JP2008167118A - 電流電圧増幅回路および半導体試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】非反転入力端子に入力信号が入力される増幅器Q1と、増幅器Q1の非反転入力端子と出力端子との間に接続される抵抗R1と、増幅器Q1の出力端子と反転入力端子との間に接続される抵抗R2とを備え、抵抗R2と増幅器Q1の反転入力端子との間にDUTに信号を伝達する出力信号線を接続した電流増幅回路201に加え、出力信号線に非反転入力端子が接続され、反転入力端子と出力端子とが短絡された増幅器Q2と、増幅器Q1の反転入力端子と接地にその両端が接続される抵抗R3と、増幅器Q1の反転入力端子と増幅器Q2の出力端子にその両端が接続される抵抗R4と、を備えた電圧比設定回路301を設けた。
【選択図】図1
Description
Vo=Vi ・・・・・・・・・・・・・・・・・ (1)
Vo=R2×Io+R1×Ii+Vi ・・・・・ (2)
すると、次式(3)を導出することができる。
Io=−(R1/R2)×Ii ・・・・・・・・ (3)
すなわち、増幅器1つと抵抗2本のみで、電圧が変化せず、かつ電流のみを増幅する電流増幅回路を構成することができる。なお、入力電流と出力電流の関係は抵抗R1,R2の抵抗比を変えることによって任意の値に設定することができる。R2をR1より大きくすると、電流減衰器として使用することができる。
V2=Vi ・・・・・・・・・・・・・・・・・ (4)
上記背景技術において説明したように、V2は次式で表すことができる。
V2=R8×I2+R7×Ii+Vi ・・・・・ (5)
すると、次式(3)を導出することができる。
I2=−(R7/R8)×Ii ・・・・・・・・ (6)
本実施形態において第2の電流増幅回路501はR7=R8としており、電流を等倍に増幅する(Ii=I2)。なお、電流値は同じであるが、増幅器Q4の電源によって電流を補償することができ、入力信号の電流Iiが電流制限を受けること(許容量を超えてしまって電流が流せない状態)を防止している。これにより出力電圧の上昇を回避し、電圧・電流制限回路として動作させることができる。
V4=(R3+R4)/R3×V2・・・・・・・ (7)
すなわち、電流増幅回路201に電圧比設定回路301を付加することにより、テスタ電圧の印加値を(R3+R4)/(R3)倍に増幅することができる。
電流ゲイン=R1/R2・・・・・・・・・・・・ (8)
電圧ゲイン=(R3+R4)/R3・・・・・・・ (9)
電流測定値=(R1/R2)×((R3+R4)/R3)・・(10)
ただしR3=R5、R4=R6とする
上記R1〜R6の値を変更することにより、任意の高電圧を印加し、任意のレンジの電流を測定することが可能になる。
P …センシング点
Q1〜Q4 …増幅器
R1〜R6 …抵抗
S1、S2 …リレー
2 …半導体試験装置本体
3 …テストロード
101 …電流増幅回路
102 …電流増幅回路
201 …電流増幅回路
301 …電圧比設定回路
401 …電流オフセット相殺回路
501 …第2の電流増幅回路
Claims (6)
- 反転入力端子と非反転入力端子の2つの入力端子と1つの出力端子を有し、前記非反転入力端子に入力信号が入力される第1増幅器と、
前記第1増幅器の非反転入力端子と出力端子との間に接続される第1抵抗と、
前記第1増幅器の出力端子と反転入力端子との間に接続される第2抵抗とを備え、
前記第2抵抗と前記第1増幅器の反転入力端子との間に、被試験デバイスに信号を伝達する出力信号線を接続した電流増幅回路に加え、
前記出力信号線に非反転入力端子が接続され、反転入力端子と出力端子とが短絡された第2増幅器と、
前記第1増幅器の反転入力端子と接地にその両端が接続される第3抵抗と、
前記第1増幅器の反転入力端子と前記第2増幅器の出力端子にその両端が接続される第4抵抗と、を備えた電圧比設定回路を設けたことを特徴とする電流電圧増幅回路。 - さらに前記第1抵抗と前記第1増幅器の出力端子との間には、
前記第1抵抗に出力端子が接続され、反転入力端子と出力端子とが短絡された第3増幅器と、
前記第3増幅器の非反転入力端子と接地にその両端が接続される第5抵抗と、
前記第3増幅器の非反転入力端子と前記第1増幅器の出力端子にその両端が接続される第6抵抗と、を備えた電流オフセット相殺回路を設けたことを特徴とする請求項1記載の電流電圧増幅回路。 - 前記第3抵抗および第4抵抗の比と、前記第5抵抗および第6抵抗の比が等しいことを特徴とする請求項2記載の電流電圧増幅回路。
- 前記出力信号線において、該出力信号線と前記第2増幅器の非反転入力端子とが接続するセンシング点と、前記第2抵抗との間に、スイッチ回路を設けたことを特徴とする請求項1記載の電流電圧増幅回路。
- さらに第2の電流増幅回路を備え、該第2の電流増幅回路の出力信号線を、前記第1増幅器の非反転入力端子に接続したことを特徴とする請求項1記載の電流電圧増幅回路。
- 被試験デバイスの電気的試験を行う半導体試験装置であって、
被試験デバイスに電圧を印加して電流を測定する制御部と、
請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の電流電圧増幅回路とを備えたことを特徴とする半導体試験装置。
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