JPH0552957A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

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JPH0552957A
JPH0552957A JP3210858A JP21085891A JPH0552957A JP H0552957 A JPH0552957 A JP H0552957A JP 3210858 A JP3210858 A JP 3210858A JP 21085891 A JP21085891 A JP 21085891A JP H0552957 A JPH0552957 A JP H0552957A
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signal
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JP3210858A
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Masahiko Kato
加藤正彦
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Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高速で、信頼性が高く、人間の眼に対する安
全性を考慮した、設計の自由度の大きい、小型の距離測
定装置。 【構成】 所定の変調周波数で振幅変調を受け、その周
期に比較して十分長い持続時間放出され、その持続時間
に比較してより長い繰り返し時間で放出を繰り返す光束
を発生させる光源1と変調駆動部2とからなる変調光発
生手段と、この光束を対象物4に向けて放出する光放出
手段と、対象物4からの散乱光を検出する検出部5と、
検出信号中の変調周波数に対応した周波数の信号を濾波
する狭帯域フィルタ6と、持続時間だけ検出信号を通過
させるゲート手段と、検出信号と光束の変調波との位相
差を検出する振幅・位相検出部7とからなり、位相差に
より距離を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、各種の技術分野におい
て対象物までの距離及びその時間的変化を測定する距離
測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光による対象物までの距離の測定
方法としては、まず、レーザパルスが対象物までの距離
を往復するのに必要な時間を計測する方式が知られてい
る。この方式は、キロメートルといった長い距離を粗い
精度で測定する場合には適しているが、数十メートル以
下といった短い距離をより高い精度で測定したい場合に
は適当でない。精度の高い方式としては、ヘテロダイン
方式が知られているが、このようなコヒーレント測定は
光源に対する要求が厳しく、スペックルの影響による特
性の劣化に対する配慮も必要となり、技術的困難が多
い。
【0003】振幅変調を用いる方式は、技術的にも困難
が少なく、距離に対応する位相シフト量の測定から、比
較的高い精度で測距が可能である。この方式の従来例の
1つに特開昭61−138191号のものがあり、この
構成を図7に示す。この場合、複数の横モードを同時に
発振させて1台のレーザ101から僅かに周波数の異な
る2つのレーザ光を発し、部分反射鏡102によってこ
の光ビームを2つの光路に分割し、その一方を検出器1
03に導き、周波数の異なる2つのレーザ光のビート信
号を得る。これは距離測定の参照信号となり、サーボ機
構104によって周波数が一定になるように制御されて
いる。部分反射鏡102を透過した他方の光ビームは、
対象物105により反射され、反射鏡106により検出
器107に導かれる。この出力のビート信号と検出器1
03からの参照信号は、それぞれ増幅器109、108
により増幅された後、位相検出器110により対象物1
05までの距離に対応した位相差が検出される。
【0004】従来の他の方法は、SPIE 663 p
p.86〜89 R.S.Rogowski等によるも
ので、この構成を図8に示す。半導体レーザ111は、
発振器112により20MHzの振幅変調を受けた連続
波を発している。この半導体レーザ111から投射され
たレーザ光は対象物105により反射され、検出器11
3により検出される。検出信号は増幅された後、二重平
衡型ミキサ114により発振器112からの参照信号と
の位相差に対応した低周波数の信号が得られる。これは
フィルタ115によりローパスされ、電圧制御型の発振
器112のエラー信号となる。言い換えると、対象物1
12までの距離に対してレーザ光の変調周波数が20M
Hzからシフトし、このシフト量を図示されていない周
波数カウンタで監視することにより、10-6程度の高い
分解能の測距あるいは変位の測定が可能となっている。
また、この場合、測定値の較正用として長尺の遅延線を
用いている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開昭
61−138191号に示された従来例の欠点は、レー
ザの横モードという特殊な共振器配置を必要とし、得ら
れる振幅周波数の自由度に制限がある。このため、対象
物までの距離に対して制約が残っている。
【0006】また、上記Rogowski等の方法は、
測定の分解能は高いが、長尺の遅延線を用いた絶対測長
を主眼としており、小型化、高速化という点で難点があ
る。また、連続波を用いているが、地上での一般的用途
の際に問題になる雑音対策や人間の眼への安全性と、S
/Nとの関係についての配慮がなく、設計の自由度が少
なく、柔軟性に欠ける。
【0007】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、上記問題点を解決するため
に、光ビームの振幅変調を用い、変調の仕方に工夫をす
ることにより、高速で、信頼性が高く、人間の眼に対す
る安全性を考慮した、設計の自由度の大きい、小型の距
離測定装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の距離測定装置の
構成の概念ブロック図を図1に、また、送光パルス列、
受光パルス列の波形図を図2に示す。図1において、1
は光源、2は光源1の変調駆動部、3は光源1の放出光
を監視する放出光監視部、4は対象物、5は検出部、6
は狭帯域フィルタ、7は変調駆動部2からの参照信号と
検出部5からの検出信号との位相を比較し、併せて検出
信号の振幅を求める振幅・位相検出部、8は振幅・位相
検出部7及び放出光監視部3からの信号に基づいて信号
かノイズかの判別、対象物4までの距離の算出、及び、
これの時間的変化である速度の算出を行い、その結果を
記憶表示部9に送ったり、変調駆動部2に新しい信号を
送ったりする演算制御部である。
【0009】次に、各部の作用について述べる。光源1
は、半導体レーザや発光ダイオードか用いられ、図2
(1)に示す周期がtの矩形波又は正弦波で、接続時間
がT、繰り返し時間Tr (この時間Tr は、必ずしも一
定でなく、各周期毎にランダムに変化する場合も含
む。)のパルス状振幅変調が加えられる。光源1からの
放出光は、一部が放出光監視部3で検出され、その強度
が人間の眼に対して安全か否かが判別され、危険と判別
された場合には、演算制御部8を介して変調駆動部2に
信号が送られ、変調に変更が加えられ、放出光を実質的
に低減するか停止する。逆に、安全度に余裕があれば、
放出光を実質的に増加する。対象物4で反射された信号
光は、検出部5で検出され、検出信号は狭帯域のフィル
タ6に供給される。フィルタ6の帯域幅Δνと一定のS
/Nをとるための放出光の必要なパワーの最小値Pmin
との間には、検出部5の暗電流id が支配的な領域で
は、 Pmin ∝(id ×Δν)1/2 の関係があり、フィルタ6の帯域幅Δνが狭い程、信号
光の強度は少なくてすむ。一方、信号光パルスの持続時
間Tは、測定の高速応答性の要求から、T≦Tm の制限
を受ける。ただし、Tm は測定に許容できる最大時間を
表す。これから、変調周波数スペクトルの拡がりΔw
は、Δw≒1/Tm があり、フィルタ6の帯域幅Δν
は、Δν≧Δw≒1/Tという制限を受ける。すなわ
ち、フィルタ6の帯域幅は狭ければ良いというものでは
なく、上記の関係を満たす範囲の帯域幅Δν≧1/Tを
持っていなければならないということができる。例え
ば、Tm =1msと選ぶと、Δν≧1kHzとなる。
【0010】このようにΔνを選び、持続時間Tの中で
人間の眼への安全性から許容し得る最大のパワーを選択
することが、S/Nの観点から有利である。レーザ光に
対する安全基準はJISC6802に示されているが、
例えばビーム内観察状態で、波長が800nm、露光時
間1ms〜1sの条件で露光時間の影響をみると、露光
量はTに比例するが、眼のしきい値はT0.75でしか増大
しないので、1msと1sとを比較すると、前者のほう
が5倍ほど有利となる。
【0011】フィルタ6を通過した信号は、綺麗な正弦
波となる。その位相は、対象物4までの往復に要する時
間td (図2(2))に対応したΦ=2πtd /tだ
け、変調駆動部2からの参照信号からずれる。ただし、
tは変調周波数の周期を表す。あるいは、対象物4まで
の距離をLとすれば、 Φ=(2L/c)×(2π/t) ただし c:光速 例えば、変調周波数を10MHzとすると、t=100
nsとなり、L=15mがΦ=2πに相当する。したが
って、15mを越えて対象物4までの距離を測定する場
合は、Φの値と距離が1対1に対応しなくなる。言い換
えると、数十メートルまでの距離を測定する場合は、変
調周波数を例えば2MHz(t=500ns)とする必
要がある。このことから、周期tを複数用意し、同時又
は時系列的にこれらを選択できる構成をとるようにする
ことが望ましい。
【0012】ところで、繰り返し時間Tr は、雑音に対
するS/Nの向上と、同種の測定器間の干渉を避けるた
めに、各繰り返し毎にランダムな値をとることが好まし
い。例えば、疑似ランダムコードのM系列を繰り返し時
間Tr に採用することが好ましい。また、繰り返し時間
r を一定にしておき、他の測定器との干渉等による誤
測定値が得られたときに、異なる繰り返し時間に変更す
るようにすることも有効である。
【0013】なお、振幅・位相検出部7は、変調駆動部
2からの信号を参照信号として位相差Φを求めるので、
位相検出手段として作用するだけでなく、持続時間Tだ
け検出信号を通過させるゲート手段としても作用する。
【0014】以上の構成により、数十メートル以下の領
域で対象物までの距離に対する制約が解消され、高速応
答で、連続波を用いた場合より高いS/Nで、雑音や人
間の眼に対する安全性を考慮した小型の距離測定装置が
可能となる。
【0015】すなわち、本発明の距離測定装置は、少な
くとも、所定の変調周波数で振幅変調を受け、その周期
に比較して十分長い持続時間放出され、その持続時間に
比較してより長い繰り返し時間で放出を繰り返す光束を
発生させる変調光発生手段と、前記光束を対象物に向け
て放出する光放出手段と、対象物からの散乱光を検出す
る検出部と、検出信号中の前記変調周波数に対応した周
波数の信号を濾波する狭帯域フィルタと、前記持続時間
だけ検出信号を通過させるゲート手段と、検出信号と前
記光束の変調波との位相差を検出する位相差検出手段と
からなることを特徴とするものである。
【0016】この場合、変調光発生手段における繰り返
し時間がランダムに変化することが望ましい。
【0017】なお、上記構成に加えて、変調光発生手段
から放射される光束の繰り返し時間内における積分強度
を求める手段と、求められた積分強度と持続時間及び繰
り返し時間に対応して定まる眼に安全なしきい値とを対
比することにより対象物に向けて放出される光束の強度
監視手段とを設けると、より安全な距離測定装置を構成
することができる。
【0018】さらに、本発明は、少なくとも、所定の変
調周波数で振幅変調を受け、その周期に比較して十分長
い持続時間放出され、その持続時間に比較してより長い
繰り返し時間で放出を繰り返す光束を発生させる変調光
発生手段と、前記光束を対象物に向けて放出する光放出
手段と、対象物からの散乱光の入射位置を検出する位置
検出部と、検出信号中の前記変調周波数に対応した周波
数の信号を濾波する狭帯域フィルタと、前記持続時間だ
け検出信号を通過させるゲート手段と、得られた複数の
検出信号から散乱光の入射位置を算出する位置算出手段
とからなることを特徴とする距離測定装置を含むもので
ある。
【0019】
【作用】本発明においては、所定の変調周波数で振幅変
調を受け、その周期に比較して十分長い持続時間放出さ
れ、その持続時間に比較してより長い繰り返し時間で放
出を繰り返す光束を発生させる変調光発生手段と、前記
光束を対象物に向けて放出する光放出手段と、対象物か
らの散乱光を検出する検出部と、検出信号中の前記変調
周波数に対応した周波数の信号を濾波する狭帯域フィル
タと、前記持続時間だけ検出信号を通過させるゲート手
段と、検出信号と前記光束の変調波との位相差を検出す
る位相差検出手段とからなるので、応答が速く、連続波
を用いた場合より高いS/Nでノイズによる誤動作の少
ない、正確で、安全な、設計の自由度の大きい、小型の
距離測定装置が可能になる。
【0020】
【実施例】次に、本発明の距離測定装置の実施例につい
て、図面を参照にして説明する。図3は1つの実施例の
構成を示すブロック図であり、図において、発振器A2
0、発振器B21は水晶発振子であり、それぞれ例えば
10MHz、2MHzといった異なった中間周波数で発
振する。スイッチ19は、信号制御部32からの信号に
基づいて発振器A20又は発振器B21を選択するもの
である。ゲート18は、ゲートパルス生成部15からの
図5(c)に示したような持続時間T、繰り返し時間T
r 、振幅Hのパルス信号に基づいて、スイッチ19で選
択された周波数の連続波を持続時間Tだけ通して、図5
(d)に示したような持続時間T、繰り返し時間Tr
振幅Hの変調信号に変換し、駆動部17、位相・振幅検
出部26に供給する。この際、振幅Hは、ゲートパルス
生成部15からの信号に基づいて複数の値を取り得るも
のとする。駆動部17は、ゲート18からの図5(d)
に示したような信号に基づき、光源16に対し振幅変調
を行う。光源16には、半導体レーザ又は発光ダイオー
ド等の小型固体発光素子が用いられる。光源16から放
出された変調光の一部は、放出光検出部10に検知され
る。放出光検出部10は、フォトダイオード又はアバラ
ンシュフォトダイオードとプリアンブとから構成され、
図4(a)、(b)に示すように、投射レンズ35の光
源側あるいは反対側もしくは両側に配置され、光源16
からの直接光あるいは散乱光を検出する。スイッチ11
は、ゲートパルス生成部15からの図5(c)に示した
ような信号に基づき、積分回路12の入力端子を放出光
検出部10に接続したり、接地してリセットする役割を
する。判別器13は、積分回路12で積分された信号と
ROM14から与えられるしきい値とを比較し、このし
きい値を越える場合は、ゲートパルス生成部15及び信
号制御部32に緊急信号を送り、光源16からの放出光
を停止もしくは低減させる。デコーダ34は、信号制御
部32からのパルス持続時間T及び繰り返し周期Tr
信号を読み取り、ROM14及びゲートパルス生成部1
5に供給する。ROM14は、パルス接続時間T及び繰
り返し周期Tr に対応した眼に許容できるしきい値を予
め記憶しており、デコーダ34から与えられたパルス接
続時間T及び繰り返し周期Tr の信号に応じたしきい値
を読み出し、判別器13のしきい値として与える。この
しきい値は、JISC6802に定められた安全基準に
したがって定められ、例えば、T=1μs、Tr =1m
sの時、780nmのレーザ光源のビーム内蔵観察状態
での最大許容露光量は0.03Jm-2となる。なお、信
号制御部32からデコーダ34へ送られる信号の繰り返
し周期Tr は、各パルス毎に又は測定毎に所定の周波数
範囲でランダムに変化するものであるので、ROM14
には、その周波数範囲の各繰り返し周期Tr に対応した
しきい値が記憶されている。ゲートパルス生成部15
は、デコーダ34及び判別器13からのデジタル信号を
受けて、図5(c)に示したような、持続時間T、繰り
返し周期Tr 、振幅Hのスイッチ切り換え信号ないしゲ
ートパルスをスイッチ11、ゲート18に供給する。
【0021】受光部22は、フォトダイオード、アバラ
ンシュフォトダイオード等の受光素子とプリアンプと集
光光学系とから構成される。フィルタA23、フィルタ
B24は、それぞれ発振器A20、発振器B21に対応
する周波数の電気的狭帯域フィルタで、水晶フィルタや
セラミックフィルタ等のQ値の高いメカニカルフィルタ
が用いられる。これらのフィルタの帯域幅Δνは、Δν
≧1/Tを満足するように設定されている。受光部22
で検知された対象物からの散乱光信号は、フィルタA2
3、フィルタB24に供給され、スイッチ25で信号制
御部32からの信号により、スイッチ19と運動して何
れかのフィルタが選択される。位相・振幅検出部26
は、ゲート18からのパルス信号を参照信号として、対
象物までの距離に対応した位相シフトφの2相信号si
nφ、cosφを発生させる位相情報検出回路と、これ
らの振幅を検出するための絶対値検出回路とから構成さ
れる。サンプルホード27は、コンパレータ28からの
サンプリング信号に基づいて位相・振幅検出部26から
の位相情報をサンプルホールドする。コンパレータ28
は、予め設定されたしきい値により、位相・振幅検出部
26からの信号が振幅情報信号かノイズかの弁別を行
い、サンプルホールド27、時間測定部30、信号制御
部32に信号を供給する。距離算出部29は、サンプル
ホールド27によりサンプリングされた位相信号から、
位相φしたがって対象物までの距離を算出する。時間測
定部30は、コンパレータ28からの信号に基づきカウ
ンタによる時間測定の開始及びサンプリングを行う。速
度算出部31は、距離算出部29、時間測定部30から
の距離・時間情報から速度を算出し、信号制御部32に
その結果を供給する。信号制御部32は、スイッチ1
9、25に周波数選択信号を送り、デコーダ34に制御
用信号を送ると共に、距離算出部29、時間測定部30
及び速度算出部31、判別器13からの信号の記憶・処
理・表示を行う。記憶表示部33は、データの記憶と表
示、警告信号の表示を行う。
【0022】次に、上記実施例の作用について述ベる。
対象物からの散乱光が検知されていない第1の状態で
は、信号制御部32から、図5(a)に示したような繰
り返し周期Tr の長い信号を生成するための制御信号を
デコーダ34を介してゲートパルス生成部15に送ると
共に、関心のある距離全体をカバーする周波数を選択す
るために、信号制御部32からの周波数選択信号によ
り、周波数のより低い発振器例えば発振器B21及びこ
れに対応するフィルタB24がそれぞれスィッチ19、
25により選択される。発振器B21の周波数を2MH
zとし、パルス接続時間Tを100μsとすると、1つ
のパルスのなかに500サイクルの正弦波又は矩形波振
動が含まれる。このパルスにより光源16は駆動部17
を介して振幅変調を受ける。光源16からの放出光の一
部は放出光検出部10により検出され、図5(d)の持
続時間TだけONとなるスイッチ11を介して積分回路
12により積分され、一方、デコーダ34からのこのパ
ルス情報(持続時間T、繰り返し周期Tr )に対応した
しきい値がROM14から読み出され、このしきい値を
判断基準として判別器13により安全性についてのチェ
ックを受ける。検知光強度がこのしきい値を越えた場合
には、直接又は信号制御部32を介して間接にゲートパ
ルス生成部15に信号が送られ、放出光の停止あるいは
低減の措置がとられる。
【0023】光源16からの放出光の大部分は対象物に
向けて放射され、対象物からの散乱光の一部は受光部2
2によって検出される。発振器B21の周波数に対応し
たフィルタB24がスイッチ25により選択され、例え
ば2MHzの正弦波が位相・振幅検出部26に送られ
る。ここでは、ゲート18からの信号あるいは端子Pよ
り得られる放出光検出信号とそれと位相が90°異なる
信号とを参照信号として、フィルタB24を通過した信
号とこれら参照信号の積をとりローパスフィルタを通過
させることにより、例えば500サイクルの平均的シフ
ト量φがsinφ、cosφの2相信号の形で得られ
る。また、同時に2相信号の振幅情報が得られ、検出信
号の振幅値が求められ、予め定められたしきい値とコン
パレータ28で比較され、これを越えた時に信号と認め
られ、サンプルホールド27、時間測定部30にサンプ
リング信号あるいは時間測定開始信号を送る。サンプリ
ングされた位相信号から、距離算出部29により距離が
算出され、サンプリングされた時間測定の情報と合わせ
て速度算出部31において速度が求められる。距離と速
度情報の時系列的情報から、対象物の存在が予め設定さ
れた領域に認められる第2の状態に移ったと信号制御部
32で判断されると、これらの情報を記憶表示すると共
に、デコーダ34に図5(b)に示すように繰り返し時
間Tr の短縮と振幅Hの増大を指示する信号を送り、ス
イッチ19、25に発振器、フィルタをBからAに切り
換える信号を送り、より最適な変調周波数の選択が行わ
れる。切り換えた時の安全性の確認は、放出光検出部1
0の方で上記と同様にしてチェックされる。これらの操
作により、対象物の正確な距離と速度の情報が得られ
る。なお、光源16の変調信号における繰り返し時間T
r は、雑音に対するS/Nの向上と、同種の測定器間の
干渉を避けるために、各周期毎に所定周波数内でランダ
ムな値をとるようになっている。
【0024】以上のように、選択可能な複数の変調周波
数と、これに対応した狭帯域フィルタと、変調周波数の
周期と比較して充分長いパルス持続時間内での位相測
定、放出光の監視とから、応答の速い、正確で、安全
な、小型の距離測定装置が可能となる。
【0025】以上の実施例は、説明の簡単のために、単
一の光源と受光部について説明したが、これらを複数用
意し、時系列的に切り換えて、対象物の移動方向を知る
ようにすることは容易であり、本発明の範囲に属する。
【0026】次に、本発明の第2の実施例の測距部の構
成のブロック図を図6に示す。これは、図3の受光部に
1次元PSD(位置検出器)40を用いたもので、プリ
アンプ41、42で増幅された検出信号は、ゲートパル
ス生成部15からのパルス信号に基づいて放出光の持続
時間Tだけゲート43、44を通り、狭帯域のフィルタ
45、46に信号が供給される。これらのフィルタは中
心周波数が100kHz程度のセラミックフィルタで、
これらを通過した信号は、除算器47及び加算器48に
供給され、位置情報と光振幅情報が得られる。位置情報
は、A/D変換器49を介してサンプルホールド51に
送られる。コンパレータ50は、予め定められたしきい
値により、信号かノイズかの判別を行う。しきい値を越
えれば信号と認め、時間測定部53にスタートパルスを
送り、サンプルホールド51、52にサンブリング信号
を送る。サンプルホールドされた位置、時間情報は、距
離・速度測定部54に送られ処理される。この場合、距
離は、光源に対し一定の間隔(基線長と言う。)を置い
て1次元PSDを配置し、三角測量の原理で測定され
る。なお、簡単のため、光源部、放出光検出部は図示を
省略したが、図3の場合と同様に構成される。この場
合、放出光の変調は、図5(d)の形をとり、パルス持
続時間T=0.5ms、繰り返し時間Tr =1ms程度
が選ばれる。
【0027】この実施例の特徴は、変調された光のみを
狭帯域のフィルタ45、46(この場合も、フィルタの
帯域幅Δνは、Δν≧1/Tを満足するように設定され
る。)で抽出しているため、背景光の影響を受け難く、
高S/Nの信号が得られることにある。また、2次元の
PSDを用いて、同様の処理を行うことも可能である。
【0028】以上、本発明の距離測定装置について、実
施例に基づいて説明してきたが、本発明はこれら実施例
に限定されず種々の変形が可能である。
【0029】
【発明の効果】本発明の距離測定装置によると、所定の
変調周波数で振幅変調を受け、その周期に比較して十分
長い持続時間放出され、その持続時間に比較してより長
い繰り返し時間で放出を繰り返す光束を発生させる変調
光発生手段と、前記光束を対象物に向けて放出する光放
出手段と、対象物からの散乱光を検出する検出部と、検
出信号中の前記変調周波数に対応した周波数の信号を濾
波する狭帯域フィルタと、前記持続時間だけ検出信号を
通過させるゲート手段と、検出信号と前記光束の変調波
との位相差を検出する位相差検出手段とからなるので、
応答が速く、連続波を用いた場合より高いS/Nでノイ
ズによる誤動作の少ない、正確で、安全な、設計の自由
度の大きい、小型の距離測定装置が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の距離測定装置の構成の概念ブロック図
である。
【図2】図1の送光パルス列、受光パルス列の波形図で
ある。
【図3】本発明の1実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【図4】放出光検出部の配置例を示す断面図である。
【図5】実施例1における各部の信号の波形図である。
【図6】本発明の他の実施例の測距部の構成のブロック
図である。
【図7】従来例の構成を示す図である。
【図8】他の従来例の構成を示す図である。
【符号の説明】
1…光源 2…変調駆動部 3…放出光監視部 4…対象物 5…検出部 6…狭帯域フィルタ 7…振幅・位相検出部 8…演算制御部 9…記憶表示部 10…放出光検出部 11…スイッチ 12…積分回路 13…判別器 14…ROM 15…ゲートパルス生成部 16…光源 17…駆動部 18…ゲート 19…スイッチ 20…発振器A 21…発振器B 22…受光部 23…フィルタA 24…フィルタB 25…スイッチ 26…位相・振幅検出部 27…サンプルホード 28…コンパレータ 29…距離算出部 30…時間測定部 31…速度算出部 32…信号制御部 33…記憶表示部 34…デコーダ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年1月24日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0009
【補正方法】変更
【補正内容】
【0009】次に、各部の作用について述べる。光源1
は、半導体レーザや発光ダイオードか用いられ、図2
(1)に示す周期がtの矩形波又は正弦波で、持続時間
がT、繰り返し時間Tr (この時間Tr は、必ずしも一
定でなく、各周期毎にランダムに変化する場合も含
む。)のパルス状振幅変調が加えられる。光源1からの
放出光は、一部が放出光監視部3で検出され、その強度
が人間の眼に対して安全か否かが判別され、危険と判別
された場合には、演算制御部8を介して変調駆動部2に
信号が送られ、変調に変更が加えられ、放出光を実質的
に低減するか停止する。逆に、安全度に余裕があれば、
放出光を実質的に増加する。対象物4で反射された信号
光は、検出部5で検出され、検出信号は狭帯域のフィル
タ6に供給される。フィルタ6の帯域幅Δνと一定のS
/Nをとるための放出光の必要なパワーの最小値Pmin
との間には、検出部5の暗電流id が支配的な領域で
は、 Pmin ∝(id ×Δν)1/2 の関係があり、フィルタ6の帯域幅Δνが狭い程、信号
光の強度は少なくてすむ。一方、信号光パルスの持続時
間Tは、測定の高速応答性の要求から、T≦Tm の制限
を受ける。ただし、Tm は測定に許容できる最大時間を
表す。これから、変調周波数スペクトルの拡がりΔw
は、Δw≒1/Tm があり、フィルタ6の帯域幅Δν
は、Δν≧Δw≒1/Tという制限を受ける。すなわ
ち、フィルタ6の帯域幅は狭ければ良いというものでは
なく、上記の関係を満たす範囲の帯域幅Δν≧1/Tを
持っていなければならないということができる。例え
ば、Tm =1msと選ぶと、Δν≧1kHzとなる。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも、所定の変調周波数で振幅変
    調を受け、その周期に比較して十分長い持続時間放出さ
    れ、その持続時間に比較してより長い繰り返し時間で放
    出を繰り返す光束を発生させる変調光発生手段と、前記
    光束を対象物に向けて放出する光放出手段と、対象物か
    らの散乱光を検出する検出部と、検出信号中の前記変調
    周波数に対応した周波数の信号を濾波する狭帯域フィル
    タと、前記持続時間だけ検出信号を通過させるゲート手
    段と、検出信号と前記光束の変調波との位相差を検出す
    る位相差検出手段とからなることを特徴とする距離測定
    装置。
  2. 【請求項2】 前記変調光発生手段における前記繰り返
    し時間がランダムに変化することを特徴とする請求項1
    記載の距離測定装置。
  3. 【請求項3】 さらに、前記変調光発生手段から放射さ
    れる光束の前記繰り返し時間内における積分強度を求め
    る手段と、求められた積分強度と前記持続時間及び繰り
    返し時間に対応して定まる眼に安全なしきい値とを対比
    することにより対象物に向けて放出される光束の強度監
    視手段とを有することを特徴とする請求項1又は2記載
    の距離測定装置。
  4. 【請求項4】 少なくとも、所定の変調周波数で振幅変
    調を受け、その周期に比較して十分長い持続時間放出さ
    れ、その持続時間に比較してより長い繰り返し時間で放
    出を繰り返す光束を発生させる変調光発生手段と、前記
    光束を対象物に向けて放出する光放出手段と、対象物か
    らの散乱光の入射位置を検出する位置検出部と、検出信
    号中の前記変調周波数に対応した周波数の信号を濾波す
    る狭帯域フィルタと、前記持続時間だけ検出信号を通過
    させるゲート手段と、得られた複数の検出信号から散乱
    光の入射位置を算出する位置算出手段とからなることを
    特徴とする距離測定装置。
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