JP2008281765A - 凹凸構造物品の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】石英基板2の表面上に、形成する凹凸の高低差よりも大きい高低差をもつ凹凸構造のレジストパターン4aを形成し、レジストパターン4aをマスクにして石英基板2の表面を、目標とする高低差よりも10%程度大きいエッチング量をエッチング装置に設定してドライエッチングをする(第1エッチング処理工程)。1回目のドライエッチングにより石英基板2の表面に形成された凹凸の凸部2aと凹部2bの高低差を測定し、目標高低差との差を算出する(計測工程)。石英基板2の表面の凹部2bの底面を被い凸部2aが開口したレジスト層6を形成し、そのレジスト層6をマスクにして、前の計測工程で算出した現時点での凹凸の高低差と目標高低差との差をエッチング量の設定値として凸部2aの頂面のみをドライエッチングする(第2エッチング処理工程)。
【選択図】図1
Description
装置等に応用されている。
そこで、このような課題を解決するために複数の光源を1つのパッケージに組み込んだ光源モジュールが提案され、それによって小型化や低コスト化が図られている。
まず、透明基板上に、形成する回折格子パターンの凹凸構造の高低差に対応した膜厚のエッチング防止膜を形成し、さらにその上に回折格子パターンに対応したマスクパターンを写真製版技術等を用いて形成する。そのマスクパターンをマスクにしてエッチング防止膜をエッチングすることにより回折格子パターンに対応したエッチング防止膜からなるマスク層を形成する。エッチング防止膜上に形成されていたマスクパターンを除去し、エッチング防止膜からなるマスク層の上からそのマスク層がなくなるまでエッチングしてエッチング防止膜からなるマスク層の形状を透明基板に転写する。
同様の問題は、回折格子に限らず、微細な台形断面をもつ表面無反射構造物などの物品の製造工程でも生じている。
「許容誤差範囲」は目標高低差と公差によって決定されるものであり、目標高低差をL、公差をk(kは0<k<1を満たす定数。)とすれば、許容誤差範囲は[−kL〜+kL]と表わすことができる。
L/(1−a)≦X≦L(k+a)/(a+a2) (1)
公差がkであるから、実際に形成される凹凸構造の凸部と凹部との高低差Aは、以下の関係式(2)を満たしていなければならない。
L−kL≦A≦L+kL (2)
X−aX≦B≦X+aX (3)
である。この“B”が第1エッチング処理工程終了後の凸部形成領域と凹部形成領域との高低差となる。
X−aX≧L、すなわち、
X≧L/(1−a) (4)
の関係も成立する。
Y=B−L (5)
と表わすことができる。
B=X+aX (6)
のときに最大となる。第2エッチング処理工程で生じる最大エッチング誤差の絶対値“aY”が最大許容誤差の絶対値“kL”以下であればよいのであるから、
aY≦kL (7)
を満たせばよい。よって、上記関係式(5),(6),(7)より、
X≦L(k+a)/(a+a2) (8)
の関係が成立する。
したがって、上記関係式(4)と(8)によって関係式(1)が導出される。
本発明にかかる凹凸構造物品の製造方法の一実施例を図1を参照しながら説明する。図1は矩形断面の周期的な凹凸構造をもつ回折格子を製造する一実施例を順に示す工程断面図である。
1.031L≦X≦1.326L
となる。第1エッチング処理工程におけるエッチング量の設定値Xを上記の範囲で設定することにより、第2エッチング処理工程で凹凸構造の高低差を許容誤差範囲内にすることができる。ただし、第1エッチング処理工程のエッチング量の設定値が上記の条件を満たしている場合であっても、第2エッチング処理工程でのエッチング量が100nm以下になると絶対量が小さすぎてエッチング誤差±3%以内の加工を実現できなくなるので、第2エッチング処理工程でのエッチング量は加工制御性が良い100nm以上に設定する必要がある。なお、この実施例では、凹凸構造の目標高低差Lを2680nmとし、第1エッチング処理工程において目標高低差Lよりも1割程度大きい高低差をもつ凹凸構造が形成されるようなエッチング量Xを設定してドライエッチングし、第2エッチング処理工程では、第1エッチング処理工程で形成された凹凸構造の高低差を目標高低差Lに近づけるようにエッチングするようにした。
その詳細について以下に説明する。
(A)石英基板2の表面にレジスト層4を形成する(図1(A)を参照。)。レジスト層4を形成するためのレジスト材料として、市販のフォトレジスト材料(例えばTGMR−950(東京応化工業株式会社の製品))を用いた。レジスト層4は4μmの厚さになるように塗布する。次にレジスト層4を塗布した石英基板2をホットプレート上に載せ、100℃の加熱温度にてベーク時間240秒でプリベークした。
上記の露光工程終了後、露光されたレジスト層を現像及びリンスすることにより、凹凸構造からなる回折格子形状のレジストパターン4aが得られた。次いで、石英基板2を紫外線硬化装置の真空槽内にセットし、240秒間、真空引きをしながら紫外線照射を実施して、レジスト層のハードニングを行なった(図1(B)を参照。)。この操作によって、レジストの耐プラズマ性が向上し、次工程での加工に耐えられるようになる。
(C)レジストパターン4aをマスクにして異方性ドライエッチング処理を行ない、石英基板2のレジストパターン4aで覆われていない領域に凹部2bを形成する(図1(C)を参照。)。この工程では、石英基板2をRIE(Reactive Ion Etching)装置のチャンバー内に設置した後、真空度2.0×10-3Pa以下に真空排気した。その後、RIEドライエッチング装置の上部電極パワーを1000ワット、下部電極パワーを400ワットに設定し、CHF3を25sccm、Arを5sccm供給し、360秒間、異方性ドライエッチングを行なった。これにより、石英基板2の表面に凸部2aと凹部2aからなる凹凸構造が形成された。なお、このドライエッチング工程では、RIEドライエッチング装置によるエッチング量を3000nmに設定した。
(D)第1エッチング処理工程終了後の凸部2aと凹部2bの高低差Aを計測する(図1(D)を参照。)。この工程では、非接触三次元測定機を用いて凹凸の高低差を精度良く測定した。測定データは基板間でバラツキがあり、2915nm〜3080nmの範囲の高低差であった。すなわち、目標高低差2680nmよりも235nm〜400nm大きい高低差をもつ凹凸構造が形成された。第1エッチング処理工程では、エッチング量の設定値3000nmに対して−85nm〜+80nm(−2.8%〜+2.7%)のエッチングバラツキがあった。
(E)石英基板2の凹凸構造形成面にレジスト層6を形成した(図1(E)を参照。)。ここでは、レジスト層6の材料として市販のレジスト材料(例えばTGMR−950(東京応化工業株式会社の製品))を使用し、基板平坦部で1.5μmの厚さになるように塗布した。レジスト材料を塗布した石英基板2をホットプレート上に載せ、160℃の加熱温度にてベーク時間180秒でポストベークした。この操作によって、レジスト層6の耐プラズマ性が向上し、次工程での加工に耐えられるようになる。ポストベーク処理後のレジスト層6の表面は図に示されているように波形状になっている。凹凸構造の凹部2bにはレジスト溶液が溜まり易いことで凸部2aと比べると、自然とレジスト膜6が厚くなっている。この時、凹部2bには2200nm、凸部2aには800nmの厚さのレジスト層6が形成されている。
(G)凹部形成領域2bに残されたレジスト層6をドライエッチング防止膜として、石英基板2の凹凸構造形成面をドライエッチングする(図1(G)を参照。)。この工程では、石英基板2をドライエッチング加工することで、凹部2bの底面に残っているレジスト層6は凹部2b底面のエッチング防止層として機能し、凸部2aの頂面のみのエッチング加工が可能となる。
この第2エッチング処理工程は第1エッチング処理工程と同じ条件下で行なわれる。第1エッチング処理工程と同じ条件下では、石英基板2のエッチング速度はレジスト層6のエッチング速度の3倍である。すなわち、この第2エッチング処理工程において石英基板2はレジスト層6の3倍量エッチングされる。
次に、本発明の凹凸構造物品の製造方法の他の実施例を図3を参照しながら説明する。図3はこれも矩形断面をもつ凹凸構造物品である回折格子の製造方法の他の実施例を示す工程断面図である。
この実施例では、製品基板となる石英基板上に転写樹脂を塗布し、ナノインプリント法を用いてパターニングして凹凸構造を形成する。凹凸構造に対応する凹凸パターンにパターニングされた転写樹脂をマスクにして石英基板をドライエッチングすることにより、転写樹脂の形状を石英基板に転写する。この転写工程では、ドライエッチング工程を2回に分けて行ない、2回目のドライエッチングにおいて凹凸構造の目標高低差の1/10程度のエッチング量でエッチングすることでエッチング誤差を小さくし、許容誤差範囲内の高低差の凹凸構造を石英基板の表面に形成する。なお、上述した実施例1と同様に、この実施例において形成する凹凸構造の目標高低差は2680nmであり、この実施例で用いるドライエッチング装置のスペックは3%(a=0.03)であり、回折格子の凹凸構造の高低差の公差は1.1%(k=0.011)である。
以下にその方法を詳細に述べる。
(A)表面形状を形成するに当たり、樹脂転写材料として、紫外線硬化型樹脂(GRANDIC RC 8790(大日本インキ株式会社の製品))を用いた。まず、樹脂吐出装置に石英基板10をセットし、石英基板10表面の凹凸構造形成領域に0.1mgずつ紫外線硬化型樹脂12を塗布した。形成する凹凸構造の反転形状が形成された型14も同様に同装置にセットし、凹凸構造が形成された転写領域に転写樹脂12を0.1mgずつ塗布した。その後、型14に基板10を載せるようにして面合わせを行なった。この際、空気が転写領域に入り込まないようにする。面合わせを行なった型14と基板10を互いに押し付けるように自動加圧機を用いて加圧処理を施し、型14と基板10の間に挟み込まれた樹脂12に対して紫外線を照射して仮硬化を行なった。(図3(A)を参照。)。仮硬化とは、完全に硬化するエネルギーの70%程のエネルギーを与え、ある程度の硬化度を持たせることをいう。硬化の方法としては、基板10側から樹脂層の小さい範囲を露光し、その位置を少しずつずらして行なうことにより型14に形成されているパターンとは反転したパターンの状態で転写樹脂を仮硬化させた。
(B)型14と基板10の組を基板10側を上にして離型治具に設置し、基板10を型14から剥がした。これにより、基板10上には、型14の微細形状の反転パターンである凹凸構造の樹脂層16が形成された(図3(B)を参照。)。
なお、剥がされた型14は洗浄して繰り返し使用する。
(C)次に、樹脂層16が形成された基板10をECR装置のチャンバー内に設置し、そのチャンバー内を真空度2.0×10-4Pa以下に真空排気した。その後、ECR装置の設定条件を、マイクロ波パワー650ワット、下部電極RFパワー400ワット、CHF3供給量25sccm、Ar供給量5sccm、基板冷却温度−10℃として400秒間、異方性ドライエッチングを行なった。ドライエッチング装置によるエッチング量を3000nmに設定した。ドライエッチング工程終了後、樹脂転写の形状が製品基板に彫り移され、基板10の表面に凹凸構造が形成された(図3(C)を参照。)。なお、このドライエッチング工程では、凹凸構造の凸部10a上の樹脂層16がなくなるまで行なわずに途中でエッチングを終了し、残った樹脂層16を除去するようにした。残った樹脂層16の除去には、硫酸と過酸化水素水を9:1の割合で混合した液を用いて基板10を浸漬処理し、樹脂層16を分解剥離する。この剥離処理を5分実施して樹脂層16を基板10から完全に除去した。
(D)非接触三次元測定機を用いて、上記のパターン転写工程(第1エッチング処理工程)で形成された凹凸の高低差を精度良く測定した(図3(D)を参照。)。その結果、凹凸の高低差は基板間データで2915nm〜3080nmの範囲であった。これは狙いの3000nmに対して−85nm〜+80nm(−2.8%〜+2.7%)のバラツキである。すなわち、第1エッチング処理工程によって高低差が目標高低差2680nmよりも235nm〜400nm大きい凹凸が形成された。
(E)基板10の凹凸構造形成面にレジスト層18を形成した(図3(E)を参照。)。レジスト層18の材料としては、市販のレジスト材料(例えばTGMR−950(東京応化工業株式会社の製品))を使用し、基板平坦部で1.5μmの厚さになるように塗布した。レジスト材料を塗布した石英基板10をホットプレート上に載せ、160℃の加熱温度にてベーク時間180秒でポストベークした。この操作によって、レジスト層18の耐プラズマ性が向上し、次工程での加工に耐えられるようになる。このポストベーク処理後のレジスト層18の表面は図に示されているように波形状になっている。凹凸構造の凹部10bにはレジスト溶液が溜まり易いことで凸部10aと比べると、自然とレジスト膜18が厚くなっている。この時、凹部10bには2200nm、凸部形成領域10aには800nmの厚さのレジスト層18が形成されている。
(G)凹部10bに残されたレジスト層18をドライエッチング防止膜として、石英基板10の凹凸構造形成領域をドライエッチングする(図3(G)を参照。)。石英基板10をドライエッチング加工することで、凹部10bに残っているレジスト層18は凹部10b底面のエッチング防止層として機能し、凸部10aの頂面のみのエッチング加工が可能となる。第1エッチング処理工程で形成された凹凸構造の目標高低差よりも大きい高低差分のエッチングを目的に凸部10aの頂面のみのエッチング加工を行うことで、目標高低差に対して許容誤差範囲内の凹凸構造を実現する。第1エッチング処理工程で形成された凹凸構造の高低差は目標高低差2680nmに対して235nm〜400nm大きいので、この超過分を第2エッチング処理工程でドライエッチングして目標高低差に合せ込む。ドライエッチングの条件は第1エッチング処理工程と同条件とし、エッチング時間は高低差の超過分によって制御する。ドライエッチング装置による加工バラツキは±3%発生するが、この場合には235nm〜400nmのエッチング量に対する±3%の加工バラツキで済む。
本発明の凹凸構造物品の製造方法を用いて表面無反射構造物品を製造する方法の一実施例を図4を参照しながら説明する。この実施例では、厚さが0.5mmの基板の表面に周期的な凹凸構造として240nmのピッチで高さ500nmの台形断面をもつ凸部を形成する。
(A)厚さが0.5mmの石英基板20の一表面上にCr(クロム)膜22を例えば120nm程度の厚みで成膜する(図4(A)を参照。)。
(B)Cr膜22の表面全体にレジスト層を形成し、形成する凹凸構造の凹部を形成する領域のレジスト層が除去されるように電子ビーム露光装置を用いてパターニングすることにより、凹部形成領域が開口したレジストパターン24を形成する(図4(B)を参照。)。
(D)Crパターン22aをマスクにして石英基板20を異方性ドライエッチングする。ドライエッチングのエッチング量は目標としている凹凸構造の高低差500nmよりも深く、例えば600〜630nm程度エッチングされるように設定する。このときの石英基板20とCrパターン22aのエッチング選択比(石英基板20のエッチング速度/Crパターン22aのエッチング速度)は5.5である。これにより、第1エッチング処理終了後の石英基板20の一表面には、上面が平坦な円錐台形状の周期的な凸部20aが形成される(図4(D)を参照。)。
非接触三次元測定機を用いて、上記の第1エッチング処理工程で形成された凹凸の高低差を精度良く測定する。
(E)実施例1及び実施例2と同じ方法により、石英基板20表面の凹部20bの底面を被うレジスト層26をドライエッチング防止膜として形成する(図4(E)を参照。)。凸部20aの頂面のレジスト層は除去し、石英基板20を露出させる。
(F)凹部20bのレジスト層26をマスクにして凸部20aの頂面のみをドライエッチングする(図4(F)を参照。)。この実施例では、第1エッチング処理工程で目標とする500nmの高低差よりも100〜130nm深くエッチングしているので、その超過分をエッチング量としてドライエッチング装置に設定し、凹凸の高低差が目標の500nmとなるように合わせ込む。
2a,10a,20a 凸部
2b,10b,20b 凹部
4,6,18,26 レジスト層
4a,24 レジストパターン
14 紫外線硬化型樹脂
16 樹脂層
22 Cr膜
22a Crパターン
Claims (8)
- 基板の一表面に凹凸構造を形成する凹凸構造物品の製造方法であって、
前記基板表面に形成される凹凸の高低差が目標高低差よりも大きくなるように凹部形成領域をエッチングする第1エッチング処理工程と、
前記第1エッチング処理工程終了後の凹凸構造の高低差を計測し、その計測値と前記目標高低差との差を算出する計測工程と、
第1エッチング処理工程で形成された凹凸構造の凹部の底面をエッチング防止膜で被い、凸部の頂面を露出させた状態で、前記計測工程で算出した前記差をエッチング量の設定値として凸部の頂面のみをエッチングする第2エッチング処理工程と、を順に含み、
前記第1エッチング処理工程におけるエッチング量は、前記第2エッチング処理工程で生じるエッチング誤差の最大値が許容誤差範囲内となるように設定することを特徴とする凹凸構造物品の製造方法。 - 前記目標高低差をL、公差をk(0<k<1)、エッチング装置のスペックをa(0<a<1)とした場合の前記第1エッチング処理工程におけるエッチング量Xを以下の関係式を満たすように設定する請求項1に記載の凹凸構造物品の製造方法。
L/(1−a)≦X≦L(k+a)/(a+a2) - 前記第1エッチング処理工程及び前記第2エッチング処理工程において前記基板に対して行なうエッチングはドライエッチングである請求項1又は2に記載の凹凸構造物品の製造方法。
- 前記基板はシリコン基板であり、前記第1エッチング処理工程及び前記第2エッチング処理工程において前記基板に対して行なうエッチングはドライエッチング又はウェットエッチングである請求項1に記載の凹凸構造物品の製造方法。
- 前記第1エッチング処理工程では、矩形断面をもつ凹凸パターンのエッチング防止膜を前記基板の前記一表面上に形成し、そのエッチング防止膜をマスクにして異方性エッチングすることにより、前記一表面に矩形断面をもつ凹凸構造を形成する請求項1から4のいずれか一項に記載の凹凸構造物品の製造方法。
- 前記凹凸構造物品は透明基板の一表面に矩形断面の周期的な凹凸構造である請求項5に記載の凹凸構造物品の製造方法。
- 前記第1エッチング処理工程では、前記基板の前記一表面全体にエッチング防止膜を形成し、さらにその上に前記エッチング防止膜に対して選択性のある、前記凹凸構造の凹部を形成する領域に開口部をもつマスクパターンを形成し、そのマスクパターンをマスクにして前記エッチング防止膜を等方性エッチングして前記基板の前記一表面上に台形断面をもつエッチング防止膜パターンを形成し、そのエッチング防止膜パターンをマスクにして前記基板を異方性エッチングし、前記基板の前記一表面に台形断面をもつ凹凸構造を形成する請求項1から4のいずれか一項に記載の凹凸構造物品の製造方法。
- 前記凹凸構造物品は透明基板の一表面に台形断面の周期的な凹凸構造をもつ表面無反射構造物品である請求項7に記載の凹凸構造物品の製造方法。
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