JP2008198690A - 基板処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】位置調整作業を簡素化することが可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】 カセット位置規制部22がカセットCの外壁面に当接して、処理槽2に対するカセットCの位置を所定位置に規制する。また、処理槽位置規制部23が密閉チャンバ1の内壁面に形成された嵌合部13に嵌めあわされることによって密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置を所定位置に規制する。したがって、処理槽2とカセットCとの位置関係を調整する必要がなく、密閉チャンバ1と処理槽2との位置関係を調整する必要もない。すなわち、密閉チャンバ1と本体部101との位置関係のみを調整機構72によって調整すればよく、位置調整作業を簡素化することができる。
【選択図】図1
【解決手段】 カセット位置規制部22がカセットCの外壁面に当接して、処理槽2に対するカセットCの位置を所定位置に規制する。また、処理槽位置規制部23が密閉チャンバ1の内壁面に形成された嵌合部13に嵌めあわされることによって密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置を所定位置に規制する。したがって、処理槽2とカセットCとの位置関係を調整する必要がなく、密閉チャンバ1と処理槽2との位置関係を調整する必要もない。すなわち、密閉チャンバ1と本体部101との位置関係のみを調整機構72によって調整すればよく、位置調整作業を簡素化することができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、太陽電池、化合物半導体、液晶表示装置、レクチル等に利用されているシリコン基板、化合物半導体基板、液晶表示用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板等の基板(以下、単に「基板」という)の表面処理を行う基板処理装置に関する。
基板の製造工程においては、各種の薬液による基板表面の薬液処理や純水等の洗浄液による基板表面の洗浄処理が所定の順序で行われる。薬液処理や洗浄処理は、例えば、複数の基板を格納したカセットを処理液が貯留された処理槽内に所定時間浸漬することにより行われる(特許文献1参照)。
このような態様の基板処理装置は、例えば図6に例示するような構成を備えている。図6は、従来の基板処理装置900を基板Wと平行な平面で切断した縦断面図である。基板処理装置900においては、装置の立ち上げ時に、装置内の各部の位置調整作業を行う必要がある。
より具体的には、処理槽92とカセットCとが所定の位置関係(より具体的には、処理槽92内に設けられた処理液の吐出孔921が、カセット内に格納された複数枚の基板の間隙に位置するような位置関係)となるように厳密に位置調整する必要がある。この位置調整が不十分で、吐出孔921から吐出された処理液がカセット内に格納された基板の間にうまく注入されないと、基板に対する処理液の供給が不十分となり、処理にムラが生じてしまう。
また、処理槽92はチャンバ91内に格納されることになるが、ここでも処理槽92がチャンバ91内において所定の位置(より具体的には、処理槽92のオーバーフロー面が水平となる位置)となるように位置調整する必要がある。この位置調整が不十分で、オーバーフロー面が傾斜していると、処理槽92の各辺から均一に処理液がオーバーフローされず、処理槽92内に形成される処理液の流れが基板に対して均一ではなくなり、やはり処理にムラが生じてしまう。
また、ロボットアームRAがカセットCを処理槽92内の所定位置に載置できるように、ロボットアームRAとチャンバ91との位置関係およびロボットアームRAと処理槽92との位置関係をいずれも調整する必要がある。この位置調整が不十分であれば、ロボットアームRAがカセットCを処理槽92内の所定位置に載置することができないばかりか、ロボットアームRAがチャンバ91の外壁等と接触する可能性もある。
従来の基板処理装置900においては、所定位置に複数の調整ねじ(例えば、ロボットアームに対して位置調整された本体部901とチャンバ91との位置関係を調整する第1の調整ねじA1と、チャンバ91と処理槽92との位置関係を調整する第2の調整ねじA2と、処理槽92とカセットCの載置位置との位置関係およびロボットアームRAとカセットCの載置位置を規定するカセットガイド921との位置関係を調整する第3の調整ねじA3)を設け、各調整ねじをそれぞれ調整することによって、各構成部の位置を適正位置に規制していた。
上述の通り、位置調整の精度は基板に対する処理品質にも大きく影響する。しかも、位置調整においては複数の構成部の相対的な位置関係を同時に調整しなければならないため、高精度の位置調整には熟練の技術が必要であった。特に、処理槽92が塩化ビニル、テフロン(登録商標)、石英などから形成されており、一品一様であることも位置調整作業を困難なものとする要因の1つであった。また、位置調整作業は基板処理装置の備える処理モジュールのそれぞれに対して行わなければならず、さらに、装置の製造工場内と装置の設置場所とで計2回の位置調整作業を行わなければならないので、位置調整に要する時間は相当なものとなり、人件費等のコストも嵩み、また、立ち上げに要する期間も長期化してしまっていた。
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、位置調整作業を簡素化することが可能な基板処理装置を提供することを目的としている。
請求項1の発明は、カセットに格納された複数の基板に対する表面処理を行う基板処理装置において、内部を密閉空間にすることが可能なチャンバと、前記チャンバ内に配置され、処理液を貯留可能な処理槽と、前記処理槽内に載置された前記カセットに格納された前記複数の基板に対して処理液を供給する処理液供給部と、を備え、前記処理槽が、前記処理槽の内壁面に形成され、前記カセットの外壁面に当接して前記処理槽に対する前記カセットの位置を規制するカセット位置規制部と、前記処理槽の外壁面に形成され、前記チャンバの内壁面に当接して前記チャンバに対する前記処理槽の位置を規制する処理槽位置規制部とを備える。
請求項2の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記カセット位置規制部と前記処理槽位置規制部とが表裏一体に形成されている。
請求項3の発明は、請求項1または2に記載の基板処理装置において、前記カセット位置規制部が、前記カセットの底面に当接して前記カセットの垂直位置を規制する水平面と、前記処理槽の開口部に向けて傾斜する面であり、前記水平面からの立ち上がり辺において前記カセットの底面の側縁に当接して前記カセットの水平位置を規制する傾斜面とを備える。
請求項4の発明は、請求項1から3のいずれかに記載の基板処理装置において、前記チャンバが、前記チャンバの内壁面に形成され、前記処理槽位置規制部に嵌合する嵌合部、を備え、前記処理槽位置規制部が前記嵌合部に嵌合することによって、前記チャンバに対する前記処理槽の位置が規制される。
請求項5の発明は、請求項4に記載の基板処理装置において、前記処理槽位置規制部が、前記処理槽の外壁面に形成された凹部、を備え、前記嵌合部が、前記チャンバの内壁面に形成された凸部、を備え、前記凹部が前記凸部に嵌合することによって、前記チャンバに対する前記処理槽の位置が規制される。
請求項6の発明は、請求項1から5のいずれかに記載の基板処理装置において、前記基板処理装置の本体に対する前記チャンバの位置を調整するチャンバ位置調整部を備える。
請求項1〜6に記載の発明によれば、カセット位置規制部がカセットの外壁面に当接して、処理槽に対するカセットの位置を規制するので、処理槽とカセットとの位置関係を調整する必要がない。また、処理槽位置規制部がチャンバの内壁面に当接してチャンバに対する処理槽の位置を規制するので、チャンバと処理槽との位置関係を調整する必要がない。したがって、位置調整作業を簡素化することができる。
特に、請求項2に記載の発明によれば、カセット位置規制部と処理槽位置規制部とが表裏一体に形成されているので、処理槽の形状を単純化することが可能となる。
特に、請求項3に記載の発明によれば、処理槽の開口部に向けて傾斜する傾斜面が水平面からの立ち上がり辺においてカセットの水平位置を規制するので、チャンバ内に搬入されたカセットの水平位置が所定位置からずれていた場合であっても、傾斜面に沿わせてカセットを所定の載置位置に導くことが可能となる。
特に、請求項4,5に記載の発明によれば、処理槽の外壁に形成された処理槽位置規制部とチャンバの内壁に形成された嵌合部とが嵌めあわされるので、処理槽をチャンバに対して所定位置に規制しつつ確実に固定することができる。
〈1.構成〉
この発明の実施の形態に係る基板処理装置100の構成を、図1,図2を参照しながら説明する。図1は、基板処理装置100を基板Wと平行な平面で切断した縦断面図である。なお、図中においてはXYZ直交座標系を付している。この座標系においては、Z軸方向を鉛直方向とし、X、Y軸が水平面を規定するものとする。図1中に示されるカセットCには、複数の基板WがY方向について所定間隔をおいて起立姿勢で格納されている。図2は、基板処理装置100の備える配管や制御系の構成を示す図である。
この発明の実施の形態に係る基板処理装置100の構成を、図1,図2を参照しながら説明する。図1は、基板処理装置100を基板Wと平行な平面で切断した縦断面図である。なお、図中においてはXYZ直交座標系を付している。この座標系においては、Z軸方向を鉛直方向とし、X、Y軸が水平面を規定するものとする。図1中に示されるカセットCには、複数の基板WがY方向について所定間隔をおいて起立姿勢で格納されている。図2は、基板処理装置100の備える配管や制御系の構成を示す図である。
基板処理装置100は、密閉チャンバ1と、処理槽2と、処理液供給管3と、処理液供給系4と、廃液系5と、排気系6と、制御部7とを備える。
密閉チャンバ1は、その内部に処理槽2を収納する筐体であり、基板処理装置100の本体部101に固定される。密閉チャンバ1は、本体部11と、密閉蓋12とを備える。密閉蓋12は、スライド式開閉機構(図示省略)によって開閉可能である。密閉蓋12を開放した状態では、開放部分から本体部11内に複数の基板Wが格納されたカセットCを搬出入することができる。また、密閉蓋12の裏面には、本体部11と密閉蓋12との間を密閉する密閉シール121が取り付けられており、密閉蓋12を閉鎖した状態では、密閉チャンバ1の内部を密閉空間とすることができる。なお、密閉チャンバ1は、後述する処理槽2が密閉チャンバ1内に配置された状態において、処理槽2の外壁面と密閉チャンバ1の内壁面との距離が、5〜20mm程度となるようにサイズ設定される。また、処理槽2のオーバーフロー面と密閉蓋12の裏面との距離が20〜50mmとなるようにサイズ設定される。
密閉チャンバ1の内壁面には嵌合部13が形成されている。嵌合部13の具体的な形状については後に説明する。この実施の形態においては、密閉チャンバ1は型による加工方法(具体的には、回転成型や射出成型)によって成型される。
処理槽2は、各種の処理液を貯留する容器であり、密閉チャンバ1内に配置される。なお、本明細書において「処理液」とは、基板に対して行われる薬液・洗浄・乾燥等の各種処理に用いられる液体の総称であり、ここには各種薬液、洗浄液、乾燥用媒体等が含まれる。処理槽2の底部には注入管21が設けられている。注入管21には、Y方向について所定間隔(より具体的には、カセットCにおける基板Wの格納間隔と同程度の間隔)で複数の注入孔211が形成されている。注入管21に供給された処理液は、注入孔211から所定方向AR211に吐出される。所定方向AR211とは、処理槽2内に載置されたカセットCに格納された基板W(すなわち、カセットCによって処理槽2内に支持された基板W)に向かう方向である。処理槽2の上部は開放されており、注入孔211から吐出された処理液は処理槽2の内部を上方に向かって流れ、上部の開口から外側へオーバーフローする。処理槽2の各壁面の上端部にはノッチが形成されている。ノッチの形状は、三角形であってもよいし半円形であってもよい。また、ノッチは連続的に形成されていてもよいし、所定の間隔をおいて形成されてもよい。なお、処理槽2は、処理槽2内に支持された基板Wの上端とオーバーフロー面との距離が、5〜10mm程度となるようにサイズ設定される。
処理槽2の内壁面にはカセット位置規制部22が形成されている。また、外壁面には処理槽位置規制部23が形成されている。カセット位置規制部22および処理槽位置規制部23の具体的な形状については後に説明する。この実施の形態においては、処理槽2は型による加工方法で成型される。
処理液供給管3は、密閉チャンバ1内であって処理槽2の両側面の上方に張り渡された配管である。処理液供給管3には、Y方向について所定間隔(より具体的には、カセットCにおける基板Wの格納間隔と同程度の間隔)で複数の吐出ノズル31が取り付けられている。吐出ノズル31は、処理槽2内に載置されたカセットCに格納された基板Wに向かう方向AR31に処理液を吐出する。吐出ノズル31から吐出された処理液は処理槽2内に載置されたカセットCに格納された基板Wの表面に供給される。
処理液供給系4は、注入管21および処理液供給管3のそれぞれに、第1〜第4の処理液を選択的に供給する配管系である。ただし、第1の処理液はアルカリ性の薬液(例えば、アンモニア水および過酸化水素水の混合液)であり、第2の処理液は酸性の薬液(例えば、硫酸、ふっ化水素酸、硝酸や塩酸および過酸化水素水の混合液)であり、第3の処理液は、乾燥媒体(例えば、IPA)であるとする。また、第4の処理液は、洗浄液(例えば、純水)であるとする。
処理液供給系4は、一端が注入管21に、他端が選択バルブ431a,431b,431c,431dのそれぞれに接続された配管41を備えている。配管41には、注入バルブ411が介挿されている。また、処理液供給系4は、一端が処理液供給管3に、他端が選択バルブ431a,431b,431c,431dのそれぞれに接続された配管42を備えている。配管42には、吐出バルブ421が介挿されている。また、処理液供給系4は、一端が選択バルブ431a,431b,431c,431dのそれぞれに接続された配管43a,43b,43c,43dを備えている。配管43aの他端は第1処理液を貯留する第1処理液貯留槽435aに接続されている。また、配管43aには、配管43a内を流れる処理液中のゴミ等を取り除くフィルタ432aと、配管43aを流れる処理液を温調するヒータ433aと、第1処理液貯留槽435aに貯留された処理液を配管43aに送るポンプ434aとが介挿されている。同様に、配管43b,43c,43dの他端はそれぞれ第2処理液を貯留する第2処理液貯留槽435b、第3処理液を貯留する第3処理液貯留槽435c、第4処理液を貯留する第4処理液貯留槽435dに接続されている。また、配管43b,43c,43dのそれぞれには、フィルタ432b,432c,432dと、ヒータ433b,433c,433dと、ポンプ434b,434c,434dとが介挿されている。注入バルブ411、吐出バルブ421、選択バルブ431a,431b,431c,431dのそれぞれは、制御部7に接続されている。制御部7は、各バルブを所定のタイミングで開閉制御することによって、注入管21および処理液供給管3のそれぞれに所定のタイミングで所定の処理液(第1〜第4処理液のうちのいずれかの処理液)を供給する。
廃液系5は、密閉チャンバ1内や処理槽2内の処理液を廃液して、所定の処理液貯留槽に還流させる、もしくは排液ラインに導く配管系である。廃液系5は、一端が密閉チャンバ1の底部に設けられたドレイン弁512および処理槽2の底部に設けられたドレイン弁513に、他端が処理液貯留槽435a,435b,435cのそれぞれに接続された配管51a,51b,51cを備えている。配管51a,51b,51cのそれぞれには、廃液バルブ511a,511b,511cが介挿されている。また、一端がドレイン弁512,513に、他端が排液ラインに接続された配管51dを備えている。配管51dには、廃液バルブ511dが介挿されている。廃液バルブ511a,511b,511c,511dのそれぞれは、制御部7に接続されている。制御部7は、各バルブを所定のタイミングで開閉制御することによって、密閉チャンバ1内および処理槽2内の処理液を所定のタイミングで排液して所定の処理液貯留槽435a,435b,435cに還流する、もしくは排液ラインに導く。
排気系6は、密閉チャンバ1内の雰囲気を排気する配管系である。排気系6は、一端が密閉チャンバ1内と接続され、他端が排気ラインに接続された配管61を備えている。配管61には、排気バルブ611および排気ポンプ612が介挿されている。排気バルブ611は、制御部7に接続されている。制御部7は、排気バルブ611を所定のタイミングで開閉制御するとともに排気ポンプ612を駆動することによって、密閉チャンバ1内の雰囲気を排気する。また、密閉チャンバ1内を減圧することもできる。
〈2.位置調整に関する構成〉
〈カセット位置規制部22〉
図1を参照する。処理槽2の内壁面(より具体的には、処理槽内壁の底面部の両側)には、カセット位置規制部22が形成されている。
〈カセット位置規制部22〉
図1を参照する。処理槽2の内壁面(より具体的には、処理槽内壁の底面部の両側)には、カセット位置規制部22が形成されている。
カセット位置規制部22は、カセットCの外壁面に当接して、処理槽2に対するカセットCの位置を所定位置に規制する。所定位置とは、例えば、X方向について、カセットCが処理槽2の中央に置かれる位置である。また、Y方向について、カセットC内に起立姿勢で格納された複数の基板Wのそれぞれが、複数の吐出ノズル31の間隙に置かれると同時に複数の注入孔211の間隙に置かれる位置である。カセットCがY方向についてこのような所定位置に規制されることによって、複数の吐出ノズル31のそれぞれが吐出する処理液の流れが、カセットC内に起立姿勢で格納された複数の基板Wの間隙に入ることになる。また、Z方向について、カセットC内に格納された複数の基板Wと注入孔211とが所定距離だけ離間する位置である。
カセット位置規制部22は、水平面221と、傾斜面222とを備えている。水平面211はカセットCの底面に当接してカセットCの垂直位置を規制する。傾斜面222は、処理槽2の開口部に向けて傾斜する面(すなわち、処理槽2の中心と反対の方向に傾斜する面)であり、水平面211からの立ち上がり辺においてカセットCの底面の側縁に当接してカセットCの水平位置を規制する。なお、傾斜面222は垂直面であってもよい。この場合、傾斜面222はカセットCの側面に当接してカセットCの水平位置を規制する。
〈処理槽位置規制部23〉
処理槽2の外壁面(より具体的には、処理槽外壁の底面部の両側)には、処理槽位置規制部23が形成されている。処理槽位置規制部23は、カセット位置規制部22と表裏一体に形成されている。すなわち、カセット位置規制部22の水平面221の裏面に、後述する処理槽位置規制部23の水平面231が形成されている。
処理槽2の外壁面(より具体的には、処理槽外壁の底面部の両側)には、処理槽位置規制部23が形成されている。処理槽位置規制部23は、カセット位置規制部22と表裏一体に形成されている。すなわち、カセット位置規制部22の水平面221の裏面に、後述する処理槽位置規制部23の水平面231が形成されている。
処理槽位置規制部23は、密閉チャンバ1の内壁面(より具体的には、密閉チャンバ1の内壁面に形成された嵌合部13)に当接して、密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置を所定位置に規制する。所定位置とは、例えば、X方向について、処理槽2が密閉チャンバ1の中央に置かれる位置であり、Z方向について、処理槽2のオーバーフロー面が水平となる位置である。
処理槽位置規制部23は、水平面231と、互いに対向する2つの側面232とを備えており、全体として凹部233を形成する。この凹部233が後述する凸部133と嵌合することによって、密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置が規制される。すなわち、水平面231は密閉チャンバ1の内壁面(より具体的には、密閉チャンバ1の内壁面に形成された嵌合部13の水平面131)に当接して処理槽2の垂直位置を規制する。側面232は、密閉チャンバ1の内壁面(より具体的には、密閉チャンバ1の内壁面に形成された嵌合部13の側面132)に当接して処理槽2の水平位置を規制する。
〈嵌合部13〉
密閉チャンバ1の内壁面(より具体的には、密閉チャンバ内壁の底面部の両側)には、処理槽位置規制部23と嵌合する嵌合部13が形成されている。
密閉チャンバ1の内壁面(より具体的には、密閉チャンバ内壁の底面部の両側)には、処理槽位置規制部23と嵌合する嵌合部13が形成されている。
嵌合部13は、処理槽位置規制部23と嵌合可能な形状に形成されている。すなわち、水平面131と、互いに対向する2つの側面132とを備えており、全体として凸部133を形成する。上述した通り、処理槽位置規制部23の凹部233がこの凸部133と嵌合することによって、密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置が規制される。
〈調整機構72〉
密閉チャンバ1の外壁面(より具体的には、密閉チャンバ外壁の底面部の両側)には、凹部が形成されており、当該凹部に位置決めブロック71が嵌めあわされている。この実施の形態においては、当該凹部は、嵌合部13と表裏一体に形成されている。位置決めブロック71と本体部101との間には調整機構72が介挿されている。すなわち、密閉チャンバ1は、位置決めブロック71と調整機構72とを介して、本体部101に対して所定位置に支持されており、本体部101に対する密閉チャンバ1の位置は、調整機構72によって調整される。
密閉チャンバ1の外壁面(より具体的には、密閉チャンバ外壁の底面部の両側)には、凹部が形成されており、当該凹部に位置決めブロック71が嵌めあわされている。この実施の形態においては、当該凹部は、嵌合部13と表裏一体に形成されている。位置決めブロック71と本体部101との間には調整機構72が介挿されている。すなわち、密閉チャンバ1は、位置決めブロック71と調整機構72とを介して、本体部101に対して所定位置に支持されており、本体部101に対する密閉チャンバ1の位置は、調整機構72によって調整される。
調整機構72について図3を参照しながら説明する。図3は、調整機構72の斜視図である。調整機構72は、本体部101に対する密閉チャンバ1の位置を調整する機構であり、第1調整ねじ721と、第2調整ねじ722と、第3調整ねじ723とを備えている。
第1調整ねじ721は、位置決めブロック71を下方から突き上げ支持する。第1調整ねじ721のZ方向の位置をねじ留めによって調整することによって、本体部101に対する密閉チャンバ1のZ方向位置を調整することができる。第1調整ねじA1は、X方向およびY方向について調整機構72の天板724に対して固定されている。
第2調整ねじ722は、天板724を脚部725に対して固定する。天板724のX方向の位置を調整ねじ722で調整することによって、本体部101に対する密閉チャンバ1のX方向位置を調整することができる。
第3調整ねじ723は、脚部725を本体部101に対して固定する。脚部725のY方向の位置を調整ねじ723で調整することによって、本体部101に対する密閉チャンバ1のY方向位置を調整することができる。
〈位置調整作業〉
上述の通り、処理槽2に対するカセットCの位置は、カセット位置規制部22によって規制されるので調整の必要はない。また、密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置も、処理槽位置規制部23および嵌合部13によって規定されるので調整の必要はない。搬送ロボット(図示省略)に対するカセットCの位置は、搬送ロボットに対して(より具体的には、予め搬送ロボットに対して位置決めされた本体部101に対して)、密閉チャンバ1の位置を調整することによって行う。この位置調整は、調整機構72の調整ねじ721,722,723を調整することによって行う。
上述の通り、処理槽2に対するカセットCの位置は、カセット位置規制部22によって規制されるので調整の必要はない。また、密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置も、処理槽位置規制部23および嵌合部13によって規定されるので調整の必要はない。搬送ロボット(図示省略)に対するカセットCの位置は、搬送ロボットに対して(より具体的には、予め搬送ロボットに対して位置決めされた本体部101に対して)、密閉チャンバ1の位置を調整することによって行う。この位置調整は、調整機構72の調整ねじ721,722,723を調整することによって行う。
〈3.処理動作〉
この実施の形態に係る基板処理装置100において実行される基板処理動作を図4を参照しながら説明する。図4は、基板処理動作の流れを示す図である。
この実施の形態に係る基板処理装置100において実行される基板処理動作を図4を参照しながら説明する。図4は、基板処理動作の流れを示す図である。
はじめに、図外の搬送ロボットが、複数の未処理基板Wが格納されたカセットCを密閉チャンバ1内に搬入して、処理槽2内の所定位置に載置する(ステップS1)。カセット位置規制部22は、搬入されたカセットCの外壁面に当接して、処理槽2に対するカセットCの位置を所定位置に規制する。これによって、複数の注入孔211のそれぞれが、また、複数の吐出ノズル31のそれぞれが、カセットCに格納された複数の未処理基板Wの間に処理液を吐出可能となる。なお、カセットCに格納された複数の未処理基板Wの表面には微細な電子回路形成用パターンが形成されていてもよい。また、これらパターンの表面は金属であってもよい。カセットCが処理槽2内に搬入されると、制御部7は密閉蓋12を閉鎖して密閉チャンバ1内部を密閉空間とする。
続いて、基板Wに対する表面処理を開始する。はじめに、第1処理液による基板Wの表面薬液処理を行う(ステップS2)。表面薬液処理は、処理液を基板表面に供給することによって行われる。ステップS2の処理は、具体的には、次のように行われる。
まず、制御部7が、選択バルブ431aおよび吐出バルブ421を開放して処理液供給管3に第1処理液を供給する。すると、吐出ノズル31から基板Wに向けて第1処理液が吐出され、吐出された第1処理液の流れ(処理液のシャワー)によって基板Wに対する表面処理が実行される。制御部7は、所定時間が経過して基板Wに対する表面薬液処理が完了すると、選択バルブ431aおよび吐出バルブ421を閉じて処理液供給管3に対する第1処理液の供給を停止する。なお、制御部7は、吐出バルブ421を開放する際には廃液バルブ511aを開放しておく。したがって、吐出ノズル31から吐出された第1処理液は処理槽2内や密閉チャンバ1内に貯留せず、配管51を通って第1処理液貯留槽435aに還流する。これによって、基板Wに対する表面処理を処理液のシャワーによって実行し続けることができる。なお、密閉チャンバ1内は密閉空間とされているので、シャワー供給された薬液のミストが搬送エリアに流出することもない。
被処理基板の表面状態や、供給する処理液の種類によっては、上記のように処理液をシャワーで供給するのではなく、オーバーフローで供給してもよい。この場合、ステップS2の処理は、次のように行われる。
まず、制御部7が、選択バルブ431aおよび注入バルブ411を開放して注入管21に第1処理液を供給する。すると、注入孔211から処理槽2内に第1処理液が吐出され、これによって処理槽2内には第1処理液が貯留される。また、貯留された処理液を処理槽2の開口部からオーバーフローさせ続けることによって処理槽2内に第1処理液の流れが形成され、形成された第1処理液の流れによって基板Wに対する表面処理が実行される。制御部7は、所定時間が経過して基板Wに対する表面処理が完了すると、選択バルブ431aおよび注入バルブ411を閉じて注入管21に対する第1処理液の供給を停止する。続いて、廃液バルブ511aを開放して、処理槽2内および密閉チャンバ1内の第1処理液を第1処理液貯留槽435aに還流する。
なお、被処理基板の表面状態や、供給する処理液の種類によっては、処理液をシャワーとオーバーフローとの両方で供給してもよい。
ステップS2の処理が終了すると、続いて、基板Wの洗浄処理を行う(ステップS3)。洗浄処理は、洗浄液を基板表面に供給することによって行われる。ステップS3の処理は、具体的には、次のように行われる。
まず、制御部7が、選択バルブ431dおよび吐出バルブ421を開放して処理液供給管3に第4処理液(洗浄液)を供給する。すると、吐出ノズル31から基板Wに向けて洗浄液が吐出され、吐出された洗浄液の流れ(洗浄液のシャワー)によって基板Wに対する表面洗浄処理が実行される。これによって、基板表面に残存した第1処理液が洗い流される。制御部7は、所定時間が経過して基板Wに対する表面洗浄処理が完了すると、選択バルブ431dおよび吐出バルブ421を閉じて処理液供給管3に対する洗浄液の供給を停止する。なお、制御部7は、吐出バルブ421を開放する際には廃液バルブ511aを開放しておく。したがって、吐出ノズル31から吐出された洗浄液は処理槽2内や密閉チャンバ1内に貯留せず、配管51を通って排液される。
被処理基板の表面状態等によっては、上記のように洗浄液をシャワーで供給するのではなく、オーバーフローで供給してもよい。この場合、ステップS3の処理は、次のように行われる。
まず、制御部7が、選択バルブ431dおよび注入バルブ411を開放して注入管21に洗浄液を供給する。すると、注入孔211から吐出されて処理槽2の開口部からオーバーフローする洗浄液の流れによって基板Wに対する洗浄処理が実行される。制御部7は、所定時間が経過して基板Wに対する表面洗浄処理が完了すると、選択バルブ431dおよび注入バルブ411を閉じて注入管21に対する洗浄液の供給を停止する。続いて、廃液バルブ511aを開放して、処理槽2内および密閉チャンバ1内の洗浄液を排液する。
なお、被処理基板の表面状態等によっては、洗浄液をシャワーとオーバーフローとの両方で供給してもよい。
ステップS3の処理が終了すると、続いて、第2処理液による基板Wの表面薬液処理を行う(ステップS4)。ステップS4の処理は、ステップS2の処理と同様、被処理基板の表面状態や供給する処理液の種類に応じて決定された供給パターンで、処理液(ここでは第2処理液)を基板表面に供給することによって行われる。具体的な処理動作はステップS2において説明した通りであるが、ここでは、選択バルブ431aではなく選択バルブ431bを開閉制御する点が相違する。
ステップS4の処理が終了すると、続いて、再度、基板Wの洗浄処理を行う(ステップS5)。具体的な処理動作はステップS3において説明した通りである。ステップS5の処理が実行されることによって、基板表面に残存した第2処理液が洗い流される。
ステップS5の処理が終了すると、続いて、第3処理液による基板Wの表面乾燥処理を行う(ステップS6)。ステップS6の処理は、ステップS3の処理と同様、被処理基板の表面状態や供給する乾燥媒体の種類に応じて決定された供給パターンで、乾燥媒体(第3処理液)を基板表面に供給することによって行われる。具体的な処理動作はステップS2において説明した通りであるが、ここでは、選択バルブ431aではなく選択バルブ431cを開閉制御する点が相違する。なお、乾燥処理が終了すると、制御部7が排気バルブ611を開放するとともに排気ポンプ612を駆動制御することによって、密閉チャンバ1内の雰囲気を排気する。
以上で基板Wに対する表面処理が完了する。表面処理が完了すると、制御部7は密閉蓋12を開放する。続いて、図外の搬送ロボットが処理槽2内に載置されたカセットCを密閉チャンバ1から搬出する(ステップS7)。
〈4.効果〉
この実施の形態によれば、処理槽2の内壁に形成されたカセット位置規制部22がカセットCの外壁面に当接して、処理槽2に対するカセットCの位置を所定位置に規制する(すなわち、処理槽2の加工精度によってカセットCの位置を規制する)ので、処理槽2とカセットCとの位置関係を調整する必要がない。
この実施の形態によれば、処理槽2の内壁に形成されたカセット位置規制部22がカセットCの外壁面に当接して、処理槽2に対するカセットCの位置を所定位置に規制する(すなわち、処理槽2の加工精度によってカセットCの位置を規制する)ので、処理槽2とカセットCとの位置関係を調整する必要がない。
また、処理槽2の外壁に形成された処理槽位置規制部23が密閉チャンバ1の内壁面に当接して(より具体的には、密閉チャンバ1の内壁面に形成された嵌合部13に嵌合して)、密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置を所定位置に規制する(すなわち、処理槽2および密閉チャンバ1の加工精度によって処理槽2の位置を規制する)ので、密閉チャンバ1と処理槽2との位置関係を調整する必要がない。
すなわち、位置調整作業として必要とされるのは、密閉チャンバ1とロボットアーム(すなわち、ロボットアームに対して位置調整された本体部101)との間の位置調整作業のみとなり、位置調整作業を大幅に簡素化することができる。なお、一般に、密閉チャンバ1および本体部101はいずれも強度が高く、輸送によってもずれにくい。したがって、工場で一度位置調整作業を行えば、搬入先で再度位置調整作業を行う必要がない場合もある。
また、この実施の形態においては、処理槽2および密閉チャンバ1を型による成型方法で加工するので、製造単価を抑えることが可能となる。また、一品一様ではなくなるので、検査工程を削減することも可能となる。
また、この実施の形態によれば、嵌合部13が凸部133を備え、処理槽位置規制部23が凹部233を備え、これら凸部133と凹部233とが互いに嵌めあわされることによって、密閉チャンバ1に対する処理槽2の位置が規制されるので、処理槽2を密閉チャンバ1に対して所定位置に規制しつつ確実に固定することができる。
また、この実施の形態によれば、処理槽位置規制部23とカセット位置規制部22とが表裏一体に形成されているので、処理槽2の形状を単純化することが可能となる。
また、この実施の形態によれば、処理槽2の開口部に向けて傾斜する傾斜面222が水平面221からの立ち上がり辺においてカセットCの水平位置を規制するので、密閉チャンバ1に搬入されたカセットCの水平位置が所定位置からずれていた場合であっても、傾斜面222に沿わせてカセットCを所定の載置位置に導くことが可能となる。
また、この実施の形態によれば、1つの処理槽2において基板に対する一連の表面処理が実行される。すなわち、基板処理装置100内に設けるべき処理槽2の数が1つでよいことになる。したがって、位置調整作業も1つの処理槽に対して1回行えばよく、調整作業に要する時間を大幅に短縮することができる。
〈5.変形例〉
〈5−1.ブロックを用いた変形例〉
上記の実施の形態においては処理槽2や密閉チャンバ1は型による加工方法によって一体成型されていたが、別途成型されたブロックを埋め込む形で成形してもよい。この変形例に係る基板処理装置100aの構成について図5を参照しながら説明する。図5は、基板処理装置100aを基板Wと平行な平面で切断した縦断面図である。なお、図5においては、上記の実施の形態と同様の構成要素については同様の参照符号を付している。
〈5−1.ブロックを用いた変形例〉
上記の実施の形態においては処理槽2や密閉チャンバ1は型による加工方法によって一体成型されていたが、別途成型されたブロックを埋め込む形で成形してもよい。この変形例に係る基板処理装置100aの構成について図5を参照しながら説明する。図5は、基板処理装置100aを基板Wと平行な平面で切断した縦断面図である。なお、図5においては、上記の実施の形態と同様の構成要素については同様の参照符号を付している。
基板処理装置100aの備える処理槽2aの壁面(より具体的には、処理槽の底面部の両側)には、処理槽ブロック20aが埋め込まれている。処理槽ブロック20aの上側面にはカセット位置規制部22aが形成されている。また、処理槽ブロック20aの下側面には処理槽位置規制部23aが形成されている。
〈カセット位置規制部22a〉
カセット位置規制部22aは、カセットCの外壁面に当接して、処理槽2aに対するカセットCの位置を所定位置に規制する。カセット位置規制部22aは処理槽ブロック20aの上側面に形成された切り欠き部であり、水平面221aと、壁面222aとを備えている。この切り欠き部がカセットCと嵌めあわされることによって、処理槽2aに対するカセットCの位置が規制される。すなわち、水平面221aはカセットCの底面に当接してカセットCの垂直位置を規制する。壁面222aは、カセットCの側面に当接してカセットCの水平位置を規制する。なお、壁面222aは、処理槽2の両端部に向かって傾斜する面であってもよい。この場合、壁面222aは水平面221aからの立ち上がり辺においてカセットCの底面の側縁に当接してカセットCの水平位置を規制する。
カセット位置規制部22aは、カセットCの外壁面に当接して、処理槽2aに対するカセットCの位置を所定位置に規制する。カセット位置規制部22aは処理槽ブロック20aの上側面に形成された切り欠き部であり、水平面221aと、壁面222aとを備えている。この切り欠き部がカセットCと嵌めあわされることによって、処理槽2aに対するカセットCの位置が規制される。すなわち、水平面221aはカセットCの底面に当接してカセットCの垂直位置を規制する。壁面222aは、カセットCの側面に当接してカセットCの水平位置を規制する。なお、壁面222aは、処理槽2の両端部に向かって傾斜する面であってもよい。この場合、壁面222aは水平面221aからの立ち上がり辺においてカセットCの底面の側縁に当接してカセットCの水平位置を規制する。
〈処理槽位置規制部23a〉
処理槽位置規制部23aは、密閉チャンバ1aの内壁面(より具体的には、密閉チャンバ1aの内壁面に形成された嵌合部13a)に当接して、密閉チャンバ1aに対する処理槽2aの位置を所定位置に規制する。処理槽位置規制部23aは処理槽ブロック20aの底面231aと側面232aとから形成されている。これら各面が後述するチャンバブロック10aの上側面に形成された切り欠き部と嵌合することによって、密閉チャンバ1aに対する処理槽2aの位置が規制される。すなわち、底面231aは密閉チャンバ1aの内壁面(より具体的には、チャンバブロック10aに形成された嵌合部13aの水平面131a)に当接して処理槽2aの垂直位置を規制する。側面232aは、密閉チャンバ1aの内壁面(より具体的には、チャンバブロック10aに形成された嵌合部13aの側面132a)に当接して処理槽2aの水平位置を規制する。
処理槽位置規制部23aは、密閉チャンバ1aの内壁面(より具体的には、密閉チャンバ1aの内壁面に形成された嵌合部13a)に当接して、密閉チャンバ1aに対する処理槽2aの位置を所定位置に規制する。処理槽位置規制部23aは処理槽ブロック20aの底面231aと側面232aとから形成されている。これら各面が後述するチャンバブロック10aの上側面に形成された切り欠き部と嵌合することによって、密閉チャンバ1aに対する処理槽2aの位置が規制される。すなわち、底面231aは密閉チャンバ1aの内壁面(より具体的には、チャンバブロック10aに形成された嵌合部13aの水平面131a)に当接して処理槽2aの垂直位置を規制する。側面232aは、密閉チャンバ1aの内壁面(より具体的には、チャンバブロック10aに形成された嵌合部13aの側面132a)に当接して処理槽2aの水平位置を規制する。
〈嵌合部13a〉
基板処理装置100aの備える密閉チャンバ1aの壁面(より具体的には、密閉チャンバの底面部の両側)には、チャンバブロック10aが埋め込まれている。チャンバブロック10aの上側面には、処理槽位置規制部23aと嵌合する嵌合部13aが形成されている。
基板処理装置100aの備える密閉チャンバ1aの壁面(より具体的には、密閉チャンバの底面部の両側)には、チャンバブロック10aが埋め込まれている。チャンバブロック10aの上側面には、処理槽位置規制部23aと嵌合する嵌合部13aが形成されている。
嵌合部13aは、処理槽位置規制部23aと嵌合可能な形状に形成されている。より具体的には、嵌合部13aはチャンバブロック10aの上側面に形成された切り欠き部であり、水平面131aと、壁面132aとを備えている。上述の通り、処理槽ブロック20aがこの切り欠き部と嵌合することによって、密閉チャンバ1aに対する処理槽2aの位置が規制される。
〈調整機構72a〉
チャンバブロック10aと本体部101aとの間には調整機構72aが介挿されている。調整機構72aの構成は、上記の実施の形態に係る調整機構72と同様である。すなわち、密閉チャンバ1aは、調整機構72aを介して、本体部101aに対して所定位置に支持されており、本体部101aに対する密閉チャンバ1aの位置は、調整機構72aによって調整される。
チャンバブロック10aと本体部101aとの間には調整機構72aが介挿されている。調整機構72aの構成は、上記の実施の形態に係る調整機構72と同様である。すなわち、密閉チャンバ1aは、調整機構72aを介して、本体部101aに対して所定位置に支持されており、本体部101aに対する密閉チャンバ1aの位置は、調整機構72aによって調整される。
〈5−2.その他の変形例〉
上記の実施の形態においては、処理槽位置規制部23の備える水平面231と側面232とが凹部233を形成する構成としたが、水平面231と側面232とが凸部を形成してもよい。ただしこの場合、嵌合部13の備える水平面131と側面132とが凸部を形成する構成とする。
上記の実施の形態においては、処理槽位置規制部23の備える水平面231と側面232とが凹部233を形成する構成としたが、水平面231と側面232とが凸部を形成してもよい。ただしこの場合、嵌合部13の備える水平面131と側面132とが凸部を形成する構成とする。
また、処理槽位置規制部23の備える側面232はX方向Y方向のそれぞれについて少なくとも1つあればよい。嵌合部13の備える側面132も同様である。
また、上記の各実施の形態においては、処理液供給系4は、注入管21や処理液供給管3に4種類の処理液のいずれかを選択的に供給する配管系であるとしたが、処理液供給系4は、少なくとも1種類の処理液を供給する配管系であればよい。例えば、注入管21や処理液供給管3に、アルカリ性の薬液を供給する処理液供給系を備える第1の基板処理装置と、酸性の薬液を供給する処理液供給系を備える第2の基板処理装置と、洗浄液を供給する処理液供給系を備える第3の基板処理装置と、乾燥媒体を供給する処理液供給系を備える第4の基板処理装置とを用いて、基板に対する一連の処理を実行してもよい。すなわちこの場合、第1〜第4の基板処理装置を並置しておき、第1の基板処理装置において、アルカリ性の薬液による表面処理を行い、当該処理が完了した基板を今度は第3の基板処理装置に搬入して洗浄処理を行い、当該処理が完了した基板を今度は第2の基板処理装置に搬入して酸性の薬液による表面処理を行い、当該処理が完了した基板を今度は第3の基板処理装置に搬入して最終リンス処理を行い、当該処理が完了した基板を今度は第4の基板処理装置に搬入して乾燥処理を行うことができる。この変形例によると、配管系を単純化できるという利点がある。
また、上記の実施の形態においては、処理液供給管3、注入管21および処理液供給系4によって基板処理液供給部を構成していたが、注入管21と処理液供給系4とによって基板処理液供給部を構成してもよい。この場合、基板に対する処理液の供給は、注入管21に対して処理液を供給し、注入孔211から処理液を吐出させることによって(すなわち、オーバーフロー供給)により行うことになる。また、処理液供給管3と処理液供給系4とによって基板処理液供給部を構成してもよい。この場合、基板に対する処理液の供給は、処理液供給管3に対して処理液を供給し、吐出ノズル31から処理液を吐出させることによって(すなわち、シャワー供給)により行うことになる。
1,1a 密閉チャンバ
2,2a 処理槽
3 処理液供給管
4 処理液供給系
5 廃液系
6 排気系
7 制御部
10a チャンバブロック
13 嵌合部
20a 処理槽ブロック
22 カセット位置規制部
23 処理槽位置規制部
71 位置決めブロック
72 調整機構
100,100a 基板処理装置
101 本体部
C カセット
W 基板W
2,2a 処理槽
3 処理液供給管
4 処理液供給系
5 廃液系
6 排気系
7 制御部
10a チャンバブロック
13 嵌合部
20a 処理槽ブロック
22 カセット位置規制部
23 処理槽位置規制部
71 位置決めブロック
72 調整機構
100,100a 基板処理装置
101 本体部
C カセット
W 基板W
Claims (6)
- カセットに格納された複数の基板に対する表面処理を行う基板処理装置において、
内部を密閉空間にすることが可能なチャンバと、
前記チャンバ内に配置され、処理液を貯留可能な処理槽と、
前記処理槽内に載置された前記カセットに格納された前記複数の基板に対して処理液を供給する処理液供給部と、
を備え、
前記処理槽が、
前記処理槽の内壁面に形成され、前記カセットの外壁面に当接して前記処理槽に対する前記カセットの位置を規制するカセット位置規制部と、
前記処理槽の外壁面に形成され、前記チャンバの内壁面に当接して前記チャンバに対する前記処理槽の位置を規制する処理槽位置規制部と、
を備えることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置において、
前記カセット位置規制部と前記処理槽位置規制部とが表裏一体に形成されていることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1または2に記載の基板処理装置において、
前記カセット位置規制部が、
前記カセットの底面に当接して前記カセットの垂直位置を規制する水平面と、
前記処理槽の開口部に向けて傾斜する面であり、前記水平面からの立ち上がり辺において前記カセットの底面の側縁に当接して前記カセットの水平位置を規制する傾斜面と、
を備えることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1から3のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記チャンバが、
前記チャンバの内壁面に形成され、前記処理槽位置規制部に嵌合する嵌合部、
を備え、
前記処理槽位置規制部が前記嵌合部に嵌合することによって、前記チャンバに対する前記処理槽の位置が規制されることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項4に記載の基板処理装置において、
前記処理槽位置規制部が、
前記処理槽の外壁面に形成された凹部、
を備え、
前記嵌合部が、
前記チャンバの内壁面に形成された凸部、
を備え、
前記凹部が前記凸部に嵌合することによって、前記チャンバに対する前記処理槽の位置が規制されることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1から5のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記基板処理装置の本体に対する前記チャンバの位置を調整するチャンバ位置調整部、
を備えることを特徴とする基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007030055A JP2008198690A (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2007030055A JP2008198690A (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | 基板処理装置 |
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JP2007030055A Pending JP2008198690A (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | 基板処理装置 |
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JP (1) | JP2008198690A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012216778A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-11-08 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置及び基板処理方法 |
-
2007
- 2007-02-09 JP JP2007030055A patent/JP2008198690A/ja active Pending
Cited By (2)
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US9230836B2 (en) | 2011-03-25 | 2016-01-05 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Substrate treatment method |
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