向から入射する入射光の内、波長532nm(λ)の光を上方に選択的に反射し、他の波長を下方に透過する反射面203aを上面に備えている。また、選択反射ミラー203は、図の上方から入射した光の内、波長1064nm(λ)の光を選択的に図の左方向に反射させ、その他の波長の光を下方に透過させる斜めの反射面203bを備えている。
選択反射ミラー203の左側には、波長1064nm(λ)の光を検出する第1の受光部207が配置されている。また、斜め反射ミラー210の右側には、斜め反射ミラー211が配置され、その下方に波長532nm(λ)の光を検出する第2の受光部208が配置されている。第1の受光部207および第2の受光部208は、検出する波長帯域の感度を有するフォトダイオードおよびその周辺回路を備えている。斜め反射ミラー210の左側には、測距光発光部205が配置されている。測距光発光部205は、図1に示すレーザ装置100を備えている。選択反射ミラー203の下方には、CCDカメラ209が配置されている。CCDカメラ209は、回転反射ミラー302が捉えた画像を撮像し、その画像データを出力する。
上述した選択反射ミラー203を備えた構成によれば、測距光発光部205から出力された波長1064nm(λ)および波長532nm(λ)のレーザ光(測距光)は、斜め反射ミラー210の上面で上方に反射され、集光レンズ202に下方から入射する。この集光レンズ202に下方から入射した2種類の波長のレーザ光は、回転反射ミラー302で反射され、距離測定装置1の外部に放射される。
また、距離測定装置1の外部から回転反射ミラー302に入射した光は、そこで下方に反射されて、集光レンズ202で集光され、選択反射ミラー203に入射する。この選択反射ミラー203への入射光の内、波長532nm(λ)の光は、反射面203aにおいて上方に選択的に反射され、他の波長の光は、反射面203aを透過する。反射面203aで上方に反射された波長532nm(λ)の光は、斜め反射ミラー210の下面で右方向に反射され、さらに斜め反射ミラー211で下方に反射されて第2の受光部208に至る。
一方、反射面203aを透過した透過光の内、波長1064nm(λ)の光は、反射面203bにおいて選択的に左方向に反射され、第1の受光部207に至る。また、反射面203aを透過した透過光の内、波長1064nm(λ)以外の光は、反射面203bを透過し、CCDカメラ209に至る。こうして、装置の外部から入射した波長1064nm(λ)の光は、第1の受光部207で検出され、波長532nm(λ)の光は、第2の受光部208で検出され、その他の波長の光は、CCDカメラ209で検出される。つまり、2波長の測距光を個別に検出し、また同時に回転反射ミラー302に映し出された画像をCCDカメラ209によって撮像することができる。
本体2は、回転光学部3の指向している方向(水平測角(方位角))を検出するためのロータリエンコーダの角度読み取り部212を備えている。角度読み取り部212は、コ字形状の部材の一方の壁部に発光ダイオードを、他方の壁部にフォトトランジスタを備え、その間を通過する後述の角度読み取られ部310のスリットを通過するパルス光をフォトトランジスタが検出することで、角度情報の信号を出力する。角度読み取られ部310と角度読み取り部212は、通常のロータリエンコーダと同じ原理により角度を検出する角度検出装置を構成している。
(回転光学部3の構成)
次に回転光学部3の構成について説明する。回転光学部3は、本体2のステータ201に対向する位置に、ロータ301を備えている。ロータ301は永久磁石を円周上に複数備えた構造を有している。また、回転光学部3は、回転反射ミラー302を備えている。回転反射ミラー302は、仰角制御用回転軸303によって回転光学部3に対して仰角変化が可能な状態で固定されている。仰角制御用回転軸303は、ベアリング304および305によって回転光学部3に支持されている。また、図示されていないが、回転反射ミラー302の正面には、開口が設けられ、外部に光を照射し、また外部からの光を採り入れることができる構成とされている。
回転光学部3には、ステータ306が配置されている。このステータ306は、コイルが巻かれた複数の磁極を円周上に配置した構造を備えている。ステータ306に対向する回転反射ミラー302側には、ロータ307が配置されている。ロータ307は永久磁石を円周上に複数備えた構造を有している。ステータ306とロータ307による回転機構は、DCブラシレスモータの原理を利用したDD(ダイレクト・ドライブ)モータを構成している。ステータ306の複数の磁極への通電が、図4には図示しない制御回路によってスイッチングされることで、ステータ306に対するロータ307の回転力が発生する。これにより、回転反射ミラー302の仰角制御を行うことができる。
仰角制御用回転軸303の他端には、円周方向にスリットが形成された角度読み取られ部308が取り付けられている。また、回転光学部3は、角度読み取り部309を備えている。角度読み取り部309は、コ字形状の部材の一方の壁部に発光ダイオードを、他方の壁部にフォトトランジスタを備え、その間を通過する角度読み取られ部308のスリットを通過するパルス光をフォトトランジスタが検出することで、角度情報の信号を出力する。角度読み取られ部308と角度読み取り部309は、通常のロータリエンコーダと同じ原理により角度を検出する角度検出装置を構成している。
回転光学部3の下部には、角度読み取られ部310が配置されている。角度読み取られ部310は、円周方向にスリットが形成された円環形状であり回転光学部3の回転時に、コ字形状の角度読み取り部212の間を通過する。回転光学部3の上部には、照準装置311が配置されている。照準装置311は、距離測定装置1を操作する利用者が、計測対象物(目標)への照準を付けるための光学照準装置である。照準装置311は、照準用の表示や目盛等を備えた望遠鏡を基本構造としている。
(制御系の構成)
次に、距離測定装置1の制御系の構成について説明する。図5は、図4に示す距離測定装置1の制御系の構成例を示すブロック図である。図5に示す制御系は、CPU401、RAM402、ROM403、表示部404、仰角検出センサ405、水平測角検出センサ406、水平測角制御部407、水平測角制御モータ408、仰角制御部409、仰角制御モータ410、発光制御部411、測距光発光部205、信号処理部412、第1の受光部207、第2の受光部208、画像処理部413、CCDカメラ209および操作部414を備えている。
CPU401は、距離測定装置1の動作を統括し、各種処理の演算を行う。具体的には、後述する処理手順を動作プログラムに基づいて実行する。RAM402は、CPU401が行う各種の処理の際に、プログラムやデータ等を一時的に記憶するワーキングエリアとして利用される。また、RAM402には、動作に必要な各種の条件や測定データ等が記憶される。RAM402は、半導体メモリやハードディスク装置等により構成されている。なお、RAM402には、不揮発性メモリが含まれ、主電源がOFFにされてもデータを保持できるようにされている。ROM403は、CPU401が行う処理の動作プログラムや動作に必要な条件等が記憶されている。
表示部404は、ディスプレイ(例えば液晶ディスプレイ)を備えている。このディスプレイには、距離測定装置1の動作状態、操作に必要な情報、さらに測定した距離の情報等が表示される。仰角検出センサ405は、回転反射ミラー302(図4参照)の仰角の値を検出する。仰角検出センサ405は、図4に示す角度読み取られ部308および角度読み取り部309を備えている。水平測角検出センサ406は、回転光学部3の水平測角(方位角)を検出する。水平測角検出センサ406は、図4に示す角度読み取られ部310および角度読み取り部212を備えている。
水平測角制御部407は、後述の水平測角制御モータ408を駆動する駆動回路と、その制御を行う制御回路を備えている。水平測角制御モータ408は、水平測角制御部407によって駆動されて回転光学部3(図4参照)を回転させ、その水平測角を制御する。水平測角制御モータ408は、図4に示すステータ201およびロータ301を備えている。仰角制御部409は、後述の仰角制御モータ410を駆動する駆動回路と、その制御を行う制御回路を備えている。仰角制御モータ410は、仰角制御部409によって駆動され、回転反射ミラー302の仰角を制御する。仰角制御モータ410は、図4に示すステータ306およびロータ307を備えている。
発光制御部411は、測距光発光部205(図4参照)の発光タイミングを制御する。信号処理部412は、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)であり、第1の受光部207および第2の受光部208から2波長のパルスレーザ光のパルス信号を検出する機能、どちらの波長を距離計測に使用するか判定する機能、およびレーザ光の飛行時間を計測する機能を有している。画像処理部413は、CCDカメラ209(図4参照)が撮像した画像のデータに基づいて後述の画像処理を行う。操作部414は、距離測定装置1(図4参照)の操作を行うための手動入力手段であり、操作のための各種スイッチを備えている。
(信号処理部の構成)
以下、図5の信号処理部412の詳細な構成の一例を説明する。図6は、信号処理部412の機能を説明するブロック図である。図6には、波長1064nm(λ)のレーザ光が第1の受光部に入射し、波長532nm(λ)のレーザ光が第2の受光部に入射する状態が概念的に示されている。第1の受光部および第2の受光部が出力したパルス信号は図示省略したアンプで増幅され、信号処理部412に入力する。
図6に示すように、信号処理部412は、主に比較判定部421と時間計測部422を備えている。まず、比較判定部421は、第1の受光部207のパルス信号と第2の受光部208のパルス信号とのパルス幅を所定の周波数に基づいてサンプリング検出する。そして、比較判定部421は、パルス信号を検出後、どちらの波長を距離の算出に用いるかを判定して、時間計測部422にエンドトリガ信号を出力する。
時間計測部422は、予め測距光発光部205がレーザ光を出射したときにスタートトリガ信号を入力してカウントを開始し、比較判定部421から入力したエンドトリガ信号でカウントを停止する。時間計測部422は、停止した際のカウント値(レーザ光の飛行時間)をバッファに配列データとして格納する。バッファに格納されたレーザ光の飛行時間の配列データは、ROM403に格納された後述するプログラム(データ処理部423)によって読み出し可能となる。
(第1の測定動作)
以下、図4に示す距離測定装置1における距離測定動作の一例を説明する。ここでは、対象物までの測定距離に応じて、レーザ光の波長を選択する場合の動作の例を説明する。図7は、距離の測定を行う手順の一例を示すフローチャートである。この例の場合、距離測定装置1の操作部414(図5参照)は、長距離測定エリアと短距離測定エリアの2種類の測定エリアを手動で設定するための設定ボタンを供えている。また、図5に示すROM403には、以下の処理手順を実行するのに必要な動作プログラムが記憶されている。
操作部414(図5参照)が操作されて、距離計測の処理がスタートすると(ステップS601)、ROM403に記憶されている上記の動作プログラムがRAM402に読み出され、以下の動作が開始される。まず基準点を設置する処理が行われる(ステップS602)。この基準点に関するデータは、以下の処理において求められる各測定点の距離データに関連付けされ、最終的な3次元計測データが得られる。なお、この基準点に関するデータは、距離測定装置1を計測現場に設置した際に、手動入力やGPS衛星を用いた位置特定装置からのデータ伝送によって距離測定装置1に入力される。
ステップS602の後、整準実行・完了の処理が行われる(ステップS603)。この処理では、装置の水平や方角を決める調整が行われる。この処理は、図示省略する水準器や方角センサの出力に基づいて自動的に行われる。ステップS603までの処理が終了したら、その旨が図5の表示部404に表示される。次に距離測定装置1を操作する者が照準装置311を用いて、距離の測定を行う対象物に狙いを定め、距離測定装置1の大体の方向を定める。そして、図5の操作部414が操作されて、CCDカメラ209(図4参照)による測定エリアの撮像(ステップS604)が行われる。また、撮像した画像に基づいて測定エリアの設定が行われる(ステップS605)。
また、このタイミングにおいて、操作者は操作部414を操作し、測定距離が短距離か、長距離かを選択する設定を行う(ステップS605)。この際、操作者は、対象物までの距離を目測し、それが波長1064nmのレーザ光の利用が適当な長距離測定範囲(約50m〜800m)か、あるいは波長532nmのレーザ光が利用できる短距離測定範囲(約1m〜50m)かを判断し、何れかの範囲を設定する操作を行う。
ステップS606では、長波長(波長1064nm=λ)と短波長(波長532nm=λ)のパルスレーザ光を同時出力した測定エリアスキャンが行われる。すなわち、図4および図5に図示する測距光発光部205を構成するレーザ装置(図1の符号100)が、図2の状態で動作し、波長1064nm(λ)と波長532nm(λ)のパルスレーザ光を同時に出力する。このパルスレーザ光は、図4に示す測距光発光部205から出力され、斜め反射ミラー210で図の上方に反射され、集光レンズ202および回転反射ミラー302を経て、測定エリアに照射される。
この際、レーザ光は、測定エリア内に設定された複数の測定点を順次走査しつつ当該測定点(各対象物)に照射される。例えば、この測定点は、測定エリア内に格子状にm×n個(m、nは0を含まない自然数)設定されており、各測定点に少なくとも2以上のパルスのレーザ光が照射される。また、このパルス発振に対応させて、回転光学部3の水平測角と回転反射ミラー302の仰角が逐次制御される。
ステップS606において、測定エリア内の対象物で反射して距離測定装置1に戻ってきたレーザ光の反射光は、その波長に対応して選択反射ミラー203(図4参照)によって分光され、第1の受光部207または第2の受光部208において受光される。すなわち、対象物に照射されたレーザ光が波長1064nm(λ)のパルスレーザ光であれば、その反射光は、第1の受光部207において受光される。また、対象物に照射されたレーザ光が波長532nm(λ)のパルスレーザ光であれば、その反射光は、第2の受光部208において受光される。
ステップS607において、比較判定部421は、ステップS605で設定された対象物までの距離に関する設定内容を読み取り、長距離範囲の設定の場合には第1の受光部207のパルス出力(波長1064nm=λ)を検出後に時間計測部422にエンドトリガ信号を出力し、短距離範囲の設定の場合には第2の受光部208のパルス出力(波長532nm=λ)を検出後に時間計測部422にエンドトリガ信号を出力する。
ステップS606における対象物へのレーザ光の照射が行われているタイミングに同期して、エンドトリガ信号を入力した時間計測部422は、カウントされたレーザ光の飛行時間をバッファに格納し、カウントを初期化する。そして、測距光発光部205から再度スタートトリガ信号を入力して時間を計測し始める。この時間計測処理は、ステップS605において設定された測定エリア内の格子状の測定点に測距光を連続照射し、その走査に対応させて繰り返し実行される。
その後、データ処理部423(図6参照)は、レーザ光の飛行時間の配列データを時間計測部422のバッファからRAM402(図5参照)に読み出し、この飛行時間に光速を乗算して対象物までの距離を測定する(ステップS608)。ステップS608までの処理によって、データ処理部423は、基準点から測定エリアの3次元点群データを生成する。この3次元点群データは、ステップS604において撮像した測定エリアの画像データ等と関連付けがされ、RAM402に記憶される。また、表示部404(図5参照)に測定された距離情報が表示される。そして、測定を終了するのであれば、ステップS609からステップS610に進み、処理を終了し、そうでなければ、ステップS605の前段階に戻り、ステップS605以下の処理を再度実行する。
(第1の測定動作の特徴)
上述した第1の測定動作によれば、測定距離の相対的な大小(遠いか、近いか)によって、レーザ光の波長が手動で選択される。すなわち、対象物までの距離が遠い場合には、長距離伝搬に有利な波長1064nmのレーザ光を利用する長距離測定モードを選択し、対象物までの距離が近い場合は、長距離伝搬には、不利であるが、測定分解能の高い波長532nmのレーザ光を選択する短距離測定モードが選択される。このため、長距離の測定において、高出力の短波長レーザ光を利用することを避けることができ、長距離測定が可能でありながらアイセーフの問題において有利となる。また、短距離測定の場合は、高い測定分解能を得ることができるので、長距離測定が可能でありながら、短距離測定の測定分解能を高めることができる。
(第2の測定動作)
ここでは、距離の測定を行う環境の空気透明度に応じて、レーザ光の波長を選択する場合の動作の例を説明する。図8は、測定の動作手順の一例を示すフローチャートである。処理のスタート(ステップS701)からステップS704までは、図7のステップS601からS604と同じである。ステップS704の後、測定エリアの設定が行われる(ステップS705)。
ステップS705において、操作者は、操作部414(図5参照)からマニュアル操作により測定環境の空気透明度を選択することができる。例えば、空気の透明度は「良」、「不良」の2種類から選択されるように操作部414を構成し、測定環境が地下トンネル内や霧発生などの高湿度環境や塵などが多いスモッグ環境である場合には、空気の透明度を「不良」に設定することにより、高出力の波長1064nmのパルスレーザ光を距離計測に使用することができる。
なお、ステップS704において撮像された画像の内容が画像処理部413(図5参照)において解析され、測定環境の空気の透明度が自動算出されるようにしてもよい。この空気の透明度の閾値は適宜設定される。ステップS706以降の処理は、図7のステップS606以降の処理と同じであるので、説明は省略する。
(第2の測定動作の特徴)
上述した第2の測定動作によれば、測定環境の空気の透明度に応じて、レーザ光の波長が選択される。すなわち、空気の透明度が高い場合は、光の散乱が少ないので、塵や水蒸気の散乱に弱いが、高分解能の測定を行うことができる波長532nm(λ)の短波長光が選択される。この場合、高分解能の測定を行うことができる。
一方、測定環境の空気の透明度が悪い場合は、塵や水蒸気による散乱の程度がより小さい波長1064nm(λ)の長波長が選択される。この場合、計測精度は犠牲になるが、透明度の悪い悪条件であっても、距離計測を行うことができる。このように、測定環境の空気の透明度に応じて、レーザ光の波長を選択することで、測定環境が悪くても(測定環境の空気の透明度が悪くても)距離計測を行うことができ、また測定環境が良い場合は、高精度の計測を行うことができる。
(第3の測定動作)
ここでは、測定対象物の色に応じて、レーザ光の波長を選択する場合の動作の例を説明する。図9は、測定の動作手順の一例を示すフローチャートである。まず、処理のスタート(ステップS801)からステップS805までは、図8のステップS701からS705と同じである。
ステップS805の後、画像処理部413(図5参照)において、ステップS804で撮像した画像データに対して画像処理を行い、測定エリアの画像をRGBの3色画像に分解する(ステップS806)。このRGBの画像データは、RAM402(図5参照)に記憶される。次に、測定エリアスキャンを行う(ステップS807)。この際、時間計測部422(図6参照)は、各測定点における波長1064nm(λ)と波長532nm(λ)のレーザ光の飛行時間の配列データをバッファに格納する。
そして、データ処理部423(図6参照)は、ステップS806において取得した測定エリアのRGB画像データを読み出し、以下の処理を行う。まず、測定エリアのRGB画像を左上のピクセルから順に調べ、このピクセルのRおよびBの色成分が強い場合には、その測定点の距離データの算出にλ(波長1064nm)のレーザ光の飛行時間データを選択する。また、このピクセルのGの色成分が強い場合には、その測定点の距離データの算出にλ(波長532nm)のレーザ光の飛行時間データを選択する(ステップS808)。
ステップS808において飛行時間データが選択された後、データ処理部423は、選択された飛行時間データに光速を乗算して距離の測定を行う(ステップS809)。このステップS808およびステップS809の処理は、RGB画像のピクセルごと実行される。ステップS810以降の処理は、図7のステップS609以降の処理と同じであるので、説明は省略する。
(第3の測定動作の特徴)
第3の測定動作によれば、レーザ光が照射された対象物(計測点)の色がRとBの色成分が相対的に強い場合、波長532nmの吸収率が高いので、λ(波長532nm)のレーザ光の反射光量が十分に得られないと予測し、より大きな反射光量が期待できるλ(波長1064nm)のレーザ光を選択する。また、逆にレーザ光が照射された対象物の色がGの色成分が相対的に強い場合、波長1064nmの吸収率が高いので、λ(波長1064nm)のレーザ光の反射光量が十分に得られないと予測し、より大きな反射光量が期待できるλ(波長532nm)のレーザ光を選択する。したがって、測定エリア内の色彩分布に応じて大きな反射光量を期待できる波長のレーザ光を選択するため、反射光量の不足による計測誤差が減少される。
すなわち、測定対象物における反射強度の波長依存性の問題を緩和あるいは解決することができる。測定対象物と波長との組み合わせによって反射光の強度が微弱になり、その検出が困難になる場合があるが、レーザ光として2種類の波長を用い、画像解析からレーザ光の照射位置の反射状態を推測し、その結果に応じて、いずれかのレーザ光の反射光データを選択することで、より大きな反射光量の受光データを利用することができる。
(第4の測定動作)
ここでは、測定エリアに照射された2波長のレーザ光のうち、反射光の強度の高い方の飛行時間データを用いる例について説明する。図10は、測定の動作手順の一例を示すフローチャートである。まず、処理のスタート(ステップS901)からステップS905までは、図9のステップS801からS805と同じである。
波長1064nm(λ)と波長532nm(λ)の2波長のレーザ光を同時出力した測定エリアスキャンが行われる(ステップS906)。この際、比較判定部421は、2波長のパルスを検出して同一の測定点における2波長(λ、λ)の反射光の受光強度を比較する。そして、比較判定部421はより高強度の波長の飛行時間データを選択してバッファに格納する(ステップS907)。ステップS908以降の処理は、図7のステップS608以降の処理と同じであるので、説明は省略する。
(第4の測定動作の特徴)
第4の測定動作によれば、信号処理部412は2波長のレーザ光のうち受光強度が大きい反射光の飛行時間データを距離計測に採用する。このため、塵や濃霧の影響による測定不能の問題、対象物の色に起因する反射光が微弱となる問題を緩和あるいは解決することができる。
(3)第3の実施形態
図1に示すレーザ装置100は、基本波として波長1064nmのレーザ光を非線形結晶107に入射し、第2高調波である波長532nmのレーザ光を生成して2波長同時出力する構成である。しかし、この2波長(1064nmおよび532nm)に限定されるものではなく、第3高調波、第4高調波、第5高調波を生成する非線形結晶を適宜用いることも可能である。また、半導体レーザ装置101が励起する波長808nmのレーザ光の波長を変更することも可能である。この際、レーザ装置は測定距離、測定環境、測定対象物の色、アイセーフの問題およびコストの問題等を考慮して最適なものが組み合わされる。
(4)第4の実施形態
以下、高出力の第2高調波を生成するレーザ装置の構成例について説明する。図11は、このレーザ装置の一例を示す概念図である。なお、図11において、図1と同じ符号部分は図1に示す構成と同様である。レーザ装置110は、図1のレーザ装置100と異なり、レーザ共振器109の内部に非線形結晶107を備えている。
したがって、半導体レーザ装置101によって励起されて誘電放出された波長1064nmのレーザ光は、非線形結晶107を透過して第2高調波を発生させながら、出力鏡106とレーザ媒質104の励起レーザ光の入射側にコーティングされたミラー面との間を往復する。すなわち、波長1064nmのレーザ光は、非線形結晶107内を往復するため、第2高調波の変換効率が向上し、波長532nmのレーザ光を高出力でQスイッチ発振することが可能となる。この態様によれば、短波長である532nmのレーザ光は、高湿度環境下では空気中の水分で散乱されて誤検出を招くおそれがあるが、高出力の短波長を出力することができるため、この問題が緩和される。
(5)第5の実施形態
図1に示すレーザ装置100は、2つの波長(λ=1064nm、λ=532nm)のレーザ光がほぼ平行光束(コリメート)となるようにコリメーターレンズ108の光軸上の位置が調整されている。しかしながら、非線形結晶107において2波長の屈折率が異なるため、正確に2波長をコリメートするのは困難となる。この例では、2波長のレーザ光を正確にコリメートし、かつ、ビーム径が等しくなるレーザ装置の一例について説明する。
図12には、コリメーターレンズ108を前後に移動可能なレーザ装置111が示されている。図12(A)は、コリメーターレンズ108を後方に移動させた状態のレーザ装置111を示す図であり、図12(B)は、コリメーターレンズ108を前方に移動させた状態のレーザ装置111を示す図である。レーザ装置111は、コリメーターレンズ108を光軸上で前後に移動させる図示省略した移動装置を備えており、それ以外は図1に示す構成と同じである。移動装置は、小型のステッピングモータとコリメーターレンズ108が固定された移動ステージなどから構成され、コリメーターレンズ108を正確に位置決めすることができる。
長波長(λ=1064nm)が出射される場合には、コリメーターレンズ108は後退して(図12(A)において左方向)、λが平行光束となる。短波長(λ=532nm)が出射される場合には、コリメーターレンズ108は前進して(図12(B)において右方向)、λが平行光束となる。この際、出射される2つの波長のビーム径が等しくされる。すなわち、図12(A)に示す波長1064nm(λ)のビーム径Wと図12(B)に示す波長532nm(λ)のビーム径Wが等しくなっている。
このレーザ装置111を利用した距離測定装置1(図4参照)の動作について図7のフローチャートをもとに簡単に説明する。まず、ステップS605の測定エリア設定で操作者により目測で測定距離が設定される。このとき、測定距離が長距離である場合には、図12(A)のようにコリメーターレンズ108は後退して長波長用の位置に移動する。一方、測定距離が短距離である場合には、図12(B)のようにコリメーターレンズ108は前進して短波長用の位置に移動する。そして、測定エリアスキャンが行われる(ステップS606)。図8に示すフローチャートの場合も距離測定装置1は同様の動作を実行する。
また、図9のフローチャートの場合を簡単に説明する。まず、ステップS806において、距離測定装置1は、測定エリアのRGB画像のピクセルごとに長波長を使用するか、短波長を使用するかのデータを作成する。そして、ステップS807の測定エリアスキャンにおいて、距離測定装置1がRGB画像の各ピクセルに対応する方角の1つの測定点にレーザ光を出射するとき、RおよびB成分が強い測定点の場合には、波長1064nm用にコリメーターレンズ108を移動させてレーザ光を出射し、G成分が強い測定点の場合には、波長532nm用にコリメーターレンズ108を移動させてレーザ光を出射する。
すなわち、距離測定装置1は、RGB画像のピクセルごとにコリメーターレンズ108の位置を連続的に移動させ、測定エリアを走査していく。この態様によれば、出射された2波長のレーザ光はコリメートされ、かつ、ビーム径が等しくなるため、距離測定装置1が測定エリアスキャンした後に生成される3次元点群データの分解能(精度)が向上する。したがって、測定に使用した波長に依存して分解能が異なるという問題が緩和される。
本発明は、レーザ光を用いて距離を測定する距離測定装置に利用することができる。
2波長のレーザ光を同時出力するレーザ装置の一例を示す概念図である。 図1に示すレーザ装置の動作の一例を示す概念図である。 図1に示すレーザ装置の優位性を説明する概念図である。 図1に示すレーザ装置を利用した距離測定装置の一例を示す概念図である。 図5に示す距離測定装置の制御系の構成を示すブロック図である。 信号処理部の機能を説明する機能ブロック図である。 距離測定の手順の一例を示すフローチャートである。 距離測定の手順の一例を示すフローチャートである。 距離測定の手順の一例を示すフローチャートである。 距離測定の手順の一例を示すフローチャートである。 高出力の第2高調波を生成するレーザ装置の一例を示す概念図である。 コリメーターレンズを移動可能なレーザ装置の動作を示す概念図である。
符号の説明
100…レーザ装置、101…半導体レーザ装置、102…集光レンズ、103…レーザ共振器、104…レーザ媒質、105…可飽和吸収体、106…出力鏡、107…非線形結晶、108…コリメーターレンズ、1…距離測定装置、203…選択反射ミラー、205…測距光発光部、207…第1の受光部、208…第2の受光部、209…CCDカメラ。

Claims (7)

  1. 第1の波長のレーザ光を発振するレーザ発振部と、
    前記レーザ発振部が発振した第1の波長のレーザ光を入射して第2の波長を生成する非線形結晶と、
    前記レーザ発振部が発振した第1の波長のレーザ光と前記非線形結晶が生成した第2の波長のレーザ光とを集光して平行光束にするコリメーターレンズと
    を備えるレーザ装置が生成する第1の波長のレーザ光と第2の波長のレーザ光とを測定エリアを走査しながら同時に出力する出力部と、
    前記測定エリアの測定点で反射した第1の波長のレーザ光と第2の波長のレーザ光とを選択的に反射する選択反射ミラーと、
    前記選択反射ミラーが選択した第1の波長のレーザ光を受光する第1の受光部と、
    前記選択反射ミラーが選択した第2の波長のレーザ光を受光する第2の受光部と、
    前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定する信号処理部と
    を備えることを特徴とする距離測定装置。
  2. 前記第1の波長のレーザ光は、相対的に長波長の赤外光であり、
    前記第2の波長のレーザ光は、前記第1の波長の第2高調波であり、相対的に短波長の可視光であることを特徴とする請求項1に記載の距離測定装置。
  3. 前記レーザ発振部は、レーザ媒質を含み、
    前記レーザ媒質は、Nd3+またはEr3+をドープした結晶またはファイバーであることを特徴とする請求項1または2に記載の距離測定装置。
  4. 前記測定エリアまでの距離の相対的な遠近を選択する選択部を備え、
    前記信号処理部は、前記選択部で選択された前記測定エリアまでの距離の相対的な遠近に基づいて前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の距離測定装置。
  5. 前記測定エリアにおける空気の透明度を選択する選択部を備え、
    前記信号処理部は、前記選択部で選択された前記測定エリアにおける空気の透明度に基づいて前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の距離測定装置。
  6. 前記測定エリアの画像を撮影する画像撮影部と、
    前記画像撮影部で撮影された画像を赤緑青の3色の画像に色分解する画像処理部と
    を備え、
    前記信号処理部は、前記画像処理部が色分解した画像の色成分に基づいて前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の距離測定装置。
  7. 前記信号処理部は、前記第1の受光部および前記第2の受光部の受光強度に基づいて前記第1の受光部の出力信号または前記第2の受光部の出力信号を選択して前記測定エリアの測定点までの距離を測定することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の距離測定装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014173966A (ja) * 2013-03-08 2014-09-22 Nec Corp レーザ測距装置およびレーザ測距方法
JP2016109517A (ja) * 2014-12-04 2016-06-20 リコーインダストリアルソリューションズ株式会社 レーザレーダ装置
US9866819B2 (en) 2013-06-27 2018-01-09 Ricoh Company, Ltd. Distance measuring apparatus, vehicle and method of calibration in distance measuring apparatus
CN109324318A (zh) * 2017-07-31 2019-02-12 赫克斯冈技术中心 包括用于考虑多个目标的spad结构的测距仪

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010085205A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Topcon Corp レーザ装置および距離測定装置
JP5462462B2 (ja) * 2008-10-01 2014-04-02 株式会社トプコン レーザ装置および距離測定装置
CN102116863B (zh) * 2009-12-30 2013-06-05 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 红外线测距装置
LU91714B1 (en) * 2010-07-29 2012-01-30 Iee Sarl Active illumination scanning imager
KR101908304B1 (ko) 2012-08-10 2018-12-18 엘지전자 주식회사 거리 검출 장치, 및 이를 구비하는 영상처리장치
US9608181B2 (en) * 2012-12-20 2017-03-28 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Opto-electronic modules with masking feature for reducing the visibility of interior components
KR20150057011A (ko) * 2013-11-18 2015-05-28 삼성전자주식회사 광원일체형 카메라
US10734943B2 (en) * 2014-09-12 2020-08-04 The Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy Photovoltaics optimized for laser remote power applications at eye-safer wavelengths
EP3006891B1 (en) * 2014-10-10 2019-04-03 Torque and More (TAM) GmbH Air spring with a distance measurement arrangement using infrared
EP3035076B1 (de) * 2014-12-17 2020-08-19 Leica Geosystems AG Vermessungsgerät mit Positioniereinrichtung
US10113877B1 (en) * 2015-09-11 2018-10-30 Philip Raymond Schaefer System and method for providing directional information
JP6857979B2 (ja) * 2016-07-27 2021-04-14 株式会社トプコン レーザスキャナの光学系及び測量装置
DE102016120389B3 (de) * 2016-10-26 2017-09-07 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich
KR102353513B1 (ko) * 2017-03-16 2022-01-20 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 회전 거리 측정 장치
DE102017207493A1 (de) * 2017-05-04 2018-11-08 Robert Bosch Gmbh Senderoptik für ein LiDAR-System, LiDAR-System und Arbeitsvorrichtung
JP6963923B2 (ja) * 2017-07-06 2021-11-10 株式会社トプコン レーザスキャナ及び測量システム
CN109239728A (zh) * 2018-05-15 2019-01-18 北京华夏光谷光电科技有限公司 Ld基频/倍频多波长激光复合探测/测距系统
US11561294B2 (en) * 2018-07-27 2023-01-24 Vision Engineering Solutions, LLC Laser safety system
EP4113169A4 (en) * 2020-03-23 2023-02-22 Huawei Technologies Co., Ltd. PHOTOELECTRIC SCANNER, ELECTRIC MOTOR AND SELF-DRIVING AUTOMOBILE
CN112130160B (zh) * 2020-09-25 2023-08-25 盛泰光电科技股份有限公司 一种超宽频ToF传感器
WO2022164748A1 (en) * 2021-01-26 2022-08-04 Omron Corporation Laser scanner apparatus and method of operation

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0815434A (ja) * 1994-06-23 1996-01-19 Nikon Corp 距離測定装置
JPH08285943A (ja) * 1995-04-14 1996-11-01 Nikon Corp レーダ装置
JPH09304532A (ja) * 1996-05-13 1997-11-28 Toshiba Corp レーザ測距装置
JPH09318743A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Toshiba Corp 距離測定装置
JPH1090589A (ja) * 1996-09-12 1998-04-10 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 合焦検査方法および合焦検査装置、ならびに、焦点合わせ方法および焦点合わせ装置
JP2002090457A (ja) * 2000-09-14 2002-03-27 Denso Corp 距離測定装置
JP2002181935A (ja) * 2000-12-11 2002-06-26 Mitsubishi Heavy Ind Ltd レーザレーダによる撮影装置及びその使用方法
JP2008249658A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Topcon Corp レーザ装置および距離測定装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06242478A (ja) 1993-02-18 1994-09-02 Fuji Photo Film Co Ltd 強誘電体のドメイン反転構造形成方法
JPH09211512A (ja) 1996-02-02 1997-08-15 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 2次非線形光学素子
JP2003304019A (ja) 2002-04-11 2003-10-24 Shimadzu Corp 波長変換レーザ装置
US7333184B2 (en) * 2005-07-01 2008-02-19 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Ground surface cover type reflectivity variation correction in a differential absorption LIDAR system
US7375803B1 (en) * 2006-05-18 2008-05-20 Canesta, Inc. RGBZ (red, green, blue, z-depth) filter system usable with sensor systems, including sensor systems with synthetic mirror enhanced three-dimensional imaging
US7961301B2 (en) * 2008-05-09 2011-06-14 Ball Aerospace & Technologies Corp. Flash LADAR system
JP2010085205A (ja) 2008-09-30 2010-04-15 Topcon Corp レーザ装置および距離測定装置
JP5462462B2 (ja) 2008-10-01 2014-04-02 株式会社トプコン レーザ装置および距離測定装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0815434A (ja) * 1994-06-23 1996-01-19 Nikon Corp 距離測定装置
JPH08285943A (ja) * 1995-04-14 1996-11-01 Nikon Corp レーダ装置
JPH09304532A (ja) * 1996-05-13 1997-11-28 Toshiba Corp レーザ測距装置
JPH09318743A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Toshiba Corp 距離測定装置
JPH1090589A (ja) * 1996-09-12 1998-04-10 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 合焦検査方法および合焦検査装置、ならびに、焦点合わせ方法および焦点合わせ装置
JP2002090457A (ja) * 2000-09-14 2002-03-27 Denso Corp 距離測定装置
JP2002181935A (ja) * 2000-12-11 2002-06-26 Mitsubishi Heavy Ind Ltd レーザレーダによる撮影装置及びその使用方法
JP2008249658A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Topcon Corp レーザ装置および距離測定装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014173966A (ja) * 2013-03-08 2014-09-22 Nec Corp レーザ測距装置およびレーザ測距方法
US9866819B2 (en) 2013-06-27 2018-01-09 Ricoh Company, Ltd. Distance measuring apparatus, vehicle and method of calibration in distance measuring apparatus
JP2016109517A (ja) * 2014-12-04 2016-06-20 リコーインダストリアルソリューションズ株式会社 レーザレーダ装置
CN109324318A (zh) * 2017-07-31 2019-02-12 赫克斯冈技术中心 包括用于考虑多个目标的spad结构的测距仪
US11725935B2 (en) 2017-07-31 2023-08-15 Hexagon Technology Center Gmbh Distance meter comprising SPAD arrangement for consideration of multiple targets

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Publication number Publication date
US20090052288A1 (en) 2009-02-26
US8130368B2 (en) 2012-03-06

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