JP2008198202A - メモリシステム及びそのシステムの命令の取扱方法 - Google Patents

メモリシステム及びそのシステムの命令の取扱方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008198202A
JP2008198202A JP2008026582A JP2008026582A JP2008198202A JP 2008198202 A JP2008198202 A JP 2008198202A JP 2008026582 A JP2008026582 A JP 2008026582A JP 2008026582 A JP2008026582 A JP 2008026582A JP 2008198202 A JP2008198202 A JP 2008198202A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
command
memory
internal
edc
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008026582A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5283393B2 (ja
Inventor
Jung Bae Lee
▲禎▼培 李
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2008198202A publication Critical patent/JP2008198202A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5283393B2 publication Critical patent/JP5283393B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

【課題】メモリ制御信号、メモリを有するメモリシステム及びそのシステムの命令取扱方法を提供する。
【解決手段】メモリ制御器10からメモリ20に命令及び命令に係るエラー検出/訂正(EDC)データを伝送し、命令をデコードしてEDCデータに関するEDC動作を行い、もし命令が書き込み命令ならEDC動作の完了までに書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を遅延し、もし命令が書き込み命令でなければEDC動作の完了に関係なく、命令により指示された動作を実行する。
【選択図】 図4

Description

本発明は、メモリシステム及びそのメモリシステムの命令の取扱方法(Memory system and command handling method)に関するものである。
メモリシステムの概念は、現在のデジタルデータの伝送、保存及び回復を可能にする多様な回路及びかかる制御方法を含む。メモリシステムはコンピュータシステム及び類似の計算ロジッグプラットフォームに係る。現在、セルラーホンから自動車及び冷蔵庫に至るまで多くのホスト消費製品は複雑度を可変するメモリシステムを含む。
一般的なメモリシステムの概念図を図1に示す。図1を参照すると、一般に、メモリシステムでは、メモリ2はチャネル3を介してメモリ制御器1から受信されたデータを保存するために提供される。
メモリ2は、動作特性において揮発性または不揮発性とすることができる。揮発性メモリは、パワーがメモリに印加される間だけに保存されるデータを保有する。動的半導体メモリ装置(DRAM)及び静的半導体メモリ装置(SRAM)は揮発性メモリとしてよく知られている。一方、不揮発性メモリはパワーが印加されなくても保存されたデータを保有する能力を有する。フラッシュメモリは不揮発性メモリの代表的な一例である。
メモリ形態及びその保存能力に関係なく、メモリは典型的にある種類のメモリ制御器に係ることになる。図1に示すメモリ制御器1は、一般的なプロセッサまたは制御器、直接メモリアドレス(DMA)制御器、ホスト装置中央処理部(CPU)、データスイッチまたは伝送要素などを含む多くの他の形態を有することができる。メモリ制御器1は、あらゆる可変的な形態において、追加機能に関係なく、基本的な適切な機能として、メモリ2にデータの伝送を制御し、またはメモリ2からデータの伝送を制御する。
メモリ制御器1とメモリ2間のデータ伝送はチャネル3を介して行われる。チャネル3は有線または無線で具現する。例えば、データはラジオ周波数(RF;radio frequency)チャネル、赤外線(infrared)チャネル及び/または磁電気(magneto−electric)チャネルを介してメモリ制御器1とメモリ2間に無線で伝送することができる。また、メモリ制御器1とメモリ2は、一つ以上のバス及び/または多様な信号ラインによって形成された有線チャネルを介して接続することができる。「バス」はただのデータブロック及び/またはタイミングに係わって共通に動作する信号ラインの集合(物理的または動作上)である。
図2に示す例は、メモリ制御器1とメモリ2とを接続するために用いられることのできるいくつかの複数形態の有線チャネル3である。第1例において、メモリ2及びメモリ制御器1は複数個の一方向制御信号ラインC/S、一方向アドレスバスADDR、及び双方向データバスDQにより接続される。メモリ2がDRAMであると仮定すれば、制御信号ラインはチップ選択CS、ローアドレスストローブRAS、コラムアドレスストローブCAS、書き込みイネーブルWEなどのような共通に用いられる制御信号と通信するために用いられることができる。この構成において、アドレスバスはデータが読み出されたり書き込まれたりするメモリ2に特定位置を確認する複数のアドレスビットと通信するために用いられることができる。以下に、メモリ2に書き込まれるデータを「書き込みデータ」、メモリ2から読み出されるデータを「読み出しデータ」と称する。
図2に示す第2例において、制御信号ライン及びアドレスバスの単方向集合は、単一制御/アドレス(C/A)バスに効果的に結合される。このバス構成はパケット化された命令を用いるメモリシステムと共通に関連する。すなわち、あるメモリシステム構造はデータをいわゆる「データパケット」として構成することで提供される柔軟性と効率性を利用する。データパケットの定義及び使用は、当業者なら容易に理解することができ、多くの一般的なプロトコル及び標準化の主題である。
図2に示す第3例において、共通単方向C/Aバス構造は、またメモリ制御器1からメモリ2に書き込みデータを通信するために用いられる。ここで、再び書き込みデータは関連制御データ及び/またはアドレスデータとともに一つ以上のデータパケットにグループ化される。
最後として、図2に示す第4例において、共通単方向バスはメモリ制御器1からメモリ2に制御データ、アドレスデータ及び書き込みデータだけでなく、メモリ2からメモリ制御器1に読み出しデータを通信するために用いられる。一方、ある制御信号ラインC/Sは、共通双方向バス外部のメモリ制御器1とメモリ2との間に定義される。この例において、読み出しデータはメモリ2からメモリ制御器1に通信する前にパケット化される。
メモリシステムの一つの注目すべき特徴は、より大きいデータ帯域(すなわち、単位動作当たり利用可能なデータ)及び/またはデータ処理量(時間周期当たり利用可能なデータ)に対する増加の要求である。データ帯域はメモリシステム動作においてメモリに/から通信されるデータビット数を増加することで増加される。データ処理量は、メモリシステム動作においてメモリに/から通信されるデータのビット数によよって、及び/または各メモリシステム動作が実行される速度を増加することで増加される。
メモリシステムの大きさ及び電力消耗を低減し、利用可能なデータ帯域及びデータ処理量を最大にする動機があるとしたら、ある実質的な制限が急に発生するということは驚くことではない。例えば、メモリ制御器をメモリに接続する信号ラインの数は、メモリまたはメモリ制御器の大きさ及び/または利用可能な接続(入力/出力)パッドの対応する数によって制限される。メモリシステムのモードまたは一部の信号ラインは、このような使用のためにマルチプレキシングすることができる。
メモリとメモリ制御器との間の物理的な接続に関係なく、ほとんどのメモリシステムが増加する早いクロック速度で動作している。増加する早いクロック速度はより大きいデータ処理量を利用することができる。増加したデータ処理能力は商業的応用価値が大きいために非常に好ましいことである。
しかしながら、増加する早いクロック速度は、データ通信(伝送及び/または受信)のエラー可能性を増加させる。実に、メモリシステムは極めて複雑であり、データ伝送速度は非常に早くなっている。あらゆるメモリシステムは、データエラーの不可欠な結果を無くすためにエラー検出及び/またはエラー訂正(単一または全体的に「EDC」(Error Detection and Correction)という)能力と結合される。
EDC能力は、電話ネットワーク及び衛星通信システムのような長期間データトラフィックに主に用いられる。しかし、現在メモリシステム内でEDC能力と結合するとメリットは非常に大きくなる。EDCプロトコル、技術、構造及び関連回路及びソフトウェアに多様な形態がある。比較的に単純なエラー検出技術の一つの分類は、CRC(cyclic redundancy code)の機能を具現するために用いられる。さらに進歩したEDC技術は通信データ上に一つ以上のエラーを検出するだけでなく、検出したエラーを訂正することもできる。
ほとんどのEDC技術が追加的なデータビットを通信するデータのブロックに追加することによって具現される。すなわち、データブロックは対応するEDCエラーを生成するために、数学的または論理的計算を介してまず実行される。EDCデータはデータブロックとともに伝送する。受信の段階において、データブロックは、また類似の数学的/論理的計算を介して実行され、結果的なデータは受信されたEDCデータと比較される。成功的な比較はエラーのないデータブロックを示す。間違った比較はデータブロックに一つ以上のエラーがあることを示す。さらに進歩したEDC技術が用いられた場合、このようなエラーはオーバーヘッドデータに対する追加的な再分類によって訂正される。
メモリシステムの動作速度及び全般的な複雑性が増加されるにつれて、メモリ制御器とメモリ間に伝送する制御データ、アドレスデータ、書き込みデータ、読み出しデータなどがエラーの影響をさらに受けやすくなる。エラーがある制御データ、アドレスデータ及び/または書き込みデータは、特に、そのようなデータがメモリに保存されているデータを破壊させてしまう危険がある。
上述のように、多くのメモリ制御器はメモリシステム動作、例えば、読み出し/書き込み動作に係るEDCデータを発生することのできる特別な回路及び/またはソフトウェアルーチンを含んでいる。EDC能力(例えば、ハードウェア及び/またはソフトウェア)を有するメモリ制御器に接続されたメモリは、機能的に他のデータからEDCデータを分離しなければならなく、よって、他のデータの正常化を検証するためにEDCデータを用いる。
さらに、メモリはデータにエラーが発生されたことが確認された場合、メモリ制御器に通知することができる特別な回路及び/またはソフトウェアルーチンを含むことができる。メモリからの通知に応答してメモリ制御器はエラーが発生したデータを再伝送することができる。
メモリ制御器により提供されたEDCデータが利用できる場合、メモリは追加的にまたは選択的に受信されたデータのエラーを訂正することができるエラー訂正回路及び/またはソフトウェアルーチンを含むことができる。メモリシステムのEDC能力の全般的な性能は設計選択の問題であるが、EDC能力の提供を増加させることがメモリシステムで行なわれる。
EDC能力は、特にデータパケット通信技術を用いるメモリシステムに有用である。すなわち、個別データパケットは他の形態のデータ(例えば、制御データ、アドレスデータ、書き込みデータなど)とともに対応するEDCデータを含むように定義されることができる。EDCデータは一つ以上の他のデータ形態と関連することができる。すなわち、EDCデータは一つ以上の他のデータ形態から出ることができ、一つ以上の他のデータ形態のエラーを検出するために用いられることができる。
EDC能力はメモリ制御器とメモリ間に伝送するデータの検証に大きなメリットを提供するが、そのためには費用が発生する。メモリシステム動作の全体的な速度のためにさらに高額になる。EDC動作はメモリ制御器に従っていて、特にEDC動作はメモリシステム内のデータ処理量におけるボトルネック現象を生じるメモリに従うものである。よって、メモリシステム設計者はメモリシステムの動作性能を向上するためにデータ処理量を増加させねばならない要求に直面している。
特開1983−222495号公報 特開1983−023395号公報 大韓民国特許出願第1998−033007号明細書
本発明の目的は、命令実行ボトルネック現象を避けるとともに、EDC能力の提供によってデータ正確性を保障することができるメモリシステム及びそのシステムの命令取扱方法を提供することにある。
本発明は、一態様において、メモリ制御器とメモリを備えるメモリシステムの命令取扱方法を提供する。
この方法は、メモリ制御器からメモリに命令及び命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを伝送し、前記命令をデコードして前記EDCデータに係るEDC動作を行い、前記命令が書き込み命令であれば、前記EDC動作が完了するまで前記書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を遅延し、前記命令が前記書き込み命令でなければ、前記EDC動作の完了に関係なく、前記命令により指示された動作を実行することを特徴とする。
本発明は、一態様において、前記命令は第1単方向バスを介して前記EDCデータ、制御データ、及びアドレスデータを含む命令パケットでメモリ制御器からメモリに伝送され、前記命令をデコードすることはパケット受信器から前記命令パケットを受信し、内部命令、内部EDCデータ及び内部アドレスを発生することを特徴とする。
本発明は、一態様において、前記EDC動作を実行することは、前記内部EDCデータ、前記内部命令、及び前記内部アドレスをエラー検出器に印加し、前記エラー検出器で前記内部命令、前記内部アドレス、及び前記EDCデータに関するエラー信号を発生し、前記エラー信号を書き込みイネーブル信号伝送ブロックに印加することを特徴とする。前記書き込み動作の実行を遅延することは前記エラー信号に応答して前記書き込み信号伝送ブロックに最終の書き込みイネーブル信号を発生することを含むことができる。
本発明は、他の態様において、前記命令は制御データ、アドレスデータ及び少なくとも一つの前記制御データ及びアドレスデータに係る第1EDCデータを含む第1命令パケット、及び書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットを含み、前記メモリ制御器から前記メモリに伝送する。前記命令信号をデコードすることは、パケット受信機で前記第1命令パケットを受信することと、内部命令、内部アドレス、第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生することを含む。前記EDC動作を実行することは、前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記第1パケット指示信号、及び前記内部アドレスをエラー検出器で印加し、前記内部命令、前記第1EDCデータ、前記内部アドレス及び前記第1パケット指示信号に係る第1エラー信号を前記エラー検出器から発生させ、前記第1エラー信号を書き込み信号伝送ブロックに伝送することを含む。ここで、前記書き込み動作の実行を遅延することは、前記第1エラー信号に係る第1最終の書き込みイネーブル信号を前記書き込み信号伝送ブロックから発生することを含む。
さらに他の態様において、前記命令をデコードすることは、前記パケットデコーダから前記第2命令パケットを受信し、内部書き込みデータ、第2内部EDCデータ、及び第2パケット指示信号を発生し、前記内部書き込みデータを保存することをさらに含むことができる。前記EDC動作することは、前記第2内部EDCデータ、前記内部書き込みデータ、及び前記第2パケット指示信号を前記エラー検出器で印加し、前記内部書き込みデータ、前記第2内部EDCデータ及び前記第2パケット指示信号に係る第2エラー信号を前記エラー検出器から発生することをさらに含むことができる。
他の態様において、本発明はメモリシステムを提供し、メモリシステムはチャネルを介してメモリに接続されたメモリ制御器を備え、前記メモリ制御器は命令及び前記命令に係るエラー検出/訂正(EDC)データを発生し、前記チャネルを介して前記命令及び前記EDCデータを前記メモリに伝送し、前記メモリは前記命令及び前記EDCデータを受信する受信ブロック、及び前記命令をデコードして前記EDCデータに関するEDC動作を実行するデコード/実行ブロックを備え、前記命令により指示された動作の実行は、前記命令が書き込み命令でないなら前記EDC動作の完了に関係なく直ちに行なわれるし、前記命令が書き込み命令なら前記EDC動作が完了するまでに遅延することを特徴とする。
さらに他の態様において、本発明は高速メモリシステムを提供し、高速メモリシステムは点対点(point−to−point)の相互接続によってメモリカードに配置された複数個のメモリ素子に接続されたメモリ制御器を備え、前記メモリ制御器は命令信号及び前記命令信号に係るエラー検出/訂正EDCデータを発生し、前記命令及び前記EDCデータを少なくとも一つの相互接続を介して前記複数個のメモリ素子の一つと係わった少なくとも一つに伝送する命令/アドレス伝送ブロックを備え、前記メモリは前記命令及び前記EDCデータを受信する受信ブロック及び前記命令をデコードして前記EDCデータに関するEDC動作を実行するデコード/実行ブロックを備え、前記命令によち指示された動作の実行は、前記命令が書き込み命令でないなら前記EDC動作の完了に関係なく実行し、もし前記命令が前記書き込み命令なら前記EDC動作が完了するまでに遅延することを特徴とする。
複数個のメモリ素子の少なくとも一つは、前記メモリを含む垂直に積層されたメモリを備えることができ、前記メモリの垂直配列は前記命令及び前記EDCデータを前記積層されたメモリの他のメモリで再駆動(re−drive)するために構成された最下層メモリを含むことができる。
(発明の効果)
本発明のメモリシステム及びそのシステムの命令取扱方法は、書き込み命令と書き込み以外の命令を判別し、書き込み以外の命令である場合にはEDC動作の完了に関係なく動作を行なうことが可能であり、高速動作を行なうことができる。
以下、添付された図面を参照して本発明のメモリシステム及びそのシステムの命令取扱方法による実施形態を説明する。
発明の実施形態は、EDC能力と結合するメモリシステム内に、命令実行に伴う遅延が増加する問題点を扱う。一般的なメモリシステムは、対応するEDC動作が終了した後のみに命令を順次に実行する。EDCデータがメモリ制御器からメモリに命令により実行される場合、命令がメモリにおいて実行される前に、EDC動作は命令(例えば、制御データ、アドレスデータなど)に係るデータの正確性を検出するために実行されなければならない。命令動作によるEDC動作の順次な動作は命令が実質的に実行される前に、命令に係わって受信されたデータが正確であることを保障する。
命令の実行による命令データ検証に対する直接順次接近法は正確性を保障する。また、メモリ内で命令実行ボトルネック現象を発生する。例えば、もし瞬間的なノイズがメモリ制御器とメモリを接続するチャネルならば、メモリによって順次に受信される命令グループはノイズ誘導データエラーを含む。命令グループにより指示されたメモリシステム動作は次のEDC検証を順次に実行することになる。一般的なメモリシステムは一連の比較的に遅いEDC動作に落ち込むことがある。その結果として、一般的なメモリシステムでデータ処理量は著しく減少される。
しかし、本発明の実施形態はメモリシステム動作形態間の実質的な遂行差を認識する。本発明の実施形態は「書き込み動作」と「書き込み以外の動作」との間の明白な差を認識する。「書き込み動作」はメモリ内の一つ以上のデータ値を変更する意図された能力を有する動作であり、その定義は一般的なRAM装置に用いられる「書き込み動作」の意味よりも広い意味であり、一般的なフラッシュメモリ装置に用いられる「プログラム動作」を含むものである。確かに、特別にメモリに保存されたデータの変更に属する、このような一般的な動作形態は「書き込み動作」の定義内に含まれる。しかし、他の動作もこの定義内に含まれる。例えば、多様な揮発性メモリ内で実行される消去動作もメモリ内の一つ以上のデータ値を意図的に変更することができ、このようなことも書き込み動作の定義内に含まれる。
一方、以後に、個別的及び総体的に「書き込み以外の動作」に言及される他のメモリシステム動作は、メモリ内の一つ以上のデータ値を意図的に変更することができない。揮発性及び不揮発性メモリに印加される一般的な読み出し動作は書き込み以外の動作の例である。これらの遂行はメモリ内に保存されたデータ値を意図的に変更しない。また、一般的なメモリに印加されるリフラッシュ動作は一般的なチップ選択動作などのような書き込み以外の動作のさらに他の例である。
書き込み動作または書き込み以外の動作が一つ以上の命令と関連するものとして仮定するかについては各動作によって説明することができる。あるメモリシステム内である動作が命令データの単一ブロックにより指示された単一命令に応答して実行することができる。他の動作は、命令データを含む一連のデータブロックまたはデータブロックの集合により指示された複数命令に応答して実行することができる。多様な命令の実行間にこのような差異についてはさらに言及しない。各メモリシステム動作は、命令が多い他のデータ構成及び/またはデータタイミング特徴を含むことができると認識する「命令」に応答して実行することができる。したがって、書き込み動作は「書き込み命令」に応答してメモリ内で実行され、書き込み以外の動作は「書き込み以外の命令」に応答してメモリ内で実行される。
命令に係る命令とデータは、メモリ制御器とメモリ間に発明の実施形態内において多様に伝送する。該伝送は無線及び/または有線で行なう。標準及び注文化されたデータ伝送プロトコルは発明の実施形態により研究されるべきである。
命令及び関連メモリシステムデータ(例えば、アドレスデータ、書き込みデータ、読み出しデータなど)はデータパケットまたはある他のパケットではない形態(例えば、一般的な直列または並列データ伝送技術)としてメモリ制御器とメモリ間に伝送する。
データパケットは、それらの構造及び伝送タイミングにおいて多様に定義することができる。本発明の実施形態は、標準及び注文化されたデータパケット定義をすべて考慮する。そのため、本発明の実施形態はパケット化されたデータを用いたメモリシステムに対する特別な応用及びメリットを有し、本発明はこのようなシステムだけに制限されない。
パケット化された命令またはパケット化されない命令は、メモリ基盤資源(例えば、メモリに利用できるハードウェア及び/またはソフトウェア資源)を使用して実行する前にメモリ内においてデコードされるべきである。パケットデコードはよく知られている概念である。
データをパケット化する一つの共通的な目的は、対応する信号ラインをマルチプレキシングすることであるため、データパケットに含まれたデータの分類及びデコードを要求する。しかし、デコードという用語はより広い意味を有し、あらゆる形態のデジタルデータ及び/またはアナログ信号解釈及び/または変換を含む。
多くの例において、メモリシステムデータ及び/または信号は、説明のために内部または外部に区別することができる。内部データ、内部アドレス、及び内部命令などは、メモリシステムのメモリ内において動作しそのような意味があることをいう。例えば、実際応用において、多くの企業によって製造されたメモリ制御器は他の企業から製造されたメモリと一緒にメモリシステムとして用いられる。多様なメモリ制御器の命令がメモリ内で実行できる内部命令にデコードされることは一般的なことである。外部及び内部命令のフォーマット及び定義、または外部及び内部データは同一とすることができる。しかし、メモリ制御器から受信された命令またはデータのデコード、変換または解釈はメモリによって実行することができる。これは、またクロック信号のような制御信号に相当する。しかし、メモリ制御器とメモリ間のデータ/クロックタイミング変換、データ形態変換、信号レベル変換、命令解釈及びデコーディングなどは事実上一般的な技術に従うものとして考えてもよく、メモリシステム設計によって変更されるものでもある。
命令及び命令関連データがメモリ内に受信されればデコーディングにより識別され、EDC動作により検証され、このデコーディング及び検証動作はメモリ内のハードウェア及び/またはソフトウェア資源を使用して実行することができる。特別なメモリシステム内で命令の実質的な遂行は、設計選択の問題であって、理解のために一般的な技術に従うと考えてもよい。
一般的なメモリコアは、メモリ内にデータを保存するために主ハードウェア資源に指示される。一方、DRAM例は、本発明の多様な実施形態を説明するために選択され、当業者はSRAMまたはフラッシュ(NANDまたはNOR)メモリのような他のメモリ形態として用いられると認識することになる。明確にするために、一般的なメモリコア動作はデータ保存(書き込みまたはプログラム)とデータ復元(読み出し)が実行される実質的なメカニズムに係る説明の繰り返しを避けるために仮定される。そのため、ワードライン及びビットラインに電圧を印加し、一連のデータ動作を印加し、一連の信号ライン及び制御信号を印加するロー及びコラムアドレス技術は特定のメモリコアの特定形態及び設計によって変化される。
本発明の実施形態は、さらにメモリコアがデコーダ、電圧発生器、リダンダントメモリ回路などのような多くの関連回路と共通に関連される。このような一般的に関連された周辺回路は、主に実施形態内において設計、用途及び結合されるものとして理解され、実施形態においての説明は省略する。
書き込み動作と書き込み以外の動作間の差別化された動作を認識するにおいて、本発明のある方法実施形態は、図3のフローチャートによって要約される。このフローチャートにおいて、メモリ制御器はEDCデータを含む関連データとともにメモリシステム命令をメモリに伝送するものと仮定する。命令4を受信すると、メモリはデコード動作5AとEDC動作5Bを並列で実行し始める。ここで、並列との意味は、同時に実行、またある部分では重複実行を意味する。デコード動作とEDC動作は、二つの動作のうち、早い動作が完了するまでに並列で同時始まって実質的に実行される。しかしながら、個別的な回路具現間の実際実行変化だけでなく、デコード動作を実行するデコーダ回路とEDC動作を実行するEDC回路との間の他の信号ライン長がこのような二つの動作間の実行非対称をもたらす。それにもかかわらず、このような二つの動作間の同時実行を、ある程度は並列の意味とすることができる。
対応するEDC動作により検証した後まで動作をデコードし、実行を待つ一般的な接近法とは異なって、本発明の実施形態はEDC動作が実行されるうち受信された命令のデコーディング及び実行を始める。受信された命令5Aの初期デコーディングは命令を書き込み命令または書き込み以外の命令7として区分する。もし受信された命令が書き込み以外の命令ならEDC動作5Bの結果を考慮せず、直ちに実行するはずであり、「直ちに」の意味はEDC動作及びその完了を参照としないという意味である。
一方、初期デコード5Aは、受信された命令が書き込み命令を指示する場合に、書き込み命令の実行は「直ちに」ではない。むしろ、書き込み命令により指示された書き込み動作9の実行は、対応するEDC動作の実行をもたらす肯定的な指示に依存する。そのため、書き込み命令は命令及びそれに係るデータがエラーのないものとして検証された後のみ、または検出されたエラーが訂正された後に実行される。
上述のように、一般的なEDC動作は多様に変化する。ある実施形態において、単純なCRCまたは類似のチェックサム(check−sum)手順だけが受信された命令の正確性を検証することができる。EDC動作によるエラーの指示は、ある実施形態においてはエラーフラッグの設定及びエラーがある命令の無視より、ある他のメモリ基盤動作をもたらさない。そのような実施形態において、エラーフラッグは減少されたクロック周波数で命令の再伝送、エラー検出及び訂正などのようなメモリ制御器基盤動作をもたらす。
さらに他の実施形態において、メモリは命令及び関連データに含まれた一つ以上のエラーを訂正する性能がよいエラー訂正手順を具現することができる。しかし、メモリが固有のエラー訂正能力を有する場合にも、エラーフラッグのようなエラー指示はメモリ制御器が後続される命令データの伝送に適用できる調整を作るためにメモリからメモリ制御器に伝送する。
この方法において、書き込み以外の動作はEDC動作の終了を待たず、遅延なしに直ちに実行することができる。書き込み以外の動作はメモリに保存された一つ以上のデータ値を意図的に変更してないので、エラーを有する実行はメモリシステムの連続的な動作に多少致命的ではない。例えば、読み出し動作に係る読み出しアドレスデータにエラーがメモリから読み出された誤ったデータを誘発したら、そのようなデータはメモリ制御器によって捨てられることができ、読み出し動作は再び始まることができる。そのような読み出しの再動作はメモリシステムの全般的な動作を遅延させることになるが、メモリに保存されたデータは損傷されない。
しかし、書き込み動作は保存されたデータを損傷するので、このような実行は対応するEDC動作によって肯定的な指示状態となる。そのために、書き込み動作によるEDC動作だけがメモリ処理量を遅延することができる。結果として、保存されたデータの正確性を保障し、メモリ基盤実行のボトルネック現象が減少される。
本発明によるメモリシステム動作の一つの実施形態が図4に示されている。ここで、メモリ制御器10は、有線チャネル13を介してメモリ20に接続される。メモリ20はDRAMとして仮定できるが、他の形態の揮発性メモリ(例えば、SRAM)、不揮発性メモリ(例えば、フラッシュメモリ)または揮発性及び不揮発性素子が混合されたメモリ(例えば、揮発性メモリキャッシュと接続された不揮発性コアメモリ、中間メモリ及び/または臨時バッファ)を選択的に仮定することができる。
図4の実施形態において、メモリ制御器10は外部クロック信号CLKを発生し、信号ラインを介してメモリ20に外部クロック信号CLKを印加するクロック発生器CLKGを含む。非同期メモリシステムにおいて、特にメモリ20に外部クロックの印加は要求されず、メモリ20内に回路の動作を駆動する内部クロックIclkが内部的に発生することができる。メモリ20はメモリ制御器以外の一つ以上の他のソースから発生する外部信号に応答して必要な内部クロック信号を発生することができる。
メモリ制御器10は、さらに命令及びアドレスパケット発生器12C/A_Gを含む。そのため、図4に示す実施形態においてメモリ制御器10とメモリ20との間の命令アドレス伝送はパケット形態として伝送すると仮定する。データパケットの定義と発生は一般的であり、C/Aパケット発生器12については詳細な説明で記述する。C/A発生器12により発生されたC/Aパケットは実施形態において単方向C/Aバスを介してメモリ20に伝送する。
メモリ制御器10はデータ送信機14及びデータ受信機15を含む。データ送信機14はメモリ20に伝送のための書き込みデータを発生する。実施形態において、書き込みデータは単方向書き込みバスWBを介して伝送される。書き込みデータはメモリ制御器10からの命令により指示された書き込み動作に応答してメモリ20に保存されるデータである。実施形態において、書き込みデータは対応する書き込み命令とともに並列でメモリ20に伝送する。しかし、書き込みデータはメモリ制御器10によって対応する書き込み命令の伝送前後に伝送する。
データ受信機15はメモリ20から読み出しデータを受信する。読み出しデータはメモリ制御器10によって伝送される読み出し命令に応答してメモリ20から受信されるデータである。読み出しデータは単方向読み出しバスRBを介してメモリ20からメモリ制御器10に伝送する。
したがって、図4の実施形態において、チャネル13はクロック信号ライン、第1単方向C/Aバス、第2単方向書き込みバス、及び第3単方向読み出しバスを含む。追加的に、エラー信号ラインがメモリ20からメモリ制御器10にエラー検出を伝送するために用いられることもできる。分離された単方向バスの使用はバス衝突を仲栽する必要性が減少するということを含むいくつかの性能上のメリットを有する。さらに、第1、第2及び第3バス間のバス幅(例えば、各バスを形成する信号の数)が最適化される。よって、対応する第1、第2、及び第3バス幅が同一であるか、または異なることができる。例えば、異なるバス幅は最大データ伝送効率を達成するために書き込み及び読み出し動作のために用いられることができる。例えば、2002年2月21日付に公開されたアメリカ合衆国公開特許番号2002/0023191明細書を参照されたい。
図4の実施形態において、メモリ20は外部クロック信号CLKを受信し、少なくとも一つの内部クロック信号Iclkを発生する内部クロック発生器ICLKG22を含む。内部クロック発生器11によって発生される少なくとも一つの内部クロック信号はメモリ20の多様な回路に印加される。例えば、図4の同期型DRAMの例において、内部クロック信号Iclkは内部読み出し/書き込みデータバッファ30、32だけでなく、パケット受信機PR24にも印加される。メモリ制御器10内に外部クロック発生器11のように、内部クロック発生器22の設計は一般的なものとして考えても良い。
パケット受信機24は、さらにその設計及び動作上において一般的なものとすることができる。パケット受信機24はメモリ制御器10からC/Aバスを介して伝送されるC/Aパケットを受信する。以後、C/Aパケット内に含まれたデータをデコードする。デコードはパケットデータビットからそれらの構成要素を分離するものとすることができる。例えば、命令データからアドレスデータを分離し、EDCデータからアドレスデータを分離するものとすることができる。選択的にまたは追加的に、パケット受信機24は外部から印加されるパケットデータを内部データにデコードして変換することができる。このような変換は、信号レベルの遷移またはデータビットの再タイミング(re−timing)とすることができ、またはルックアップテーブルを含む外部対内部コード変換及び/またはデータ変換アルゴリズムの実行を含むことができる。計算上または動作上の複雑度に関係なく、図4の実施形態において、パケット受信機24は受信命令から内部命令com、内部アドレスadd、及び内部EDCデータedcを発生することができる。
パケット受信機の概念は、メモリ制御器10とメモリ20間のデータのパケット化された伝送を仮定する実施形態から誘導されることができる。パケット化ではないメモリシステムで、さらに多い一般的な「受信機ブロック」が命令を受信してデコードするために用いられることができる。
内部EDCデータは内部命令及び/または内部アドレスに対して出されることができる。よって、その後に実行されるEDC動作は内部命令を指示するデータだけに、内部アドレスを指示するデータだけに、または単一データブロックまたは分離したデータブロックとして命令及びアドレスデータにすべて印加されることができる。よって、実施形態において、エラー検出器ED28は内部命令、内部アドレス及び内部EDCデータを受信する。受信されたデータを用いて定義されたEDC動作を実行した後、エラー検出器28は受信されたC/Aデータパケットにエラーの存在可否を指示するエラー信号erを発生する。
用語の「エラー検出器」は、CRC技術を具現したように構成要素エラー検出器を指示するために用いられる。しかし、この用語はただエラー検出回路または類似の機能のみに多少制限されるものとして解釈されてはいけない。むしろ、このような回路はさらに多様なレベルのエラー訂正能力を結合することができる。
内部アドレスは、一般的なDRAMメモリコア36とともに構成された一般的なアドレスデコーダAD34に印加される。アドレスデコーダ34はメモリコア35内に多様な動作を具現するワードラインWLiとビットラインYi信号を発生するために用いられる。
内部命令はメモリ20内の命令デコーダCD26にさらに印加される。命令デコーダ26はその設計及び動作において一般的なものとすることができる。図4の実施形態において、複数ビット内部命令はパケット受信機24によって発生されて命令デコーダ26に印加される。内部命令に応答して、命令デコーダ26は複数個のメモリ制御信号を発生する。命令デコーダ26により発生される制御信号の数及び性質は関連周辺回路だけではなく、用いられるメモリコアの性質及び形態によって変更される。図4の実施形態において、チップ活性化ACT、フリーチャージPRE、リフラッシュRE、及び書き込みイネーブルWEなどのような一般的なDRAM制御信号は命令デコーダ26により発生される。書き込みイネーブル信号以外のこのような制御信号はメモリコア36及び関連周辺回路に印加されることができる。
しかし、メモリ20において書き込み動作を実行する回路に書き込みイネーブル信号を印加する場合はエラー検出器28によって実行されるEDC検証動作を考慮しなければならない。すなわち、メモリ20において書き込み動作を実行させる一つ以上の制御信号の印加は内部書き込み命令及び/または内部アドレスに係るデータが有効というエラー検出ブロック28からの指示によってゲートされる。用語の「書き込みイネーブル信号」は、単一信号指示のみに制限されない。むしろ、本発明の実施形態は、単一または組み合わされた一つ以上の制御信号(または、データ値)が書き込み動作を実行させるために用いられることができるということを認識する。あるフォーマットまたは組み合わせに印加される制御信号は用途の単純化のために「書き込みイネーブル信号」として記載することができる。
書き込み動作データに係る書き込みイネーブル信号と有効データのEDC関連指示との間の機能的な関係は、多様な方法で達成することができる。例えば、メモリ内蔵制御器(memory−resident controller)で実行されたソフトウェアルーチンまたは類似な制御ロジッグは、EDC動作を具現するまた他のルーチンから指示が受信されるまで書き込みイネーブル信号の印加を遅延するために用いられることができる。選択的に、書き込みイネーブル信号のゲートは多くの他の回路を使用して達成することができる。
図4の実施形態において、書き込みイネーブル信号伝送ブロック38は命令デコーダ26により発生した書き込み信号をメモリコア36及びこれに係る回路により印加をゲートするために用いられる。
図5は、書き込みイネーブル伝送ブロック38の詳細構成を示す図である。命令デコーダ26により発生した書き込みイネーブル信号WRは、フリップフロップまたはラッチ回路のような遅延素子38−1で受信される。遅延素子38−1の出力がフリップフロップ回路のようなスイッチ素子38−2に印加される。この信号はエラー検出器28により発生したエラー信号erの印加に最終書き込みイネーブル信号FWRとしてスイッチ素子38−2から出力される。最終書き込みイネーブル信号FWRはメモリコア36及びこれに係る回路内の書き込み動作の実行を制御する。当業者はメモリコアに印加される書き込みイネーブル信号に印加されたエラー指示ゲート機能を具現するために用いられることができる多くの他の回路があるということを認識することができる。
上述のように、エラー検出器28により発生したエラー信号erは、多くの他のエラー検出及び/またはエラー訂正アルゴリズム、回路、及び/またはプロトコルの結果とすることができる。エラー信号erを発生することができる回路の一つの単純な例が図6に示されている。そこに、エラー検出器28のさらに具体的な構成が示されている。
エラー検出器28は、CRCアルゴリズムを具現することができる一般的なEDC発生器28−1を含む。具体的な例において、EDC発生器28−1は内部命令及び内部アドレスをすべて受信し、受信されたデータに関する内部CRCデータicrcを発生する。内部CRCデータicrcは、一般的な比較回路28−2でパケット受信機24から供給されたEDCデータ(例えば、メモリ制御器10)により計算され、命令パケット内のメモリ20に伝送された外部CRCデータと比較される。このような二つのデータの成功的な比較はエラー検出器ブロック28から肯定的な(エラーなし)指示をもたらす。このような二つのデータの不成功な比較はエラー検出器ブロック28からの否定的な(エラーあり)指示をもたらす。一実施形態において、エラー検出器28によりエラー信号erは否定的または肯定的な指示を提供する単純なロジッグ信号(例えば、フラッグ値)とすることができる。
メモリ20に伝送された命令パケットにおいて一つ以上のエラーの存在は、対応するメモリ制御器10について考慮すべき事項である。エラーはノイズチャネル13によりデータパケットに発生する。しかし、データビットエラーは他に多様なソースを有する。多くのメモリ制御器はデータ伝送の正確性を改善するための可変的な能力を含む。例えば、メモリ20からのエラー指示に応答してメモリ制御器10はチャネル13においてノイズ効果を減少するために信号伝送強度を増加することができる。メモリ制御器10はさらにデータ伝送率を減少することができ、さらに強力なエラー検出及び訂正技術を用いることができる。選択的に、メモリ制御器10は単純にエラーがある命令を再伝送したり、さらに高い伝送強度及び/またはさらに遅い伝送率でエラーがある命令を再伝送したりすることができる。メモリ20は、エラー指示がエラー検出器28により発生した際にメモリ制御器10に「エラーフラッグ」を伝送する。エラーフラッグは多くの他の形態の一つとすることができ、図4の例では単純に2進データ信号がメモリ20からメモリ制御器10にエラーフラッグ信号ラインを介して伝送される。フラッグ信号は命令パケットの伝送によるメモリ制御器10により検出することができる。
図4の例において、メモリ20は、さらに単方向書き込みバスWBから書き込みデータを受信する書き込みデータバッファ(DIB)30を含む。受信された書き込みデータはメモリコア36に係る回路に伝送するまで書き込みデータバッファ30に維持される。例において、メモリ制御器10からの書き込みデータは印加された内部クロックIclkと最終書き込みイネーブル信号FWRに応答して内部書き込みデータiwdとしてメモリコア36に出力される。
メモリ20は、さらにメモリコア36から読み出しデータirdを受信する読み出しデータバッファ(DOB)32を含む。受信された読み出しデータは単方向読み出しバスRBを介してメモリ制御器10に伝送するまで読み出しデータバッファ32に維持される。示す例において、メモリコア36から読み出しされた読み出しデータは印加された内部クロックIclkと命令デコーダ26により発生した読み出しイネーブル信号REに応答してメモリ制御器10に出力される。実施形態において、メモリ20からメモリ制御器10に提供された読み出しデータはメモリ制御器10内のデータ受信機15に印加された一つ以上の読み出しクロック信号を含むことができる。
図7は本発明の実施形態に用いられるデータパケットの実施形態を示す図であって、メモリ制御器とメモリ間に有線接続を提供するメモリシステムにおいて、データパケットは一般的に一連のタイミング間隔の間に複数個の信号ラインを介して伝送されるデータビットのグループとして定義することができる。メモリ10のクロック発生器11により発生した外部クロック信号CLKの周期はこのようなタイミング間隔を定義するために用いられる。示す例において、メモリ制御器10の対応する出力ピンに接続された6個の信号ラインは、54個のデータビットまで含む命令パケットを伝送するための9個の連続的なタイミング間隔の間に用いられる。実施形態のデータパケットはデータ(例えば、/CS、/RAS、/CAS、及び/WE)、アドレスデータ(例えば、R0−R12及びC0−C12)、データなし(X)、及び制御及びアドレスデータに係るEDCデータ(例えば、8bitCRCデータ)を含む。
このデータパケットは、パケット受信機24により受信された場合、多様なデータビットは整列され、変換され、解釈されることができ、その後、メモリ20内の他の回路に伝送する。示す例は本発明の実施形態に用いられる多くのデータパケット定義のうちの一つである。メモリ制御器10とメモリ20間に交換されるデータパケットの定義は、メモリシステムのチャネル形態、動作速度、メモリ集積度、及び類似設計構成により変化することができる。示されたメモリシステムのためのEDC能力は簡単なCRCプロトコルに制限される。しかし、さらに多様な性能の優れたエラー検出/訂正プロトコルが用いられることができる。そのようなプロトコルは、もちろん命令パケットに伝送するEDCデータの特性及び量に影響を及ぼすものである。
前述の実施形態は、メモリ制御器10及びメモリ20に明確にある機能及び能力を強調するために説明された。当業者は機能及び能力が多様な他の回路の組み合わせとして具現することができるということを認識することができる。上述の実施形態の組み合わせ及び/または分割は作われることができる。選択的に、ソフトウェアは一つ以上のこのような機能及び能力を具現するために用いられる。ハードウェア及び/またはソフトウェアにより具現するか、またはパケット化するかパケット化しないかのデータ伝送配列を具現するか否かはメモリ20がメモリシステム命令を受信し、命令をデコードし、一つ以上のメモリコアに関する命令が実行できるデコード/実行ブロックを含むか否かにによるものである。
実際に、一つ以上の制御器、マイクロプロセッサ、またはASICs(Application Specific Integrated Circuits)及び関連ソフトウェアは、図4の一つ以上の回路に属する機能及び能力を具現するために用いられる。例えば、命令デコーダ26及びエラー検出器28の機能は、ソフトウェアにより制御される単一計算プラットフォーム(plat form)で結合されることができる。パケット受信機24は内部クロック発生器22及び/またはエラー検出器28及び/または命令デコーダ26の機能を含むことができる。書き込みデータバッファ30及び読み出しデータバッファ32は単一集積メモリ回路として具現することができる。要約すると、特定回路の定義は全般的なメモリシステム設計及びデータパケットの定義によるものである。
追加例として、図8の実施形態が提供され、この実施形態は図4の実施形態と最も類似していて、類似の構成要素及び機能についての説明は省略する。実施形態間の相違に焦点を合わせて、メモリ制御器10’は図4の命令及びアドレスパケット発生器12(C/A_G)及びデータ送信機14の機能を単一命令/アドレス/書き込み発生器16(C/A/WD_G)に結合する。C/A/WD発生器16は単一単方向バスを介してメモリ20’に接続され、メモリ制御器10’からメモリ20’に伝送された命令パケットで書き込み命令に係る書き込みデータの組み合わせは単純化されたチャネル13及びメモリ20’においてデータ処理の複雑性を減らすいくつかのメリット有する。
チャネル13’に構造上の変更を追加することで、図8の実施形態はメモリ制御器10’からメモリ20’に伝送するデータパケットの定義に影響を与えられる。すなわち、パケットタイミング間隔の数だけでなく、メモリ制御器10’からメモリ20’に接続する信号ラインの数は各命令に関するデータの量によって考慮すべきである。
例えば、図4のメモリシステムにおいて仮定したように、図8のメモリシステムに対して同一のチャネル及び時間フレームを仮定し、それにより類似のデータパケット定義を仮定するなら、複数のデータパケットを用いる図8のメモリシステムにおいて命令を伝送する必要がある。そのような結果が図9A及び図9Bに示されている。ここで、係る第1及び第2データパケットは、メモリ制御器10’からメモリ20’にメモリシステム命令を具現するために他のタイムフレームの間に分離して伝送される。図9Aに示す第1データパケットは制御データ(例えば、/CS、/RAS、/CAS、及び/WE)、アドレスデータ(例えば、R0−R12及びC0−C12)、データなし(X)及び制御及びアドレスデータに関する第1EDCデータ(例えば、5ビットCRCデータ)を含む。図9Bに示す第2データパケットは、書き込みデータ(例えば、D0−D12)、データなし(X)、及び書き込みデータに関する第2EDCデータ(例えば、5ビットCRCデータ)を含む。
第1及び第2データパケットのそれぞれは、第1伝送データ/命令ビットDCを含むにより識別が可能である。このビットは命令/アドレスデータを含むか、または書き込みデータを含むことでデータパケットを識別する。データ/命令ビットに応答してメモリ20’内のパケット受信機24’は構成データの取扱方法が分かる。例えば、図8の実施形態において、パケット受信機24’は図9A及び9Bに示す第1及び第2データパケットを順次に受信することとして仮定する。第1パケット内のデータ/命令ビットに応答してパケット受信機24’は第1パケット指示信号idcを発生し、この信号をエラー検出器28’に印加する。第1パケット指示信号idcによりエラー検出器28’は命令/アドレスデータに関する第1EDCデータを識別し、決まったEDC動作を実行することができる。
パケット受信機24’が第1データパケットを受信すると、第1パケット指示信号idc以外に内部命令com、内部アドレスadd、及び第1EDCデータedcを発生する。このような多様なデータ信号に応答してエラー検出器28’はEDC動作を行い、命令/アドレスデータに関する第1エラー信号er1を発生する。命令デコーダ26’及び書き込みイネーブル信号伝送ブロック38’は第1エラー信号er1に応答して動作する。その後(または、その前)に、パケット受信機24’が第2データパケットを受信すると、第2パケット指示信号idc以外に内部書き込みデータwd及び第2EDCデータを発生する。内部書き込みデータwdは、パケット受信機24’から書き込みデータバッファ30’に伝送されて臨時保存される。第2EDCデータedcに応答してエラー検出器28’は決まったEDC動作を行い、書き込みデータに係る第2エラー信号er2を発生する。第2エラー信号er2は、書き込みデータバッファ30’からメモリコア36’及び関連回路に内部書き込みデータwdの伝送を制御する書き込みデータ伝送ブロック40(DTB)に印加される。そのような方法で、EDC検証書き込みデータが書き込み動作の部分としてメモリコア36’に保存される。
図8の実施形態において、第1及び第2エラー信号er1、er2はメモリ制御器10’に伝送するエラーフラッグ信号を発生するORロジッグ回路に印加される。そのため、命令/アドレスデータまたは書き込みデータから検出されたエラーがメモリ制御器10’に否定的なエラーフラッグの指示をもたらす。
図10は、図8のエラー検出器の実施形態の構成を示すものであり、第1及び第2EDC発生器EDCG1、EDCG2は各イネーブル制御信号として論理的に相補的なパケット指示信号idcを受信する。
第1EDC発生器28’は、CRCアルゴリズムを具現することができる一般的なEDC発生器とすることができる。実施形態において、第1EDC発生器28’−1は、内部命令及び内部アドレスをすべて受信し、受信されたデータに係る第1内部EDCデータicrc1を発生する。第1内部EDCデータicrc1は、一般的な比較回路28’−2のパケット受信機24’から提供された第1EDCデータ(例えば、命令/アドレスデータに関してメモリ制御器10’によって計算され、第1データパケットに含まれてメモリ20’に伝送するCRCデータと比較される。このような二つの結果の成功的な比較は、肯定的な(エラーなし)第1エラー信号er1を発生する。このような2個の結果の不成功な比較は、否定的な(エラーあり)第1エラー信号er1を発生する。
同様に、第2EDC発生器28’−3は、内部書き込みデータを受信し、受信された書き込みデータに関する第2内部EDCデータicrc2を発生する。第2内部EDCデータicrc2は、一般的な比較回路28’−4のパケット受信機24’から提供される第2EDCデータ(例えば、書き込みデータ)に関してメモリ制御器10’によって計算され、第2データパケットに含まれてメモリ20’に伝送するCRCデータと比較される。このような2個の結果の成功的な比較は、ポジティブ(エラーなし)第2エラー信号er2を発生し、このような2個の結果の不成功な比較はネガティブ(エラーあり)第2エラー信号er2を発生する。
図10の実施形態において、単一EDC発生器及び対応する比較器だけが第1及び第2エラー信号を発生するために用いられる。これはEDC発生器に各データ信号を順次に印加し、この後に提供されたEDCに対する結果を比較することで達成される。図11は単一EDC発生器28’−5及び単一比較器28’−6を用いたエラー検出器28’の実施形態の回路を示すもので、相補的なパケット指示信号idcが内部命令com及び内部アドレスaddデータまたは内部書き込みデータwdをEDC発生器28’−5のそれぞれに印加するスイッチを制御するために用いられる。EDC発生器28’−5により順次に発生した内部EDCデータ(例えば、icrc)は第1及び第2エラー信号er1、er2を発生するために印加されたEDC参照値(例えば、外部から供給されるCRCデータ)と比較される。
実施形態は、単一集積回路IC(例えば、DRAM、SRAM、またはフラッシュメモリ)に具現できるメモリとして仮定される。しかし、本発明の実施形態は、単一ICメモリの具現、または一つのメモリ制御器がただ一つのメモリ装置と結合されることに制限されない。
上述のように、メモリシステムの設計及び具現において重要なことの一つは大きさである。図12のメモリシステムは複数個のメモリ素子0からNまでを含めて対応するメモリ20’(例えば、メモリカードまたは類似な装置)とともに配置された単一メモリ制御器10’を備える。各メモリ素子は一つ以上の揮発性または不揮発性メモリを含むことができる。例えば、実施形態において、各メモリ素子は各メモリの垂直に積層された配列を含む。
メモリ制御器10’は、多くの高速点対点の相互接続を含むチャネル13’を介してメモリ20’に接続する。このような高速点対点の相互接続はそれらの構成信号ラインの長さの変化に敏感である。よって、メモリ素子の伸長された側面配置は具現することが難しい。しかし、メモリ素子の垂直に積層された配置は、メモリ制御器10’とメモリ20’間に比較的に短い点対点の相互接続を可能とする。各メモリ素子に積層されたメモリ間に追加的な垂直相互接続は一般的な技術によって構成することができる。例えば、一実施形態において、最下位に配置されたメモリ素子が受信されたアドレスによって積層された他のメモリに受信されたパケットを伝送または再駆動することができる。各メモリ素子はエラー検出器を含むか、または、共通アクセスされた(及び潜在的に最も強力な)エラー検出器28’はメモリ20’に提供することができる。
他の実施形態において、スマートカードは「メモリ制御器」として動作するスマートカード端子と接続されたメモリによって具現することができる。すなわち、スマートカード端子からスカトカードに伝送する命令は上述の実施形態と同様な方法で取り扱うことができる。
EDC能力の結合によってメリットを有するメモリシステムと結合する多くの製品は、さらに上述のようなメモリシステム命令を取り扱うことによってさらなるメリットを有することができる。
従来のメモリシステムのブロック図である。 従来のメモリシステムの他の例で、メモリ制御器とメモリ間に接続可能なチャネル接続形態を示す図である。 本発明の方法実施形態を示すフローチャートである。 本発明の一つの実施形態によるメモリシステムのブロック図である。 図4に示す書き込み伝送ブロックを具現する一実施形態の回路のブロック図である。 図4に示すエラー検出器を具現する一実施形態の回路のブロック図である。 本発明の実施形態による方法及びシステムの具現に有用なデータパケットの概念図である。 本発明の他の実施形態によるメモリシステムのブロック図である。 本発明の実施形態による方法及びシステムの具現に有用な関連データパケットの概念図である。 本発明の実施形態による方法及びシステムの具現に有用な関連データパケットの概念図である。 図8に示すエラー検出器を具現する一実施形態の回路のブロック図である。 図8に示すエラー検出器を具現する他の実施形態の回路のブロック図である。 本発明の実施形態によるメモリカードを備えたメモリシステムのブロック図である。
符号の説明
10:メモリ制御器、11:内部クロック発生器、12:アドレスパケット発生器、13:有線チャネル、14:データ送信機、15:データ受信機、20:メモリ、22:内部クロック発生器、24:パケット受信機、26:命令デコーダ、28:エラー検出器、30:内部読み出しデータバッファ、32:内部書き込みデータバッファ、34:アドレスデコーダ、36:メモリコア、38:書き込みイネーブル信号伝送ブロック

Claims (49)

  1. メモリ制御器からメモリに命令及び該命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを伝送し、
    前記命令をデコードし、
    前記EDCデータに関するEDC動作を行い、
    前記命令が書き込み命令であれば、前記書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を前記EDC動作が完了するまでに遅延し、
    前記命令が書き込み命令でなければ、前記EDC動作の完了に関係なく、前記命令により指示された動作を直ちに実行することを特徴とするメモリシステムの命令取扱方法。
  2. 前記命令は、複数個の命令信号として伝送したり、制御データを含む命令パケットに伝送したり、制御データ及びアドレスデータを含む命令パケットに伝送したり、制御データ、アドレスデータ及び書き込みデータを含む命令パケットに伝送したりすることを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  3. 前記命令は、前記EDCデータを含む命令パケットにより前記メモリに伝送することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  4. 前記命令は、第1単方向バスを介して前記メモリ制御器から前記メモリに伝送することを特徴とする請求項2に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  5. 前記メモリは、第2単方向バスを介して前記命令に応答して前記メモリ制御器で読み出しデータを伝送することを特徴とする請求項4に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  6. 前記第1及び第2単方向バスは、異なるバス幅を有することを特徴とする請求項5に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  7. 前記書き込みデータ及び読み出しデータは、双方向バスを介して前記メモリ制御器と前記メモリ間に伝送することを特徴とする請求項2に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  8. 前記EDC動作は、巡回冗長検査CRCに具現され、前記EDCデータはCRCデータを含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  9. 前記メモリ制御器から前記メモリに伝送する前記命令は、第1単方向バスを介する前記EDCデータ、制御データ及びアドレスデータを有する命令パケットを備え、
    前記命令をデコードすることは、
    パケット受信機から前記命令パケットを受信し、内部命令、内部EDCデータ、及び内部アドレスの発生することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  10. 前記EDC動作を実行することは、
    前記内部EDCデータ、前記内部命令、及び前記内部アドレスをアドレス検出器に印加し、
    前記内部命令、前記内部アドレス及び前記内部EDCデータに関するエラー信号を前記エラー検出器により発生し、
    前記エラー信号を書き込みイネーブル信号伝送ブロックに印加することを特徴とする請求項9に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  11. 前記書き込み動作の実行を遅延することは、
    前記エラー信号に応答して前記書き込み信号伝送ブロックから最終書き込みイネーブル信号を発生することを特徴とする請求項10に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  12. 前記方法は、
    命令デコーダから前記内部命令をデコードし、前記命令により指示された前記動作を実行するためにメモリコアに印加する複数個の制御信号を発生することをさらに備え、
    前記制御信号の一つは、前記書き込み信号伝送ブロックに印加される書き込みイネーブル信号を含むことを特徴とする請求項10に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  13. 前記方法は、
    前記エラー信号に応答して前記メモリからエラーフラッグを発生し、前記エラーフラッグを前記メモリ制御器に伝送する段階をさらに含むことを特徴とする請求項10に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  14. 前記方法は、
    第2単方向バスを介して前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令に係る書き込みデータを伝送する段階と、
    第3単方向バスを介して前記メモリから前記メモリ制御器に前記命令に係る読み出しデータを伝送する段階と、
    のうち少なくとも一つをさらに備えることを特徴とする請求項10に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  15. 前記第2及び第3単方向バスの少なくとも一つは、前記第1単方向バスと異なるバス幅を有することを特徴とする請求項14に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  16. 前記メモリ制御器から前記メモリに伝送する前記命令は、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及びアドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを含む第1命令パケットと、
    書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを含み、
    前記命令信号をデコードすることは、
    パケットデコードから前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  17. 前記EDC動作を実行することは、
    前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記第1パケット指示信号、及び前記内部アドレスをエラー検出器に印加し、
    前記内部命令、前記第1EDCデータ、前記内部アドレス及び前記第1パケット指示信号に関する第1エラー信号を前記エラー検出器から発生し、
    前記第1エラー信号を書き込み信号伝送ブロックに印加することを特徴とする請求項16に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  18. 前記書き込み動作の実行を遅延することは、
    前記第1エラー信号に関する第1最終書き込みイネーブル信号を前記書き込み信号伝送ブロックから発生することを特徴とする請求項17に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  19. 前記命令をデコードすることは、
    前記第2命令パケットを前記パケットデコーダから受信し、内部書き込みデータ、第2内部EDCデータ及び第2パケット指示信号を発生し、
    前記内部書き込みデータを保存することを特徴とする請求項17に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  20. 前記EDC動作を実行することは、
    前記第2内部EDCデータ、前記内部書き込みデータ及び前記第2パケット指示信号を前記エラー検出器に印加し、
    前記内部書き込みデータ、前記第2内部EDCデータ及び前記第2パケット指示信号に関する第2エラー信号を前記エラー検出器から発生することをさらに備えることを特徴とする請求項19に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  21. 前記方法は、
    前記第2エラー信号をデータ伝送ブロックに印加し、
    前記第2エラー信号に応答して前記データ伝送ブロックを介して前記保存した内部書き込みデータをメモリセルアレイに伝送することをさらに備えることを特徴とする請求項20に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  22. 前記方法は、
    前記第1及び第2エラー信号に応答して前記メモリからエラーフラッグを発生し、前記エラーフラッグを前記メモリ制御器に伝送することをさらに備えることを特徴とする請求項20に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
  23. チャネルを介してメモリに接続したメモリ制御器を備え、
    前記メモリ制御器は、
    命令及び前記命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを発生し、前記命令及び前記EDCデータを、チャネルを介して前記メモリに伝送する命令/アドレス伝送ブロックを備え、
    前記メモリは、
    前記命令及び前記EDCデータを受信する受信機と、
    前記命令をデコードし、前記EDCデータに関するEDC動作を実行するデコード/実行ブロックとを備え、
    もし前記命令が書き込み命令でなければ、前記命令により指示された動作の実行を前記EDC動作の完了に関係なく直ちに実行し、もし前記命令が前記書き込み命令なら、前記EDC動作が完了するまでに前記命令により指示された動作の実行を遅延することを特徴とするメモリシステム。
  24. 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、複数個の命令信号、制御データを含む命令パケット、制御データ及びアドレスデータを含む命令パケットまたは制御データ、前記アドレスデータ及び書き込みデータを含む命令パケットを備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
  25. 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、前記EDCデータを含む命令パケットを備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
  26. 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令を伝送する第1単方向バスを備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
  27. 前記チャネルは、前記命令に応答して前記メモリから前記メモリ制御器に読み出しデータを伝送する第2単方向バスをさらに備えることを特徴とする請求項26に記載のメモリシステム。
  28. 前記第1及び前記第2単方向バスは、異なるバス幅を有することを特徴とする請求項27に記載のメモリシステム。
  29. 前記チャネルは、前記メモリ制御器と前記メモリ間に書き込みデータ及び読み出しデータを伝送する双方向バスを備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
  30. 前記デコード/実行ブロックにおいて前記EDC動作の実行は、循環リダンダンシーチェックCRCで具現され、前記EDCデータはCRCデータを含むことを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
  31. 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、制御データ、前記EDCデータ、アドレスデータを含む命令パケットを備え、
    前記受信機ブロックは前記命令パケットを受信し、内部命令、内部EDCデータ及び内部アドレスを発生するパケット受信機を備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
  32. 前記メモリは、
    前記内部EDCデータ、前記内部命令及び前記内部アドレスを受信し、前記内部命令、前記内部アドレス、前記内部EDCデータに関するエラー信号を発生するエラーデコーダと、
    前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加する複数個の制御信号を発生し、前記複数個の制御信号が書き込み信号を備える命令デコーダと、
    前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記命令により指示したように、前記メモリセルアレイ内の書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
    を備えることを特徴とする請求項31に記載のメモリシステム。
  33. 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令を伝送する第1単方向バスを備えることを特徴とする請求項32に記載のメモリシステム。
  34. 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令パケットに係る書き込みデータを伝送する第2単方向バス、及び前記メモリから前記メモリ制御器に前記命令パケットに係る読み出しデータを伝送する第3単方向バスの少なくとも一つをさらに備えることを特徴とする請求項33に記載のメモリシステム。
  35. 前記第2及び第3単方向バスの少なくとも一つは、前記第1単方向バスと異なるバス幅を有することを特徴とする請求項34に記載のメモリシステム。
  36. 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生する前記命令は、
    制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを含む第1命令パケットと、書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを備え、
    前記受信機ブロックは前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス、第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生するパケット受信機を備えることを特徴とする請求項23に記載のメモリシステム。
  37. 前記メモリは、
    前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記内部アドレス及び第1パケット指示信号を受信し、前記内部命令、前記内部アドレス、前記第1内部EDCデータ、及び前記第1パケット指示信号に関する第1エラー信号を発生するエラーデコーダと、
    前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加する複数個の制御信号を発生して前記複数個の制御信号が書き込み信号を含む命令デコーダと、
    前記書き込みイネーブル信号及び前記第1エラー信号を受信し、前記第1エラー信号に応答して前記命令により指示されたように前記メモリセルアレイ内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
    を備えることを特徴とする請求項36に記載のメモリシステム。
  38. 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記第1及び第2命令パケットを伝送する第2単方向バスを含むことを特徴とする請求項37に記載のメモリシステム。
  39. 前記チャネルは、前記メモリから前記メモリ制御器に前記命令に係る読み出しデータを伝送する第2単方向バスをさらに備えることを特徴とする請求項28に記載のメモリシステム。
  40. 前記第1及び第2単方向バスは、互いに異なるバス幅を有することを特徴とする請求項39に記載のメモリシステム。
  41. 点対点の相互接続の集合を介してメモリカード上に配置された複数個のメモリ素子に接続されたメモリ制御器を備え、
    前記メモリ制御器は、命令及び前記命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを発生し、少なくとも一つの相互接続を介して前記複数個のメモリ素子の一つと接続された少なくとも一つのメモリに前記命令及び前記EDCデータを伝送する命令/アドレス伝送ブロックを備え、
    前記メモリは、
    前記命令及び前記EDCデータを受信する受信機ブロックと、
    前記命令をデコードし、前記EDCデータに関するEDC動作を実行するデコード/実行ブロックとを備え、
    もし前記命令が書き込み命令でなければ前記EDC動作の完了に関係なく前記命令により指示された動作の実行をし、もし前記命令が書き込み命令なら前記EDC動作が完了するまでに前記書き込み動作の実行を遅延することを特徴とする高速メモリシステム。
  42. 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、
    制御データ、前記EDCデータ及びアドレスデータを含む命令パケットを備え、
    前記受信機ブロックは前記命令パケットを受信し、内部命令、内部EDCデータ及び内部アドレスを発生するパケット受信機を備えることを特徴とする請求項41に記載の高速メモリシステム。
  43. 前記メモリは、
    前記内部EDCデータ、前記内部命令、及び前記内部アドレスを受信し、前記内部命令、前記内部アドレス及び前記内部EDCデータに関するエラー信号を発生するエラー検出器と、
    前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加する複数個との制御信号を発生し、
    前記複数個の制御信号は書き込み信号を備える命令デコーダと、
    前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記命令により指示されたように前記メモリセルアレイ内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
    を備えることを特徴とする請求項42に記載の高速メモリシステム。
  44. 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令は、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを備える第1命令パケットと、
    書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを含み、
    前記受信機ブロックは、
    前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス、第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生するパケット受信機を備えることを特徴とする請求項41に記載の高速メモリシステム。
  45. 前記メモリは、
    前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記内部アドレス、及び第1パケット指示信号を受信し、前記内部命令、前記内部アドレス、前記第1内部EDCデータ、及び前記第1パケット指示信号に関する第1エラー信号を発生するエラーデコーダと、
    前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加される複数個の制御信号を発生し、前記複数個の制御信号が書き込みイネーブル信号を含む命令デコーダと、
    前記書き込みイネーブル信号及び前記第1エラー信号を受信し、前記第1エラー信号に応答して前記命令により指示されたように前記メモリセルアレイ内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
    を備えることを特徴とする請求項36に記載の高速メモリシステム。
  46. 前記複数個のメモリ素子のうち少なくとも一つは、前記メモリを含む垂直に積層されたメモリを備えることを特徴とする請求項41に記載の高速メモリシステム。
  47. 前記垂直に積層されたメモリは、
    前記積層されたメモリの他のメモリに前記命令及び前記EDCデータを再駆動するために構成された最下位メモリを含むことを特徴とする請求項46に記載の高速メモリシステム。
  48. 前記命令は、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係るエラー検出/訂正EDCデータを含む命令パケットを備え、
    前記メモリカードは、前記EDCデータに応答して少なくとも一つのエラー検出/訂正EDCデータをさらに含むことを特徴とする請求項46に記載の高速メモリシステム。
  49. 前記積層されたメモリそれぞれは、
    前記パケット命令を受信し、内部制御データ、内部アドレスデータ及び内部EDCデータを受信するパケット受信機と、
    前記内部EDCデータ、前記内部命令及び前記内部アドレスを受信し、エラー信号を発生するエラーデコーダと、
    前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加される複数個の制御信号を発生する命令デコーダと、
    前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記命令により指示されたように前記メモリセルアレイ内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生することを特徴とする請求項48に記載の高速メモリシステム。
JP2008026582A 2007-02-08 2008-02-06 メモリシステム及びそのシステムの命令の取扱方法 Active JP5283393B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2007-0013179 2007-02-08
KR1020070013179A KR101308047B1 (ko) 2007-02-08 2007-02-08 메모리 시스템, 이 시스템을 위한 메모리, 및 이 메모리를위한 명령 디코딩 방법
US11/779,345 2007-07-18
US11/779,345 US8020068B2 (en) 2007-02-08 2007-07-18 Memory system and command handling method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008198202A true JP2008198202A (ja) 2008-08-28
JP5283393B2 JP5283393B2 (ja) 2013-09-04

Family

ID=39686912

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008026582A Active JP5283393B2 (ja) 2007-02-08 2008-02-06 メモリシステム及びそのシステムの命令の取扱方法

Country Status (5)

Country Link
US (3) US8020068B2 (ja)
JP (1) JP5283393B2 (ja)
KR (1) KR101308047B1 (ja)
CN (1) CN101241452B (ja)
TW (1) TWI446159B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010003299A (ja) * 2008-06-18 2010-01-07 Intel Corp 共有されるエラー・ビット・コードをもつ共通フレームにおいてデータおよびデータ・マスク・ビットを転送するためのシステム、方法および装置
JP2015099598A (ja) * 2008-12-18 2015-05-28 コンバーサント・インテレクチュアル・プロパティ・マネジメント・インコーポレイテッドConversant Intellectual Property Management Inc. エラー検出方法および1つまたは複数のメモリデバイスを含むシステム
JP7161583B1 (ja) 2021-06-29 2022-10-26 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体装置

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7562285B2 (en) 2006-01-11 2009-07-14 Rambus Inc. Unidirectional error code transfer for a bidirectional data link
US8352805B2 (en) 2006-05-18 2013-01-08 Rambus Inc. Memory error detection
US8132074B2 (en) * 2007-11-19 2012-03-06 Intel Corporation Reliability, availability, and serviceability solutions for memory technology
US20100180183A1 (en) * 2009-01-12 2010-07-15 Macronix International Co., Ltd. Circuit for reducing the read disturbance in memory
US9158616B2 (en) 2009-12-09 2015-10-13 Intel Corporation Method and system for error management in a memory device
US8862973B2 (en) * 2009-12-09 2014-10-14 Intel Corporation Method and system for error management in a memory device
KR101132797B1 (ko) * 2010-03-30 2012-04-02 주식회사 하이닉스반도체 모듈제어회로를 포함하는 반도체모듈 및 반도체모듈의 제어방법
US8533538B2 (en) * 2010-06-28 2013-09-10 Intel Corporation Method and apparatus for training a memory signal via an error signal of a memory
KR101178562B1 (ko) 2010-11-02 2012-09-03 에스케이하이닉스 주식회사 커맨드 제어회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 및 커맨드 제어방법
US10452084B2 (en) * 2012-03-14 2019-10-22 Ademco Inc. Operation of building control via remote device
US9881656B2 (en) 2014-01-09 2018-01-30 Qualcomm Incorporated Dynamic random access memory (DRAM) backchannel communication systems and methods
KR20150142850A (ko) * 2014-06-12 2015-12-23 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 이를 이용한 트레이닝 방법
JP2016110516A (ja) * 2014-12-09 2016-06-20 キヤノン株式会社 メモリコントローラとその制御方法
CN104636674B (zh) * 2015-03-17 2017-06-09 浪潮集团有限公司 一种用于受损数据恢复的线性估计方法
DE102015205670A1 (de) 2015-03-30 2016-06-09 Volkswagen Aktiengesellschaft Angriffserkennungsverfahren, Angriffserkennungsvorrichtung und Bussystem für ein Kraftfahrzeug
US10316403B2 (en) * 2016-02-17 2019-06-11 Dillard University Method for open-air pulsed laser deposition
US10705912B2 (en) 2017-06-07 2020-07-07 Rambus Inc. Energy efficient storage of error-correction-detection information
US11361839B2 (en) 2018-03-26 2022-06-14 Rambus Inc. Command/address channel error detection
US10388362B1 (en) * 2018-05-08 2019-08-20 Micron Technology, Inc. Half-width, double pumped data path
DE202018006211U1 (de) * 2018-09-10 2019-08-19 Inova Semiconductors Gmbh Segmentierte Steuerungsanordnung
CN114880164B (zh) * 2022-07-12 2022-09-20 合肥康芯威存储技术有限公司 一种管理存储页的方法和装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63221445A (ja) * 1987-02-12 1988-09-14 ハネイウェル・ブル・イタリア・エス・ピー・ア メモリシステム及び関連の誤まり検出及び訂正装置
US5216672A (en) * 1992-04-24 1993-06-01 Digital Equipment Corporation Parallel diagnostic mode for testing computer memory
JP2001312428A (ja) * 2000-05-02 2001-11-09 Nec Eng Ltd データバッファ監視回路

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4335715A (en) * 1980-06-20 1982-06-22 Kirkley William H Osteotomy guide
US5163940A (en) * 1991-03-04 1992-11-17 American Cyanamid Company Surgical drill guide for tibia
JPH0523395A (ja) 1991-07-24 1993-02-02 Toyobo Co Ltd 血液浄化吸着材
JP2965776B2 (ja) 1992-02-17 1999-10-18 功二 橋本 高耐食アモルファスアルミニウム合金
US5357529A (en) * 1992-04-24 1994-10-18 Digital Equipment Corporation Error detecting and correcting apparatus and method with transparent test mode
US6035369A (en) * 1995-10-19 2000-03-07 Rambus Inc. Method and apparatus for providing a memory with write enable information
KR100488822B1 (ko) 1996-10-21 2005-08-05 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드 에러정정메모리
GB2361848A (en) 2000-04-25 2001-10-31 Ibm Error correction for system interconnects
CN100544219C (zh) * 2001-06-11 2009-09-23 高通股份有限公司 用于在电信设备定位系统中校正多径误差的系统
US20040064660A1 (en) * 2002-09-27 2004-04-01 Lyons Michael Stewart Multiplexed bus with multiple timing signals
US7877647B2 (en) 2003-05-23 2011-01-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Correcting a target address in parallel with determining whether the target address was received in error
KR100546135B1 (ko) * 2004-05-17 2006-01-24 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63221445A (ja) * 1987-02-12 1988-09-14 ハネイウェル・ブル・イタリア・エス・ピー・ア メモリシステム及び関連の誤まり検出及び訂正装置
US4862462A (en) * 1987-02-12 1989-08-29 Honeywell Bull Italia S.P.A. Memory systems and related error detection and correction apparatus
US5216672A (en) * 1992-04-24 1993-06-01 Digital Equipment Corporation Parallel diagnostic mode for testing computer memory
JP2001312428A (ja) * 2000-05-02 2001-11-09 Nec Eng Ltd データバッファ監視回路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010003299A (ja) * 2008-06-18 2010-01-07 Intel Corp 共有されるエラー・ビット・コードをもつ共通フレームにおいてデータおよびデータ・マスク・ビットを転送するためのシステム、方法および装置
JP2013065347A (ja) * 2008-06-18 2013-04-11 Intel Corp 共有されるエラー・ビット・コードをもつ共通フレームにおいてデータおよびデータ・マスク・ビットを転送するためのシステム、方法および装置
JP2015099598A (ja) * 2008-12-18 2015-05-28 コンバーサント・インテレクチュアル・プロパティ・マネジメント・インコーポレイテッドConversant Intellectual Property Management Inc. エラー検出方法および1つまたは複数のメモリデバイスを含むシステム
JP7161583B1 (ja) 2021-06-29 2022-10-26 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体装置
JP2023005422A (ja) * 2021-06-29 2023-01-18 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW200836057A (en) 2008-09-01
US8020068B2 (en) 2011-09-13
US20120005555A1 (en) 2012-01-05
US8037390B2 (en) 2011-10-11
KR101308047B1 (ko) 2013-09-12
US20080195922A1 (en) 2008-08-14
KR20080074316A (ko) 2008-08-13
CN101241452A (zh) 2008-08-13
US8205135B2 (en) 2012-06-19
CN101241452B (zh) 2012-08-29
JP5283393B2 (ja) 2013-09-04
TWI446159B (zh) 2014-07-21
US20080195914A1 (en) 2008-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5283393B2 (ja) メモリシステム及びそのシステムの命令の取扱方法
US8880970B2 (en) Error detection method and a system including one or more memory devices
US20110246857A1 (en) Memory system and method
KR102393427B1 (ko) 반도체장치 및 반도체시스템
US9166625B2 (en) Circuits, integrated circuits, and methods for interleaved parity computation
US9923578B2 (en) Parity check circuit and memory device including the same
US10860518B2 (en) Integrated circuit system
EP2359372A1 (en) Error detection method and a system including one or more memory devices
US8045405B2 (en) Memory system, memory device and command protocol
US10319455B2 (en) Semiconductor device
US9239755B2 (en) Semiconductor device and semiconductor system including the same
TWI358735B (en) Memory access control method
US11309046B2 (en) Semiconductor devices and semiconductor systems including the same
US12073918B2 (en) Memory device deserializer circuit with a reduced form factor
US11048602B2 (en) Electronic devices
CN115732014A (zh) 半导体存储装置
CN111666176A (zh) 半导体器件

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130115

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130409

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130412

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130424

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130517

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130528

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5283393

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250