JP2008286578A - 光パルス試験装置及びその調整方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光パルス試験装置1は、光パルスを射出するレーザ素子13と、光パルスを試験対象の光ファイバ30に入射して得られる後方散乱光を受光する受光部16とを備え、受光部16から出力される受光信号に対して所定の演算処理を施して光ファイバ30の特性を試験する。この光パルス試験装置1は、特性が既知であって光ファイバ30に接続される検出ファイバ15と、検出ファイバ15からの後方散乱光を受光部16で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように受光部16の感度を制御するバイアス制御部21とを備える。
【選択図】図1
Description
この発明によると、光源から射出された光パルスが試験対象の光ファイバに接続された特性が既知の基準光ファイバに入射すると、後方散乱光が発生して受光部で受光される。後方散乱光を受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように前記受光部の感度が感度制御部によって制御される。
また、本発明の光パルス試験装置は、前記感度制御部が、前記受光部の温度を所定の温度に設定した場合に基準光ファイバからの後方散乱光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルを基準受光レベルとして予め記憶する記憶部(21a)を備えており、前記基準光ファイバからの後方散乱光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが前記記憶部に記憶された基準受光レベルと一致するように前記受光部の感度を制御することを特徴としている。
また、本発明の光パルス試験装置は、前記光源が、前記試験対象の光ファイバの特性を試験するための第1光パルスと、前記受光部の感度を制御するための第2光パルスとを射出することを特徴としている。
また、本発明の光パルス試験装置は、前記第1光パルスが、一定時間毎に繰り返し射出され、前記第2光パルスは、繰り返し射出される前記第1光パルスの間に射出されることを特徴としている。
また、本発明の光パルス試験装置は、前記受光部が、アバランシェ・フォトダイオードを備えており、前記制御部は、前記アバランシェ・フォトダイオードに印加する電圧を制御する事により前記受光部の感度を制御することを特徴としている。
また、本発明の光パルス試験装置は、前記基準光ファイバの長さが、前記第2光パルスのパルス幅によって決定される分解能に比べて十分長い長さに設定されることを特徴としている。
更に、本発明の光パルス試験装置は、前記試験対象の光ファイバと前記基準光ファイバとの接続点における反射光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように前記光源から射出される光パルスの強度を制御する光源制御部(22)を備えることを特徴としている。
本発明のパルス試験装置の調整方法は、光源(13)からの光パルスを試験対象の光ファイバ(30)に入射して得られる後方散乱光を受光部(16)で受光し、前記受光部から出力される受光信号に対して所定の演算処理を施して前記光ファイバの特性を試験する光パルス試験装置(1)の調整方法であって、前記受光部の感度を第1感度に設定する第1ステップと、前記試験対象の光ファイバと特性が既知である基準光ファイバ(15)との接続点(C)における反射光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように前記光源から射出される光パルスの強度を制御する第2ステップと、前記受光部の感度を、前記第1感度よりも高い第2感度に設定する第3ステップと、前記基準光ファイバからの後方散乱光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように前記受光部の感度を制御する第4ステップとを含むことを特徴としている。
また、本発明によれば、試験対象の光ファイバと基準光ファイバとの接続点における反射光を受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように光源から射出される光パルスの強度を制御しているため、光源から射出される光パルスの強度のバラツキを抑えることができ、より高い精度で受光部の感度を制御することができるという効果がある。
13 レーザ素子
15 検出ファイバ
16 受光部
21 バイアス制御部
21a メモリ
22 レーザ制御部
30 光ファイバ
C 接続部
Claims (8)
- 光パルスを射出する光源と、前記光パルスを試験対象の光ファイバに入射して得られる後方散乱光を受光する受光部とを備え、前記受光部から出力される受光信号に対して所定の演算処理を施して前記光ファイバの特性を試験する光パルス試験装置において、
特性が既知であって前記光ファイバに接続される基準光ファイバと、
前記基準光ファイバからの後方散乱光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように前記受光部の感度を制御する感度制御部と
を備えることを特徴とする光パルス試験装置。 - 前記感度制御部は、前記受光部の温度を所定の温度に設定した場合に基準光ファイバからの後方散乱光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルを基準受光レベルとして予め記憶する記憶部を備えており、
前記基準光ファイバからの後方散乱光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが前記記憶部に記憶された基準受光レベルと一致するように前記受光部の感度を制御する
ことを特徴とする請求項1記載の光パルス試験装置。 - 前記光源は、前記試験対象の光ファイバの特性を試験するための第1光パルスと、前記受光部の感度を制御するための第2光パルスとを射出することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の光パルス試験装置。
- 前記第1光パルスは、一定時間毎に繰り返し射出され、
前記第2光パルスは、繰り返し射出される前記第1光パルスの間に射出される
ことを特徴とする請求項3記載の光パルス試験装置。 - 前記受光部は、アバランシェ・フォトダイオードを備えており、
前記制御部は、前記アバランシェ・フォトダイオードに印加する電圧を制御する事により前記受光部の感度を制御することを特徴とする請求項1から請求項4の何れか一項に記載の光パルス試験装置。 - 前記基準光ファイバの長さは、前記第2光パルスのパルス幅によって決定される分解能に比べて十分長い長さに設定されることを特徴とする請求項3又は請求項4記載の光パルス試験装置。
- 前記試験対象の光ファイバと前記基準光ファイバとの接続点における反射光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように前記光源から射出される光パルスの強度を制御する光源制御部を備えることを特徴とする請求項1から請求項6の何れか一項に記載の光パルス試験装置。
- 光源からの光パルスを試験対象の光ファイバに入射して得られる後方散乱光を受光部で受光し、前記受光部から出力される受光信号に対して所定の演算処理を施して前記光ファイバの特性を試験する光パルス試験装置の調整方法であって、
前記受光部の感度を第1感度に設定する第1ステップと、
前記試験対象の光ファイバと特性が既知である基準光ファイバとの接続点における反射光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように前記光源から射出される光パルスの強度を制御する第2ステップと、
前記受光部の感度を、前記第1感度よりも高い第2感度に設定する第3ステップと、
前記基準光ファイバからの後方散乱光を前記受光部で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように前記受光部の感度を制御する第4ステップと
を含むことを特徴とする光パルス試験装置の調整方法。
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JP2007130244A JP5515199B2 (ja) | 2007-05-16 | 2007-05-16 | 光パルス試験装置及びその調整方法 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010101794A (ja) * | 2008-10-24 | 2010-05-06 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
CN111487034A (zh) * | 2019-01-25 | 2020-08-04 | 安立股份有限公司 | 光时域反射仪及光脉冲试验方法 |
US12025530B2 (en) | 2021-04-22 | 2024-07-02 | Yokogawa Electric Corporation | Optical pulse tester |
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-
2007
- 2007-05-16 JP JP2007130244A patent/JP5515199B2/ja active Active
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