JP2008198202A - メモリシステム及びそのシステムの命令の取扱方法 - Google Patents
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Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 468
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 56
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 39
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 31
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims description 17
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 claims description 4
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 13
- 230000006870 function Effects 0.000 description 12
- 238000013461 design Methods 0.000 description 10
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000013524 data verification Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000008450 motivation Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000010977 unit operation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Quality & Reliability (AREA)
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- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
【解決手段】メモリ制御器10からメモリ20に命令及び命令に係るエラー検出/訂正(EDC)データを伝送し、命令をデコードしてEDCデータに関するEDC動作を行い、もし命令が書き込み命令ならEDC動作の完了までに書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を遅延し、もし命令が書き込み命令でなければEDC動作の完了に関係なく、命令により指示された動作を実行する。
【選択図】 図4
Description
メモリ2は、動作特性において揮発性または不揮発性とすることができる。揮発性メモリは、パワーがメモリに印加される間だけに保存されるデータを保有する。動的半導体メモリ装置(DRAM)及び静的半導体メモリ装置(SRAM)は揮発性メモリとしてよく知られている。一方、不揮発性メモリはパワーが印加されなくても保存されたデータを保有する能力を有する。フラッシュメモリは不揮発性メモリの代表的な一例である。
最後として、図2に示す第4例において、共通単方向バスはメモリ制御器1からメモリ2に制御データ、アドレスデータ及び書き込みデータだけでなく、メモリ2からメモリ制御器1に読み出しデータを通信するために用いられる。一方、ある制御信号ラインC/Sは、共通双方向バス外部のメモリ制御器1とメモリ2との間に定義される。この例において、読み出しデータはメモリ2からメモリ制御器1に通信する前にパケット化される。
しかしながら、増加する早いクロック速度は、データ通信(伝送及び/または受信)のエラー可能性を増加させる。実に、メモリシステムは極めて複雑であり、データ伝送速度は非常に早くなっている。あらゆるメモリシステムは、データエラーの不可欠な結果を無くすためにエラー検出及び/またはエラー訂正(単一または全体的に「EDC」(Error Detection and Correction)という)能力と結合される。
メモリ制御器により提供されたEDCデータが利用できる場合、メモリは追加的にまたは選択的に受信されたデータのエラーを訂正することができるエラー訂正回路及び/またはソフトウェアルーチンを含むことができる。メモリシステムのEDC能力の全般的な性能は設計選択の問題であるが、EDC能力の提供を増加させることがメモリシステムで行なわれる。
EDC能力はメモリ制御器とメモリ間に伝送するデータの検証に大きなメリットを提供するが、そのためには費用が発生する。メモリシステム動作の全体的な速度のためにさらに高額になる。EDC動作はメモリ制御器に従っていて、特にEDC動作はメモリシステム内のデータ処理量におけるボトルネック現象を生じるメモリに従うものである。よって、メモリシステム設計者はメモリシステムの動作性能を向上するためにデータ処理量を増加させねばならない要求に直面している。
この方法は、メモリ制御器からメモリに命令及び命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを伝送し、前記命令をデコードして前記EDCデータに係るEDC動作を行い、前記命令が書き込み命令であれば、前記EDC動作が完了するまで前記書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を遅延し、前記命令が前記書き込み命令でなければ、前記EDC動作の完了に関係なく、前記命令により指示された動作を実行することを特徴とする。
本発明のメモリシステム及びそのシステムの命令取扱方法は、書き込み命令と書き込み以外の命令を判別し、書き込み以外の命令である場合にはEDC動作の完了に関係なく動作を行なうことが可能であり、高速動作を行なうことができる。
Claims (49)
- メモリ制御器からメモリに命令及び該命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを伝送し、
前記命令をデコードし、
前記EDCデータに関するEDC動作を行い、
前記命令が書き込み命令であれば、前記書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を前記EDC動作が完了するまでに遅延し、
前記命令が書き込み命令でなければ、前記EDC動作の完了に関係なく、前記命令により指示された動作を直ちに実行することを特徴とするメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記命令は、複数個の命令信号として伝送したり、制御データを含む命令パケットに伝送したり、制御データ及びアドレスデータを含む命令パケットに伝送したり、制御データ、アドレスデータ及び書き込みデータを含む命令パケットに伝送したりすることを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記命令は、前記EDCデータを含む命令パケットにより前記メモリに伝送することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記命令は、第1単方向バスを介して前記メモリ制御器から前記メモリに伝送することを特徴とする請求項2に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記メモリは、第2単方向バスを介して前記命令に応答して前記メモリ制御器で読み出しデータを伝送することを特徴とする請求項4に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記第1及び第2単方向バスは、異なるバス幅を有することを特徴とする請求項5に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記書き込みデータ及び読み出しデータは、双方向バスを介して前記メモリ制御器と前記メモリ間に伝送することを特徴とする請求項2に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記EDC動作は、巡回冗長検査CRCに具現され、前記EDCデータはCRCデータを含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記メモリ制御器から前記メモリに伝送する前記命令は、第1単方向バスを介する前記EDCデータ、制御データ及びアドレスデータを有する命令パケットを備え、
前記命令をデコードすることは、
パケット受信機から前記命令パケットを受信し、内部命令、内部EDCデータ、及び内部アドレスの発生することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記EDC動作を実行することは、
前記内部EDCデータ、前記内部命令、及び前記内部アドレスをアドレス検出器に印加し、
前記内部命令、前記内部アドレス及び前記内部EDCデータに関するエラー信号を前記エラー検出器により発生し、
前記エラー信号を書き込みイネーブル信号伝送ブロックに印加することを特徴とする請求項9に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記書き込み動作の実行を遅延することは、
前記エラー信号に応答して前記書き込み信号伝送ブロックから最終書き込みイネーブル信号を発生することを特徴とする請求項10に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
命令デコーダから前記内部命令をデコードし、前記命令により指示された前記動作を実行するためにメモリコアに印加する複数個の制御信号を発生することをさらに備え、
前記制御信号の一つは、前記書き込み信号伝送ブロックに印加される書き込みイネーブル信号を含むことを特徴とする請求項10に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
前記エラー信号に応答して前記メモリからエラーフラッグを発生し、前記エラーフラッグを前記メモリ制御器に伝送する段階をさらに含むことを特徴とする請求項10に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
第2単方向バスを介して前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令に係る書き込みデータを伝送する段階と、
第3単方向バスを介して前記メモリから前記メモリ制御器に前記命令に係る読み出しデータを伝送する段階と、
のうち少なくとも一つをさらに備えることを特徴とする請求項10に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記第2及び第3単方向バスの少なくとも一つは、前記第1単方向バスと異なるバス幅を有することを特徴とする請求項14に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記メモリ制御器から前記メモリに伝送する前記命令は、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及びアドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを含む第1命令パケットと、
書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを含み、
前記命令信号をデコードすることは、
パケットデコードから前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記EDC動作を実行することは、
前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記第1パケット指示信号、及び前記内部アドレスをエラー検出器に印加し、
前記内部命令、前記第1EDCデータ、前記内部アドレス及び前記第1パケット指示信号に関する第1エラー信号を前記エラー検出器から発生し、
前記第1エラー信号を書き込み信号伝送ブロックに印加することを特徴とする請求項16に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記書き込み動作の実行を遅延することは、
前記第1エラー信号に関する第1最終書き込みイネーブル信号を前記書き込み信号伝送ブロックから発生することを特徴とする請求項17に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記命令をデコードすることは、
前記第2命令パケットを前記パケットデコーダから受信し、内部書き込みデータ、第2内部EDCデータ及び第2パケット指示信号を発生し、
前記内部書き込みデータを保存することを特徴とする請求項17に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記EDC動作を実行することは、
前記第2内部EDCデータ、前記内部書き込みデータ及び前記第2パケット指示信号を前記エラー検出器に印加し、
前記内部書き込みデータ、前記第2内部EDCデータ及び前記第2パケット指示信号に関する第2エラー信号を前記エラー検出器から発生することをさらに備えることを特徴とする請求項19に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
前記第2エラー信号をデータ伝送ブロックに印加し、
前記第2エラー信号に応答して前記データ伝送ブロックを介して前記保存した内部書き込みデータをメモリセルアレイに伝送することをさらに備えることを特徴とする請求項20に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
前記第1及び第2エラー信号に応答して前記メモリからエラーフラッグを発生し、前記エラーフラッグを前記メモリ制御器に伝送することをさらに備えることを特徴とする請求項20に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - チャネルを介してメモリに接続したメモリ制御器を備え、
前記メモリ制御器は、
命令及び前記命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを発生し、前記命令及び前記EDCデータを、チャネルを介して前記メモリに伝送する命令/アドレス伝送ブロックを備え、
前記メモリは、
前記命令及び前記EDCデータを受信する受信機と、
前記命令をデコードし、前記EDCデータに関するEDC動作を実行するデコード/実行ブロックとを備え、
もし前記命令が書き込み命令でなければ、前記命令により指示された動作の実行を前記EDC動作の完了に関係なく直ちに実行し、もし前記命令が前記書き込み命令なら、前記EDC動作が完了するまでに前記命令により指示された動作の実行を遅延することを特徴とするメモリシステム。 - 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、複数個の命令信号、制御データを含む命令パケット、制御データ及びアドレスデータを含む命令パケットまたは制御データ、前記アドレスデータ及び書き込みデータを含む命令パケットを備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
- 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、前記EDCデータを含む命令パケットを備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令を伝送する第1単方向バスを備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記命令に応答して前記メモリから前記メモリ制御器に読み出しデータを伝送する第2単方向バスをさらに備えることを特徴とする請求項26に記載のメモリシステム。
- 前記第1及び前記第2単方向バスは、異なるバス幅を有することを特徴とする請求項27に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記メモリ制御器と前記メモリ間に書き込みデータ及び読み出しデータを伝送する双方向バスを備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
- 前記デコード/実行ブロックにおいて前記EDC動作の実行は、循環リダンダンシーチェックCRCで具現され、前記EDCデータはCRCデータを含むことを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
- 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、制御データ、前記EDCデータ、アドレスデータを含む命令パケットを備え、
前記受信機ブロックは前記命令パケットを受信し、内部命令、内部EDCデータ及び内部アドレスを発生するパケット受信機を備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。 - 前記メモリは、
前記内部EDCデータ、前記内部命令及び前記内部アドレスを受信し、前記内部命令、前記内部アドレス、前記内部EDCデータに関するエラー信号を発生するエラーデコーダと、
前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加する複数個の制御信号を発生し、前記複数個の制御信号が書き込み信号を備える命令デコーダと、
前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記命令により指示したように、前記メモリセルアレイ内の書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
を備えることを特徴とする請求項31に記載のメモリシステム。 - 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令を伝送する第1単方向バスを備えることを特徴とする請求項32に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令パケットに係る書き込みデータを伝送する第2単方向バス、及び前記メモリから前記メモリ制御器に前記命令パケットに係る読み出しデータを伝送する第3単方向バスの少なくとも一つをさらに備えることを特徴とする請求項33に記載のメモリシステム。
- 前記第2及び第3単方向バスの少なくとも一つは、前記第1単方向バスと異なるバス幅を有することを特徴とする請求項34に記載のメモリシステム。
- 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生する前記命令は、
制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを含む第1命令パケットと、書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを備え、
前記受信機ブロックは前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス、第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生するパケット受信機を備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。 - 前記メモリは、
前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記内部アドレス及び第1パケット指示信号を受信し、前記内部命令、前記内部アドレス、前記第1内部EDCデータ、及び前記第1パケット指示信号に関する第1エラー信号を発生するエラーデコーダと、
前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加する複数個の制御信号を発生して前記複数個の制御信号が書き込み信号を含む命令デコーダと、
前記書き込みイネーブル信号及び前記第1エラー信号を受信し、前記第1エラー信号に応答して前記命令により指示されたように前記メモリセルアレイ内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
を備えることを特徴とする請求項36に記載のメモリシステム。 - 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記第1及び第2命令パケットを伝送する第2単方向バスを含むことを特徴とする請求項37に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記メモリから前記メモリ制御器に前記命令に係る読み出しデータを伝送する第2単方向バスをさらに備えることを特徴とする請求項28に記載のメモリシステム。
- 前記第1及び第2単方向バスは、互いに異なるバス幅を有することを特徴とする請求項39に記載のメモリシステム。
- 点対点の相互接続の集合を介してメモリカード上に配置された複数個のメモリ素子に接続されたメモリ制御器を備え、
前記メモリ制御器は、命令及び前記命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを発生し、少なくとも一つの相互接続を介して前記複数個のメモリ素子の一つと接続された少なくとも一つのメモリに前記命令及び前記EDCデータを伝送する命令/アドレス伝送ブロックを備え、
前記メモリは、
前記命令及び前記EDCデータを受信する受信機ブロックと、
前記命令をデコードし、前記EDCデータに関するEDC動作を実行するデコード/実行ブロックとを備え、
もし前記命令が書き込み命令でなければ前記EDC動作の完了に関係なく前記命令により指示された動作の実行をし、もし前記命令が書き込み命令なら前記EDC動作が完了するまでに前記書き込み動作の実行を遅延することを特徴とする高速メモリシステム。 - 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、
制御データ、前記EDCデータ及びアドレスデータを含む命令パケットを備え、
前記受信機ブロックは前記命令パケットを受信し、内部命令、内部EDCデータ及び内部アドレスを発生するパケット受信機を備えることを特徴とする請求項41に記載の高速メモリシステム。 - 前記メモリは、
前記内部EDCデータ、前記内部命令、及び前記内部アドレスを受信し、前記内部命令、前記内部アドレス及び前記内部EDCデータに関するエラー信号を発生するエラー検出器と、
前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加する複数個との制御信号を発生し、
前記複数個の制御信号は書き込み信号を備える命令デコーダと、
前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記命令により指示されたように前記メモリセルアレイ内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
を備えることを特徴とする請求項42に記載の高速メモリシステム。 - 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを備える第1命令パケットと、
書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを含み、
前記受信機ブロックは、
前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス、第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生するパケット受信機を備えることを特徴とする請求項41に記載の高速メモリシステム。 - 前記メモリは、
前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記内部アドレス、及び第1パケット指示信号を受信し、前記内部命令、前記内部アドレス、前記第1内部EDCデータ、及び前記第1パケット指示信号に関する第1エラー信号を発生するエラーデコーダと、
前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加される複数個の制御信号を発生し、前記複数個の制御信号が書き込みイネーブル信号を含む命令デコーダと、
前記書き込みイネーブル信号及び前記第1エラー信号を受信し、前記第1エラー信号に応答して前記命令により指示されたように前記メモリセルアレイ内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
を備えることを特徴とする請求項36に記載の高速メモリシステム。 - 前記複数個のメモリ素子のうち少なくとも一つは、前記メモリを含む垂直に積層されたメモリを備えることを特徴とする請求項41に記載の高速メモリシステム。
- 前記垂直に積層されたメモリは、
前記積層されたメモリの他のメモリに前記命令及び前記EDCデータを再駆動するために構成された最下位メモリを含むことを特徴とする請求項46に記載の高速メモリシステム。 - 前記命令は、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係るエラー検出/訂正EDCデータを含む命令パケットを備え、
前記メモリカードは、前記EDCデータに応答して少なくとも一つのエラー検出/訂正EDCデータをさらに含むことを特徴とする請求項46に記載の高速メモリシステム。 - 前記積層されたメモリそれぞれは、
前記パケット命令を受信し、内部制御データ、内部アドレスデータ及び内部EDCデータを受信するパケット受信機と、
前記内部EDCデータ、前記内部命令及び前記内部アドレスを受信し、エラー信号を発生するエラーデコーダと、
前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加される複数個の制御信号を発生する命令デコーダと、
前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記命令により指示されたように前記メモリセルアレイ内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生することを特徴とする請求項48に記載の高速メモリシステム。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2007-0013179 | 2007-02-08 | ||
KR1020070013179A KR101308047B1 (ko) | 2007-02-08 | 2007-02-08 | 메모리 시스템, 이 시스템을 위한 메모리, 및 이 메모리를위한 명령 디코딩 방법 |
US11/779,345 | 2007-07-18 | ||
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---|---|
JP2008198202A true JP2008198202A (ja) | 2008-08-28 |
JP5283393B2 JP5283393B2 (ja) | 2013-09-04 |
Family
ID=39686912
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008026582A Active JP5283393B2 (ja) | 2007-02-08 | 2008-02-06 | メモリシステム及びそのシステムの命令の取扱方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8020068B2 (ja) |
JP (1) | JP5283393B2 (ja) |
KR (1) | KR101308047B1 (ja) |
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TW200836057A (en) | 2008-09-01 |
US8020068B2 (en) | 2011-09-13 |
US20120005555A1 (en) | 2012-01-05 |
US8037390B2 (en) | 2011-10-11 |
KR101308047B1 (ko) | 2013-09-12 |
US20080195922A1 (en) | 2008-08-14 |
KR20080074316A (ko) | 2008-08-13 |
CN101241452A (zh) | 2008-08-13 |
US8205135B2 (en) | 2012-06-19 |
CN101241452B (zh) | 2012-08-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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