JP2000329634A - 電離真空計 - Google Patents
電離真空計Info
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Abstract
の圧力を同一真空計で測定することを目的としたもので
ある。 【解決手段】 本発明は、真空中の気体分子をイオン化
するために必要な電子を供給するためのフィラメント
と、フィラメントから供給された熱電子を加速させる必
要な電位を形成するグリッド並びにイオン化された気体
の正イオンを収集するイオンコレクタより構成される電
離真空計において、前記グリッドを、ピラニ真空計にお
けるフィラメントの動作をも行えるように構成したこと
を特徴とする電離真空計により課題を解決するものであ
る。
Description
に大気圧から高真空の動作圧力範囲の広い真空計とする
ことを目的としたピラニ真空計動作を可能とした電離真
空計に関する。
置や電子デバイス製造装置では、装置の立ち上げ、メン
テナンス並びに各種プロセス条件により、大気圧から高
真空領域にかけての広範囲における圧力測定が必要にな
る。
力領域(低真空領域)ではピラニ真空計等の熱伝導真空
計に代表される気体の輸送現象に基づく真空計が用いら
れている。一方、1Pa以下の低圧力領域(高真空領
域)では、ベアードアルパート真空計(以下B−A型真
空計と呼ぶ)に代表される電離真空計が用いられてい
る。
a〜1Pa程度の高圧力領域(低真空領域)の測定に広
く用いられているピラニ真空計である。このピラニ真空
計はSUS304等の金属で構成された測定球容器2内
にフィラメント3が配置されており、測定球容器2の上
部に開口している気体導入口2aには接続フランジ2b
が設けられ、真空容器1に接続される。その真空容器1
内に残留する気体分子30を測定球容器2内に導入でき
るように構成されている。
領域では測定球容器2内に気体分子30が多量に残留す
るため、フィラメント3に通電して一定温度で発熱させ
ると気体分子30の衝突によってフィラメント3から熱
が奪われる。奪われる熱量は気体分子30の密度、即ち
測定球容器2内の圧力に比例するので、その熱量をフィ
ラメント通電パワーの変化から算出すると、測定球容器
2内の圧力測定を行うことができる。他方、図4に示す
ものは従来技術で1Pa以下の低圧力領域(高真空領
域)の測定に用いられるB−A型真空計である。
4等の金属で構成された測定球容器2内に、イオンコレ
クタ6、フィラメント3、グリッド4の三つの電極が配
置されている。測定球容器2は、上部に開口している気
体導入口2aに設けられた接続フランジ2bによって真
空容器1に接続されており、そこに残留する気体分子を
測定球容器2内に導入できるよう構成されている。低圧
力領域(高真空領域)においてグリッド4に正のグリッ
ド電圧を印加すると共に、フィラメント3を通電加熱す
ると、フィラメント3からグリッド4に向かって熱電子
が放出される。この熱電子はグリッド4に到達する前に
その近傍で往復運動をしながらグリッド4内に蓄積さ
れ、測定球容器2内に残留する気体分子と衝突し、電離
によって正電荷のイオンが生成される。
と、フィラメント3とグリッド4との間にエミッション
電流が流れるが、イオンコレクタ6にフィラメント電位
に対して負の電圧を印加しておくと、正電荷のイオンは
イオンコレクタ6で捕捉され、イオンコレクタ6にはイ
オン電流が流れ込む。各電極の印加電圧を一定電圧と
し、エミッション電流を定電流とすると、グリッド4の
近傍で往復運動をする熱電子の密度が一定になり、生成
するイオンの量が測定球容器2内の気体分子の密度、即
ち圧力に比例するので、イオンコレクタ6に流入するイ
オン電流の大きさを測定することで測定球容器2内の圧
力を測定することができる。
のようなB−A型真空計のフィラメントは、高圧力領域
(低真空領域)において、特に酸素や水分等を多量に含
む雰囲気中で高温に加熱すると、フィラメント3の細り
や焼損による断線を生じ、劣化を早めるおそれがある。
また前述のピラニ真空計では、真空容器1の内壁からの
輻射熱やフィラメント3自身の熱輻射、熱伝導による熱
損失等により、低圧力領域(高真空領域)では気体分子
が関与しない温度変化要因の影響が大きくなり、測定精
度が悪化する。
領域にかけての圧力計測は、図5に示すように一つの真
空容器1に105 Paから1Paの高圧力領域(低真
空領域)を測定するピラニ真空計球31と、1Pa以下
の低圧力領域(高真空領域)を測定する電離真空計球3
2が併設され、圧力範囲に応じて2台の真空計を使い分
けることで広範囲の圧力測定を行っていた。
示すように、真空容器1に2種類の真空計を併設しなけ
ればならず、この場合、測定球2台分の設置スペースの
確保が必要となる他、取付位置によって測定位置が異な
ることにより真空容器内の圧力を同一比較することが難
しい場合もある。
加熱されたフィラメントの動作を利用する前記2種類の
真空計(ピラニ真空計・電離真空計)は、1つの測定対
象、例えば、真空を利用した生産装置に2種類がともに
併設されることから、定期交換、または突然のフィラメ
ントの断線による交換作業は、確実に増大し、それに伴
う生産効率の低下により、総合的なコスト高につながる
という問題点を生じている。
単一測定球で大気圧から低圧力領域(高真空領域)にか
けての広範囲の圧力測定を可能とし、しかも、加熱した
フィラメントの動作を利用する2種類の真空計(ピラニ
真空計・電離真空計)を併設、もしくは併用した場合に
比べ、フィラメントの断線頻度を著しく低減させ、耐久
性を高め、長寿命で信頼性の高い真空計を提供すること
にある。
本構成要素であるグリッドを、電離真空計動作用のグリ
ッドとピラニ真空計動作用のフィラメントとして共用利
用し、単一の真空計で、電離真空計動作とピラニ真空計
動作との間の切り換えを行えるように構成して前記課題
を解決したものである。
化するために必要な電子を供給するためのフィラメント
と、フィラメントから供給された熱電子を加速させるに
必要な電位を形成するグリッド並びにイオン化された気
体の正イオンを収集するイオンコレクタより構成される
電離真空計において、前記グリッドをピラニ真空計にお
けるフィラメントの動作をも行えるように構成したこと
を特徴とする電離真空計である。
Pa〜1Pa程度の高圧力領域(低真空領域)では、前
記のような電離真空計の基本構成要素であるグリッドへ
通電し、当該グリッド表面の温度を上げ、当該グリッド
が気体分子によって奪われた熱量から圧力を測定するピ
ラニ真空計として動作させる、すなわち、電離真空計の
基本構成要素であるグリッドに、ピラニ真空計における
フィラメントの動作を行わせるのである。
作させている時の圧力測定値が、電離真空計の動作が可
能な圧力になったならば、グリッドをピラニ真空計にお
けるフィラメントとして動作させるための当該グリッド
への通電を停止し、当該グリッドを含む前記のような電
離真空計の基本構成要素である各電極に、電離真空計動
作に必要な電圧を印加し、フィラメントへの通電を行っ
て熱電子を放出させ、電離真空計動作に切り替えるので
ある。
基づいて説明する。図1は本発明の一実施形態を示し、
被測定の真空容器の一部と、これに取付けられた真空計
の要部構成を示す。
る。測定球容器2はSUS304などの金属でできた円
筒状の容器であり、フィラメント3及びグリッド4との
距離を適切に保って電子軌道を最適化するために、ほぼ
24mmの内径を持ち、接地ケーブルあるいは測定球容
器2の取り付けられる真空容器1を通じてアース電位に
保たれる。
aが開口し、前記真空容器1との接続用に接続フランジ
2bが設けられている。この接続には接続フランジ2b
を設けることなく排気管2cをOリングシールの構造に
よって真空容器1に接続することもできる。前記測定球
容器2の底からは絶縁体5によって絶縁された複数のピ
ンが測定球容器2内に導入され、真空計の各電極の支持
と動作電圧の印加が行われる。
さ約0.2mmのタングステン製のイオンコレクタ6が
グリッド4のコイルのほぼ上端面に突き出るようにピン
7に取り付けられる。このイオンコレクタ6を取り囲ん
で表面に白金がコーティングされた太さ約0.2mm、
全長約180mmのモリブデン線でコイル状に作られた
グリッド4が、ピン8a、8bで支持されている。
mmのトリアコートリジウム線を、高さ約12mmのヘ
アピン状に加工したフィラメント3が、グリッド4から
の距離が2.5mmの位置にピン9a、9bに支持され
て取り付けられている。
られている。この電気回路は、前記構造で電離真空計動
作をする際に用いられる電離真空計回路10と、電離真
空計動作に於ける電離真空計圧力表示部11、前記構造
でピラニ真空計動作をする際に用いるピラニ真空計動作
回路12とピラニ真空計圧力表示部13とからなってい
る。
ン8b間には、電離真空計動作回路10とピラニ真空計
動作回路12を切り換えるための動作切換スイッチ14
が設けられている。
ント3から熱電子を発生させるフィラメント動作用電源
16、フィラメント3から放出された熱電子を蓄積する
ためのグリッド電位電源17、グリッド4を通電加熱す
るための脱ガス用電源18、グリッド4に流入する電子
を一定量に制御するためのエミッション制御回路19及
びイオンコレクタ6とグランド間に接続されたエミッシ
ョン電流計21で構成されている。
チ22によって電離真空計動作時のみ機能するようにな
っている。前記エミッション制御回路19は、イオンコ
レクタ電流計20で計測されたコレクタ電流Iiとエミ
ッション電流計21で計測されたエミッション電流Ie
を基に、フィラメント動作用電源15にフィードバック
がかけられている。前記ピラニ真空計動作回路12は、
動作切換スイッチ14によってグリッド4と接続された
場合に機能する。
Pa程度の高圧力領域(低真空領域)では動作切換スイ
ッチ14を用いて、グリッド4をピラニ真空計動作回路
12に接続し、前記測定球容器2の上部に開口した気体
導入口2aより導入された真空容器1内に残留する気体
分子は、ピラニ真空計動作回路12により加熱されたグ
リッド4に衝突し、グリッド4より熱を奪う。奪われる
熱量は、気体分子の密度、即ち測定球容器2内の圧力に
比例するので、ピラニ真空計動作回路12でグリッド4
の温度を定温度に制御することで、グリッド投入パワー
から圧力が計測できる。この時、グリッド4の表面温度
は、大気圧雰囲気中においてグリッド4が焼損や酸化に
よる変質、焼損による断線や細りに至らない温度範囲で
通電加熱を行う。たとえば、グリッド4の表面測度を4
0℃〜50℃で定温度制御する。
力が電離真空計動作の可能な圧力に達した場合、動作切
換スイッチ14を切り換えて、グリッド4を電離真空計
動作回路10に接続する。ここで前記構成よりなる真空
計は電離真空計動作に切り替わるため、先にピラニ真空
計のフィラメントとして機能していたグリッド4は、電
離真空計のグリッドとして機能し、その他各電極には、
電離真空計動作に必要な電圧の印加並びに通電が開始さ
れる。
動作電源15からのパワー供給により、熱電子が放出さ
れる。この熱電子は、グリッドによって測定球容器2内
に蓄積されるが、この際、電子は測定球容器2内の気体
分子と衝突し、電離によって正イオンを生成しながらグ
リッド4に流入する。正イオンはイオンコレクタ6で捕
捉され、イオンコレクタ6にはイオン電流が流れ込む。
この時の圧力は、イオン電流計20で計測したイオン電
流Iiと、エミッション電流計21で計測したエミッシ
ョン電流Ieを用いて、真空の圧力P=1/S・Ii/
Ieの式より求められる。ここでSは測定球の感度であ
る。
ら高圧力領域(低真空領域)に移行する際には、電離真
空計圧力表示部11の圧力表示が電離真空計の測定上限
圧力に達した時点で、各電極への通電と電圧印加を停止
し、動作切換スイッチ14をピラニ真空計動作回路12
に切り換える。
において、ピラニ真空計動作を行った際の圧力変化に対
するグリッド4への投入パワーの変化を測定したデータ
である。測定データから、グリッド投入パワーが、約2
00mW程度変化することから大気圧から1Paにおけ
る圧力変化を測定できることがわかる。前記データにお
いて、1Pa以下でグリッド4投入パワーが一定になる
が、これはグリッド4の末端からの熱伝導損失とグリッ
ド4の表面からの熱放出損失によるものである。 前記
測定では、グリッド4の表面温度を約50℃(グリッド
抵抗値:約0.6Ω)で定温度制御を行った。すなわ
ち、本発明においては、ピラニ真空計としての動作から
電離真空計としての動作への切換は、グリッド温度を定
温度とした時のグリッド通電パワーを検出して行う構成
にすることができる。その他に、ピラニ真空計としての
動作から電離真空計としての動作への切換は、グリッド
通電電流を定電流制御とし、グリッド電圧を検出するこ
とで圧力を求めるように構成することも可能であり、ま
た、グリッド電圧を定電圧制御とし、グリッド通電電流
を検出することでも圧力を求めるように構成することも
できる。
の動作からピラニ真空計としての動作へ切り換える場合
には、電離真空計のコレクタに流れ込むイオン電流を検
出して行うように構成することができる。
としたが、本発明はグリッドが通電加熱可能な構造であ
れば、その他の電離真空計、例えばエクストラクタ型電
離真空計、または熱フィラメントを用いないコールドカ
ソードゲージ等にも同様に適用することができる。
の基本構成要素であるグリッドを、電離真空計動作用の
グリッドとピラニ真空計動作用のフィラメントとして共
用利用し、切り換えが行えるように構成したことで、大
気圧から高真空の広い圧力範囲の測定が単一測定球で行
うことができると共に、単一測定球としたことで、真空
容器への設置作業性の向上並びに測定球の設置スペース
やコストを最小に抑えられるなどの効果がある。
ィラメントに比べ耐久性があり、通電加熱可能な機能を
有するグリッドでピラニ真空計動作を行うことにより、
断線の頻度が著しく低減し長寿命化がはかられ、しか
も、測定対象に対する取り付け位置の違いから生じる圧
力差の問題も、単一測定球で広範囲の圧力領域が測定で
きるため解消され、信頼性を著しく向上させる効果があ
る。
成図。
を示す、圧力変化に対するグリッド投入パワーの変化を
測定したグラフ。
囲の測定をする場合の真空計の構成図。
Claims (1)
- 【請求項1】 真空中の気体分子をイオン化するために
必要な電子を供給するためのフィラメントと、フィラメ
ントから供給された熱電子を加速させるのに必要な電位
を形成するグリッド並びにイオン化された気体の正イオ
ンを収集するイオンコレクタより構成される電離真空計
において、前記グリッドをピラニ真空計におけるフィラ
メントの動作をも行えるように構成したことを特徴とす
る電離真空計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14197699A JP4196367B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 電離真空計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14197699A JP4196367B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 電離真空計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000329634A true JP2000329634A (ja) | 2000-11-30 |
JP4196367B2 JP4196367B2 (ja) | 2008-12-17 |
Family
ID=15304510
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14197699A Expired - Fee Related JP4196367B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 電離真空計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4196367B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008209181A (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Ulvac Japan Ltd | 特定ガスの分圧の検出方法、及び四重極型質量分析計 |
US7741852B2 (en) | 2005-05-09 | 2010-06-22 | Mori Patent Office | Ionization vacuum gauge |
JP2011508211A (ja) * | 2007-12-19 | 2011-03-10 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 冷電子増倍放出源を備える電離真空計 |
-
1999
- 1999-05-21 JP JP14197699A patent/JP4196367B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7741852B2 (en) | 2005-05-09 | 2010-06-22 | Mori Patent Office | Ionization vacuum gauge |
JP2008209181A (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Ulvac Japan Ltd | 特定ガスの分圧の検出方法、及び四重極型質量分析計 |
JP2011508211A (ja) * | 2007-12-19 | 2011-03-10 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | 冷電子増倍放出源を備える電離真空計 |
US8686733B2 (en) | 2007-12-19 | 2014-04-01 | Brooks Automation, Inc. | Ionization gauge having electron multiplier cold emission source |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4196367B2 (ja) | 2008-12-17 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080919 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121010 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131010 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |