JP2008267965A - 圧力センサ装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】機能診断をより精度良く行うことができる圧力センサ装置を提供する。
【解決手段】 圧力センサ装置11の機能診断を行うため、定電流回路14によって圧力センサ素子12に供給する定電流値を変更可能に構成する。具体的には、定電流回路14は、基準電流Iをミラー比でm倍した定電流m・Iを圧力センサ素子12に供給し、そのミラー比mを変更可能とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、定電流回路に接続される歪ゲージブリッジ回路が、検出した圧力に応じ不平衡電圧を出力する構成の圧力センサ装置に関する。
図12は、特許文献1に開示されている半導体式加速度検出装置の構成を示すものである。センサ素子1は、4つの半導体歪ゲージ2a〜2dをブリッジ接続して構成されたブリッジ(歪ゲージブリッジ)回路からなり、歪ゲージ2a及び2bの共通接続点には定電流回路3からの定電流Isが供給され、歪ゲージ2c及び2dの共通接続点はグランドに接続されている。
歪ゲージ2b及び2dの共通接続点(電位VSP)と、歪ゲージ2a及び2cの共通接続点(電位VSM)とは、夫々増幅調整部4の入力端子に接続されており、増幅調整部4は、両接続点の電位差を増幅率Avで増幅した電圧VOUTを出力する。
VOUT=Av・(VSP−VSM)+VOFS …(1)
尚、VOFSは、増幅調整部4の回路において発生するオフセット電圧である。
また、歪ゲージ2a及び2cの共通接続点とグランドとの間には、スイッチ5及び定電流回路6の直列回路が接続されている。これらは、センサ素子1が正常に動作するか診断を行うために使用される。即ち、図13に示すように、通常動作時はスイッチ5を開き、診断時にはスイッチ5を閉じて、定電流回路6による診断用電流I_DIGを流す。電流I_DIGが流れると電位点VSP,VSMの電圧が不平衡となり、その差に応じた電圧ΔVOUTが出力されれば、センサ素子1が正常に動作していることを確認できる。この場合、電圧ΔVOUTは、歪ゲージ2の抵抗値をRsとすると(2)式で表される。
ΔVOUT=I_DIG・Rs・Av/2 …(2)
特公平6−64085号公報
しかしながら、歪ゲージの抵抗値Rsや、診断電流I_DIGは通常±20%程度独立にばらつくため、ΔVOUTは最大で±40%もばらつくことが想定され、診断精度が悪い。その結果、センサ素子1や増幅調整部4の異常検出精度も悪くなるという問題があった。
本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、その目的は、機能診断をより精度良く行うことができる圧力センサ装置を提供することにある。
請求項1記載の圧力センサ装置によれば、圧力検出機能の診断を行うため、定電流回路によって歪ゲージブリッジ回路に供給する定電流値を変更可能に構成する。従って、機能診断を行う場合は、ブリッジ回路の平衡状態を維持したまま圧力センサ装置の出力電圧を変化させることができるので、診断をより高い精度で行うことができる。
請求項2記載の圧力センサ装置によれば、定電流回路は、基準電流Iをミラー比でm倍した定電流m・Iをブリッジ回路に供給するもので、そのミラー比mを変更可能に構成される。従って、機能診断を行う場合は、ミラー比mに応じて出力電圧を変化させることができる。
請求項3記載の圧力センサ装置によれば、定電流回路に、定電流m・Iの供給経路を構成するトランジスタに対して並列に接続される1つ以上のトランジスタを備え、そのトランジスタの並列接続数を変更可能に構成する。従って、トランジスタの並列接続数に応じてミラー比mを変化させることができる。
請求項4記載の圧力センサ装置によれば、定電流回路は、設定された基準電圧を電流に変換することで基準電流Iを決定し、その基準電流Iをミラー比によりm倍した電流をブリッジ回路に供給すると共に、電圧/電流変換比を変更に構成する。斯様に構成すれば、基準電流Iの値を変更して機能診断時の出力電圧を変化させることができる。
請求項5記載の圧力センサ装置によれば、定電流回路において、基準電流Iが流れる経路を構成するトランジスタに対して直列に、電流決定用トランジスタと1つ以上の抵抗素子で構成される抵抗回路とを接続し、オペアンプが、与えられる基準電圧に応じて電流決定用トランジスタを制御して基準電流Iを設定する。この場合、抵抗回路の抵抗値を変更すれば基準電流Iが変化するので、機能診断時の出力電圧を変化させることができる。
請求項6記載の圧力センサ装置によれば、定電流回路は、請求項4と同様に、設定された基準電圧を電流に変換することで基準電流Iを決定し、その基準電流Iをミラー比によりm倍した電流をブリッジ回路に供給するように構成される。その場合、基準電圧を変更可能とするので、基準電圧の変化に応じて基準電流Iを変化させ、機能診断時の出力電圧を変化させることができる。
請求項7記載の圧力センサ装置によれば、定電流回路を、請求項5と同様に、電流決定用トランジスタ,抵抗回路及びオペアンプを備えて構成する。そして、D/A変換回路に入力するデータ値を変更すれば、オペアンプの入力端子に与えられる基準電圧が変化するので、機能診断時の出力電圧を変化させることができる。
請求項8記載の圧力センサ装置によれば、加算回路は、圧力検出機能の診断を行う場合、ブリッジ回路に発生するオフセット電圧をキャンセルするための調整電圧を、不平衡電圧の増幅出力信号に対して加算する。従って、機能診断時に出力される電圧の変化分にブリッジ回路のオフセット電圧が含まれなくなるので、機能診断を一層高い精度で行うことができる。
請求項9記載の圧力センサ装置によれば、加算回路に対して調整電圧を出力するD/A変換回路の入力データ値を変更可能とするので、調整電圧をデジタルデータによって制御することができる。
請求項10記載の圧力センサ装置によれば、不平衡電圧の増幅率をAv,オフセット電圧をVs_ofs,機能診断時にブリッジ回路に供給する定電流値の変化倍率をx,加算回路の入力抵抗値及び帰還抵抗値をRi,Rfとすると、D/A変換回路より出力される調整電圧の変化分ΔVZが、
ΔVZ=Av・Vs_ofs・x・(Ri/Rf)
となるようにD/A変換回路の入力データを設定する。
即ち、機能診断時に出力される電圧の変化分ΔVOUTは、その時の圧力Pに比例した増幅出力(第1項)と、オフセット電圧Vs_ofsに変化倍率xを乗じた増幅出力(第2項)との和より、電圧ΔVZに加算回路の抵抗比(Rf/Ri)を乗じた項(第3項)を減じたものとして表される。従って、電圧ΔVZを上式のように設定すれば、第3項によって第2項を消去することができ、オフセット電圧Vs_ofsの影響をキャンセルできる。
請求項11記載の圧力センサ装置によれば、差動増幅器によって、D/A変換回路より出力される調整基準電圧VZと、ブリッジ回路のオフセット電圧を「0」と仮定した場合、D/A変換回路より出力すべき調整基準電圧VZ_TYPとの差に応じた電圧を出力するように構成し、その出力電圧を加算回路の入力端子に印加する。
この場合、機能診断時に出力される電圧の変化分ΔVOUTは、請求項10における第1項,第2項の和より、差動増幅器の出力電圧に比例した値(第3項)を減じたものとして表される。従って、差動増幅器の出力電圧を調整すれば、第3項によって第2項を消去することができ、オフセット電圧Vs_ofsの影響をキャンセルできる。
請求項12記載の圧力センサ装置によれば、差動増幅器の入力端子側の入力抵抗並びに帰還抵抗を夫々RI並びにRF,加算回路の入力端子側の入力抵抗をRIZ,機能の診断時にブリッジ回路に供給する定電流値の変化倍率をxとすると、差動増幅器の出力端子に接続される抵抗RIZDを、
RIZD=(RF・RIZ)/(RI・x)
に設定する。
この場合、差動増幅器の出力電圧は、上記差分電圧に抵抗比(RF/RI)を乗じた電圧となる。機能診断時にはこの電圧が加算回路の入力側に印加されることにより、更に抵抗比(Rf/RIZD)を乗じた電圧が、機能診断時に出力される電圧の変化分ΔVOUTから減じられるので、上記第3項は、
(第3項)=−(RF/RI)・(Rf/RIZD)
・Av・Vs_ofs・(RIZ/Rf)
=−Av・Vs_ofs・x
となる。従って、第3項により第2項を消去することができ、オフセット電圧Vs_ofsの影響をキャンセルできる。
(第1実施例)
以下、本発明の第1実施例について図1乃至図4を参照して説明する。図1は、本実施例の圧力センサ装置11の構成を示すものである。圧力センサ素子12は、図12に示すセンサ素子1と同様に、4つの半導体歪ゲージ13a〜13dをブリッジ接続して構成されたブリッジ(歪ゲージブリッジ)回路からなり、歪ゲージ13a及び13bの共通接続点には定電流回路14からの定電流Isが供給され、歪ゲージ13c及び13dの共通接続点はグランドに接続されている。尚、増幅・調整部4は、図12に示すものと同様である。
また、図1では概念的に示しているが、定電流回路14は、通常動作の場合は圧力センサ素子12に定電流Is=Is0を供給している。そして、圧力センサ装置11の機能診断(自己診断)を行う場合に、外部より自己診断信号V_DIGが与えられると、圧力センサ素子12に供給する電流Isを(Is0+ΔIs)に増加させるように構成されている。
ここで、自己診断の原理について説明する。圧力センサ装置11の出力電圧VOUTは、一般に(1.1)式のように表される。
VOUT=Av・Ks・Is0・P+VOFS …(1.1)
尚、Ksは圧力センサ素子12の感度であり、Pは圧力である。
そして、自己診断時には、圧力センサ素子12に流れる電流Isが(Is0+ΔIs)に変化するので、その際の出力電圧VOUT’は(1.2)式となる。
VOUT’=Av・Ks・(Is0+ΔIs)・P+VOFS …(1.2)
従って、出力電圧VOUT’とVOUTの差電圧ΔVOUTは(図2参照)、
ΔVOUT=Av・Ks・ΔIs・P …(1.3)
となる。
ここで、
ΔIs=Is0/n …(1.4)
となるように設定すれば、(1.3)式は、
ΔVOUT=Av・Ks・(Is0/n)・P …(1.5)
となる。従って、(Av・Ks・Is0)を、例えば図3に示すような圧力関数の傾きとなるように調整すれば、(1/n)は定電流回路14によって決定される電流比(=x:変化倍率)であり一定となるから、自己診断時の差電圧ΔVOUTは、圧力Pに比例する精度の良い電圧となる。
圧力センサ装置11は、例えば車両の側面衝突検出用のセンサなどに使用されるので、自己診断を行う場合の圧力Pは、通常大気圧に等しい。故に、差電圧ΔVOUTを、定電流の増分ΔIsに応じて定まる値として得ることが可能であり、自己診断をより高い精度で行うことができる。
図4は、定電流回路14の詳細構成を示すものである。電源VCCとグランドとの間には、PチャネルMOSトランジスタP1,NチャネルMOSトランジスタN1,抵抗素子R1の直列回路が接続されており、オペアンプOP1の反転入力端子と出力端子とは、トランジスタN1のソース,ゲートに夫々接続されている。そして、オペアンプOP1の非反転入力端子には、基準電圧VKが与えられる。
PチャネルMOSトランジスタP2,P3のソースは電源に接続され、ゲートは、トランジスタP1のゲート及びドレインに接続されてワイドラー型の二連出力形カレントミラー回路を構成している。トランジスタP3のドレインとグランドとの間には、NチャネルMOSトランジスタN3が接続されており、NチャネルMOSトランジスタN4のソースはグランドに接続され、ゲートはトランジスタN3のゲート及びドレインに接続されて、トランジスタN3,N4はカレントミラー回路を構成している。また、電源とトランジスタN4との間には、PチャネルMOSトランジスタP4が接続されている。
PチャネルMOSトランジスタP21は、トランジスタP2に並列に接続されており、PチャネルMOSトランジスタP5のソースはトランジスタP2及びP21のドレインに、ゲートはトランジスタP4のドレインに夫々接続されている。そして、トランジスタP4のゲートは、トランジスタP5のソースに接続されており、トランジスタP5のドレインより定電流Isが出力される。尚、以上の構成は、特開2006−140888号公報に開示されている定電流生成回路と同様である。
電源VCCとトランジスタP21のゲートとの間には、1対のMOSトランジスタP11及びN11からなるアナログスイッチ15が接続され、トランジスタP1のゲートとトランジスタP21のゲートとの間には、同様に1対のMOSトランジスタP12及びN12からなるアナログスイッチ16が接続されている。そして、トランジスタP11及びN12のゲートはNOTゲート17の入力端子側に接続され、トランジスタN11及びP12のゲートはNOTゲート17の出力端子側に接続されており、NOTゲート17の入力端子に自己診断信号V_DIGが与えられるようになっている。
次に、定電流回路14の詳細動作について説明する。圧力センサ装置11を通常動作させる場合、自己診断信号V_DIGはロウレベルでありアナログスイッチ15,16がON,OFFであるから、トランジスタP21のゲートは電源VCCに接続されてトランジスタP21はOFFになる。この場合、トランジスタP1のドレイン電流IP1は、オペアンプOP1のオフセット電圧を無視すると、
Figure 2008267965
となる。
そして、トランジスタP1,P2の電流ミラー比をmとすると、定電流Isは、
Figure 2008267965
即ち、Is=m・VK/R1となる。ミラー比mは、トランジスタP1のゲート幅,ゲート長をW1,L1とし、トランジスタP2のゲート幅,ゲート長をW2,L2とすれば、
Figure 2008267965
で表される。
一般に、定電流回路では、トランジスタP1,P2の特性の相対精度を高めるため、L1=L2に設定し、ゲート幅がW1,W2よりも小さい単位トランジスタを複数個並列に接続してトランジスタP1,P2を構成する。また、トランジスタP3〜P5やトランジスタN1,N2は、電流ミラー比の変動を抑制するために配置されている。即ち、圧力センサ素子12の抵抗値が変化すると、トランジスタP5のソース−ドレイン間電圧は変化するが、トランジスタP2のソース−ドレイン間電圧は変化しないので、電流ミラー比mは一定に維持されるようになっている。
一方、圧力センサ装置11について自己診断を行う場合、自己診断信号V_DIGはハイレベルとなり、アナログスイッチ15,16がOFF,ONとなるから、トランジスタP21のゲートがトランジスタP1のゲートに接続されて、トランジスタP21はONする。従って、トランジスタP21を介してドレイン電流IP21が流れる分だけ、圧力センサ素子12に供給される電流が増加する(ΔIs)。トランジスタP21のゲート幅,ゲート長をW21,L21とすると、電流の増分ΔIsは、
Figure 2008267965
となり、電流Is0,ΔIsの比nは、(1.7)式(但し、IsをIs0に置き換える),(1.8)式より
Figure 2008267965
となる。即ち、電流比nは、トランジスタP2,P21のサイズ比によって決まるので、一定である。
以上のように本実施例によれば、圧力検出機能の診断を行うため、定電流回路14によって圧力センサ素子12に供給する定電流値を変更可能に構成する。従って、自己診断を行う場合は、圧力センサ素子12の平衡状態を維持したまま、圧力センサ装置11の出力電圧を変化させることができるので、診断をより高い精度で行うことができる。
そして、定電流回路14は、基準電流Iをミラー比でm倍した定電流m・Iを圧力センサ素子12に供給し、そのミラー比mを変更可能に構成されるので、自己診断を行う場合は、ミラー比mを(1+1/n)倍に変更して出力電圧VOUTをVOUT’に変化させることができる。具体的には、定電流回路14に、定電流m・Iの供給経路を構成するトランジスタP2に対して並列に接続されるトランジスタP21を備え、トランジスタP21の接続状態を変更することで、ミラー比mを変更することができる。
(第2実施例)
図5は本発明の第2実施例を示すものであり、第1実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分について説明する。第2実施例の圧力センサ装置18は、第1実施例の定電流回路14に替えて定電流回路19を使用する。定電流回路19は、定電流回路14よりトランジスタP21,アナログスイッチ15,16及びNOTゲート17を削除して、抵抗素子R1とグランドとの間に抵抗素子R3を挿入し、その抵抗素子R3に、抵抗素子R2とNチャネルMOSトランジスタN2との直列回路を並列接続して構成されている。そして、自己診断信号V_DIGは、トランジスタN2のゲートに与えられる。
次に、第2実施例の作用について説明する。圧力センサ装置18を通常動作させる場合、自己診断信号V_DIGはロウレベルであるから、トランジスタN2はOFFとなる。従って、この時、圧力センサ素子12に供給される電流Is0は、
Figure 2008267965
となる。
一方、圧力センサ装置18を自己診断する場合、自己診断信号V_DIGはハイレベルであるから、トランジスタN2はONになり、抵抗素子R3に抵抗素子R2が並列接続される。この時、トランジスタN2のオン抵抗は十分小さいので無視すると、トランジスタP2のドレイン電流はΔIs増加することになり、
Figure 2008267965
となる。従って、電流増分値ΔIsは、(2.1)式,(2.2)式より
Figure 2008267965
となる。
そして、通常動作時と自己診断時との電流比nは、(2.1)式,(2.3)式より
Figure 2008267965
となり、抵抗素子R1〜R3の抵抗比によって決まるので一定である。
以上のように第2実施例によれば、定電流回路19は、基準電流Iを、設定された基準電圧VKを電流に変換して決定すると共に、電圧/電流変換比を変更可能としたので、その変換比を変更して基準電流Iの値を変化させ、出力電圧VOUTを自己診断時にはVOUT’に変化させることができる。
具体的には、基準電流Iが流れる経路を構成するトランジスタP1に対して直列に、電流決定用トランジスタN1と抵抗素子R1,R3で構成される抵抗回路とを接続し、抵抗素子R3に、抵抗素子R2を並列接続するか否かにより抵抗回路の抵抗値を変更して基準電流Iを変化させ、自己診断時に出力電圧をVOUT’に変化させることができる。
(第3実施例)
図6は本発明の第3実施例を示すものであり、第1,第2実施例と異なる部分について説明する。第3実施例の圧力センサ装置20は、第2実施例の定電流回路19より抵抗素子R2とトランジスタN2との直列回路を削除して、抵抗素子R3を抵抗素子R2に置き換え、第1実施例で使用したアナログスイッチ15,16の一端を、オペアンプOP1の反転入力端子に共通に接続し、アナログスイッチ15の他端をトランジスタN1のソースに、アナログスイッチ16の他端を抵抗素子R1,R2の共通接続点に接続している。また、アナログスイッチ15,16とNOTゲート17との接続関係は、第1実施例と同様である。以上が、定電流回路21を構成している。
次に、第3実施例の作用について説明する。圧力センサ装置20を通常動作させる場合、自己診断信号V_DIGはロウレベルでアナログスイッチ15,16がON,OFFであるから、オペアンプOP1の反転入力端子はトランジスタN1のドレインに接続される。従って、この場合、圧力センサ素子12に供給される電流Is0は、
Figure 2008267965
となる。
そして、自己診断時には、アナログスイッチ15,16のON,OFFが逆になるため
オペアンプOP1の反転入力端子は抵抗素子R1,R2の共通接続点に接続される。従って、この場合、圧力センサ素子12に供給される電流は、
Figure 2008267965
となるから、電流の増分ΔIsは、(3.1)式,(3.2)式より
Figure 2008267965
となる。更に、通常動作時と自己診断時との電流比nは、(3.1)式,(3.3)式より
Figure 2008267965
となり、抵抗素子R1,R2の抵抗比によって決まるので一定である。
以上のように第3実施例によれば、定電流回路21は、基準電流Iが流れる経路を構成するトランジスタP1に対して直列に、トランジスタN1と抵抗素子R1,R2で構成される抵抗回路とを接続し、アナログスイッチ15,16のON,OFFにより、オペアンプOP1の反転入力端子を抵抗素子R1の上端側,抵抗素子R1及びR2の共通接続点との何れに接続するかでオペアンプOP1による電圧/電流変換比を変更する。それにより基準電流Iを変化させ、自己診断時に出力電圧をVOUT’に変化させることができる。
(第4実施例)
図7及び図8は本発明の第4実施例を示すものであり、第1実施例と異なる部分について説明する。第4実施例の圧力センサ装置22は、第1実施例の定電流回路14よりトランジスタP21,アナログスイッチ15,16及びNOTゲート17を削除して、オペアンプOP1の非反転入力端子に与える基準電圧VKを変化させるため、EPROM23,加算器24及びD/A変換回路(DAC_K)25を備えている。
EPROM23には、通常動作時に使用する調整データDK0と、自己診断時に使用するための調整データDKDとが予め記憶されており、これらのデータは、加算器24に常時出力されている。加算器24には自己診断信号V_DIGが与えられ、加算器24は、通常動作時には出力データDKとしてDK0を出力し、自己診断時には出力データDKとして(DK0+DKD)を出力するようになっている。そして、D/A変換回路25は、加算器24より出力されるデータDKをD/A変換した電圧VKを、オペアンプOP1に出力する。以上が、定電流回路26を構成している。
次に、第4実施例の作用について図8も参照して説明する。図8は、D/A変換回路25のD/A変換特性であり、加算器24が出力データDK=DK0を出力する場合、D/A変換回路25の出力電圧VK0は、D/A変換回路25のビット数を2のDN_K乗とすると、(4.1)式となる。
Figure 2008267965
また、自己診断時における出力データDKの変化分はDKDであるから、D/A変換回路25の出力電圧の変化分をΔVKとすると、
Figure 2008267965
となる。
そして、通常動作時と自己診断時との電流比nは、
Figure 2008267965
となるから、(4.1)式,(4.2)式の比となり、D/A変換回路25の出力電圧比によって決まるので一定である。
以上のように第4実施例によれば、定電流回路26は、オペアンプOP1に与える基準電圧VKを、D/A変換回路25に入力するデータによって変化させるので、基準電圧VKの変化に応じて基準電流Iを変化させ、自己診断時の出力電圧をVOUT’に変化させることができる。
(第5実施例)
図9及び図10は、本発明の第5実施例を示すものである。第5実施例では、第1〜第4実施例のような定電流回路を用いた構成に、圧力センサ素子12が有しているオフセット電圧をキャンセルする構成を加える。先ず、圧力センサ素子12のオフセット電圧と、圧力特性との関係について、図9を参照して説明する。
圧力P=0の場合、圧力センサ素子12の出力電圧(VPS−VSM)をVs_ofsとする。第1〜第4実施例ではVs_ofsは十分小さいと想定して無視したが、一般にVs_ofs≠0であり、それによって自己診断時の差電圧ΔVOUTがばらつく場合がある。Vs_ofs=0を仮定すると、通常時(Is=Is0)は破線で示す直線の傾きが、自己診断時(Is=Is0+ΔIs)には実線で示す傾きに変化するので、差電圧ΔVOUTは両者の差に比例する。例えば、P=100kPaの場合は、図中に(↑)で示す差電圧を増幅したものとなる。
Vs_ofs>0の場合、圧力センサ素子12の単位電流当たりの感度が上記のケースと同じであるとすれば、Vs_ofsの絶対値は圧力センサ素子12のゲージ抵抗Rsのばらつきに起因するため、供給される電流Isに比例すると考えて良い。従って、自己診断時の特性は、通常時の特性に対し、Vs_ofs=0の場合よりも上方側にシフトする。その結果、同じ圧力P=100kPaの場合の差電圧は、Vs_ofs=0の場合よりも大きくなる。
逆に、Vs_ofs<0の場合、自己診断時の特性は、通常時の特性に対し、Vs_ofs=0の場合よりも下方側にシフトする。その結果、同じ圧力P=100kPaの場合の差電圧は、Vs_ofs=0の場合よりも小さくなる。すると、圧力Pが低い場合には、ΔVOUTが0又は負になってしまうことがあり、自己診断ができなくなる。
ここで、Vs_ofsとVOUTとの関係を、数式により説明する。オフセット電圧Vs_ofsを考慮すると、VOUTの式は(1.1)式より、
VOUT=Av・(Ks・Is0・P+Vs_ofs)+VOFS …(5.1)
=Av・Ks・Is0・P+Av・Vs_ofs+VOFS …(5.2)
となる。
(5.2)式より、圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsにより第2項が存在するので、回路のオフセット電圧VOFSを調整して第2項を消去することを考える。自己診断時の出力電圧VOUT’は、(1.2)式より、
Figure 2008267965
(5.2)式、(5.3)式より、差電圧ΔVOUTは、
Figure 2008267965
となり、差電圧ΔVOUTは(5.5)式の第2項分だけずれる。
図10は、第6実施例の圧力センサ装置31の回路構成を示すもので、例えば、第1実施例における増幅・調整部4を、増幅・調整部32に置き換えたものである。圧力センサ素子12において、歪ゲージ13b及び13dの共通接続点(VSP)は、オペアンプOP2の非反転入力端子に接続されており、オペアンプOP2の出力端子は、抵抗素子RF1,RI1の直列回路を介して基準電圧Vrefに接続されている。そして、抵抗素子RF1,RI1の共通接続点は、オペアンプOP2の反転入力端子に接続されている。
また、オペアンプOP2の出力端子は、抵抗素子RI2,RF2の直列回路を介してオペアンプOP3の出力端子に接続されており、抵抗素子RI2,RF2の共通接続点は、オペアンプOP3の反転入力端子に接続されている。オペアンプOP3の非反転入力端子は、歪ゲージ13a及び13cの共通接続点(VSM)に接続されている。そして、オペアンプOP3の出力端子は、抵抗素子RI3を介してオペアンプOP4の反転入力端子に接続されており、オペアンプOP4の非反転入力端子は、基準電圧Vrefに接続されている。尚、オペアンプOP2,OP3に接続される抵抗素子は、RI1=RF2,RF1=RI2となるように設定されている。
オペアンプOP4の反転入力端子は、抵抗素子RF3を介して自身の出力端子に接続されていると共に、抵抗素子RIZを介してD/A変換回路33の出力端子に接続されている。D/A変換回路33に対する入力データは、第4実施例と同様なEPROM34,加算器35を介して与えられる。即ち、オペアンプOP4と、抵抗素子RI3,RF3,RIZとは、加算回路36を構成している。
EPROM34には、通常動作時に使用する調整データDZ0と、自己診断時に使用するための調整データDZDとが予め記憶されており、これらのデータは、加算器35に常時出力されている。加算器35には自己診断信号V_DIGが与えられ、加算器35は、通常動作時には出力データDZとしてDZ0を出力し、自己診断時には出力データDZとして(DZ0+DZD)を出力するようになっている。そして、D/A変換回路33は、算器35より出力されるデータDZをD/A変換した電圧VZを、オペアンプOP4に出力する。
次に、第5実施例の作用について説明する。オペアンプOP2,OP3で構成される差動増幅器37の出力電圧VDIFは、
Figure 2008267965
となる。そして、出力電圧VOUTは、D/A変換回路33の出力電圧をVZ0とすると
Figure 2008267965
となる。(5.8)式に(5.7)式を代入して整理すると、
Figure 2008267965
この場合、ゲインAvは、
Figure 2008267965
となる。
次に、自己診断時の出力電圧VOUT’を計算する。自己診断時の差動増幅器37の出力電圧VDIF’は、
Figure 2008267965
出力電圧VOUT’は、D/A変換回路33の出力電圧を(VZ0+ΔVZ)とすると、
Figure 2008267965
(5.12)式に(5.11)式を代入すると、
Figure 2008267965
(5.13)式と(5.9)式より、差電圧ΔVOUTは、
Figure 2008267965
となる。従って、
Figure 2008267965
となるように設定すれば、
Figure 2008267965
となり、ΔVOUTは、圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsに影響されなくなる。
次に、ΔVZ(DZD)を決定する方法について説明する。圧力関数を定める電圧VKを決定した後、先ず、差電圧ΔVOUTの狙い値を決定する。
(1)ΔVOUTの狙い値決定
調整誤差を除けば、圧力関数は図3に示すように設定され、その傾きは(Av・Ks・Is0)である。そして、電流比1/nも、定電流回路において決定される一定値であるから、圧力Pを決めれば、(5.16)式よりΔVOUTは決まる。
(2)ΔVZ(DZD)の決定
それから、圧力Pの雰囲気内において、例えば2分探査法等を使用し、ΔVOUTの測定値が(1)で決定した狙い値となるようにデータDZDを変化させて、ΔVZを決定する。
図3に示すように、大気圧が測定範囲である場合は、圧力センサ装置31を密閉した容器に閉じ込める必要がなく、大気圧中でΔVZ(DZD)を調整できるので、調整を短時間で行なうことができる。その場合、(1)では気圧計によって大気圧を測定し、その測定値により差電圧ΔVOUTの狙い値を決定すれば良い。
また、D/A変換器33の入力データと出力電圧との関係は、(4.1)式と同様の式によるが、圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsの極性は、図9に示すように正,負の何れかとなる。従って、データDZDについては、2の補数により表現する。即ち、自己診断時において、加算器35を、
データDZDの最上位ビットが「0」の場合:DZ=DZ0+DZD
データDZDの最上位ビットが「1」の場合:DZ=DZ0+DZD−2bitとするように動作させる。但し、bit=DN_ZDは、データDZDのビット数である。これにより、
データDZDの最上位ビットが「0」の場合:DZ≧DZ0→ΔVZ≧0
データDZDの最上位ビットが「1」の場合:DZ<DZ0→ΔVZ<0
とすることができる。
以上のように第5実施例によれば、加算回路36は、圧力検出機能の診断を行う場合圧力センサ素子12に発生するオフセット電圧Vs_ofsをキャンセルするための調整電圧VZを、不平衡電圧の増幅出力信号VDIFに加算するので、自己診断時に出力される電圧の変化分ΔVOUTにオフセット電圧Vs_ofsが含まれなくなり、自己診断を一層高い精度で行うことができる。
その場合、加算器35に対して調整電圧VZを出力するD/A変換回路33に入力するデータ値を変更するので、調整電圧VZをデジタルデータによって制御することができる。そして、調整電圧の変化分ΔVZが(5.15)式で決まるようにD/A変換回路33の入力データを設定することで(5.14)式の第2項を消去して、オフセット電圧Vs_ofsの影響をキャンセルできる。
(第6実施例)
図11は、本発明の第6実施例を示すものであり、第5実施例と異なる部分のみ説明する。第6実施例では、第5実施例の圧力センサ装置31と同様に、圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsをキャンセルする構成を備えたものである。圧力センサ装置の出力電圧VOUTに現れるオフセット電圧VOFSは、(5.9)式において圧力P=0,VZ0=VZとすると、
Figure 2008267965
すると、電圧VZは、
Figure 2008267965
となる。ここで、圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsを「0」と仮定した場合のVZを、VZ_TYPとすると、
Figure 2008267965
となるから、(6.2)式は、
Figure 2008267965
と表される。即ち、(6.4)式より、調整した結果得られる電圧VZと、電圧VZ_TYPとの差を求めれば、圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsを得ることができる。
そこで、第6実施例では、自己診断時において、差動増幅器37の出力電圧VDIFに圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsに比例した電圧を加えることにより、差電圧ΔVOUTに含まれるオフセット電圧Vs_ofsの影響をキャンセルする。
尚、VZ_TYPは、以下のようにして決定される。先ず、圧力関数が決まれば、(1.1)式よりVOFSが計算できる。そして、圧力センサ素子12のオフセット電圧が「0」であると仮定すれば、(6.3)式にVOFS並びに各回路定数を代入すれば、VZ_TYPが得られる。
図11において、加算器35は削除されており、EPROM34に替わるEPROM38には、通常動作時に使用する調整データDZ(調整電圧VZに相当)のみが記憶されている。そして、D/A変換回路33の出力端子と、オペアンプOP4の反転入力端子との間には、オペアンプOP5で構成される差動増幅器39が挿入されており、オペアンプOP5の出力端子は抵抗素子RIZD,及び自己診断時にONとなるスイッチS2を介してオペアンプOP4の反転入力端子に接続されている。
また、D/A変換回路33の出力端子は、抵抗素子RI4_2を介してオペアンプOP5の非反転入力端子に接続され、更に、非反転入力端子に抵抗素子RF4_2を介して基準電圧Vrefが与えられている。オペアンプOP5の出力端子は、抵抗素子RF4_1を介して自身の反転入力端子に接続され、更に、その反転入力端子には、基準電圧VXが抵抗素子RI4_1を介して与えられており、基準電圧VXは、VZ_TYPに設定されている。また、差動増幅器39を構成する抵抗素子の抵抗値は、RI4_1=RI4_2,RF4_1=RF4_2となるように設定されている。以上が増幅・調整部40を構成しており、他の構成部と合わせて圧力センサ装置41を構成している。
次に、第6実施例の作用について説明する。差動増幅器39の出力電圧VZDは、
Figure 2008267965
となる。そして、自己診断時にはスイッチS2がONするので、上記出力電圧VZDが抵抗素子RIZDを介してオペアンプOP4の反転入力端子に印加される。ここで、抵抗素子RIZDは、
Figure 2008267965
となるように設定されている。自己診断時における圧力センサ装置41の出力電圧VOUT’は、
Figure 2008267965
となる。(6.7)式に(5.11)式を代入して整理すると、
Figure 2008267965
(5.9)式(但し、VZ0をVZに置き換える)を使用すると、ΔVOUTは、
Figure 2008267965
(6.9)式に(6.4)〜(6.6)式を代入して整理すると、
Figure 2008267965
となる。従って、差電圧ΔVOUTは、圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsに影響を受けなくなる。
以上のように第6実施例によれば、差動増幅器39によって、D/A変換回路33より出力される調整基準電圧VZと、圧力センサ素子12のオフセット電圧Vs_ofsを「0」と仮定した場合、D/A変換回路33より出力すべき調整基準電圧VZ_TYPとの差に応じた電圧を出力するように構成し、その出力電圧VZDを、加算回路36を構成するオペアンプOP4の反転入力端子に印加するようにした。そして、差動増幅器39の出力端子と、オペアンプOP4の反転入力端子との間に挿入される抵抗素子RIZDの抵抗値を(6.6)式により決定し、差動増幅器39の出力電圧VZDを調整することで、(6.9)式の第2項を消去してオフセット電圧Vs_ofsの影響をキャンセルできる。
本発明は上記し且つ図面に記載した実施例にのみ限定されるものではなく、以下のような変形または拡張が可能である。
第1〜第4実施例の構成を適宜組み合わせて実施しても良い。
第5,第6実施例を、第2〜第4実施例に適用しても良い。
第1実施例において、トランジスタP2に並列接続するトランジスタを「2」以上としても良い。
第2,第3実施例において、抵抗回路を構成する抵抗素子数をより多くしても良い。
定電流回路を構成するMOSトランジスタは、適宜バイポーラトランジスタに置き換えても良い。
自己診断時に、定電流を減少させるように変化させても良い。
本発明の第1実施例であり、圧力センサ装置の構成を示す図 自己診断を行う場合のタイミングチャート 圧力関数を示す図 定電流回路の詳細構成を示す図 本発明の第2実施例を示す図4相当図 本発明の第3実施例を示す図4相当図 本発明の第4実施例を示す図4相当図 D/A変換回路の変換特性を示す図 本発明の第5実施例を示す圧力センサ素子のオフセット電圧を説明する圧力特性図 図1相当図 本発明の第6実施例を示す図1相当図 従来技術を示す図1相当図 図2相当図
符号の説明
図面中、4は増幅・調整部、11は圧力センサ装置、12は圧力センサ素子(歪ゲージブリッジ回路)、18は圧力センサ装置、19は定電流回路、20は圧力センサ装置、21は定電流回路、22は圧力センサ装置、25はD/A変換回路、31は圧力センサ装置、32は増幅・調整部、33はD/A変換回路、36は加算回路、39は差動増幅器、41は圧力センサ装置、OP1〜OP5はオペアンプ,R1〜R3,RI3,RF3,RI4,RF4,RIZ,RIZDは抵抗素子、N1はNチャネルMOSFET(電流決定用トランジスタ)を示す。

Claims (12)

  1. 定電流回路に接続され、検出した圧力に応じて不平衡電圧を出力するように構成される歪ゲージブリッジ回路を備え、前記不平衡電圧を増幅して出力する圧力センサ装置において、
    圧力検出機能の診断を行うため、前記定電流回路によって前記ブリッジ回路に供給する定電流値を変更可能に構成したことを特徴とする圧力センサ装置。
  2. 前記定電流回路は、基準電流Iをミラー比によりm倍した定電流m・Iを前記ブリッジ回路に供給すると共に、前記ミラー比mを変更可能に構成されることを特徴とする請求項1記載の圧力センサ装置。
  3. 前記定電流回路は、前記定電流m・Iの供給経路を構成するトランジスタに対して並列に接続される1つ以上のトランジスタを備え、前記トランジスタの並列接続数を変更可能に構成されることを特徴とする請求項2記載の圧力センサ装置。
  4. 前記定電流回路は、基準電流Iをミラー比によりm倍した電流を前記ブリッジ回路に供給すると共に、前記基準電流Iを、設定された基準電圧を電流に変換して決定し、且つ、前記電圧/電流変換比を変更可能に構成されることを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の圧力センサ装置。
  5. 前記定電流回路は、
    前記基準電流Iが流れる経路を構成するトランジスタに対して直列に接続される、電流決定用トランジスタ並びに1つ以上の抵抗素子で構成される抵抗回路と、
    前記基準電圧に応じて前記電流決定用トランジスタを制御して、前記抵抗回路に前記基準電流Iを流すように作用するオペアンプとを備え、
    前記抵抗回路の抵抗値を変更可能に構成されることを特徴とする請求項4記載の圧力センサ装置。
  6. 前記定電流回路は、基準電流Iをミラー比によりm倍した定電流m・Iを前記ブリッジ回路に供給すると共に、前記基準電流Iを、設定された基準電圧を電流に変換して決定し、且つ、前記基準電圧を変更可能に構成されることを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の圧力センサ装置。
  7. 前記定電流回路は、
    前記基準電流Iが流れる経路を構成するトランジスタに対して直列に接続される、電流決定用トランジスタ並びに1つ以上の抵抗素子で構成される抵抗回路と、
    前記基準電圧に応じて前記電流決定用トランジスタを制御して、前記抵抗回路に前記基準電流Iを流すように作用するオペアンプと、
    このオペアンプの入力端子の一方に前記基準電圧を出力するD/A変換回路とを備え、
    前記D/A変換回路に入力するデータ値を変更可能に構成されることを特徴とする請求項6記載の圧力センサ装置。
  8. 前記圧力検出機能の診断を行う場合、前記ブリッジ回路において発生するオフセット電圧をキャンセルするための調整電圧を、前記不平衡電圧の増幅出力信号に対して加算する加算回路を備えたことを特徴とする請求項1乃至7の何れかに記載の圧力センサ装置。
  9. 前記加算回路に対して前記調整電圧を出力するD/A変換回路を備え、
    前記D/A変換回路に入力するデータ値を変更可能に構成されることを特徴とする請求項8記載の圧力センサ装置。
  10. 前記不平衡電圧の増幅率をAv,前記オフセット電圧をVs_ofs,前記圧力検出機能の診断時に前記ブリッジ回路に供給する定電流値の変化倍率をx,前記加算回路の入力抵抗値及び帰還抵抗値をRi,Rfとすると、前記D/A変換回路によって出力される調整電圧の変化分ΔVZが、
    ΔVZ=Av・Vs_ofs・x・(Ri/Rf)
    に設定されるように、前記データ値を変更することを特徴とする請求項9記載の圧力センサ装置。
  11. 前記加算回路に対して調整基準電圧VZを出力するD/A変換回路と、
    前記調整基準電圧VZと、前記ブリッジ回路のオフセット電圧を「0」と仮定した場合、前記D/A変換回路より出力すべき調整基準電圧VZ_TYPとの差に応じた電圧を出力する差動増幅器とを備え、
    前記加算回路の入力端子に、前記差動増幅器の出力電圧を印加するように構成されることを特徴とする請求項8記載の圧力センサ装置。
  12. 前記差動増幅器の入力端子側の入力抵抗並びに帰還抵抗を夫々RI並びにRF,前記加算回路の入力端子側の入力抵抗をRIZ,前記圧力検出機能の診断時に前記ブリッジ回路に供給する定電流値の変化倍率をxとすると、前記差動増幅器の出力端子に接続される抵抗RIZDを、
    RIZD=(RF・RIZ)/(RI・x)
    に設定することを特徴とする請求項11記載の圧力センサ装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017040613A (ja) * 2015-08-21 2017-02-23 株式会社タニタ 重量計
US9784632B2 (en) 2013-09-30 2017-10-10 Denso Corporation Sensor signal detection device
JP2021018075A (ja) * 2019-07-17 2021-02-15 株式会社デンソー センサ装置
WO2022169075A1 (ko) * 2021-02-02 2022-08-11 중앙대학교 산학협력단 오프셋 출력전압의 제거를 위한 회로 및 이를 포함하는 전자 장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0348506A (ja) * 1989-04-19 1991-03-01 Nec Corp 電流可変回路
JP2002048667A (ja) * 2000-07-31 2002-02-15 Denso Corp 力学量検出センサ
JP2004013359A (ja) * 2002-06-04 2004-01-15 Sumitomo Electric Ind Ltd 定電流回路を搭載したicチップ
JP2005285019A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Tdk Corp 基準電流発生回路及び基準電圧発生回路
JP2006322836A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Denso Corp 圧力センサ装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0348506A (ja) * 1989-04-19 1991-03-01 Nec Corp 電流可変回路
JP2002048667A (ja) * 2000-07-31 2002-02-15 Denso Corp 力学量検出センサ
JP2004013359A (ja) * 2002-06-04 2004-01-15 Sumitomo Electric Ind Ltd 定電流回路を搭載したicチップ
JP2005285019A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Tdk Corp 基準電流発生回路及び基準電圧発生回路
JP2006322836A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Denso Corp 圧力センサ装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9784632B2 (en) 2013-09-30 2017-10-10 Denso Corporation Sensor signal detection device
JP2017040613A (ja) * 2015-08-21 2017-02-23 株式会社タニタ 重量計
JP2021018075A (ja) * 2019-07-17 2021-02-15 株式会社デンソー センサ装置
WO2022169075A1 (ko) * 2021-02-02 2022-08-11 중앙대학교 산학협력단 오프셋 출력전압의 제거를 위한 회로 및 이를 포함하는 전자 장치

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