JP2008194152A

JP2008194152A - 放射線撮像装置

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Publication number: JP2008194152A
Application number: JP2007030766A
Authority: JP
Inventors: Nobuyasu Sakaguchi; 申康坂口; Kazuyoshi Nishino; 和義西野
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 2007-02-09
Filing date: 2007-02-09
Publication date: 2008-08-28
Anticipated expiration: 2027-02-09
Also published as: JP4853314B2

Abstract

【課題】欠損画素を適正に検出することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】検出されたＸ線に基づく画素値を経時的に逐次に収集して、その画素値の時間変化分に基づいて、画素値の時間変化の統計量として画素値の時間に関する分散（時間分散）σ^２を求める。このように求められた時間分散σ^２は、画素値の時間変化の履歴を表す指標ともなるので、恒常的に欠損画素でない画素についても、その時間分散σ^２に基づいて欠損画素を適正に検出することができる。
【選択図】図６

Description

この発明は、医療分野や、非破壊検査，ＲＩ（Radio isotope）検査，および光学検査などの工業分野や、原子力分野などに用いられる放射線撮像装置に係り、特に、欠損画素を検出する技術に関する。

Ｘ線を例に採ると、放射線撮像装置において画像処理は、フラットパネル型放射線検出器（ＦＰＤ）などに代表される放射線検出手段で検出された放射線に基づいて行われる。上述したＦＰＤは、感応膜が基板上に積層されて構成されており、その感応膜に入射した放射線を検出して、検出された放射線を電荷に変換して、２次元アレイ状に配置されたキャパシタに電荷を蓄積する。蓄積された電荷はスイッチング素子をＯＮすることで読み出されて、電気信号として画像処理部に送り込まれて画像処理が行われる。したがって、キャパシタやスイッチング素子を構成する検出素子ごとに蓄積される電荷の量にバラツキがあり、それによって検出素子ごとの電気信号に基づく画素値についてもバラツキがある。

特に、検出素子として機能しない場合には、画素値が極端に大きくなって画像上で白く浮き出る、あるいは画素値が極端に小さくなって画像上で黒くなる。検出素子の感度が高い場合には、放射線が入射していない状態でも暗電流が発生して画素値が大きくなる。逆に、検出素子の感度が低い、あるいは検出素子にゴミなどが付着した場合には、画素値が小さくなる。このような値を有する画素は『欠損画素』と呼ばれている。

欠損画素を補間する手法として、欠損画素に隣接する複数個の画素から中央値の画素で欠損画素を置換するメディアンフィルタ処理や、隣接する画素に基づいて画素を補間する補間処理などがある（例えば、特許文献１、特許文献２参照）。また、欠損画素を検出して補間する一連の操作（この操作を、以下、『欠損登録』とも呼ぶ）は、所定の期間（例えば１ヵ月）ごとに行われる。

欠損画素を軽減させるのに、欠損登録以外にはキャリブレーションがある。キャリブレーションは、バラツキをなくすために、例えば検出素子ごとの増幅器（アンプ）のゲインをそれぞれ調節して出力側をそろえるものである。所定の期間よりも短い期間での欠損登録には、キャリブレーションを行った画素のデータを用いて欠損画素を検出する（例えば、特許文献３参照）。
特開２０００−２８４０５９号公報（第２−４頁、図２−４）特開２０００−１３５２１０号公報（第４−９頁、図３，４）特開２００５−２７０５５２号公報（第３−８頁、図５−８）

しかしながら、欠損画素については恒常的に欠損である画素以外に、恒常的に欠損画素とは判定されないが画像上に欠損として認められる画素も存在する。すなわち、ある時点では画素値が周囲の画素値と同じレベルで欠損画素でないと判定され、ある時点では画素値が周囲の画素値と比べて極端に大きく／小さくなって欠損画素であると判定される画素が存在する。この画素については、例えばＸ線診断装置におけるＸ線の照射時間の長さに依存して出現率が変化する。したがって、従来技術のなかで最も精度がよいと思われる、特許文献３のようにキャリブレーションを行った画素のデータを用いて欠損画素を検出する方法でも検出することができない。

この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、欠損画素を適正に検出することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。

この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、検出された放射線に基づく画素について欠損画素を検出する欠損画素検出手段とを備え、検出された放射線に基づいて画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、非照射状態あるいは一定強度の放射線照射状態で検出された放射線に基づく画素値を経時的に逐次に収集する画素値収集手段と、画素値収集手段で収集された画素値の時間変化分に基づいて画素値の時間変化の統計量を求める統計量算出手段と、統計量算出手段で求められた画素値の時間変化の統計量に基づいて前記欠損画素検出手段は欠損画素を検出することを特徴とするものである。

［作用・効果］請求項１に記載の発明によれば、画素値収集手段は、非照射状態あるいは一定強度の放射線照射状態で検出された放射線に基づく画素値を経時的に逐次に収集する。画素値収集手段で収集された画素値の時間変化分に基づいて、統計量算出手段は画素値の時間変化の統計量を求める。このように求められた画素値の時間変化の統計量は、画素値の時間変化の履歴を表す指標ともなるので、恒常的に欠損画素でない画素についても、その統計量に基づいて欠損画素検出手段は欠損画素を適正に検出することができる。

上述した発明において、欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を行うために、欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間手段を備えるのが好ましい（請求項２に記載の発明）。放射線検出手段で検出された放射線に基づいて、欠損画素補間手段で欠損画素の補間を行って画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う。

上述したこれらの発明において、上述した統計量算出手段で求められた画素値の時間変化の統計量は、画素値の時間に関する分散である時間分散であり、装置は、各々の画素ごとの時間分散の空間分布を求める空間分布算出手段を備え、空間分布算出手段で求められた各々の画素ごとの時間分散の空間分布から所定範囲を設定して、その所定範囲から外れた時間分散の画素を欠損画素検出手段は欠損画素として検出するのが好ましい（請求項３に記載の発明）。すなわち、画像を構成する各々の画素に対して空間分布をも考慮することで、周囲の画素と比較して欠損画素を検出することができる。

特に、各々の画素ごとの時間分散の空間分布が、各々の画素ごとの時間分散に関するヒストグラムで表される場合、ヒストグラムはほぼ正規分布であるとみなせるので、ヒストグラムの所定範囲（例えば時間分散に関する空間分布の標準偏差の＋数倍の範囲、あるいは±数倍の範囲）から外れた時間分散の画素は、他の周囲の画素と比べたら異質であるとみなせる。したがって、かかる画素を欠損画素として欠損画素検出手段は適正に検出することができる。

この発明に係る放射線撮像装置によれば、画素値の時間変化の統計量は、画素値の時間変化の履歴を表す指標ともなるので、恒常的に欠損画素でない画素についても、その統計量に基づいて欠損画素検出手段は欠損画素を適正に検出することができる。

以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係るＸ線診断装置のブロック図であり、図２は、Ｘ線診断装置に用いられている画像処理部の具体的構成を示したブロック図であり、図３は、Ｘ線診断装置に用いられる側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路であり、図４は、平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。本実施例では、放射線検出手段としてフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、適宜「ＦＰＤ」という）を例に採るとともに、放射線撮像装置としてＸ線診断装置を例に採って説明する。

本実施例に係るＸ線診断装置は、図１に示すように、被検体Ｍを載置する天板１と、その被検体Ｍに向けてＸ線を照射するＸ線管２と、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するＦＰＤ３とを備えている。ＦＰＤ３は、放射線検出手段に相当する。

Ｘ線診断装置は、他に、天板１の昇降および水平移動を制御する天板制御部４や、ＦＰＤ３の走査を制御するＦＰＤ制御部５や、Ｘ線管２の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部６を有するＸ線管制御部７や、ＦＰＤ３から電荷信号であるＸ線検出信号をディジタル化して取り出すＡ／Ｄ変換器８や、Ａ／Ｄ変換器８から出力されたＸ線検出信号に基づいて種々の処理を行う他に後述する画素値の収集や画素値の時間に関する分散（時間分散）や各々の画素ごとの時間分散の空間分布（ヒストグラム）の算出、さらには欠損画素の検出・補間といった欠損登録を行う画像処理部９や、これらの各構成部を統括するコントローラ１０や、処理された画像などを記憶するメモリ部１１や、オペレータが入力設定を行う入力部１２や、処理された画像などを表示するモニタ１３などを備えている。

天板制御部４は、天板１を水平移動させて被検体Ｍを撮像位置にまで収容したり、昇降よび水平移動させて被検体Ｍを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ＦＰＤ制御部５は、ＦＰＤ３を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部６は、Ｘ線を照射させるための管電圧や管電流を発生してＸ線管２に与え、Ｘ線管制御部７は、Ｘ線管２を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させるによる走査に関する制御や、Ｘ線管３側のコリメータ（図示省略）の照視野の設定の制御などを行う。なお、Ｘ線管２やＦＰＤ３の走査の際には、Ｘ線管２から照射されたＸ線をＦＰＤ３が検出できるようにＸ線管２およびＦＰＤ３が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。

Ａ／Ｄ変換器８は、ＦＰＤ３から出力された電荷信号をアナログからディジタルに変換して、ディジタル化したＸ線検出信号を出力する。コントローラ１０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、メモリ部１１は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部１２は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。Ｘ線診断装置では、被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ３が検出して、検出されたＸ線に基づいて画像処理部１０で画像処理を行うことで被検体Ｍの撮像を行う。

図２に示すように、画像処理部９は、非照射状態で検出されたＸ線検出信号に基づく画素値を経時的に逐次に収集する画素値収集部２１と、画素値収集部２１で収集された画素値の時間変化分に基づいて画素値の時間変化の統計量として画素値の時間に関する分散（時間分散）を求める時間分散算出部２２と、時間分散算出部２２で求められた画素値の時間分散に基づいて各々の画素ごとの時間分散に関するヒストグラムを求めるヒストグラム算出部２３と、ヒストグラム算出部２３で求められた各々の画素ごとの時間分散に関するヒストグラムから所定範囲を設定して、その所定範囲（例えば時間分散に関する空間分布の標準偏差の＋６倍の範囲、あるいは±６倍の範囲）から外れた時間分散の画素を欠損画素として検出する欠損画素検出部２４と、欠損画素検出部２４で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間部２５とを備えて構成されている。これらの構成を備えることで画像処理部９は、欠損画素の検出および補間の一連の操作である欠損登録を行う。画素値収集部２１は、この発明における画素値収集手段に相当し、時間分散算出部２２は、この発明における統計量算出手段に相当し、ヒストグラム算出部２３は、この発明における空間分布算出手段に相当し、欠損画素検出部２４は、この発明における欠損画素検出手段に相当し、欠損画素補間部２５は、この発明における欠損画素補間手段に相当する。また、画素値の時間分散は、画素値の時間変化の統計量に相当し、各々の画素ごとの時間分散に関するヒストグラムは、各々の画素ごとの時間分散の空間分布に相当する。

欠損画素検出部２４は、分離回路や比較器などで構成されており、分離回路でＸ線検出信号に基づく画素値をキャパシタやスイッチング素子３２を構成する検出素子ごとに空間的に展開して、展開された画素値を比較することで、最大値あるいは最小値の画素を欠損画素として検出する。なお、欠損画素検出部２４は、上述の構成に限定されず、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）と減算器とで欠損画素検出部２４を構成し、空間的に展開された画素の信号のうち、高周波成分である急峻な画素の信号以外の低周波成分のみをローバスフィルタで通過させ、低周波成分と全体の信号とを減算器で減算して急峻な画素を検出することで、急峻な画素、すなわち最大値あるいは最小値の画素を検出してもよい。

また、欠損画素は、上述した最大値や最小値の画素だけに限定されず、Ｘ線の照射・非照射に関わらず一定の値をもつ画素や、Ｘ線の入射線量に関わらず一定の値をもつ画素や、あるＸ線の入射線量までは一定の値を有して所定のＸ線の入射線量を超えると挙動が不定になる画素や、Ｘ線を検出できない画素などをも含む。これらの恒常的に欠損画素でない画素をも欠損画素として検出するために、欠損画素検出部２４の前段に上述した画素値収集部２１、時間分散算出部２２およびヒストグラム算出部２３を備える。画素値収集部２１、時間分散算出部２２およびヒストグラム算出部２３については図５のフローで後述する。

欠損画素補間部２５は、例えばメディアンフィルタなどで構成されており、複数個の画素からメディアンフィルタで中央値の画素を検出して、その検出された中央値の画素で欠損画素を置換することで欠損画素を補間する。

ＦＰＤ３は、図３に示すように、ガラス基板３１と、ガラス基板３１上に形成された薄膜トランジスタＴＦＴとから構成されている。薄膜トランジスタＴＦＴについては、図３、図４に示すように、縦・横式２次元マトリクス状配列でスイッチング素子３２が多数個（例えば、1024個×1024個）形成されており、キャリア収集電極３３ごとにスイッチング素子３２が互いに分離形成されている。すなわち、ＦＰＤ３は、２次元アレイ放射線検出器でもある。

図３に示すようにキャリア収集電極３３の上にはＸ線感応型半導体３４が積層形成されており、図３、図４に示すようにキャリア収集電極３３は、スイッチング素子３２のソースＳに接続されている。ゲートドライバ３５からは複数本のゲートバスライン３６が接続されているとともに、各ゲートバスライン３６はスイッチング素子３２のゲートＧに接続されている。一方、図４に示すように、電荷信号を収集して１つに出力するマルチプレクサ３７には増幅器３８を介して複数本のデータバスライン３９が接続されているとともに、図３、図４に示すように各データバスライン３９はスイッチング素子３２のドレインＤに接続されている。

図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン３６の電圧を印加（または０Ｖに）することでスイッチング素子３２のゲートがＯＮされて、キャリア収集電極３３は、検出面側で入射したＸ線からＸ線感応型半導体３４を介して変換された電荷信号（キャリア）を、スイッチング素子３２のソースＳとドレインＤとを介してデータバスライン３９に読み出す。なお、スイッチング素子がＯＮされるまでは、電荷信号はキャパシタ（図示省略）で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン３９に読み出された電荷信号を増幅器３８で増幅して、マルチプレクサ３７で１つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をＡ／Ｄ変換器８でディジタル化してＸ線検出信号として出力する。

次に、本実施例装置における一連の画像処理について、図５のフローチャートおよび図６のヒストグラムを参照して説明する。

（ステップＳ１）画素値を経時的に逐次に収集
Ｘ線を照射しない非照射状態でＦＰＤ３が検出してＡ／Ｄ変換器８でディジタル化した後に、画素として画像処理部９に送り込む。かかる非照射状態で所定時間分のＸ線をＦＰＤ３が検出して、画像処理部９の画素値収集部２１は検出されたＸ線に基づく画素値を経時的に逐次に収集する。この所定時間の間では、画像を構成する各々の画素ごとに画素値収集部２１は画素値を収集する。例えば、画像がｍ（例えば縦横1024×1024）個の画素で構成されている場合には、ｍ（1024×1024分）個の画素ごとに画素値を経時的に逐次に収集する。ある時間の画素値をｘ_ｉ（ただしｉ＝１，２，…，ｎ−１，ｎ）とし、ｎを所定時間からフレーム周期を除算して得られたフレーム数とする。

（ステップＳ２）画素値の時間分散の算出
画素値収集部２１で収集された画素値の時間変化分ｘ_１，ｘ_２，…，ｘ_ｎ−１，ｘ_ｎに基づいて時間分散算出部２２は画素値の時間に関する分散（時間分散）を求める。標準偏差をσとすると時間分散はσ^２となり、時間分散σ^２は下記（１）式のように表される。

（ステップＳ３）各々の画素ごとの時間分散に関するヒストグラムの算出
時間分散算出部２２で上記（１）式のように求められた画素値の時間分散σ^２に基づいて、ヒストグラム算出部２３は各々の画素ごとの時間分散σ^２に関するヒストグラムを、図６に示すように求める。具体的には、時間分散σ^２から標準偏差σを求め、さらにその標準偏差σの空間分布における標準偏差（時間分散σ^２に関する空間分布の標準偏差）を求める。その標準偏差をρとすると分散はρ^２となり、分散ρ^２は下記（２）式のように表される。ただし、ｈ＝１，２，…，ｍ−１，ｍである。

実際には、上記（２）式中のｍは、上述した画像を構成する各々の画素の総数である必要はなく、総数の中から適当に区切られたサンプル数であってもよい。ｍをサンプル数とした理由は、取得された画像に欠損が多い場合には、分散が通常のときよりも拡がってしまい、欠損判定が行いにくくなってしまうのを防ぐためである。

各々の画素ごとの時間分散σ^２に関するヒストグラムとして、横軸に標準偏差σをとるとともに、縦軸に度数（ｍ個の頻度に関する度数）をとる。このヒストグラムはほぼ正規分布であるとみなせるので、正常画素の標準偏差は平均値±数ρあたりに集中する。

（ステップＳ４）欠損画素の検出
実際の画像上で恒常的に現れないが、欠損とみなされる画素は、標準偏差σが正常画素よりもかなり大きい、もしくは小さい値を有している。そこで、上記（２）式で求められた標準偏差σの空間分布における標準偏差ρ（時間分散σ^２に関する空間分布の標準偏差ρ）の所定範囲から大きく外れている画素を不安定な欠損画素として検出する。図６では、所定範囲として標準偏差ρ×±６倍、すなわち±６ρの範囲とする。そして、±６ρの範囲外の時間分散σ^２（実際には標準偏差σ）を有する画素は、他の周囲の画素と比べたら異質であるとみなせる。したがって、かかる画素を欠損画素として欠損画素検出部２４は検出する。

６ρを所定範囲として設定したのは統計学的な見地による。なお、６ρから外れた範囲では、統計学的に100万個のデータのうち３ないし４つのデータが当該範囲となり、本実施例では、100万個の画素のうち３ないし４つの画素が欠損画素として検出されることを示す。

なお、実際の画像には欠損画素以外のノイズが恒常的に重畳している。したがって、標準偏差σは、ある程度の値を有しているのが通常であって、その範囲は±６ρの範囲であるとみなすことができる。したがって、−６ρの範囲よりも小さい値を有する標準偏差σの場合には、本来重畳しているはずのノイズが欠損画素によって打ち消されて小さくなっているとみなすことができる。したがって、図６のヒストグラムによって所定範囲から大きく外れている画素を不安定な欠損画素として検出することは、ノイズと欠損画素とを分離することにもなる。

（ステップＳ５）欠損画素の補間
欠損画素検出部２４で検出された欠損画素の補間を欠損画素補間部２５は行う。このように補間された欠損画素を含んだ画像に対して、画像処理部９は、ステップＳ１〜Ｓ５以外の種々の処理を行う。そして、一連の処理を終了する。

以上のように構成された本実施例装置によれば、画素値収集部２１は、非照射状態で検出されたＸ線に基づく画素値を経時的に逐次に収集する。画素値収集部２１で収集された画素値の時間変化分に基づいて、時間分散算出部２２は画素値の時間変化の統計量として画素値の時間に関する分散（時間分散）を求める。このように求められた時間分散は、画素値の時間変化の履歴を表す指標ともなるので、恒常的に欠損画素でない画素についても、その時間分散に基づいて欠損画素検出部２４は欠損画素を適正に検出することができる。

そして、欠損画素検出部２４で検出された欠損画素の補間を行うために、欠損画素検出部２４で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間部２５を備えている。ＦＰＤ（フラットパネル型Ｘ線検出器）３で検出されたＸ線に基づいて、欠損画素補間部２５で欠損画素の補間を行って画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う。

本実施例では、時間分散算出部２２で求められた各々の画素ごとの時間分散の空間分布（各々の画素ごとの時間分散に関するヒストグラム）を求めるヒストグラム算出部２３を備え、ヒストグラム算出部２３で求められた各々の画素ごとの時間分散の空間分布（各々の画素ごとの時間分散に関するヒストグラム）から所定範囲を設定して、その所定範囲から外れた時間分散の画素を欠損画素検出部２２は欠損画素として検出している。すなわち、画像を構成する各々の画素に対して空間分布をも考慮することで、周囲の画素と比較して欠損画素を検出することができる。

特に、各々の画素ごとの時間分散の空間分布が、各々の画素ごとの時間分散に関するヒストグラムで表される場合、上述したようにヒストグラムはほぼ正規分布であるとみなせるので、ヒストグラムの所定範囲（例えば時間分散に関する空間分布の標準偏差の＋数倍の範囲、あるいは±数倍の範囲）から外れた時間分散の画素は、他の周囲の画素と比べたら異質であるとみなせる。したがって、かかる画素を欠損画素として欠損画素検出部２４は適正に検出することができる。

この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。

（１）上述した実施例では、図１に示すようなＸ線診断装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばＣ型アームに配設されたＸ線診断装置にも適用してもよい。また、この発明は、Ｘ線ＣＴ装置にも適用してもよい。

（２）上述した実施例では、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３を例に採って説明したが、画素を区画する２次元マトリクス状で配列された検出素子から構成されるＸ線検出器であれば、この発明は適用することができる。

（３）上述した実施例では、Ｘ線を検出するＸ線検出器を例に採って説明したが、この発明は、ＥＣＴ（Emission Computed Tomography）装置のように放射性同位元素（ＲＩ）を投与された被検体から放射されるγ線を検出するγ線検出器に例示されるように、放射線を検出する放射線検出器であれば特に限定されない。同様に、この発明は、上述したＥＣＴ装置に例示されるように、放射線を検出して撮像を行う装置であれば特に限定されない。

（４）上述した実施例では、ＦＰＤ３は、放射線（実施例ではＸ線）感応型の半導体を備え、入射した放射線を放射線感応型の半導体で直接的に電荷信号に変換する直接変換型の検出器であったが、放射線感応型の替わりに光感応型の半導体を備えるとともにシンチレータを備え、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、変換された光を光感応型の半導体で電荷信号に変換する間接変換型の検出器であってもよい。

（５）上述した実施例では、±６ρの範囲外の時間分散σ^２（実際には標準偏差σ）を有する画素を欠損画素として検出したが、図７に示すように、＋６ρの範囲外の標準偏差σを有する画素を欠損画素として検出してもよい。なお、６ρに限定されずに、統計学的な見地で３ρや２ρやρであってもよい。３ρの場合には、1000個の画素のうち３つの画素が欠損画素として検出されることを示し、２ρの場合には、100個の画素のうち５つの画素が欠損画素として検出されることを示し、ρの場合には、100個の画素のうち32個の画素が欠損画素として検出されることを示す。

（６）上述した実施例では、非照射状態で検出されたＸ線に基づく画素値を経時的に逐次に収集して、収集された画素値の時間変化分に基づいて画素値の時間変化の統計量（実施例では時間分散）を求めたが、一定強度の放射線（実施例ではＸ線）照射状態で検出された放射線（実施例ではＸ線）に基づく画素値を経時的に逐次に収集して、収集された画素値の時間変化分に基づいて画素値の時間変化の統計量（実施例では時間分散）を求めてもよい。

（７）上述した実施例では、画素値の時間変化の統計量として、画素値の時間分散を例に採って説明したが、これに限定されない。例えば、画素値の平均との差分の絶対値の和を、画素値の時間変化の統計量として採用してもよい。

実施例に係るＸ線診断装置のブロック図である。Ｘ線診断装置に用いられている画像処理部の具体的構成を示したブロック図である。Ｘ線診断装置に用いられる側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。一連の画像処理を示すフローチャートである。実施例に係る欠損画素の範囲を表したヒストグラムである。変形例に係る欠損画素の範囲を表したヒストグラムである。

符号の説明

３ … フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
２１ … 画素値収集部
２２ … 時間分散算出部
２３ … ヒストグラム算出部
２４ … 欠損画素検出部
２５ … 欠損画素補間部
σ^２ … 画素値の時間に関する分散（時間分散）
Ｍ … 被検体

Claims

被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、検出された放射線に基づく画素について欠損画素を検出する欠損画素検出手段とを備え、検出された放射線に基づいて画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、非照射状態あるいは一定強度の放射線照射状態で検出された放射線に基づく画素値を経時的に逐次に収集する画素値収集手段と、画素値収集手段で収集された画素値の時間変化分に基づいて画素値の時間変化の統計量を求める統計量算出手段と、統計量算出手段で求められた画素値の時間変化の統計量に基づいて前記欠損画素検出手段は欠損画素を検出することを特徴とする放射線撮像装置。
請求項１に記載の放射線撮像装置において、前記欠損画素検出手段で検出された欠損画素の補間を行う欠損画素補間手段を備え、前記放射線検出手段で検出された放射線に基づいて、欠損画素補間手段で欠損画素の補間を行って画像処理を行うことで、被検体の撮像を行うことを特徴とする放射線撮像装置。
請求項１または請求項２に記載の放射線撮像装置において、前記統計量算出手段で求められた画素値の時間変化の統計量は、画素値の時間に関する分散である時間分散であり、前記装置は、各々の画素ごとの前記時間分散の空間分布を求める空間分布算出手段を備え、空間分布算出手段で求められた各々の画素ごとの時間分散の空間分布から所定範囲を設定して、その所定範囲から外れた時間分散の画素を前記欠損画素検出手段は欠損画素として検出することを特徴とする放射線撮像装置。