JP4396435B2 - 放射線撮像装置 - Google Patents
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Description
X線管制御部6の制御に基づき、X線管3はX線を照射しない。このX線未照射の状態で、FPD制御部7の制御に基づき、FPD4の各検出素子dは、所定の蓄積時間(この蓄積時間を「第1蓄積時間」という)、X線を検出し電荷情報を蓄積する。そして、各検出素子dから蓄積された電荷情報を読み出す。増幅器47は、読み出された各電荷情報を増幅する。A/D変換器9は、増幅された各電荷情報をデジタル化し、X線検出信号として出力する。信号記憶部11は、出力された各X線検出信号を記憶する。
X線未照射の状態で、第1蓄積時間と異なる蓄積時間(この蓄積時間を「第2蓄積時間」という)、FPD4の各検出素子dはX線を検出し電荷情報を蓄積する。その後は、ステップS1と同様に、各検出素子dからX線検出信号を得て、信号記憶部11に記憶する。
差分信号取得部13は、同一の検出素子dから得られた、第1蓄積時間分のX線検出信号と第2蓄積時間分のX線検出信号とを信号記憶部11から読み出して、減算処理を行い、両者の差分信号を求める。
図8(b)は、各検出素子の位置に応じて空間的に展開した差分信号のプロファイルを模式的に示している。なお、図8(a)に示すX線検出信号のプロファイルと対応関係にある。
欠陥素子抽出部15は、差分信号取得部13から得られる差分信号C(i,j)と予め設定されている閾値とを比較し、差分信号が閾値より大きいか否か判断する。大きいと判断したときはステップS5に進み、大きくないと判断したときはステップS6に進む。
欠陥素子抽出部15は、閾値より大きいと判断された差分信号に応じた検出素子dを欠陥素子と判定する。
欠陥情報記憶部17は、欠陥素子と判定された検出素子dを識別する位置情報等を欠陥情報として記憶する。
未処理の差分信号があればステップS4に戻り、未処理の差分信号がなければ終了する。
X線管制御部6の制御に基づき、X線管3はX線を被検体Mに照射する。被検体Mを透過したX線はFPD4に入射する。
FPD制御部7の制御に基づき、FPD4の各検出素子dから入射するX線に応じた電荷情報を読み出す。各電荷情報は、増幅器47とA/D変換器9とを介してX線検出信号となる。
各検出素子dから得られたX線検出信号は、補正部21に入力される。補正部21は、欠陥情報記憶部17に記憶される欠陥情報を参照する。そして、入力されたX線検出信号が、欠陥素子から得られたものであるか否かを判断する。欠陥素子が出力したものである場合は、ステップT4に進む。欠陥素子が出力したものでない場合は、ステップT5に進む。
補正部21は、欠陥素子に隣接する複数個の正常な検出素子dから得られたX線検出信号の中から、中央値を特定する。そして、欠陥素子から得られたX線検出信号を、この中央値に置き換える。
未処理のX線検出信号がないときはステップT6に進み、未処理のX線検出信号があるときはステップT3に進む。このようにして、少なくとも1フレーム分のX線検出信号について必要な補正処理を行う。
補正部21から出力されるX線検出信号(補正処理を行ったときは、置換されたX線検出信号)に基づいて、画像生成部23がX線画像を生成する。
X線管制御部6の制御に基づき、X線管3はX線を被検体Mに照射する。被検体Mを透過したX線はFPD4に入射する。
所定の基準蓄積時間、X線を検出し電荷情報を蓄積する。ここで、基準蓄積時間は、次のステップU3で収集する画像生成用のX線検出信号を得るときの蓄積時間とは異なるように設定される。各検出素子dから蓄積された電荷情報を読み出す。読み出した電荷情報は、増幅器47とA/D変換器9とを介してX線検出信号となる。ステップU2で得られる各X線検出信号を便宜上「基準信号」という。基準信号は、信号記憶部12に記憶される。
引き続きX線を照射した状態で、FPD制御部7の制御に基づき、取得するX線画像に適した蓄積時間分のX線検出信号を各検出素子dから得る。得られた各X線検出信号は差分信号取得部13と補正部21とに入力される。
差分信号取得部13は、信号記憶部12から各基準信号を読み出す。また、A/D変換器9から直接、画像生成用のX線検出信号を受け取る。そして、各検出素子dについて、基準信号とX線検出信号との差分信号を求める。
求められた差分信号は、空間フィルタリング処理部51に入力される。空間フィルタリング処理部51では、各検出素子dの位置に応じて空間的に展開される差分信号のプロファイルにおいて穏やかに変化している成分(低周波成分)を各差分信号から除去する。これにより、急峻に変化する成分(高周波成分)を残す。
欠陥素子抽出部15は、空間フィルタリング処理が施された差分信号と予め設定されている閾値とを比較し、差分信号が閾値より大きいか否か判断する。大きいと判断したときはステップU7に進み、大きくないと判断したときはステップU9に進む。
欠陥素子抽出部15は、閾値より大きいと判断された差分信号に応じた検出素子dを欠陥素子と判定する。
補正部21は、A/D変換器9から入力されるX線検出信号のうち、欠陥素子が出力したものを特定して補正する。
未処理の差分信号がないときはステップU10に進み、未処理の差分信号があるときはステップU6に戻る。このようにして、少なくとも1フレーム分のX線検出信号について必要な補正処理を行う。
補正部21から出力されるX線検出信号(補正処理を行ったときは、補正されたX線検出信号)に基づいて、画像生成部23がX線画像を生成する。
4 …フラットパネル型X線検出器(FPD)
13 …差分信号取得部
15 …欠陥素子抽出部
17 …欠陥情報記憶部
21 …補正部
51 …空間フィルタリング処理部
M …被検体(被写体)
Claims (4)
- 被写体を透過した放射線を所定の蓄積時間、検出する検出素子を複数個有する放射線検出手段を備えて、各検出素子から得られる放射線検出信号に基づいて放射線画像を取得する放射線撮像装置において、各検出素子について蓄積時間を変えて得られる2個の放射線検出信号から差分信号を得る差分手段と、前記差分信号が正常な信号範囲を超えている検出素子を欠陥素子と判定する欠陥素子抽出手段とを備え、前記欠陥素子から得られる放射線検出信号を補正することを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1に記載の放射線撮像装置において、前記2個の放射線検出信号は、それぞれ放射線を検出素子に入射させないで得られるものであることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1または請求項2に記載の放射線撮像装置において、さらに、前記欠陥素子抽出手段がした判定の結果に基づく欠陥情報を記憶する欠陥情報記憶手段を備え、この欠陥情報を参照して放射線検出信号を補正することを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線撮像装置において、さらに、各検出素子の位置に応じた差分信号のプロファイルを求め、このプロファイルにおいて穏やかに変化している成分を各差分信号から除去する空間フィルタリング手段を備え、空間フィルタリング手段により処理された各差分信号に基づいて欠陥素子抽出手段が欠陥素子を抽出することを特徴とする放射線撮像装置。
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