JP2008157878A - 原子燃料棒支持スペーサの検査方法 - Google Patents
原子燃料棒支持スペーサの検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008157878A JP2008157878A JP2006349806A JP2006349806A JP2008157878A JP 2008157878 A JP2008157878 A JP 2008157878A JP 2006349806 A JP2006349806 A JP 2006349806A JP 2006349806 A JP2006349806 A JP 2006349806A JP 2008157878 A JP2008157878 A JP 2008157878A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spring
- water rod
- center point
- gauge pin
- spring support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
【解決手段】原子燃料棒支持スペーサの中央に位置する2個のウォータロッド開口部3の間に配置されている1対のスプリング支持プレート6、6におけるコーナ部の頂点を撮像し、上記コーナ部の頂点を算出するとともに、上記スプリング支持プレート6、6の4個の座標から1対のスプリング支持プレートの中心点9を求め、その中心点9と前もって算出されている上記ウォータロッド開口部3に挿通されたときの通りゲージピン8の中心点12との距離を算出することによって、ウォータロッド開口部3に所定径の通りゲージピン8が挿入できるか否かを判別する。
【選択図】図1
Description
2 セル
3 ウォータロッド開口部
4 ウォータロッド支持板
5 突起
6 スプリング支持プレート
7 スプリング
8 通りゲージピン
9 スプリング伸縮中心点
10 走査線
11 コーナ部の撮像領域
12 通りゲージピンの挿入を仮定したときの中心位置
Claims (3)
- 原子燃料棒支持スペーサの中央に位置する2個のウォータロッド開口部の間に配置されている1対のスプリング支持プレートにおけるコーナ部の頂点を撮像し、上記コーナ部の頂点を算出するとともに、上記スプリング支持プレートの4個の座標から1対のスプリング支持プレートの中心点を求め、その中心点と前もって算出されている上記ウォータロッド開口部に挿通されたときの通りゲージピンの中心点との距離を算出することによって、ウォータロッド開口部に所定径の通りゲージピンが挿入できるか否かを判別することを特徴とする原子燃料棒支持スペーサの検査方法。
- 前記スプリング支持プレートの各コーナ部に複数本の走査線を走査させることによりコーナ部の頂点を撮像することを特徴とする、請求項1記載の原子燃料棒支持スペーサの検査方法。
- 1対のスプリング支持プレートの中心点と前記通りゲージピンの中心点との距離から前記1対のスプリング支持プレートに装着されたスプリングが最も縮んだときの大きさを引いた値と通りゲージピンの半径の大きさを比較することによって、ウォータロッド開口部に所定径の通りゲージピンが挿入できるか否かを判別することを特徴とする、請求項1または2記載の原子燃料棒支持スペーサの検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006349806A JP4750008B2 (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | 原子燃料棒支持スペーサの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006349806A JP4750008B2 (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | 原子燃料棒支持スペーサの検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008157878A true JP2008157878A (ja) | 2008-07-10 |
JP4750008B2 JP4750008B2 (ja) | 2011-08-17 |
Family
ID=39658930
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006349806A Expired - Fee Related JP4750008B2 (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | 原子燃料棒支持スペーサの検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4750008B2 (ja) |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59151102A (ja) * | 1983-02-15 | 1984-08-29 | Toshiba Corp | 遅延線 |
JPS62150603A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-04 | 松下電工株式会社 | Ag−Ni系接点材料 |
JPH0330897A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-02-08 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 廃水処理装置 |
JPH05126981A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-05-25 | Mitsubishi Nuclear Fuel Co Ltd | 核燃料集合体用支持格子のセルサイズ検査装置 |
JPH06222184A (ja) * | 1993-01-27 | 1994-08-12 | Mitsubishi Nuclear Fuel Co Ltd | 支持格子検査装置 |
JPH0755988A (ja) * | 1993-08-19 | 1995-03-03 | Japan Nuclear Fuel Co Ltd<Jnf> | 燃料棒支持スペーサの画像解析寸法検査装置 |
JP2000147185A (ja) * | 1998-11-04 | 2000-05-26 | Japan Nuclear Fuel Co Ltd<Jnf> | 燃料棒支持スペーサの画像解析寸法検査装置 |
JP2001126068A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-05-11 | Japan Nuclear Fuel Co Ltd<Jnf> | 原子燃料体用スペーサ検査装置 |
-
2006
- 2006-12-26 JP JP2006349806A patent/JP4750008B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59151102A (ja) * | 1983-02-15 | 1984-08-29 | Toshiba Corp | 遅延線 |
JPS62150603A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-04 | 松下電工株式会社 | Ag−Ni系接点材料 |
JPH0330897A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-02-08 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 廃水処理装置 |
JPH05126981A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-05-25 | Mitsubishi Nuclear Fuel Co Ltd | 核燃料集合体用支持格子のセルサイズ検査装置 |
JPH06222184A (ja) * | 1993-01-27 | 1994-08-12 | Mitsubishi Nuclear Fuel Co Ltd | 支持格子検査装置 |
JPH0755988A (ja) * | 1993-08-19 | 1995-03-03 | Japan Nuclear Fuel Co Ltd<Jnf> | 燃料棒支持スペーサの画像解析寸法検査装置 |
JP2000147185A (ja) * | 1998-11-04 | 2000-05-26 | Japan Nuclear Fuel Co Ltd<Jnf> | 燃料棒支持スペーサの画像解析寸法検査装置 |
JP2001126068A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-05-11 | Japan Nuclear Fuel Co Ltd<Jnf> | 原子燃料体用スペーサ検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4750008B2 (ja) | 2011-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101604005B1 (ko) | 검사 방법 | |
JP5057491B2 (ja) | マスク不良検査装置 | |
JP6789920B2 (ja) | 被検査物上の関心対象領域の座標決定 | |
US8339450B2 (en) | Defect review apparatus and method for wafer | |
US20100228501A1 (en) | Apparatus and method of inspecting mask | |
TWI500925B (zh) | Check the device, check the method and check the program | |
CN103885285B (zh) | 一种针对光刻版图接触孔热点的检查方法 | |
TWI427300B (zh) | The registration method of the probe card and the recording medium for recording the program | |
JP6606441B2 (ja) | 検査システムおよび検査方法 | |
JP5357572B2 (ja) | 外観検査方法および外観検査装置 | |
JP6306915B2 (ja) | 被測定物の所定位置を計測する方法に用いるターゲット及び該ターゲットを用いた距離計測方法 | |
JP4750008B2 (ja) | 原子燃料棒支持スペーサの検査方法 | |
KR102069173B1 (ko) | 플렉서블 기판 찍힘 불량 검출 장치 | |
KR20120041587A (ko) | 시료 검사 시스템 및 이를 이용한 시료 검사 방법 | |
JP2011174864A (ja) | センサ押付治具、及び、それを使用したセンサ密着確認方法と探傷方法 | |
JP5142869B2 (ja) | 遠隔渦流探傷装置 | |
JP4972278B2 (ja) | レチクル及び半導体装置の製造方法 | |
US20170167992A1 (en) | Method for Inspecting a Pattern of Features on a Semiconductor Die | |
KR100723290B1 (ko) | 외관 검사 방법, 그것에 이용하는 마스터 패턴 및 이마스터 패턴을 구비하는 외관 검사 장치 | |
JP4429640B2 (ja) | 溶接痕の外観検査方法 | |
JP5581835B2 (ja) | 半導体装置の検査方法及び、半導体装置の検査システム | |
WO2014112290A1 (ja) | 検査装置 | |
JP5260021B2 (ja) | 評価パターンを配置した液晶表示装置およびその製造方法 | |
KR20200108280A (ko) | 펠리클 프레임 파지 장치 및 펠리클 프레임 파지 방법 | |
JP6384021B2 (ja) | 欠陥検査装置、欠陥検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091113 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110414 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110422 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110518 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140527 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |