JP5283393B2 - メモリシステム及びそのシステムの命令の取扱方法 - Google Patents
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Description
メモリ2は、動作特性において揮発性または不揮発性とすることができる。揮発性メモリは、パワーがメモリに印加される間だけに保存されるデータを保有する。動的半導体メモリ装置(DRAM)及び静的半導体メモリ装置(SRAM)は揮発性メモリとしてよく知られている。一方、不揮発性メモリはパワーが印加されなくても保存されたデータを保有する能力を有する。フラッシュメモリは不揮発性メモリの代表的な一例である。
最後として、図2に示す第4例において、共通単方向バスはメモリ制御器1からメモリ2に制御データ、アドレスデータ及び書き込みデータだけでなく、メモリ2からメモリ制御器1に読み出しデータを通信するために用いられる。一方、ある制御信号ラインC/Sは、共通双方向バス外部のメモリ制御器1とメモリ2との間に定義される。この例において、読み出しデータはメモリ2からメモリ制御器1に通信する前にパケット化される。
しかしながら、増加する早いクロック速度は、データ通信(伝送及び/または受信)のエラー可能性を増加させる。実に、メモリシステムは極めて複雑であり、データ伝送速度は非常に早くなっている。あらゆるメモリシステムは、データエラーの不可欠な結果を無くすためにエラー検出及び/またはエラー訂正(単一または全体的に「EDC」(Error Detection and Correction)という)能力と結合される。
メモリ制御器により提供されたEDCデータが利用できる場合、メモリは追加的にまたは選択的に受信されたデータのエラーを訂正することができるエラー訂正回路及び/またはソフトウェアルーチンを含むことができる。メモリシステムのEDC能力の全般的な性能は設計選択の問題であるが、EDC能力の提供を増加させることがメモリシステムで行なわれる。
EDC能力はメモリ制御器とメモリ間に伝送するデータの検証に大きなメリットを提供するが、そのためには費用が発生する。メモリシステム動作の全体的な速度のためにさらに高額になる。EDC動作はメモリ制御器に従っていて、特にEDC動作はメモリシステム内のデータ処理量におけるボトルネック現象を生じるメモリに従うものである。よって、メモリシステム設計者はメモリシステムの動作性能を向上するためにデータ処理量を増加させねばならない要求に直面している。
この方法は、メモリ制御器からメモリに命令及び命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを伝送し、前記命令をデコードして前記EDCデータに係るEDC動作を行い、前記命令が書き込み命令であれば、前記EDC動作が完了するまで前記書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を遅延し、前記命令が前記書き込み命令でなければ、前記EDC動作の完了に関係なく、前記命令により指示された動作を実行することを特徴とする。
本発明のメモリシステム及びそのシステムの命令取扱方法は、書き込み命令と書き込み以外の命令を判別し、書き込み以外の命令である場合にはEDC動作の完了に関係なく動作を行なうことが可能であり、高速動作を行なうことができる。
Claims (43)
- メモリ制御器からメモリに命令及び該命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを伝送し、
前記命令をデコードし、並列して前記EDCデータに関するEDC動作を行い、
前記命令をデコードすることは、
パケット受信機から命令パケットを受信し、内部命令、内部EDCデータ及び内部アドレスを発生し、
前記命令が書き込み命令であれば、前記書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を前記EDC動作が完了するまでに遅延し、
前記命令が書き込み命令でなければ、前記EDC動作の完了に関係なく、前記命令により指示された動作を直ちに実行し、
前記EDC動作を実行することは、
前記内部EDCデータ、前記内部命令及び前記内部アドレスをエラー検出器に印加し、
前記内部命令、前記内部アドレス及び前記内部EDCデータに関するエラー信号を前記エラー検出器により発生し、
前記エラー信号を書き込みイネーブル信号伝送ブロックに印加することを特徴とするメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記命令は、制御データを含む命令パケットで伝送したり、制御データ及びアドレスデータを含む命令パケットで伝送したり、制御データ、アドレスデータ及び書き込みデータを含む命令パケットで伝送したりすることを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記命令は、前記EDCデータを含む命令パケットで前記メモリに伝送することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記命令は、第1単方向バスを介して前記メモリ制御器から前記メモリに伝送することを特徴とする請求項2に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記メモリは、第2単方向バスを介して前記命令に応答して前記メモリ制御器で読み出しデータを伝送することを特徴とする請求項4に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記第1及び第2単方向バスは、異なるバス幅を有することを特徴とする請求項5に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記書き込みデータ及び読み出しデータは、双方向バスを介して前記メモリ制御器と前記メモリ間に伝送することを特徴とする請求項2に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記EDC動作は、巡回冗長検査CRCに具現され、前記EDCデータはCRCデータを含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記メモリ制御器から前記メモリに伝送する前記命令は、前記EDCデータ、制御データ及びアドレスデータを有する命令パケットを備え、前記命令は、第1単方向バスを介して伝送することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- 前記書き込み動作の実行を遅延することは、
前記エラー信号に応答して前記書き込み信号伝送ブロックから最終書き込みイネーブル信号を発生することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
命令デコーダから前記内部命令をデコードし、前記命令により指示された前記動作を実行するためにメモリコアに印加する複数個の制御信号を発生することをさらに備え、
前記制御信号の一つは、前記書き込み信号伝送ブロックに印加される書き込みイネーブル信号を含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
前記エラー信号に応答して前記メモリからエラーフラッグを発生し、前記エラーフラッグを前記メモリ制御器に伝送する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
第2単方向バスを介して前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令に係る書き込みデータを伝送する段階と、
第3単方向バスを介して前記メモリから前記メモリ制御器に前記命令に係る読み出しデータを伝送する段階と、
のうち少なくとも一つをさらに備えることを特徴とする請求項1に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記第2及び第3単方向バスの少なくとも一つは、第1単方向バスと異なるバス幅を有することを特徴とする請求項13に記載のメモリシステムの命令取扱方法。
- メモリ制御器からメモリに命令及び該命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを伝送し、
前記メモリ制御器から前記メモリに伝送する前記命令は、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及びアドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを含む第1命令パケットと、
書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを含み、
前記命令をデコードし、並列して前記EDCデータに関するEDC動作を行い、
前記EDC動作は、少なくとも前記第1EDCデータ及び前記第2EDCデータのうち一つに関連し、
命令信号をデコードすることは、
パケットデコードから前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス、第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生し、
前記命令が書き込み命令であれば、前記書き込み命令により指示された書き込み動作の実行を前記EDC動作が完了するまでに遅延し、
前記命令が書き込み命令でなければ、前記EDC動作の完了に関係なく、前記命令により指示された動作を直ちに実行し、
前記EDC動作を実行することは、
前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記第1パケット指示信号及び前記内部アドレスをエラー検出器に印加し、
前記内部命令、前記第1EDCデータ、前記内部アドレス、及び前記第1パケット指示信号に関する第1エラー信号を前記エラー検出器から発生し、
前記第1エラー信号を書き込み信号伝送ブロックに印加することを特徴とするメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記書き込み動作の実行を遅延することは、
前記第1エラー信号に関する第1最終書き込みイネーブル信号を前記書き込み信号伝送ブロックから発生することを特徴とする請求項15に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記命令をデコードすることは、
前記第2命令パケットをパケットデコーダから受信し、内部書き込みデータ、第2内部EDCデータ及び第2パケット指示信号を発生し、
前記内部書き込みデータを保存することを特徴とする請求項15に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記EDC動作を実行することは、
前記第2内部EDCデータ、前記内部書き込みデータ及び前記第2パケット指示信号を前記エラー検出器に印加し、
前記内部書き込みデータ、前記第2内部EDCデータ及び前記第2パケット指示信号に関する第2エラー信号を前記エラー検出器から発生することをさらに備えることを特徴とする請求項17に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
前記第2エラー信号をデータ伝送ブロックに印加し、
前記第2エラー信号に応答して前記データ伝送ブロックを介して前記保存した内部書き込みデータをメモリセルアレイに伝送することをさらに備えることを特徴とする請求項18に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - 前記方法は、
前記第1及び第2エラー信号に応答して前記メモリからエラーフラッグを発生し、前記エラーフラッグを前記メモリ制御器に伝送することをさらに備えることを特徴とする請求項18に記載のメモリシステムの命令取扱方法。 - チャネルを介してメモリに接続したメモリ制御器を備え、
前記メモリ制御器は、
命令パケット及び前記命令パケットによって指示される命令に係るエラー検出/訂正EDCデータを発生し、前記命令パケット及び前記EDCデータを、チャネルを介して前記メモリに伝送する命令/アドレス伝送ブロックを備え、
前記メモリは、
メモリコアと、
前記命令パケット及び前記EDCデータを受信し、内部命令、内部EDCデータ及び内部アドレスを発生するパケット受信機を備える受信機ブロックと、
前記命令をデコードし、前記EDCデータに関するEDC動作を実行するデコード/実行ブロックとを備え、
もし前記命令が書き込み命令でなければ、前記命令により指示された動作の実行を前記EDC動作の完了に関係なく直ちに実行し、もし前記命令が前記書き込み命令なら、前記EDC動作が完了するまでに前記命令により指示された動作の実行を遅延し、
前記内部EDCデータ、前記内部命令及び前記内部アドレスを受信し、エラー信号を発生するエラーデコーダと、
前記内部命令を受信し、メモリコアに印加する書き込み信号を備える複数個の制御信号を発生する命令デコーダと、
前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記メモリコア内の書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
を備えることを特徴とするメモリシステム。 - 前記命令パケットは、制御データ、アドレスデータ及び書き込みデータのうち少なくとも一つを備えることを特徴とする請求項21に記載のメモリシステム。
- 前記命令パケットは、前記EDCデータをさらに備えることを特徴とする請求項21に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令パケット及び前記EDCデータを伝送する第1単方向バスを備えることを特徴とする請求項21に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記命令パケットに応答して前記メモリから前記メモリ制御器に読み出しデータを伝送する第2単方向バスをさらに備えることを特徴とする請求項24に記載のメモリシステム。
- 前記第1及び前記第2単方向バスは、異なるバス幅を有することを特徴とする請求項25に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記メモリ制御器と前記メモリ間に書き込みデータ及び読み出しデータを伝送する双方向バスを備えることを特徴とする請求項21に記載のメモリシステム。
- 前記デコード/実行ブロックにおいて前記EDC動作の実行は、循環リダンダンシーチェックCRCで具現され、前記EDCデータはCRCデータを含むことを特徴とする請求項21に記載のメモリシステム。
- 前記命令パケットは、制御データ、前記EDCデータ及びアドレスデータを備えることを特徴とする請求項21に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記命令パケットに係る書き込みデータを伝送する第2単方向バス、及び前記メモリから前記メモリ制御器に前記命令パケットに係る読み出しデータを伝送する第3単方向バスの少なくとも一つをさらに備えることを特徴とする請求項24に記載のメモリシステム。
- 前記第2及び第3単方向バスの少なくとも一つは、前記第1単方向バスと異なるバス幅を有することを特徴とする請求項30に記載のメモリシステム。
- 前記命令パケットは、
制御データ、アドレスデータ、並びに前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを含む第1命令パケットと、書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを備え、
前記パケット受信機は、前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス、第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生することを特徴とする請求項21に記載のメモリシステム。 - 前記エラーデコーダは、前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記内部アドレス及び第1パケット指示信号を受信し、第1エラー信号を発生し、
前記命令デコーダは、前記内部命令を受信し、複数個の制御信号を発生し、
前記書き込み信号伝送ブロックは、前記書き込みイネーブル信号及び前記第1エラー信号を受信し、前記第1エラー信号に応答して最終書き込みイネーブル信号を発生することを特徴とする請求項32に記載のメモリシステム。 - 前記チャネルは、前記メモリ制御器から前記メモリに前記第1及び第2命令パケットを伝送する第2単方向バスを含むことを特徴とする請求項33に記載のメモリシステム。
- 前記チャネルは、前記メモリから前記メモリ制御器に前記第1及び第2命令パケットのうち少なくとも一つに係る読み出しデータを伝送する第2単方向バスをさらに備えることを特徴とする請求項26に記載のメモリシステム。
- 前記第1及び第2単方向バスは、互いに異なるバス幅を有することを特徴とする請求項35に記載のメモリシステム。
- 点対点の相互接続の集合を介してメモリカード上に配置された複数個のメモリ素子に接続されたメモリ制御器を備え、
前記メモリ制御器は、命令を指示し制御データ及びアドレスデータを備える命令パケットを発生し、前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係るエラー検出/訂正EDCデータをさらに発生し、少なくとも一つの相互接続を介して前記複数個のメモリ素子の一つと接続された少なくとも一つのメモリに前記命令パケット及び前記EDCデータを伝送する命令/アドレス伝送ブロックを備え、
前記メモリは、
メモリーコアと、
前記命令パケット及び前記EDCデータを受信し、内部命令、内部EDCデータ及び内部アドレスを発生するパケット受信機を備える受信機ブロックと、
前記命令をデコードし、前記EDCデータに関するEDC動作を実行するデコード/実行ブロックとを備え、
もし前記命令が書き込み命令でなければ前記EDC動作の完了に関係なく前記命令により指示された動作の実行をし、もし前記命令が書き込み命令なら前記EDC動作が完了するまでに前記書き込み動作の実行を遅延し、
前記内部EDCデータ、前記内部命令及び前記内部アドレスを受信し、エラー信号を発生するエラーデコーダと、
前記内部命令を受信し、メモリコアに印加する書き込み信号を備える複数個の制御信号を発生する命令デコーダと、
前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記メモリコア内の書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
を備えることを特徴とするメモリシステム。 - 前記命令/アドレス伝送ブロックにより発生した前記命令パケットは、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係る第1EDCデータを備える第1命令パケットと、
書き込みデータ及び前記書き込みデータに係る第2EDCデータを含む第2命令パケットとを含み、
前記パケット受信機は、
前記第1命令パケットを受信し、内部命令、内部アドレス、第1内部EDCデータ及び第1パケット指示信号を発生することを特徴とする請求項37に記載の高速メモリシステム。 - 前記エラーデコーダは、前記第1内部EDCデータ、前記内部命令、前記内部アドレス、及び第1パケット指示信号を受信し、第1エラー信号を発生し、
前記命令デコーダは、前記内部命令を受信し、複数個の制御信号を発生し、
前記書き込み信号伝送ブロックは、前記書き込みイネーブル信号及び前記第1エラー信号を受信し、最終書き込みイネーブル信号を発生することを特徴とする請求項37に記載の高速メモリシステム。 - 前記複数個のメモリ素子のうち少なくとも一つは、前記メモリを含む垂直に積層されたメモリを備えることを特徴とする請求項37に記載の高速メモリシステム。
- 前記垂直に積層されたメモリは、
前記垂直に積層されたメモリの他のメモリに前記命令パケット及び前記EDCデータを再駆動するために構成された最下位メモリを含むことを特徴とする請求項40に記載の高速メモリシステム。 - 前記命令パケットは、制御データ、アドレスデータ、及び前記制御データ及び前記アドレスデータのうち少なくとも一つに係るエラー検出/訂正EDCデータを含み、
前記メモリカードは、前記EDCデータに応答して少なくとも一つのエラー検出/訂正EDCデータをさらに含むことを特徴とする請求項40に記載の高速メモリシステム。 - 前記垂直に積層されたメモリそれぞれは、
メモリーコアと、
パケット命令を受信し、内部制御データ、内部アドレスデータ及び内部EDCデータを受信するパケット受信機と、
前記内部EDCデータ、前記内部命令及び前記内部アドレスを受信し、エラー信号を発生するエラーデコーダと、
前記内部命令を受信し、前記命令を実行するメモリコアに印加される複数個の制御信号を発生する命令デコーダと、
前記書き込みイネーブル信号及び前記エラー信号を受信し、前記エラー信号に応答して前記メモリコア内に書き込み動作を実行するようにする最終書き込みイネーブル信号を発生する書き込み信号伝送ブロックと、
を備えることを特徴とする請求項42に記載の高速メモリシステム。
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Families Citing this family (24)
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US7562285B2 (en) | 2006-01-11 | 2009-07-14 | Rambus Inc. | Unidirectional error code transfer for a bidirectional data link |
US8352805B2 (en) | 2006-05-18 | 2013-01-08 | Rambus Inc. | Memory error detection |
US8132074B2 (en) * | 2007-11-19 | 2012-03-06 | Intel Corporation | Reliability, availability, and serviceability solutions for memory technology |
US8196009B2 (en) * | 2008-06-18 | 2012-06-05 | Intel Corporation | Systems, methods, and apparatuses to transfer data and data mask bits in a common frame with a shared error bit code |
KR101687038B1 (ko) * | 2008-12-18 | 2016-12-15 | 노바칩스 캐나다 인크. | 에러 검출 방법 및 하나 이상의 메모리 장치를 포함하는 시스템 |
US20100180183A1 (en) * | 2009-01-12 | 2010-07-15 | Macronix International Co., Ltd. | Circuit for reducing the read disturbance in memory |
US9158616B2 (en) | 2009-12-09 | 2015-10-13 | Intel Corporation | Method and system for error management in a memory device |
US8862973B2 (en) * | 2009-12-09 | 2014-10-14 | Intel Corporation | Method and system for error management in a memory device |
KR101132797B1 (ko) * | 2010-03-30 | 2012-04-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 모듈제어회로를 포함하는 반도체모듈 및 반도체모듈의 제어방법 |
US8533538B2 (en) * | 2010-06-28 | 2013-09-10 | Intel Corporation | Method and apparatus for training a memory signal via an error signal of a memory |
KR101178562B1 (ko) | 2010-11-02 | 2012-09-03 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 커맨드 제어회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 및 커맨드 제어방법 |
US10452084B2 (en) * | 2012-03-14 | 2019-10-22 | Ademco Inc. | Operation of building control via remote device |
US9881656B2 (en) | 2014-01-09 | 2018-01-30 | Qualcomm Incorporated | Dynamic random access memory (DRAM) backchannel communication systems and methods |
KR20150142850A (ko) * | 2014-06-12 | 2015-12-23 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이를 이용한 트레이닝 방법 |
JP2016110516A (ja) * | 2014-12-09 | 2016-06-20 | キヤノン株式会社 | メモリコントローラとその制御方法 |
CN104636674B (zh) * | 2015-03-17 | 2017-06-09 | 浪潮集团有限公司 | 一种用于受损数据恢复的线性估计方法 |
DE102015205670A1 (de) | 2015-03-30 | 2016-06-09 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Angriffserkennungsverfahren, Angriffserkennungsvorrichtung und Bussystem für ein Kraftfahrzeug |
US10316403B2 (en) * | 2016-02-17 | 2019-06-11 | Dillard University | Method for open-air pulsed laser deposition |
US10705912B2 (en) | 2017-06-07 | 2020-07-07 | Rambus Inc. | Energy efficient storage of error-correction-detection information |
US11361839B2 (en) | 2018-03-26 | 2022-06-14 | Rambus Inc. | Command/address channel error detection |
US10388362B1 (en) * | 2018-05-08 | 2019-08-20 | Micron Technology, Inc. | Half-width, double pumped data path |
DE202018006211U1 (de) * | 2018-09-10 | 2019-08-19 | Inova Semiconductors Gmbh | Segmentierte Steuerungsanordnung |
JP7161583B1 (ja) | 2021-06-29 | 2022-10-26 | ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション | 半導体装置 |
CN114880164B (zh) * | 2022-07-12 | 2022-09-20 | 合肥康芯威存储技术有限公司 | 一种管理存储页的方法和装置 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4335715A (en) * | 1980-06-20 | 1982-06-22 | Kirkley William H | Osteotomy guide |
IT1202527B (it) * | 1987-02-12 | 1989-02-09 | Honeywell Inf Systems | Sistema di memoria e relativo apparato di rivelazione-correzione di errore |
US5163940A (en) * | 1991-03-04 | 1992-11-17 | American Cyanamid Company | Surgical drill guide for tibia |
JPH0523395A (ja) | 1991-07-24 | 1993-02-02 | Toyobo Co Ltd | 血液浄化吸着材 |
JP2965776B2 (ja) | 1992-02-17 | 1999-10-18 | 功二 橋本 | 高耐食アモルファスアルミニウム合金 |
US5216672A (en) | 1992-04-24 | 1993-06-01 | Digital Equipment Corporation | Parallel diagnostic mode for testing computer memory |
US5357529A (en) * | 1992-04-24 | 1994-10-18 | Digital Equipment Corporation | Error detecting and correcting apparatus and method with transparent test mode |
US6035369A (en) * | 1995-10-19 | 2000-03-07 | Rambus Inc. | Method and apparatus for providing a memory with write enable information |
KR100488822B1 (ko) | 1996-10-21 | 2005-08-05 | 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드 | 에러정정메모리 |
GB2361848A (en) | 2000-04-25 | 2001-10-31 | Ibm | Error correction for system interconnects |
JP2001312428A (ja) * | 2000-05-02 | 2001-11-09 | Nec Eng Ltd | データバッファ監視回路 |
CN100544219C (zh) * | 2001-06-11 | 2009-09-23 | 高通股份有限公司 | 用于在电信设备定位系统中校正多径误差的系统 |
US20040064660A1 (en) * | 2002-09-27 | 2004-04-01 | Lyons Michael Stewart | Multiplexed bus with multiple timing signals |
US7877647B2 (en) | 2003-05-23 | 2011-01-25 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Correcting a target address in parallel with determining whether the target address was received in error |
KR100546135B1 (ko) * | 2004-05-17 | 2006-01-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 |
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