JP2008205234A - チャックトップの高さを求める方法及びこの方法を記録したプログラム記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】チャックトップ11の上面の中心及びその上下左右の5点の理想座標面で座標値x、yを指定し、上カメラによって5点に対応するチャックトップ11の高さを計測する工程と、XY座標面の所定の象限の上記各指定座標値に対応するチャックトップ11の中心O以外の隣り合う2点A、Bの計測値がチャックトップ11の中心Oを中心として形成される円周上を変化して得られる点であるとする円錐モデルを設定する工程と、所定の象限内の任意の一点を指定し、この指定座標値、所定の座標変換式及び上記円錐モデルに基づいてチャックトップ11の任意の点の高さZを求める工程と、を備えている。
【選択図】図2
Description
X=ax+by
Y=cx+dy
Z=eX+fY
この座標変換式に、理想座標面上の指定座標値とこれらに対応するチャックトップ1の測定値を代入し、座標変換式の各係数を求めると以下のようになる。各係数を求めた後には、コンピュータにより任意のコンタクト座標値(x,y)を指定すると、コンピュータではこの座標値を座標変換式に代入して、指定コンタクト座標に対応するチャックトップ1のコンタクト座標値X、Yを求めることができ、更にこれらの座標値X、Yに基づいてコンタクト座標値Z、即ち、チャックトップ1の高さZを求めることができる。
a=XA/x0
b=XB/y0
c=YA/x0
d=YB/y0
e=(YB*ZA−YA*ZB)/(XA*YB−XB*YA)
f=−(XB*ZA−XA*ZB)/(XA*YB−XB*YA)
Z=Z1+(Z2−Z1)*(θ/90)
ここでは求めたチャックトップ11の高さは、第1象限におけるものであるが、チャックトップ11の第2〜第4象限の高さについても同様の手順で求めることができる。
11 チャックトップ
17 コンピュータ
17B プログラム記憶部
W 半導体ウエハ
Claims (6)
- プローブ装置のチャックトップで保持された被検査体の電気的特性検査を行う際に、コンピュータ上のXY座標面において上記チャックトップの上面の少なくとも中心及び左右前後の5点のXY座標値を上記コンピュータによって指定し、これらの指定座標値に対応する上記チャックトップの高さを順次測定し、上記指定座標値と上記各測定高さに基づいて上記XY座標値を上記チャックトップの上面の高さを含む座標値に変換する座標変換式を上記XY座標面の4象限それぞれについて求めた後、上記コンピュータによって上記XY座標面で指定する任意の位置に対応する上記チャックトップの上面の高さを上記各象限毎に上記座標変換式に基づいて求める方法であって、
上記コンピュータを用いて、上記XY座標面の所定の象限の上記指定座標値に対応する上記チャックトップの中心以外の隣り合う2点が上記チャックトップの中心を中心として形成される円周上を変化して得られる点であるとする円錐モデルを設定する工程と、
上記コンピュータを用いて、上記所定の象限内の任意の一点を指定し、この指定座標値、上記座標変換式及び上記円錐モデルに基づいて上記チャックトップの任意の点の高さを求める工程と、を備えた
ことを特徴とするチャックトップの高さを求める方法。 - プローブ装置のチャックトップで保持された被検査体の電気的特性検査を行う際に、コンピュータ上のXY座標面において上記チャックトップの上面の少なくとも中心及び左右前後の5点のXY座標値を上記コンピュータによって指定し、これらの指定座標値に対応する上記チャックトップの高さを順次測定し、上記指定座標値と上記各測定高さに基づいて上記XY座標値を上記チャックトップの上面の高さを含む座標値に変換する座標変換式を上記XY座標面の4象限それぞれについて求めた後、上記コンピュータによって上記XY座標面で指定する任意の位置に対応する上記チャックトップの上面の高さを上記各象限毎に上記座標変換式に基づいて求める方法であって、
上記コンピュータを用いて、上記XY座標面の所定の象限の上記指定座標値に対応する上記チャックトップの中心以外の隣り合う2点が上記チャックトップの中心を中心として形成される円周上を変化して得られる点であるとする円錐モデルを設定する工程と、
上記コンピュータを用いて、上記XY座標面の上記所定の象限内で上記チャックトップの任意の一点を指定する工程と、
上記コンピュータを用いて、上記任意の一点を示す指定座標値を上記円周に沿って回転させて上記XY座標面のX軸上及びY軸上のX座標値及びY座標値をそれぞれ求める工程と、
上記コンピュータを用いて、上記任意の指定座標に対応する上記X座標値、Y座標値及び上記座標変換式に基づいて上記X座標値及び上記Y座標値に対する上記チャックトップの高さを求める工程と、
上記コンピュータを用いて、上記チャックトップの中心と上記隣り合う2点のいずれか一点と上記任意の一点で形成する中心角を求める工程と、
上記コンピュータを用いて、上記隣り合う2点の高さの差と上記中心角の上記X軸と上記Y軸のなす角度に対する割合に基づいて上記任意の一点の高さを求める工程と、を備えた
ことを特徴とするチャックトップの高さを求める方法。 - 上記座標変換式は、X=ax+by、Y=cx+dy、Z=ex+fyであり、上記座標変換式の各係数は、上記所定の象限の上記3点の指定座標値及びこれらの指定座標に対応する上記円錐モデルの3点に基づいて算出することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のチャックトップの高さを求める方法。
- プローブ装置のチャックトップで保持された被検査体の電気的特性検査を行う際に、コンピュータ上のXY座標面において上記チャックトップの上面の少なくとも中心及び左右前後の5点のXY座標値を上記コンピュータによって指定し、これらの指定座標値に対応する上記チャックトップの高さを順次測定し、上記指定座標値と上記各測定高さに基づいて上記XY座標値を上記チャックトップの上面の高さを含む座標値に変換する座標変換式を上記XY座標面の4象限それぞれについて求めた後、上記コンピュータによって上記XY座標面で指定する任意の位置に対応する上記チャックトップの上面の高さを上記各象限毎に上記座標変換式に基づいて求める方法をプログラムとして記録した記録媒体であって、
上記プログラムによって上記コンピュータを駆動させて、
上記XY座標面の所定の象限の上記指定座標値に対応する上記チャックトップの中心以外の隣り合う2点が上記チャックトップの中心を中心として形成される円周上を変化して得られる点であるとする円錐モデルを設定する工程と、
上記所定の象限内の任意の一点を指定し、この指定座標値、上記座標変換式及び上記円錐モデルに基づいて上記チャックトップの任意の点の高さを求める工程と、を実行させる
ことを特徴とするプログラム記録媒体。 - プローブ装置のチャックトップで保持された被検査体の電気的特性検査を行う際に、コンピュータ上のXY座標面において上記チャックトップの上面の少なくとも中心及び左右前後の5点のXY座標値を上記コンピュータによって指定し、これらの指定座標値に対応する上記チャックトップの高さを順次測定し、上記指定座標値と上記各測定高さに基づいて上記XY座標値を上記チャックトップの上面の高さを含む座標値に変換する座標変換式を上記XY座標面の4象限それぞれについて求めた後、上記コンピュータによって上記XY座標面で指定する任意の位置に対応する上記チャックトップの上面の高さを上記各象限毎に上記座標変換式に基づいて求める方法をプログラムとして記録した記録媒体であって、
上記プログラムによって上記コンピュータを駆動させて、
上記XY座標面の所定の象限の上記指定座標値に対応する上記チャックトップの中心以外の隣り合う2点が上記チャックトップの中心を中心として形成される円周上を変化して得られる点であるとする円錐モデルを設定する工程と、
上記XY座標面の上記所定の象限内で上記チャックトップの任意の一点を指定する工程と、
上記任意の一点を示す指定座標値を上記円周に沿って回転させて上記XY座標面のX軸上及びY軸上のX座標値及びY座標値をそれぞれ求める工程と、
上記任意の指定座標に対応する上記X座標値、Y座標値及び上記座標変換式に基づいて上記X座標値及び上記Y座標値に対する上記チャックトップの高さを求める工程と、
上記チャックトップの中心と上記隣り合う2点のいずれか一点と上記任意の一点で形成する中心角を求める工程と、
上記隣り合う2点の高さの差と上記中心角の上記X軸と上記Y軸のなす角度に対する割合に基づいて上記任意の一点の高さを求める工程と、を実行させる
ことを特徴とするプログラム記録媒体。 - 上記座標変換式は、X=ax+by、Y=cx+dy、Z=ex+fyであり、上記座標変換式の各係数は、上記所定の象限の上記3点の指定座標値及びこれらの指定座標に対応する上記円錐モデルの3点に基づいて算出することを特徴とする請求項4または請求項5に記載のプログラム記録媒体。
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