JP2008130369A - 真空装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】真空状態の処理室にて試料を処理する真空装置において、試料の搬送時間の短縮とフットスペースの削減を図る。
【解決手段】真空装置1に、個別に真空引きすることが可能な上下に連なる上室10及び下室20を設け、さらにこれらの間を開閉するゲートバルブ40と、試料Sを載置する試料台31と、試料台31を昇降させて2つの室10、20の一方から他方へと試料Sを搬送する昇降機構32とを設ける。
【選択図】図2
【解決手段】真空装置1に、個別に真空引きすることが可能な上下に連なる上室10及び下室20を設け、さらにこれらの間を開閉するゲートバルブ40と、試料Sを載置する試料台31と、試料台31を昇降させて2つの室10、20の一方から他方へと試料Sを搬送する昇降機構32とを設ける。
【選択図】図2
Description
本発明は、真空状態下において試料に対して所定の処理を行う、電子顕微鏡や電子線露光装置、エッチング装置といった真空装置に関する。
半導体デバイスなどの製造プロセスでは、試料の製造工程や検査工程を真空中で行うために、電子顕微鏡や電子線露光装置、エッチング装置などの真空装置が使用される。このような真空装置では、従来、以下に説明する過程を経て大気状態の外部から処理室へ試料が搬送される。図1は、従来の真空装置における試料の搬送過程の説明図である。
真空装置100は、一般にロードロック室101と処理室102の2つの室が設けられる。またロードロック室101と外部空間130との間にはこれらの間を開閉可能な真空ゲートバルブ111が、ロードロック室101と処理室102の間にはこれらの間を開閉可能な真空ゲートバルブ112が、設けられている。
真空装置100は、一般にロードロック室101と処理室102の2つの室が設けられる。またロードロック室101と外部空間130との間にはこれらの間を開閉可能な真空ゲートバルブ111が、ロードロック室101と処理室102の間にはこれらの間を開閉可能な真空ゲートバルブ112が、設けられている。
大気状態にある外部空間130中の試料ホルダ121に置かれた試料Sを、真空状態にある処理室102に搬送する際には、まず、ロードロック室101と処理室102との間のゲートバルブ112を閉じてロードロック室101を大気状態にした後にロードロック室101と外部空間130との間のゲートバルブ111を開く。そして大気中のホルダ121上にある試料Sを搬送ロボット(図示せず)により、ロードロック室101内の試料台122に載せる。
次にゲートバルブ111を閉じてロードロック室101を真空状態にした後にロードロック室101と処理室102との間のゲートバルブ112を開き、試料Sを処理室102内の試料台123に移動する。その後ゲートバルブ112を閉じて処理室102内を真空引きする。ゲートバルブ112を閉じた後に処理室102内の真空引きを行うのは、試料搬送により処理室102内の真空度が低下するので、真空度を回復するためである。処理室102内の真空度が所定の値に達したら、処理室102内に搬送された試料Sに対する処理を開始する。なおこのような搬送方法は、下記特許文献1にも開示されている。
次にゲートバルブ111を閉じてロードロック室101を真空状態にした後にロードロック室101と処理室102との間のゲートバルブ112を開き、試料Sを処理室102内の試料台123に移動する。その後ゲートバルブ112を閉じて処理室102内を真空引きする。ゲートバルブ112を閉じた後に処理室102内の真空引きを行うのは、試料搬送により処理室102内の真空度が低下するので、真空度を回復するためである。処理室102内の真空度が所定の値に達したら、処理室102内に搬送された試料Sに対する処理を開始する。なおこのような搬送方法は、下記特許文献1にも開示されている。
上記のような真空装置100では、試料を外部130からロードロック室101へ、ロードロック室101から処理室102へと、搬送ロボットを用いて2段階に搬送する必要がある。このため搬送ロボットによる試料の把持、移動及び載置に2回分の時間を要し、また搬送ロボットによる搬送時には試料汚染が生じやすかった。さらに試料Sを平面的に移動させるために広いフットスペースが必要であった。
上記問題点に鑑み、本発明では、真空状態の処理室にて試料を処理する真空装置において、試料の搬送時間の短縮とフットスペースの削減を目的とする。
上記問題点に鑑み、本発明では、真空状態の処理室にて試料を処理する真空装置において、試料の搬送時間の短縮とフットスペースの削減を目的とする。
上記目的を達成するために、本発明では個別に真空引きすることが可能な上下に連なる2つの室である上室及び下室と、これらの室の間を開閉するゲートバルブとを真空装置に設け、試料を載せた試料台を昇降させてこれらの室の間を搬送する。
従来、平面的に配置されていたロードロック室と処理室を上下に配置することによって、装置のフットスペースが削減される。また試料台を昇降させて上下に配置された2室間で試料を搬送することによって、搬送ロボットによる搬送回数を減らすことが可能となる。
以下、添付する図面を参照して本発明の実施例を説明する。図2は、本発明の第1実施例による走査型電子顕微鏡の概略構成図である。走査型電子顕微鏡1は、筐体2を備え、筐体2内には、大気状態にある外部空間130から遮蔽された処理室10及びロードロック室20が設けられている。
処理室10及びロードロック室20は、試料Sの観察面(図示XY平面)に対して垂直方向(Z方向に)、すなわち上下に連設されており、その間は仕切り壁3によって隔てられている。処理室10は、真空ポンプ等の真空源11及び窒素ガス源12に接続されており、内部の気圧を高真空状態及び大気状態のいずれにも調整することが可能である。またロードロック室20も、処理室10とは別に真空源21及び窒素ガス源22に接続されており、内部の気圧を高真空状態及び大気状態のいずれにも調整することが可能である。
処理室10及びロードロック室20は、試料Sの観察面(図示XY平面)に対して垂直方向(Z方向に)、すなわち上下に連設されており、その間は仕切り壁3によって隔てられている。処理室10は、真空ポンプ等の真空源11及び窒素ガス源12に接続されており、内部の気圧を高真空状態及び大気状態のいずれにも調整することが可能である。またロードロック室20も、処理室10とは別に真空源21及び窒素ガス源22に接続されており、内部の気圧を高真空状態及び大気状態のいずれにも調整することが可能である。
ロードロック室20の側壁のいずれかには、外部空間130とロードロック室20との間で試料Sを出し入れするための試料搬入出口が設けられ、この試料搬入出口には外部空間130とロードロック室20との間を開放及び遮蔽する真空ゲートバルブ50が設けられている。試料Sは真空ゲートバルブ50が開状態であるときに、図示しない搬送ロボットなどにより外部空間130とロードロック室20との間でやりとりされる。
処理室10とロードロック室20との間に設けられた仕切り壁3には、ロードロック室20から処理室10へ、及び処理室10からロードロック室20へと試料Sを運ぶための連通口が設けられ、この連通口には処理室10とロードロック室20との間を開放及び遮蔽する真空ゲートバルブ40が設けられている。
ロードロック室20内には試料Sを載置するための試料台31が設けられており、試料台31は、昇降シャフト32を含む昇降機構によりZ方向に移動可能である。昇降シャフト32はロードロック室20の外部に設けられた駆動装置(図示せず)により駆動力を与えられ、ロードロック室20の下壁23を貫通して試料台31を下方から支持するように設けられる。かかる試料台31が試料Sを載せて昇降することによって、上下に連設された処理室10とロードロック室20との間で試料Sがやりとりされる。
ロードロック室20内には試料Sを載置するための試料台31が設けられており、試料台31は、昇降シャフト32を含む昇降機構によりZ方向に移動可能である。昇降シャフト32はロードロック室20の外部に設けられた駆動装置(図示せず)により駆動力を与えられ、ロードロック室20の下壁23を貫通して試料台31を下方から支持するように設けられる。かかる試料台31が試料Sを載せて昇降することによって、上下に連設された処理室10とロードロック室20との間で試料Sがやりとりされる。
昇降シャフト32には、昇降シャフト32が上昇し昇降シャフト32が所定の停止位置に至ったときに昇降シャフトの上昇移動を止めるためのストッパー33が設けられる。ストッパー33は、昇降シャフト32が上昇し試料台31に載置された試料Sが処理室10内の所定位置に搬送されたときに、筐体2の下面(即ち下壁23の外面)に当接し、昇降シャフト32の上昇を停止させる。このようにストッパー33を筐体2の外部に設けることによりシャフト32及び試料台31の停止位置の調整を容易にする。
また、走査型電子顕微鏡1は、試料台31の位置を検出する試料台位置検出部80と、試料台位置検出部80により検出された試料台31の位置を表示部82に表示するための計算機81とを備えている。試料台位置検出部80は、例えば処理室10内に設けられ、試料台31に載置された試料Sが処理室10内の所定位置に搬送されたことを検出するメカニカルスイッチや光センサとしてもよく、又は試料台31の移動距離を検出するためのレーザ測長器としてもよい。
また、走査型電子顕微鏡1は、試料台31の位置を検出する試料台位置検出部80と、試料台位置検出部80により検出された試料台31の位置を表示部82に表示するための計算機81とを備えている。試料台位置検出部80は、例えば処理室10内に設けられ、試料台31に載置された試料Sが処理室10内の所定位置に搬送されたことを検出するメカニカルスイッチや光センサとしてもよく、又は試料台31の移動距離を検出するためのレーザ測長器としてもよい。
走査型電子顕微鏡1は、電子線鏡筒60、及び電子線鏡筒60から試料Sへ照射した電子ビームによって試料Sから放出された反射電子及び/又は二次電子を検出する電子線検出器61を備える。電子線検出器61は検出した電子を電気信号に変換する。電子線鏡筒60が電子ビームを偏向してXY方向に試料S上を走査し、各座標に電子ビームを照射したときの電子線検出器61の検出信号の強弱を、二次元画像に構成することによって、試料Sの電子線画像が得られる。
図3は、電子線鏡筒60の概略構成図である。電子線鏡筒60は電子銃62、集束レンズ(コンデンサレンズ)コイル63、非点収差補正コイル64、X方向偏向コイル65X及びY方向偏向コイル65Y、対物レンズコイル66及び電子ビーム射出孔67を有している。電子線鏡筒60の基本的な構成は従来の構成と同様であるため、本明細書での説明は省略する。
図3は、電子線鏡筒60の概略構成図である。電子線鏡筒60は電子銃62、集束レンズ(コンデンサレンズ)コイル63、非点収差補正コイル64、X方向偏向コイル65X及びY方向偏向コイル65Y、対物レンズコイル66及び電子ビーム射出孔67を有している。電子線鏡筒60の基本的な構成は従来の構成と同様であるため、本明細書での説明は省略する。
図2に戻り、本実施例の走査型電子顕微鏡1は、電子線鏡筒60をX及びY方向に移動させる電子線鏡筒移動機構70を有する。電子線鏡筒移動機構70は、電子線鏡筒60の視野を試料S上の任意の位置に移動させ、または試料Sの上以外の場所に移動する。図4は、電子線鏡筒移動機構70の概略構成図である。
電子線鏡筒移動機構70は、電子線鏡筒60をX方向に沿って移動させるための1対のX方向ガイド70a及び70bと、Y方向に沿って電子線鏡筒60を移動させるための可動Y方向ガイド72と、可動Y方向ガイド72を支持したままX方向ガイド70a及び70bにそれぞれ沿って移動する1対のX移動部71a及び71bと、電子線鏡筒60を支持したまま可動Y方向ガイド72に沿って移動するY方向移動部73と、を備えて構成される。各移動部71a、71b及び73を移動させるために、例えばボールネジ機構のような様々な直線駆動機構を使用することが可能である。
電子線鏡筒移動機構70は、電子線鏡筒60をX方向に沿って移動させるための1対のX方向ガイド70a及び70bと、Y方向に沿って電子線鏡筒60を移動させるための可動Y方向ガイド72と、可動Y方向ガイド72を支持したままX方向ガイド70a及び70bにそれぞれ沿って移動する1対のX移動部71a及び71bと、電子線鏡筒60を支持したまま可動Y方向ガイド72に沿って移動するY方向移動部73と、を備えて構成される。各移動部71a、71b及び73を移動させるために、例えばボールネジ機構のような様々な直線駆動機構を使用することが可能である。
以下、図5の(A)〜図5の(C)を参照しながら、図2に示す走査型電子顕微鏡1において、大気状態にある外部空間130から真空状態にある処理室10へ試料Sを搬送する手順を説明する。
まず、ロードロック室20と処理室10との間のゲートバルブ40を閉じてロードロック室20を大気状態にした後にロードロック室20と外部空間130との間のゲートバルブ50を開く。一方でシャフト32を下降させて試料台31をロードロック室20内に位置させる。そして大気中にある試料Sを搬送ロボット(図示せず)により試料台31に載せる(図5の(A))。
まず、ロードロック室20と処理室10との間のゲートバルブ40を閉じてロードロック室20を大気状態にした後にロードロック室20と外部空間130との間のゲートバルブ50を開く。一方でシャフト32を下降させて試料台31をロードロック室20内に位置させる。そして大気中にある試料Sを搬送ロボット(図示せず)により試料台31に載せる(図5の(A))。
次にゲートバルブ50を閉じてロードロック室20を真空状態にする(図5の(B))。ロードロック室20が所定の真空度に達したら、ロードロック室20と処理室10との間のゲートバルブ40を開き、シャフト32を上昇させることによって試料台31を上昇させて、試料Sを処理室10内へ移動させる(図5の(C))。
このように、ロードロック室20と処理室10を上下に配置することによって、装置のフットスペースが削減される。また試料台31を昇降させてロードロック室20と処理室10との間で試料を昇降することによって、搬送ロボットによる搬送回数を減らすことが可能となる。
このように、ロードロック室20と処理室10を上下に配置することによって、装置のフットスペースが削減される。また試料台31を昇降させてロードロック室20と処理室10との間で試料を昇降することによって、搬送ロボットによる搬送回数を減らすことが可能となる。
電子線鏡筒60内の電子銃62を保護するために、処理室10の真空度をロードロック室20の真空度よりも高くする事が好適である。したがってゲートバルブ40が開き、試料Sを処理室10内へ移動した状態において、ゲートバルブ40が開いたことにより仕切り壁3に開いた処理室10とロードロック室20との間の連通口を、試料台31またはシャフト32の一部分などによって塞ぎ、ロードロック室20から処理室10への空気の流入を防ぎ、処理室10とロードロック室20との間に真空度に差をつけることが好適である。図6は、走査型電子顕微鏡1において試料台31によりゲートバルブ40の開口部が遮蔽された様子を示す図である。
ここで、処理室10とロードロック室20との間で試料台31が支障なく移動するために、試料台31は、その外形寸法がゲートバルブ40の開口部よりもやや小さくなるように構成されている。このため、試料台31と仕切り壁3との間には幅ΔW及び長さΔLの微小な隙間41が存在する。処理室10とロードロック室20との間に真空度の差があると、この隙間41を経由してロードロック室20から処理室10へと気体が流れ込み、処理室10内の真空度が劣化する要因となる。
ゲートバルブ40の開口部に試料台31が挿入された状態での処理室10の真空度は、ロードロック室20の真空度、真空源11による排気能力、隙間41の幅ΔW及び長さ(ΔL)によって定まる。すなわち隙間41の幅ΔWが大きくかつ長さΔLが短ければ処理室10の真空度の劣化が大きく、反対に隙間41の幅ΔWが小さくかつ長さΔLが長ければ処理室10の真空度は劣化しない。
図7の(A)及び図7の(B)は試料台31とゲートバルブ40の開口部との間の隙間41の幅ΔW及び長さΔLが処理室10の真空度に及ぼす影響をシミュレーションした結果を示すグラフである。本シミュレーションでは隙間41の長さΔLを20mmから200mmまで変えて計算を行い、そのうちΔLの範囲が20〜100mmであるシミュレーション結果を図7の(A)に示し、ΔLの範囲が50〜200mmであるシミュレーション結果を図7の(B)に示す。
また本シミュレーションでは、試料台31の外周の直径を300mm、真空源11の排気能力を1000リットル/秒、ロードロック室20内の真空度を10-1パスカルとして算出し、丸印のプロットはΔW=10mmの時のグラフを示し、三角印のプロットはΔW=6mmの時のグラフを示し、四角印のプロットはΔW=4mmの時のグラフを示し、菱形印のプロットはΔW=2mmの時のグラフを示す。
本シミュレーション結果を参照すると、隙間41の幅ΔWが10mm以下、長さΔLが200mm以上であれば、処理室10は1×10-3パスカル台の半ば程度の真空度を保つことができることが分かる。したがって、試料台31やシャフト32を挿入することによりゲートバルブ40の開口部を遮蔽する、すなわち特許請求の範囲に記載したところの、「試料台の少なくとも一部分又は前記昇降機構の少なくとも一部が挿入されることにより、前記連通口が塞がれる」とは、これら試料台31やシャフト32が挿入されることによって、ゲートバルブ40の開口部が完全に遮断されることを意味するほか、試料台31とゲートバルブ40の開口部との間の隙間41の幅ΔW及び長さΔLを適切に設定することによって、真空引きされる処理室10とロードロック室20との間に真空度の差を設けることができることをも意味する。
図7の(A)及び図7の(B)は試料台31とゲートバルブ40の開口部との間の隙間41の幅ΔW及び長さΔLが処理室10の真空度に及ぼす影響をシミュレーションした結果を示すグラフである。本シミュレーションでは隙間41の長さΔLを20mmから200mmまで変えて計算を行い、そのうちΔLの範囲が20〜100mmであるシミュレーション結果を図7の(A)に示し、ΔLの範囲が50〜200mmであるシミュレーション結果を図7の(B)に示す。
また本シミュレーションでは、試料台31の外周の直径を300mm、真空源11の排気能力を1000リットル/秒、ロードロック室20内の真空度を10-1パスカルとして算出し、丸印のプロットはΔW=10mmの時のグラフを示し、三角印のプロットはΔW=6mmの時のグラフを示し、四角印のプロットはΔW=4mmの時のグラフを示し、菱形印のプロットはΔW=2mmの時のグラフを示す。
本シミュレーション結果を参照すると、隙間41の幅ΔWが10mm以下、長さΔLが200mm以上であれば、処理室10は1×10-3パスカル台の半ば程度の真空度を保つことができることが分かる。したがって、試料台31やシャフト32を挿入することによりゲートバルブ40の開口部を遮蔽する、すなわち特許請求の範囲に記載したところの、「試料台の少なくとも一部分又は前記昇降機構の少なくとも一部が挿入されることにより、前記連通口が塞がれる」とは、これら試料台31やシャフト32が挿入されることによって、ゲートバルブ40の開口部が完全に遮断されることを意味するほか、試料台31とゲートバルブ40の開口部との間の隙間41の幅ΔW及び長さΔLを適切に設定することによって、真空引きされる処理室10とロードロック室20との間に真空度の差を設けることができることをも意味する。
図8は、本発明の第2実施例による走査型電子顕微鏡の概略構成図である。本例では、昇降シャフト32が上昇し昇降シャフト32が所定の停止位置に至ったときに昇降シャフトの上昇移動を止めるためのストッパー35が筐体2内に設けられる。ストッパー35は昇降シャフト32が上昇し試料台31に載置された試料Sが処理室10内の所定位置に搬送されたときに、仕切り壁3の下面24(即ちロードロック室20の天井の下面)に当接し、昇降シャフト32の上昇を停止させる。
また仕切り壁3の下面24にはOリング25が設けられる。ゲートバルブ40が開口しその開口部に試料台31が挿入され、かつストッパー35が仕切り壁3の下面24に当接している状態のときに、仕切り壁3の下面24とストッパー35の上面との間に生じる隙間がOリング25によって塞がれる。図9は、図8に示す走査型電子顕微鏡1においてストッパー35によりゲートバルブ40の開口部が遮蔽された様子を示す図である。
このようにストッパー35によりゲートバルブ40の開口部を遮蔽することにより、ロードロック室20と処理室10との間の気密を向上させることが可能となる。
また仕切り壁3の下面24にはOリング25が設けられる。ゲートバルブ40が開口しその開口部に試料台31が挿入され、かつストッパー35が仕切り壁3の下面24に当接している状態のときに、仕切り壁3の下面24とストッパー35の上面との間に生じる隙間がOリング25によって塞がれる。図9は、図8に示す走査型電子顕微鏡1においてストッパー35によりゲートバルブ40の開口部が遮蔽された様子を示す図である。
このようにストッパー35によりゲートバルブ40の開口部を遮蔽することにより、ロードロック室20と処理室10との間の気密を向上させることが可能となる。
本発明は、真空状態下において試料に対して所定の処理を行う、電子顕微鏡や電子線露光装置といった真空装置に利用可能である。
1 走査型電子顕微鏡
2 筐体
10 上室
20 下室
31 試料台
40、50 真空ゲートバルブ
60 電子線鏡筒
61 電子線検出器
S 試料
2 筐体
10 上室
20 下室
31 試料台
40、50 真空ゲートバルブ
60 電子線鏡筒
61 電子線検出器
S 試料
Claims (6)
- 個別に真空引きすることが可能な上下に連なる2つの室である上室及び下室と、
前記2つの室の間を開閉するゲートバルブと、
試料を載置する試料台と、
前記ゲートバルブが開状態のとき、前記試料台を昇降させて前記2つの室の一方から他方へと前記試料を搬送する昇降機構と、
を備えることを特徴とする真空装置。 - 前記昇降機構は前記試料台を下方から支持し、
前記試料を前記上室内に搬送するとき、前記ゲートバルブが開くことにより生じた前記2つの室間の連通口に、前記試料台の少なくとも一部分又は前記昇降機構の少なくとも一部が挿入されることにより、前記連通口が塞がれる、
ことを特徴とする請求項1に記載の真空装置。 - 前記2つの室の一方はロードロック室であり、他方は前記試料に所定の処理が行われる処理室であることを特徴とする請求項1又は2に記載の真空装置。
- 前記昇降機構の可動部分に、前記真空装置の筐体に当接して前記昇降機構を所定の停止位置に停止させるストッパーを設けられていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の真空装置。
- 前記上室は前記試料に所定の処理が行われる処理室であり、前記下室はロードロック室であって、
前記昇降機構は前記試料台を下方から支持し、かつ前記下室の下壁を貫通し前記試料台を昇降させる駆動力を前記下室の外部から伝達する伝達部材を備え、
前記ストッパーは該伝達部材に設けられて、前記下壁の外面に当接することにより、前記昇降機構を所定の停止位置に停止させることを特徴とする請求項4に記載の真空装置。 - 前記試料台の位置を検出する試料台位置検出部と、
検出された前記試料台の位置を表示する試料台表示部と、
をさらに備えることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の真空装置。
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2006
- 2006-11-21 JP JP2006314349A patent/JP2008130369A/ja active Pending
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