JP2008209181A - 特定ガスの分圧の検出方法、及び四重極型質量分析計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】四重極型質量分析計10を用いて、特定ガスの質量電荷比に対応するイオン電流値を測定することにより、被測定ガス中の前記特定ガスの分圧を検出する方法である。特定ガスの質量電荷比に対応する第一イオン電流値の測定値を、イオン電流値のピークが出現しない質量電荷比に対応する第二イオン電流値の測定値を用いて補正することにより、特定ガスの現実の分圧を求める。
【選択図】図2
Description
このようにすれば、第二イオン電流のばらつきが小さくなり、第一イオン電流値を良好に補正することができる。
上記範囲で規定される全圧の雰囲気下では、イオンと気体との衝突確率が高まり、これにともなって実際に測定される第一イオン電流値が大きく低下してしまう。そこで、本発明を採用すれば、第一イオン電流値を良好な値に補正することができるので、より大きな効果を得ることができる。
以下、本発明の一実施形態について図面を参照して説明する。四重極型質量分析計は、一般に真空装置のプロセス管理に用いられる。以下の実施形態では、真空装置の一例として、スパッタリングにより薄膜形成を行うスパッタリング装置を例に挙げ、本発明の四重極型質量分析計を用いることで、スパッタリング装置の真空槽(チャンバ)内に導入された分析対象ガスに含まれる様々な物質について、質量電荷比(質量数/電荷数)ごとの測定分圧を補正する方法について説明する。
図2は、四重極型質量分析計10の内部構造を示す図である。図2に示すように、四重極型質量分析計10は有底の金属製の容器11を有している。この容器11は一方が開口された円筒形状からなり、内部に質量検出部12が配置され、前記開口29側が真空槽2に取り付けられるようになっている。
したがって、四重極23の内部を通過したイオンはスリット24の小孔25に向かって飛行し、小孔25を通過してコレクタ電極27に入射する。
ところで一般に、四重極型質量分析計のイオン電流の値は圧力(全圧)に比例して増加するが、圧力が高すぎると、四重極内を飛行するイオンと気体との衝突確率が高くなり、イオンがコレクタ電極に到達しにくくなる。そのため、四重極が置かれた雰囲気中の圧力が所定値よりも高くなると、イオン電流の増加が鈍る。
図3中、直線L1は四重極型質量分析計10のイオン電流実測値を示しており、破線L2は、イオンと気体の衝突が起こらないと仮定した場合におけるイオン電流の理論値を示している。
本発明者は、鋭意研究の結果、特定ガスの質量電荷比に対応するイオン電流値(以下「第一イオン電流値」という。)の測定値を、イオン電流値のピークが出現しない質量電荷比に対応するイオン電流値(以下「第二イオン電流値」という。)の測定値を用いて補正することにより、特定ガスの現実の分圧を求めることができることを見出した。
なお、ピークが出現しない質量電荷比とは、被測定ガス中に含まれるいずれのガス成分によってもイオン電流値が大きく変動することがない(具体的には、イオン電流の変動幅が1×10−13オーダー以内)質量電荷比を意味する。ピークが出現しない質量電荷比の値としては、10も挙げることができる。
I1R=F*I1・・・(1)
この補正係数Fは、全圧PAの関数として次式で表される。
F=f0(PA)・・・(2)
一方、第二イオン電流の実測値I2は、全圧PAの関数として次式で表される。
I2=f2(PA)・・・(3)
この数式(3)をPAについて解き、数式(2)に代入すれば、FはI2の関数となる。その数式(2)を数式(1)に代入すれば、I1RはI1およびI2の関数となる。すなわち、第二イオン電流の実測値I2を用いて第一イオン電流の実測値I1を補正し、第一イオン電流の理論値I1Rを得ることができる。
なお、被測定ガス中の特定ガスの割合が異なっても、補正関数Fはほぼ同じになる。
最初に、上述した補正関数Fを、特定ガスごとに算出し、四重極型質量分析計10の演算部28に保存する。補正関数Fの算出および保存は、四重極型質量分析計10の出荷前に行うことが可能である。
次に、ピークが出現しない質量電荷比の設定を行う(S2)。具体的に本実施形態では、質量電荷比を5とした。
さらに、図3の実線に相当するグラフにおける低圧側の直線を高圧側に外挿して、図3の破線に相当するグラフを得る。
例えば、特定ガスがAr(アルゴン)の場合における補正関数Fは、次式で表される。
図6は、数式(4)に示されるイオン電流補正関数Fを示すグラフである。横軸はイオン電流値(単位;A)を示し、縦軸は補正係数を示している。
以上のようにして規定されたイオン電流補正関数Fは演算部28に保持される。
さらに、数式(4)を数式(1)に代入することにより、第一イオン電流の理論値I1Rを得るための次式が得られる。
次に、上記四重極型質量分析計10を用いてプロセスガスの測定処理を行う。以下では、Ar(アルゴン)におけるイオン電流値の実測値を補正する場合について説明する。
真空槽2内の全圧(圧力)が1Paの場合、ピークが出現しない質量電荷比に対応する第二イオン電流値は、図4から約2.0×10−13A(アンペア)となる。このとき、図6に示したイオン電流補正関数Fにおいて、イオン電流値(2.0×10−13A)に対応する係数をみると、約3.0×102となる。
この実測値に上述した補正係数を乗じて算出された補正後の第一イオン電流値は、図7の四角点で示されるように、約5.4×10−8A(アンペア)となる。一方、イオンと気体との衝突が起こらないと仮定した場合、第一イオン電流値の理論値は、図7の直線Lで示されるように、約6.0×10−8A(アンペア)となる。このように、理論値に基づく第一イオン電流(6.0×10−8A)に近い値に補正できる。なお、上記説明では全圧が1.0Paの1点の場合のみを例に挙げて説明したが、他のプロットについても同様である。よって、補正後のイオン電流値に基づいて分圧を測定することで、被測定ガスの質量分析の信頼性を向上させることができる。
また、本実施形態では真空装置としてスパッタリング装置に四重極型質量分析計を用いた場合について説明したが、本発明の四重極型質量分析計は、真空蒸着装置やCVD装置のような成膜装置の他、ドライエッチング装置や表面改質装置等の種々の真空装置に用いてもよい。
Claims (4)
- 四重極型質量分析計を用いて、特定ガスの質量電荷比に対応するイオン電流値を測定することにより、被測定ガス中の前記特定ガスの分圧を検出する方法であって、
前記特定ガスの質量電荷比に対応する第一イオン電流値の測定値を、イオン電流値のピークが出現しない質量電荷比に対応する第二イオン電流値の測定値を用いて補正することにより、前記特定ガスの現実の分圧を求めることを特徴とする特定ガスの分圧の検出方法。 - 前記ピークが出現しない質量電荷比を5とすることを特徴とする請求項1に記載の特定ガスの分圧の検出方法。
- 前記被測定ガスの、全圧が2×10−2Pa以上、1Pa以下であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の特定ガスの分圧の検出方法。
- 特定ガスの質量電荷比に対応するイオン電流値を測定し、被測定ガス中の前記特定ガスの分圧を検出する四重極型質量分析計において、
前記特定ガスの質量電荷比に対応する第一イオン電流値の測定値を、イオン電流値のピークが出現しない質量電荷比に対応する第二イオン電流値の測定値を用いて補正する補正関数を用いて、前記特定ガスの現実の分圧を求める演算部を備えることを特徴とする四重極型質量分析計。
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