JPH04230825A - オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ - Google Patents
オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータInfo
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- JPH04230825A JPH04230825A JP3122528A JP12252891A JPH04230825A JP H04230825 A JPH04230825 A JP H04230825A JP 3122528 A JP3122528 A JP 3122528A JP 12252891 A JP12252891 A JP 12252891A JP H04230825 A JPH04230825 A JP H04230825A
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- optical fiber
- front panel
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、オプティカル・タイム
・ドメイン・リフレクトメータ（以下、ＯＴＤＲと略す
）、特にフロントパネルのコネクタ近辺の状態を検査す
る能力を持つＯＴＤＲに関する。
・ドメイン・リフレクトメータ（以下、ＯＴＤＲと略す
）、特にフロントパネルのコネクタ近辺の状態を検査す
る能力を持つＯＴＤＲに関する。
【０００２】
【従来の技術】ＯＴＤＲは、光ファイバケーブルなどの
ような光伝送線の検査、即ちファイバ中を伝わる光信号
の品質に影響を与える断線や欠陥の有無を検査するもの
である。ＯＴＤＲで光ファイバを検査するには、被試験
光ファイバをフロントパネルのコネクタにつなぎ、光検
出器の光パルスを光ファイバに送出する。レイリー散乱
により光ファイバから散乱され戻ってくる光は、光パル
ス送出の繰り返しの合間に、ＯＴＤＲの受光回路にある
アバランシェフォトダイオードなどのような光検出器に
入力される。光検出器は散乱され戻ってきた光信号を電
気信号に変え、電気信号は増幅されサンプリングされて
表示装置に表示される。
ような光伝送線の検査、即ちファイバ中を伝わる光信号
の品質に影響を与える断線や欠陥の有無を検査するもの
である。ＯＴＤＲで光ファイバを検査するには、被試験
光ファイバをフロントパネルのコネクタにつなぎ、光検
出器の光パルスを光ファイバに送出する。レイリー散乱
により光ファイバから散乱され戻ってくる光は、光パル
ス送出の繰り返しの合間に、ＯＴＤＲの受光回路にある
アバランシェフォトダイオードなどのような光検出器に
入力される。光検出器は散乱され戻ってきた光信号を電
気信号に変え、電気信号は増幅されサンプリングされて
表示装置に表示される。
【０００３】被試験光ファイバがフロントパネルのコネ
クタに適切に接続されていない場合には、光ファイバに
送出する光パルスの光量と、戻ってくるレイリー散乱光
は大幅に減ってしまう。フロントパネルでの接続状態を
検査する一つの方法は、光ファイバから戻ってくる光量
と用意した基準値とを比較するというもので、もし光量
が基準値よりも少なければ、接続が適切でないことがわ
かるというものである。しかし、この方法は正確性に欠
ける。例えば、光送出器の出力光量が少なければ、フロ
ントパネルでの接続状態が不良の場合と同じ結果がでて
しまうのである。
クタに適切に接続されていない場合には、光ファイバに
送出する光パルスの光量と、戻ってくるレイリー散乱光
は大幅に減ってしまう。フロントパネルでの接続状態を
検査する一つの方法は、光ファイバから戻ってくる光量
と用意した基準値とを比較するというもので、もし光量
が基準値よりも少なければ、接続が適切でないことがわ
かるというものである。しかし、この方法は正確性に欠
ける。例えば、光送出器の出力光量が少なければ、フロ
ントパネルでの接続状態が不良の場合と同じ結果がでて
しまうのである。
【０００４】他の方法としては、日立製作所製のＭＷ９
１０Ａ型ＯＴＤＲに使われているものがある。このＯＴ
ＤＲは、出力レベルが既知の発光ダイオード（ＬＥＤ）
の出力端子を装置の後側に具えている。ＬＥＤの出力は
、光ジャンパ・ケーブルを経由してＯＴＤＲのフロント
パネルのコネクタに入力される。ＬＥＤからの入力はＯ
ＴＤＲに表示され、フロントパネルでの接続状態の良否
に従って補正値を決定するというものである。しかし、
この方法は、接続状態に不良がないことを保証するもの
ではない。
１０Ａ型ＯＴＤＲに使われているものがある。このＯＴ
ＤＲは、出力レベルが既知の発光ダイオード（ＬＥＤ）
の出力端子を装置の後側に具えている。ＬＥＤの出力は
、光ジャンパ・ケーブルを経由してＯＴＤＲのフロント
パネルのコネクタに入力される。ＬＥＤからの入力はＯ
ＴＤＲに表示され、フロントパネルでの接続状態の良否
に従って補正値を決定するというものである。しかし、
この方法は、接続状態に不良がないことを保証するもの
ではない。
【０００５】多くのＯＴＤＲは、光送出器の出力を被試
験光ファイバに送出するか又は光ファイバからの後方散
乱光を受光回路へと導くか選択するために、ブラッグ・
セルなどの光変調素子を電圧制御方向性光結合器（オプ
ティカル・カプラ）として使っている。ブラッグ・セル
を光送出モードにすると、受光回路への被試験光ファイ
バからの後方散乱光は遮断される。このブラッグ・セル
の性質は、光ファイバの継ぎ目やコネクタが原因で起こ
る被試験光ファイバからの大振幅を持つ反射光を遮断す
る場合には有効である。大振幅の反射光は光検出器に過
大な電気パルス出力を発生させるが、この電気パルスは
検出器の蓄積時間のためにほぼ指数関数的に減衰する。 このようなパルスの鈍った立ち下がり部分をパルスのテ
イルと呼ぶが、この場合には検出器テイルと呼ぶことに
する。よって、大振幅の反射光データを表示するときに
は、この検出器の蓄積効果により 、特徴的な鈍い検出
器テイルが現れる。大振幅の反射光を遮断すれば、検出
器テイルに隠れている事象も調べることができる。しか
し、以下のような課題がある。
験光ファイバに送出するか又は光ファイバからの後方散
乱光を受光回路へと導くか選択するために、ブラッグ・
セルなどの光変調素子を電圧制御方向性光結合器（オプ
ティカル・カプラ）として使っている。ブラッグ・セル
を光送出モードにすると、受光回路への被試験光ファイ
バからの後方散乱光は遮断される。このブラッグ・セル
の性質は、光ファイバの継ぎ目やコネクタが原因で起こ
る被試験光ファイバからの大振幅を持つ反射光を遮断す
る場合には有効である。大振幅の反射光は光検出器に過
大な電気パルス出力を発生させるが、この電気パルスは
検出器の蓄積時間のためにほぼ指数関数的に減衰する。 このようなパルスの鈍った立ち下がり部分をパルスのテ
イルと呼ぶが、この場合には検出器テイルと呼ぶことに
する。よって、大振幅の反射光データを表示するときに
は、この検出器の蓄積効果により 、特徴的な鈍い検出
器テイルが現れる。大振幅の反射光を遮断すれば、検出
器テイルに隠れている事象も調べることができる。しか
し、以下のような課題がある。
【０００６】
【発明の解決しようとする課題及び目的】従来のＯＴＤ
Ｒでは、ブラッグ・セルをオプティカル・カプラとして
使うと、送出されたパルスがセルを通り抜けるまで光送
出モードに維持されているので、ブラッグ・セルがモー
ドを切換えている間に戻ってくる、フロントパネルのコ
ネクタでの反射光と被試験光ファイバからの後方散乱光
の一部は受光回路に入力されないことになり、これら反
射光を測定することは不可能であった。そこで本発明の
目的は、ブラッグ・セルをオプティカル・カプラとして
用いながらフロントパネルのコネクタ近辺での反射光を
捕らえることを可能にすることである。本発明の他の目
的は、ＯＴＤＲ内部で基準となる後方散乱光のデータを
得ることを可能にし、該データを用いてＯＴＤＲの回路
郡の状態を正確に決定することである。本発明のさらに
他の目的は、フロントパネルのコネクタと被試験光ファ
イバとの接続状態の検査を可能にすることである。
Ｒでは、ブラッグ・セルをオプティカル・カプラとして
使うと、送出されたパルスがセルを通り抜けるまで光送
出モードに維持されているので、ブラッグ・セルがモー
ドを切換えている間に戻ってくる、フロントパネルのコ
ネクタでの反射光と被試験光ファイバからの後方散乱光
の一部は受光回路に入力されないことになり、これら反
射光を測定することは不可能であった。そこで本発明の
目的は、ブラッグ・セルをオプティカル・カプラとして
用いながらフロントパネルのコネクタ近辺での反射光を
捕らえることを可能にすることである。本発明の他の目
的は、ＯＴＤＲ内部で基準となる後方散乱光のデータを
得ることを可能にし、該データを用いてＯＴＤＲの回路
郡の状態を正確に決定することである。本発明のさらに
他の目的は、フロントパネルのコネクタと被試験光ファ
イバとの接続状態の検査を可能にすることである。
【０００７】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明は、フロ
ントパネルのコネクタとオプティカル・カプラとの間に
基準用光ファイバを置くことを特徴とする。これにより
、フロントパネルのコネクタでの反射光がブラッグ・セ
ルに届くまでの時間を遅らせ、ブラッグ・セルがモード
を切り換えるのに必要な時間を稼ぐことができる。さら
に、この基準用光ファイバからの後方散乱光を測定する
ことにより、基準となる後方散乱光データを得ることが
できる。
ントパネルのコネクタとオプティカル・カプラとの間に
基準用光ファイバを置くことを特徴とする。これにより
、フロントパネルのコネクタでの反射光がブラッグ・セ
ルに届くまでの時間を遅らせ、ブラッグ・セルがモード
を切り換えるのに必要な時間を稼ぐことができる。さら
に、この基準用光ファイバからの後方散乱光を測定する
ことにより、基準となる後方散乱光データを得ることが
できる。
【０００８】
【実施例】図１は、本発明のＯＴＤＲの一実施例のブロ
ック図を表している。シングルモード、又はマルチモー
ド用光送出器１０は、被試験光ファイバ１８に送出する
光パルスを発光する。光送出器１０の出力は、オプティ
カル・カプラ１２を経由して基準用光ファイバ１４に供
給される。なお、光ファイバ１４はシングルモード、又
はマルチモード光ファイバである。基準用光ファイバ１
４は、ＯＴＤＲのフロントパネルのコネクタ１６に接続
され、また、被試験光ファイバ１８もフロントパネルの
コネクタ１６に接続される。
ック図を表している。シングルモード、又はマルチモー
ド用光送出器１０は、被試験光ファイバ１８に送出する
光パルスを発光する。光送出器１０の出力は、オプティ
カル・カプラ１２を経由して基準用光ファイバ１４に供
給される。なお、光ファイバ１４はシングルモード、又
はマルチモード光ファイバである。基準用光ファイバ１
４は、ＯＴＤＲのフロントパネルのコネクタ１６に接続
され、また、被試験光ファイバ１８もフロントパネルの
コネクタ１６に接続される。
【０００９】被試験光ファイバ１８に光パルスを送出す
ると、後方散乱された反射光が戻ってくるが、この反射
光はフロントパネルのコネクタ１６、基準用光ファイバ
１４、オプティカル・カプラ１２を経由して受光回路２
２の光検出器２０に入力される。光検出器２０は、戻っ
てきた反射光を電気信号に変え、電気信号は、受光回路
２２の増幅器２４により増幅され、電子回路及び表示回
路郡２６（以下、回路郡２６と略す）にあるデータサン
プリング回路でサンプリングされてデータ処理され、こ
のデータが表示装置（図示せず）に表示される。実施例
のオプティカル・カプラ１２はブラッグ・セルで、光パ
ルスをフロントパネルのコネクタ１６に導き、光送出モ
ードでは被試験光ファイバ１８から戻ってくる光を遮断
すると共に、受光モードでは被試験光ファイバ１８から
戻ってくる光を光検出器２０に供給する。
ると、後方散乱された反射光が戻ってくるが、この反射
光はフロントパネルのコネクタ１６、基準用光ファイバ
１４、オプティカル・カプラ１２を経由して受光回路２
２の光検出器２０に入力される。光検出器２０は、戻っ
てきた反射光を電気信号に変え、電気信号は、受光回路
２２の増幅器２４により増幅され、電子回路及び表示回
路郡２６（以下、回路郡２６と略す）にあるデータサン
プリング回路でサンプリングされてデータ処理され、こ
のデータが表示装置（図示せず）に表示される。実施例
のオプティカル・カプラ１２はブラッグ・セルで、光パ
ルスをフロントパネルのコネクタ１６に導き、光送出モ
ードでは被試験光ファイバ１８から戻ってくる光を遮断
すると共に、受光モードでは被試験光ファイバ１８から
戻ってくる光を光検出器２０に供給する。
【００１０】ＯＴＤＲに基準用光ファイバ１４を設けた
ことにより、被試験光ファイバ１８とは独立に、検査の
際に基準とする基準後方散乱光データが設定可能になっ
た。基準用光ファイバ１４での後方散乱光は、受光回路
２２で電気信号に変換され、増幅される。続いて、回路
郡２６でサンプリングされて基準後方散乱光データが設
定される。この基準後方散乱光データと被試験光ファイ
バ１８から得られる後方散乱光データとを比較すること
により、フロントパネルのコネクタ１６での損失率が決
定でき、被試験光ファイバ１８とＯＴＤＲとの接続状態
の良否を検査することができる。
ことにより、被試験光ファイバ１８とは独立に、検査の
際に基準とする基準後方散乱光データが設定可能になっ
た。基準用光ファイバ１４での後方散乱光は、受光回路
２２で電気信号に変換され、増幅される。続いて、回路
郡２６でサンプリングされて基準後方散乱光データが設
定される。この基準後方散乱光データと被試験光ファイ
バ１８から得られる後方散乱光データとを比較すること
により、フロントパネルのコネクタ１６での損失率が決
定でき、被試験光ファイバ１８とＯＴＤＲとの接続状態
の良否を検査することができる。
【００１１】さらには、この基準後方散乱光データを、
ＯＴＤＲの光送出回路及び受光回路の作動状態の自己診
断テストに使う。最初に工場での校正において、基準用
光ファイバからの後方散乱光を初期基準後方散乱光デー
タとして測定し、以後、ＯＴＤＲにはその値が設定され
記憶されている。ＯＴＤＲの電源を入れる度に、具えて
いる自己診断テストにより基準用光ファイバからの後方
散乱光を基準後方散乱光データとして測定し、工場での
初期基準後方散乱光データの結果と比較することにより
光送出回路及び受光回路の現状態を診断する。僅かでも
初期基準後方散乱光データからのズレがあれば、光送出
回路及び受光回路の例えば受光回路の増幅段の利得など
は自動的に調整され校正される。
ＯＴＤＲの光送出回路及び受光回路の作動状態の自己診
断テストに使う。最初に工場での校正において、基準用
光ファイバからの後方散乱光を初期基準後方散乱光デー
タとして測定し、以後、ＯＴＤＲにはその値が設定され
記憶されている。ＯＴＤＲの電源を入れる度に、具えて
いる自己診断テストにより基準用光ファイバからの後方
散乱光を基準後方散乱光データとして測定し、工場での
初期基準後方散乱光データの結果と比較することにより
光送出回路及び受光回路の現状態を診断する。僅かでも
初期基準後方散乱光データからのズレがあれば、光送出
回路及び受光回路の例えば受光回路の増幅段の利得など
は自動的に調整され校正される。
【００１２】図２は、ブラッグ・セルがオプティカル・
カプラとして使われている、従来のＯＴＤＲが被試験光
ファイバからの後方散乱光データを表示した場合の典型
的な例を示している。垂直軸の単位はｄＢ、水平軸はフ
ィート又はメートルである。表示の左側端には信号レベ
ルの立ち上がりがみられるが、ここには本来フロントパ
ネルのコネクタでの反射光パルスのデータが示されるは
ずである。このデータの損失もしくは欠落は、光パルス
を送出し終えた後もブラッグ・セルが光検出器２０への
後方散乱光を遮断していることが原因である。ブラッグ
・セルが受光モードに切換わったところで、被試験光フ
ァイバからの信号レべルが後方散乱光レベルに上昇して
いることがわかる。そこで、基準用光ファイバ１４をフ
ロントパネルのコネクタ１６の前段に挿入すれば、フロ
ントパネルのコネクタから戻ってくる反射光パルスが、
セルに届く前に必要な遅延時間、つまり、ブラッグ・セ
ルが送出モードから受光モードに切換わるための時間を
得ることができる。これによりフロントパネルのコネク
タでの反射光パルスのデータを得ることができる。
カプラとして使われている、従来のＯＴＤＲが被試験光
ファイバからの後方散乱光データを表示した場合の典型
的な例を示している。垂直軸の単位はｄＢ、水平軸はフ
ィート又はメートルである。表示の左側端には信号レベ
ルの立ち上がりがみられるが、ここには本来フロントパ
ネルのコネクタでの反射光パルスのデータが示されるは
ずである。このデータの損失もしくは欠落は、光パルス
を送出し終えた後もブラッグ・セルが光検出器２０への
後方散乱光を遮断していることが原因である。ブラッグ
・セルが受光モードに切換わったところで、被試験光フ
ァイバからの信号レべルが後方散乱光レベルに上昇して
いることがわかる。そこで、基準用光ファイバ１４をフ
ロントパネルのコネクタ１６の前段に挿入すれば、フロ
ントパネルのコネクタから戻ってくる反射光パルスが、
セルに届く前に必要な遅延時間、つまり、ブラッグ・セ
ルが送出モードから受光モードに切換わるための時間を
得ることができる。これによりフロントパネルのコネク
タでの反射光パルスのデータを得ることができる。
【００１３】基準用光ファイバ１４の長さの最小値は、
送出する光パルスのパルス幅に依存する。基準用光ファ
イバ１４の長さは、すくなくとも光送出器１０から出力
される光パルスのパルス幅と同じでなければならない。 好適実施例では、光が１０ｎｓ／ｍで伝搬する光ファイ
バ中を、最大パルス幅が５０ｍ、即ち、伝搬時間でいえ
ば５００ｎ秒の光パルスが往復すると想定して基準用光
ファイバの長さを１００ｍとしている。パルス幅を５０
ｍとしたのは、ＯＴＤＲの解像度を落とすことなく、被
試験光ファイバ１８から戻ってくる後方散乱光を適当な
レベルで得ることができるからである。光パルスは、ブ
ラッグ・セルを経由し、基準用光ファイバ１４からフロ
ントパネルのコネクタ１６を経由して行くが、このフロ
ントパネルのコネクタ１６で反射光が生じ、基準用光フ
ァイバ１４に沿って反射光は送り返される。ブラッグ・
セルおいては、送り出される送出パルスの終端と戻って
くる反射パルスの先端との時間間隔は少なくとも５００
ｎ秒あれば良い。この時間のうちにブラッグ・セルは、
受光回路２２を遮蔽し送出パルスは通す光送出モードか
ら、光を受光回路２２へと導く受光モードに切換わる。 反射光が受光回路２２に入ると、フロントパネルのコネ
クタによる反射光パルスについてのデータが取り込まれ
る。
送出する光パルスのパルス幅に依存する。基準用光ファ
イバ１４の長さは、すくなくとも光送出器１０から出力
される光パルスのパルス幅と同じでなければならない。 好適実施例では、光が１０ｎｓ／ｍで伝搬する光ファイ
バ中を、最大パルス幅が５０ｍ、即ち、伝搬時間でいえ
ば５００ｎ秒の光パルスが往復すると想定して基準用光
ファイバの長さを１００ｍとしている。パルス幅を５０
ｍとしたのは、ＯＴＤＲの解像度を落とすことなく、被
試験光ファイバ１８から戻ってくる後方散乱光を適当な
レベルで得ることができるからである。光パルスは、ブ
ラッグ・セルを経由し、基準用光ファイバ１４からフロ
ントパネルのコネクタ１６を経由して行くが、このフロ
ントパネルのコネクタ１６で反射光が生じ、基準用光フ
ァイバ１４に沿って反射光は送り返される。ブラッグ・
セルおいては、送り出される送出パルスの終端と戻って
くる反射パルスの先端との時間間隔は少なくとも５００
ｎ秒あれば良い。この時間のうちにブラッグ・セルは、
受光回路２２を遮蔽し送出パルスは通す光送出モードか
ら、光を受光回路２２へと導く受光モードに切換わる。 反射光が受光回路２２に入ると、フロントパネルのコネ
クタによる反射光パルスについてのデータが取り込まれ
る。
【００１４】上記のオプティカル・タイム・ドメイン・
レフレクトメータは、検査中の光ファイバとは独立に、
基準後方散乱光データを得る基準用光ファイバをオプテ
ィカル・カプラとフロントパネルのコネクタの間に具え
ている。この基準用光ファイバはブラッグ・セルをオプ
ティカル・カプラとして用いても、フロントパネルのコ
ネクタでの反射光のデータを得ることを可能にする。ま
た、基準後方散乱光データは検査中の光ファイバとＯＴ
ＤＲとの接続状態の良否を診断するために使われ、さら
に、光送出回路及び受光回路が正規状態か調べ校正する
ために使われる。もちろん、検出器テイルに隠れてしま
う事象を調べる場合には、フロントパネルのコネクタで
の反射光をブラッグ・セルで遮断できることはいうまで
もない。
レフレクトメータは、検査中の光ファイバとは独立に、
基準後方散乱光データを得る基準用光ファイバをオプテ
ィカル・カプラとフロントパネルのコネクタの間に具え
ている。この基準用光ファイバはブラッグ・セルをオプ
ティカル・カプラとして用いても、フロントパネルのコ
ネクタでの反射光のデータを得ることを可能にする。ま
た、基準後方散乱光データは検査中の光ファイバとＯＴ
ＤＲとの接続状態の良否を診断するために使われ、さら
に、光送出回路及び受光回路が正規状態か調べ校正する
ために使われる。もちろん、検出器テイルに隠れてしま
う事象を調べる場合には、フロントパネルのコネクタで
の反射光をブラッグ・セルで遮断できることはいうまで
もない。
【００１５】
【発明の効果】本発明のＯＴＤＲが有する基準用光ファ
イバにより、ブラッグ・セルをオプティカル・カプラと
して使用しながら、フロントパネルのコネクタでの反射
光を捕らえることができる。また、基準用光ファイバか
らの後方散乱光を測定し、基準後方散乱光データを設定
する。この基準後方散乱光データと被試験光ファイバか
らの後方散乱光データを比較することにより、フロント
パネルのコネクタにおける損失率が決定でき、接続状態
の良否を検査できる。さらに、基準後方散乱光データは
ＯＴＤＲの自己診断テストに使われ、光送出回路及び受
光回路の動作状態を診断し、これら回路を正規状態に校
正するために使うことができる。
イバにより、ブラッグ・セルをオプティカル・カプラと
して使用しながら、フロントパネルのコネクタでの反射
光を捕らえることができる。また、基準用光ファイバか
らの後方散乱光を測定し、基準後方散乱光データを設定
する。この基準後方散乱光データと被試験光ファイバか
らの後方散乱光データを比較することにより、フロント
パネルのコネクタにおける損失率が決定でき、接続状態
の良否を検査できる。さらに、基準後方散乱光データは
ＯＴＤＲの自己診断テストに使われ、光送出回路及び受
光回路の動作状態を診断し、これら回路を正規状態に校
正するために使うことができる。
【図１】本発明の基準用光ファイバを含むＯＴＤＲのブ
ロック図
ロック図
【図２】従来のブラッグ・セルを用いたＯＴＤＲで、被
試験光ファイバからの後方散乱光データを表示した典型
的な例。
試験光ファイバからの後方散乱光データを表示した典型
的な例。
１０ 光送出回路
１２ オプティカル・カプラ
１４ 基準用光ファイバ
１６ フロントパネルのコネクタ
１８ 被試験光ファイバ
２０ 光検出器
２２ 受光回路
２４ 増幅回路
２６ 電子回路及び表示回路郡
Claims (1)
- 【請求項１】オプティカル・カプラを介してフロントパ
ネルのコネクタとつながる光送出回路及び受光回路を有
し、該光送出回路はフロントパネルのコネクタに接続さ
れた被試験光ファイバに光パルスを送出し、上記受光回
路はフロントパネルのコネクタでの反射による光パルス
を含む光ファイバからの後方散乱光を受光するオプティ
カル・タイム・ドメイン・リフレクトメータにおいて、
オプティカル・カプラとフロントパネルのコネクタとの
間に接続された基準用光ファイバを具え、該基準用光フ
ァイバの後方散乱光データ及び上記フロントパネルのコ
ネクタでの反射光パルスを測定可能としたことを特徴と
するオプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメー
タ。
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|---|---|---|---|
| US514070 | 1990-04-25 | ||
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04230825A true JPH04230825A (ja) | 1992-08-19 |
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Country Status (3)
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|---|---|
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008286578A (ja) * | 2007-05-16 | 2008-11-27 | Yokogawa Electric Corp | 光パルス試験装置及びその調整方法 |
| JP2009229082A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 光パルス試験器および光パルス試験器の光パワー安定化方法 |
| CN111487034A (zh) * | 2019-01-25 | 2020-08-04 | 安立股份有限公司 | 光时域反射仪及光脉冲试验方法 |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5844702A (en) * | 1992-11-05 | 1998-12-01 | Sprint Communications Co, L.P. | Bidirectional optical fiber transmission system with reflection signal monitor |
| JP3206168B2 (ja) * | 1992-12-29 | 2001-09-04 | 安藤電気株式会社 | 光パルス試験器 |
| NL9301903A (nl) * | 1993-11-04 | 1995-06-01 | Nederland Ptt | Plaatsonafhankelijke toepassing van een op correlatie gebaseerde OTDR-techniek in een vertakt optische vezel-netwerk in bedrijf. |
| US5485264A (en) * | 1993-12-14 | 1996-01-16 | Antel Optronics, Inc. | High dynamic range OTDR data acquisition circuit |
| US5465143A (en) * | 1994-01-27 | 1995-11-07 | Antel Optronics Inc. | ADP switch and adjustable data acquisition window |
| US5552881A (en) * | 1994-03-17 | 1996-09-03 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for scanning a fiber optic network |
| JP3355259B2 (ja) * | 1995-03-31 | 2002-12-09 | 安藤電気株式会社 | 光反射減衰量を測定するｏｔｄｒ |
| JP3534550B2 (ja) * | 1995-11-01 | 2004-06-07 | 住友電気工業株式会社 | Ｏｔｄｒ装置 |
| US5832157A (en) | 1996-07-12 | 1998-11-03 | Mcdermott Technology, Inc. | Fiber optic acoustic emission sensor |
| DE69737139T2 (de) * | 1996-07-25 | 2007-10-04 | Anritsu Corp., Atsugi | Verfahren und vorrichtung zur überwachung einer optischen faser mittels eines optischen zeitbereichsreflektometers |
| US5754284A (en) * | 1996-10-09 | 1998-05-19 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Optical time domain reflectometer with internal reference reflector |
| US6097478A (en) * | 1998-04-02 | 2000-08-01 | Mcdermott Technology, Inc. | Fiber optic acoustic emission sensor |
| EP0926479B1 (en) * | 1998-07-15 | 2001-10-10 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Optical loss measurement |
| US20020131106A1 (en) | 2001-03-16 | 2002-09-19 | Peter Snawerdt | Secure wave-division multiplexing telecommunications system and method |
| JP3587176B2 (ja) * | 2001-04-02 | 2004-11-10 | 日本電気株式会社 | ラマン増幅器及びラマン増幅方法 |
| EP1405444B1 (en) * | 2001-07-09 | 2013-01-23 | TQ Gamma, LLC | Fiber optic telecommunications card with security detection |
| ATE447167T1 (de) * | 2006-08-03 | 2009-11-15 | Alcatel Lucent | Steuerkreis für online-otdr-messung mit integrierter sinuswelle |
| US8894277B2 (en) * | 2009-10-20 | 2014-11-25 | Sensortran, Inc. | Calibrated fire detection cable |
| EP2464034B1 (en) | 2010-12-06 | 2014-10-01 | Alcatel Lucent | Method for reflectometric measurements, measuring device, optical transmit and receive unit, and network element |
| US9964464B2 (en) * | 2012-04-11 | 2018-05-08 | Ultra Communications, Inc. | Optical time domain reflectometer with high resolution and high sensitivity |
| CN103248423B (zh) * | 2013-04-09 | 2018-01-05 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种光时域反射仪的调零方法及调零装置 |
| US9360392B2 (en) | 2013-06-28 | 2016-06-07 | Corning Cable Systems Llc | Calibration of optical time domain reflectometry optical loss measurement in optical fibers having potentially dissimilar light backscattering efficiencies |
| MX368131B (es) | 2014-11-04 | 2019-09-19 | Afl Telecommunications Llc | Técnica de fusión para pistas de otdr capturadas al usar diferentes ajustes. |
| GB2532031A (en) * | 2014-11-05 | 2016-05-11 | Cambridge Consultants | System and method for detecting a change in shape of at least one predefined region of an optical fibre |
| JP7200989B2 (ja) * | 2018-05-29 | 2023-01-10 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバの伝送損失測定方法およびｏｔｄｒ測定装置 |
| US20230160779A1 (en) * | 2020-04-14 | 2023-05-25 | Jabiil Inc. | Optical back reflection diagnostics for micro optical components |
| US11515938B2 (en) * | 2020-11-05 | 2022-11-29 | Viavi Solutions Inc. | Automatic Optical Time-Domain Reflectometer (OTDR)-based testing of device under test |
| EP3995803A1 (en) | 2020-11-05 | 2022-05-11 | Viavi Solutions Inc. | Automatic optical time-domain reflectometer (otdr)-based testing of device under test |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5818138A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-02 | Fujitsu Ltd | 光フアイバ・フオルトロケ−タ |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2156513B (en) * | 1984-03-28 | 1988-05-25 | Plessey Co Plc | Temperature measuring arrangements |
| DE3606558A1 (de) * | 1986-02-28 | 1987-09-03 | Philips Patentverwaltung | Messanordnung zur ermittlung der laengenabhaengigen daempfung von monomode-lichtwellenleitern nach dem rueckstreuverfahren |
| FR2597986B1 (fr) * | 1986-04-28 | 1990-09-21 | Foucault Marc | Dispositif a coupleur optique, pour calibrer ou etalonner un reflectometre, systeme d'echometrie et procedes de caracterisation d'un coupleur et de mesure d'attenuations utilisant ce dispositif |
| JPS6385327A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-15 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
| JPS63290934A (ja) * | 1987-05-25 | 1988-11-28 | Ocean Cable Co Ltd | 光ファイバ伝送特性測定装置 |
| DE3721823A1 (de) * | 1987-07-02 | 1989-01-12 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur messung der von einer reflexionsstelle reflektierten optischen strahlungsleistung |
| DE8909905U1 (de) * | 1989-08-18 | 1989-09-28 | ANT Nachrichtentechnik GmbH, 7150 Backnang | Rückstreumeßgerät |
-
1990
- 1990-04-25 US US07/514,070 patent/US5062704A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-03-28 EP EP19910105029 patent/EP0453816A3/en not_active Withdrawn
- 1991-04-25 JP JP3122528A patent/JPH04230825A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5818138A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-02 | Fujitsu Ltd | 光フアイバ・フオルトロケ−タ |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008286578A (ja) * | 2007-05-16 | 2008-11-27 | Yokogawa Electric Corp | 光パルス試験装置及びその調整方法 |
| JP2009229082A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 光パルス試験器および光パルス試験器の光パワー安定化方法 |
| CN111487034A (zh) * | 2019-01-25 | 2020-08-04 | 安立股份有限公司 | 光时域反射仪及光脉冲试验方法 |
| CN111487034B (zh) * | 2019-01-25 | 2022-04-05 | 安立股份有限公司 | 光时域反射仪及光脉冲试验方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0453816A2 (en) | 1991-10-30 |
| US5062704A (en) | 1991-11-05 |
| EP0453816A3 (en) | 1992-05-20 |
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