JP2008130219A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に対する迷光の影響を効果的に抑制し得る光ピックアップ装置を提供する。
【解決手段】Ｌ０層およびＬ１層からの迷光の焦点位置に、ピンホール２３ａ、２４ａを配置する。Ｌ０層およびＬ１層からの迷光は、その全てが、ピンホール２３ａ、２４ａを通過する。迷光以外の信号光は、ミラー２３、２４によって反射され、光検出器１７に導かれる。信号光の一部は、ピンホール２３ａ、２４ａを通過するため、光検出器１７上の収束スポットには光の欠け部分Ｐが生じるが、ミラー２３、２４上の信号光はピンホール２３ａ、２４ａの形成領域に対し十分拡がっているため、収束スポットに対する欠け部分Ｐの面積は極めて小さくなる。よって、この欠け部分Ｐがフォーカスエラー信号等に影響を及ぼすことは殆どない。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ピックアップ装置に関し、特に、複数の記録層が積層配置されたディスクにレーザ光を照射する際に用いて好適なものである。

ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の光ディスクに対し情報を記録再生する光ディスクドライブには、レーザ光をディスク記録面上に収束させるための光ピックアップ装置が配備されている。

図９に、光ピックアップ装置の基本構成を示す。図において、１１は半導体レーザ、１２は回折格子、１３はビームスプリッタ、１４はコリメータレンズ、１５は対物レンズ、１６はシリンドリカルレンズ、１７は光検出器である。

半導体レーザ１１から出力されたレーザ光は、回折格子１２によりメインビーム（０次回折光）と２つのサブビーム（±１次回折光）に分割され、ビームスプリッタ１３に入射される。ビームスプリッタ１３を透過したレーザ光は、コリメータレンズ１４によってほぼ平行光に変換され、対物レンズ１５によってそれぞれディスク記録面上に集光される。

ディスクからの反射光は、ディスク入射時の光路を逆行し、その一部が、ビームスプリッタ１３によって反射される。そして、シリンドリカルレンズ１６によって非点収差が導入された後、光検出器１７の受光面上に集光される。なお、図９に示す構成例では、フォーカスエラーの検出手法として非点収差法が用いられている。

図１０（ａ）は、ディスク記録面上における３ビーム（メインビーム、サブビーム）のスポット配置を示す図である。なお、同図には、グルーブとランドが配されたディスク上に３ビームを集光したときの状態が示されている。

図示の如く、記録再生動作時において、メインビームはグループ上に集光され、２つのサブビームは当該グルーブを挟む両側のランドにそれぞれ集光される。なお、このスポット配置は、後述する差動プッシュプル法によるトラッキングエラー検出を良好に行うためのものである。

図１０（ｂ）は、ディスク記録面上におけるメインビームと２つのサブビームの光強度分布を示す図である。

ディスクへの記録はメインビームのみで行われ、２つのサブビームはトラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号の生成に用いられる。ここで、メインビームの光強度は、サブビームの光強度よりも数段高く設定されている。これは、半導体レーザ１１からのレーザ出力を、記録の際に、効率よく利用するためである。すなわち、ディスクに対する記録速度は、記録面上におけるレーザ光の強度が高いほど高速となる。このため、記録に用いるメインビームの強度配分の方が数段高くなるよう、半導体レーザ１１からのレーザ出力が、メインビームとサブビームに配分される。

なお、メインビームとサブビームの光強度比は回折格子１２の回折効率（通常は格子深さ）で決まる。通常、メインビームの強度は、サブビームの強度の１０〜１８倍とされる。この比率は、そのまま光検出器１７の受光面上におけるメインビームとサブビームの強度比に反映される。

図１１（ａ−１）〜（ａ−３）は、差動プッシュプル法によるトラッキングエラーの検出原理を説明する図である。

同図中、１７１、１７２、１７３は、光検出器１７上に配置された４分割センサである。メインビームは、４分割センサ１７１によって受光され、２つのサブビームは、それぞれ、４分割センサ１７２、１７３によって受光される。なお、同図には、４分割センサ１７１、１７２、１７３上におけるメインビームとサブビームの集光スポットが示されている。また、各スポット内には、光強度分布が模式的に示されており、光強度の高い部分ほど黒の塗りつぶしに近づくようハッチングされている。

４分割センサ１７１、１７２、１７３の各センサ部を、図示の如く、Ａ〜Ｌで表し、センサ部Ａ〜Ｌの検出出力をそれぞれＰＡ〜ＰＬとすると、差動プッシュプル信号（ＤＰＰ）は、次式で与えられる。
DPP={(PA+PB)−(PC+PD)}−k1・{(PE+PF+PI+PJ)−(PG+PH+PK+PL)｝ …（１）

ここで、係数ｋ１は、サブ受光部の感度倍率に相当し、メインビームの検出出力が２つのサブビームの検出出力の合計に等しくなるように設定される。

上記図１０（ａ）に示す如く、メインビームがトラック（グルーブ）の中心位置に集光された状態にあるとき、光検出器１７の受光面上におけるメインビームと２つのサブビームのスポット状態は、図１１（ａ−２）のようになる。この場合、各スポットの光強度分布は、４分割センサの一つの分割線に対して対称となる。したがって、上記式（１）の演算を行うと、差動プッシュプル信号（ＤＰＰ）は、ＤＰＰ＝０となる。

上記図１０（ａ）に示す状態から、メインビームがラディアル方向（紙面上下方向）に変位すると、光検出器１７の受光面上におけるメインビームと２つのサブビームのスポット状態は、図１１（ａ−１）または（ａ−３）のようになる。なお、同図（ａ−１）および（ａ−３）は、それぞれ、メインビームがトラック中心からディスク外周方向および内周方向にトラックズレを起こしたときの状態を示している。

この場合、受光面上におけるメインビームと２つのサブビームの光強度分布は、紙面左右方向の何れかに偏った状態となる。同図（ａ−１）と（ａ−３）を比較して分かるとおり、各スポット内における光強度分布の偏り方向は、メインビームのトラックズレ方向に応じて逆方向となる。また、メインビームとサブビームとでは、光強度の偏る方向が逆になっている。なお、光強度が偏る方向と３つのスポットの並び方向（トラック方向）が直交する方向でないのは、非点収差作用によりスポット内の強度分布が９０度変換されているためである。

したがって、上記式（１）の演算を行うと、差動プッシュプル信号（ＤＰＰ）は、同図（ａ−１）の状態において負の値となり、同図（ａ−３）の状態では正の値となる。よって、差動プッシュプル信号（ＤＰＰ）に基づいて、ディスク上におけるメインビームのトラックずれを検出することができる。

なお、いわゆる１ビームプッシュプル法では、メインビームのみからプッシュプル信号が生成され、これをもとに、メインビームのトラックズレが検出される。ところが、この手法によれば、ディスクの傾斜や対物レンズの光軸ずれ等でプッシュプル信号にＤＣオフセットが発生し、これに起因して、トラックズレの検出精度が劣化する。これに対し、上記差動プッシュプル法では、ＤＣオフセットが式（１）の演算によってキャンセルされるため、トラックズレの検出精度を高めることができる。

図１１（ｂ-１）〜（ｂ−３）は、差動非点収差法によるフォーカスエラー検出の原理を説明する図である。この場合、光検出器１７の受光面上におけるメインビームとサブビームの集光スポットは、フォーカスズレに応じて、真円形状から楕円形に変化する。

メインビームがディスク記録面上に合焦しているとき、光検出器１７の受光面上におけるメインビームとサブビームのスポット形状は、同図（ｂ−２）のように略真円になる。これに対し、メインビームの焦点位置がディスク記録面に対して前後にずれると、光検出器１７の受光面上におけるメインビームとサブビームのスポット形状は、同図（ｂ−１）または（ｂ−３）のように変形する。

この場合、差動非点収差信号（ＤＡＳ）は次式で与えられる。
DAS={(PA+PC)−(PB+PD)}−k2・{(PE+PG+PI+PK)−(PF+PH+PJ＋PL)｝…（２）

ここで、ｋ２は、上述のｋ１と同等の意味をもつ係数である。

図１１（ｂ−２）に示すオンフォーカスの状態では、光検出器１７の受光面上におけるメインビームとサブビームのスポット形状が略真円であるため、式（２）の演算を行うと、差動非点収差信号（ＤＡＳ）は、ＤＡＳ＝０となる。これに対し、メインビームの焦点位置が記録面から前後にずれると、各ビームのスポット形状は、図１１（ｂ−１）（ｂ−３）に示す如く、フォーカスズレの方向によって異なる方向に楕円形に変化するため、式（２）の演算を行うと、差動非点収差信号（ＤＡＳ）が負（同図（ｂ−１）の場合）になったり正（同図（ｂ−３）の場合）になったりする。よって、差動非点収差信号（ＤＡＳ）に基づいて、ディスク記録面上におけるメインビームのフォーカスずれを検出することができる。

ところで、トラックズレ検出の場合と同様、フォーカスズレ検出の場合も、メインビームのみからフォーカスエラー信号を生成することができる。しかしながら、メインビームのみからフォーカスエラー信号を生成すると、ディスク上におけるスポットのトラック横断時に、プッシュプル信号がノイズとしてフォーカスエラー信号に重畳され、良好なフォーカスエラー信号を得ることができないとの問題が生じる。これに対し、上述の差動非点収差法では、上記式（２）の演算によって、ノイズとしてのプッシュプル信号がキャンセルされるため、良好なフォーカスエラー信号を得ることができる。

以上説明したように、トラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号の高精度化を図るために、サブビームに基づく検出信号が重要な役割を果たしている。

ところで、ディスクに対する記録情報の高容量化の要請を受けて、複数の記録層が積層配置されたディスク（以下、「多層ディスク」と称する）が開発され商品化されている。現在商品化が進められている次世代ＤＶＤにおいても、波長４００ｎｍ程度の青色レーザ光に対応する記録層を積層配置することができる。

この種の多層ディスクにおいても、上記差動プッシュプル法および差動非点収差法を用いることができる。しかし、これらの手法を多層ディスクに対して用いると、記録再生対象以外の記録層からの反射光（迷光）が光検出器１７に入射され、これにより、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号の精度が低下するとの問題が生じる。いわゆる、迷光による信号劣化の問題である。

図１２に、２つの記録層を有する多層ディスクにレーザ光を集光させた場合の迷光の発生状態を示す。図中、信号光（記録再生対象の記録層からの反射光）は実線で示され、迷光は破線で示されている。

同図（ａ）は、光ピックアップ装置からのレーザ光が記録層Ｌ１に集光されている場合を示している。この場合、記録層Ｌ１を透過し記録層Ｌ０で反射された光が迷光となる。記録層Ｌ０で反射された光は、記録層Ｌ１よりも対物レンズ１５から遠い位置を起点とする発散光となるので、対物レンズ１５を透過した後は平行光よりもやや収束した状態となる。したがって、コリメータレンズ１４によるこの光の焦点は光検出器１７の受光面よりもディスク側に近づき、よって、光検出器１７の受光面上では大きく広がったスポットになる。

同図（ｂ）は、光ピックアップ装置からのレーザ光が記録層Ｌ０に集光されている場合を示す図である。この場合は、記録層Ｌ１で反射された光が迷光となる。記録層Ｌ１で反射された光は、記録層Ｌ０よりも対物レンズ１５に近い位置を起点とする発散光となるので、対物レンズ１５を透過した後は平行光よりもやや発散した状態となる。したがって、コリメータレンズ１４によるこの光の焦点は光検出器１７の受光面よりもディスクから離れ、よって、光検出器１７の受光面上では大きく広がったスポットになる。

図１３は、光検出器１７の受光面上における迷光の照射状態を示す図である。この場合、迷光は、４分割センサ１７１、１７２、１７３の全てをカバーするようにして受光面上に照射される。なお、迷光には、メインビームと２つサブビームに基づく３つの迷光があり、サブビームの迷光もメインビームの迷光と重なるようにして受光面に入射する。しかし、サブビームの迷光は、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号に対する影響としてほとんど問題にならない光強度にあるため、図１３には、便宜上、メインビームの迷光のみを示している。

図１４は、光検出器１７の受光面上における信号光と迷光の光強度分布を示す図である。図示の如く、迷光のピーク強度は、メインビームによる信号光のピーク強度に比べるとかなり低くなる。このため、メインビームの信号光に対する迷光の影響はさほど問題とはならない。これに対し、サブビームの位置における迷光の光強度は、サブビームによる信号光の強度にかなり接近しているため、サブビームの信号光に対する迷光の影響は大きな問題となる。

上述のように、サブビームは、トラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号の高精度化において重要な役割を担っている。このため、このように迷光の光強度がサブビームによる信号光の強度に接近すると、トラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号に大きな影響を与え、その結果、光ピックアップ装置全体の性能が著しく低下する惧れがある。

そこで、このような問題を解消する手法として、以下の特許文献１、２に示す手法が提案されている。

図１５（ａ）は、特許文献１にて提案された光ピックアップ装置の構成例である。この構成例では、レーザ光の光路中に遮光部材が挿入され、この遮光部材上に設けられた遮光部によって迷光が遮断される。この場合、光検出器の受光面上におけるメインビームとサブビームのスポット状態と迷光の照射状態は、同図（ｂ）に示すものとなる。

図示の如く、この構成例によれば、４分割センサに対する迷光の入射が防止される。しかし、その反面、信号光の一部も遮光部によって同様に遮断され、このため、光検出器の受光面上におけるメインビームとサブビームのスポット内に反射光の欠落領域（図中、“Ｎ”で示した領域）が生じてしまう。この場合、特に、メインビームの信号光スポット内における欠落が問題となる。すなわち、この欠落は、光強度の強いスポット中央部において生じるため、ＲＦ信号やフォーカスエラー信号の品質が著しく低下するとの問題が発生する。

図１６は、特許文献２にて提案された光ピックアップ装置の構成例である。この構成例は、信号光の焦点位置にピンホールを設け、このピンホールから信号光のみを光検出器側に導こうとするものである。

図１７（ａ）（ｂ）は、この構成例における光検出器上の収束スポットの状態を示す図である。同図（ａ）は、メインビームの焦点位置にのみピンホールを設けた場合の状態を示す図であり、当然ながら、この場合には、光検出器上においてサブビームが消失することとなる。同図（ｂ）は、メインビームとサブビームの焦点位置にそれぞれピンホールを設けた場合の状態を示す図である。この場合、サブビーム（信号光）が光検出器上において消失することはないが、３つのビームに対してピンホールを精度良く位置合わせしなければならず、ピンホールの位置調整が困難となる。また、この場合には、迷光もピンホールを通過するため、同図に示すように、迷光が光検出器上に照射されることとなる。この場合、ピンホールの径を小さくすることにより、光検出器上における迷光の照射領域を小さくすることができるが、反面、メインビームおよびサブビームの焦点位置とピンホールとを位置調整する際の許容誤差が小さくなり、当該位置調整が困難になるとの問題が生じる。
特開２００５−６３５９５号公報 特開２００６−２６０６６９号公報

本発明は、上記迷光の影響を効果的に抑制し得る光ピックアップ装置を提供することを課題とする。

本発明は、迷光の焦点位置にスポット的に遮光または減光部材を配することにより光検出器に対する迷光の入射を抑制するものである。

請求項１の発明は、積層方向に複数の記録層を有するディスクに対しレーザ光を照射する光ピックアップ装置において、前記レーザ光を出射する光源と、前記光源から出射されたレーザ光を前記複数の記録層のうちターゲットとされる記録層上に収束させる対物レンズと、前記ターゲット記録層からの反射光を受光する光検出器と、前記光源から出射されたレーザ光と前記記録層によって反射された反射光とを分離するビーム分岐素子と、前記ビーム分岐素子と前記光検出器の間の光路上、前記ターゲット記録層以外の記録層によって反射された迷光の焦点位置に配置され、入射される前記反射光のうち該迷光の収束領域部分の光を遮光または減光するための光学素子とを有することを特徴とする。

この発明によれば、光学素子の作用により、迷光が光検出器に入射されるのが抑制される。このとき、信号光も光学素子によって遮光または減光されるが、光学素子上における信号光の入射領域は迷光の収束領域に対し十分広いため、光学素子による信号光の光量減少は小さく抑えられる。このため、フォーカスエラーおよびトラッキングエラーの検出精度がこの光量減少によって劣化することは殆どない。よって、この発明によれば、各種エラー信号に対する迷光の影響を、円滑かつ効果的に、抑制することができる。

請求項２の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記光学素子は、前記収束領域部分が非ミラー面となっているミラー素子を具備することを特徴とする。

この発明によれば、迷光は、ミラー素子の非ミラー面を透過することにより、他の反射光（信号光）に対して除去される。この発明によれば、簡素な構成により円滑に、迷光の除去を実現することができる。

請求項３の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置おいて、前記光学素子は、遮光または減光部材が前記収束領域部分に形成された光透過素子を具備することを特徴とする。

この発明によれば、迷光は、光透過素子に形成された遮光または減光部材によって、他の反射光（信号光）に対して除去される。この発明によれば、簡素な構成により円滑に、迷光の除去を実現することができる。

請求項４の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記光学素子は、前記収束領域の光とその他の領域の光の偏光方向を互いに相違させる偏光変換素子と、該偏光変換素子を通過した後の光が入射するとともに入射光の偏光方向に応じて光透過率が変化する偏光ミラー素子を具備することを特徴とする。

この発明によれば、迷光は、偏光変換素子によって他の反射光（信号光）と相違する偏光方向をもつようになり、その結果、偏光ミラーを通過する際に、他の反射光（信号光）に対して除去される。この発明によれば、上記請求項２または３に比べ幾分構成が複雑化するものの、円滑に、迷光を除去することができる。

請求項５の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置おいて、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置を一致させるための光学系を具備し、これら２つの迷光の共通の焦点位置に前記光学素子が配置されていることを特徴とする。

この発明によれば、２つの迷光の共通の焦点位置に一つの光学素子を配置すれば良いため、光学素子の部品点数を削減できるとともに、光学系の構成の簡素化を図ることができる。

請求項６の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記ビーム分岐素子は偏光ビームスプリッタによって構成され、該偏光ビームスプリッタは、その偏光面が前記反射光の光軸に対して４５°傾斜し、且つ、前記記録層からの反射光を前記光検出器に向かう方向とは異なる方向に導く配置され、さらに、前記偏光ビームスプリッタを経由した前記反射光を逆戻りさせる反射ミラーと、前記偏光ビームスプリッタと前記反射ミラーの間に配された１／４波長板を備え、前記反射ミラーは、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置が前記偏光ビームスプリッタと前記１／４波長板の間の光路において一致することとなる位置に配置され、前記光学素子は、これら２つの迷光の共通の焦点位置に配置されていることを特徴とする。

この発明によれば、上記請求項５の発明と同様、２つの迷光の共通の焦点位置に一つの光学素子を配置すれば良いため、光学素子の部品点数を削減できるとともに、光学系の構成の簡素化を図ることができる。なお、請求項６の発明は、図３に示す実施形態に対応するものである。

請求項７の発明は、請求項６に記載の光ピックアップ装置において、前記１／４波長板は、前記反射光が通過する２つの面のうち一方の面が前記２つの迷光の共通の焦点位置に位置づけられるよう配置され、この面の前記２つの迷光の収束領域部分に遮光部材または減光部材が形成されていることを特徴とする。

この発明によれば、迷光を遮光または減光するための手段が１／４波長板に一体化されているため、更なる部品点数の削減と構成の簡素化を図ることができる。なお、請求項７の発明は、図３に示す実施形態に対応するものである。

請求項８の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記ビーム分岐素子は偏光ビームスプリッタによって構成され、該偏光ビームスプリッタは、その偏光面が前記反射光の光軸に対して４５°傾斜し、且つ、前記記録層からの反射光を前記光検出器に向かう方向とは異なる方向に導くよう配置され、さらに、前記偏光ビームスプリッタを経由した前記反射光を逆戻りさせる反射ミラーと、前記偏光ビームスプリッタと前記反射ミラーの間に配された１／４波長板を備え、前記反射ミラーは、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置が、当該反射ミラーのミラー面上と、前記偏光ビームスプリッタと前記光検出器の間の光路にそれぞれ生じることとなる位置に配置され、前記光学素子は、これら２つの迷光の焦点位置にそれぞれ配置されていることを特徴とする。

この発明によれば、請求項７の発明に比べ、偏光ビームスプリッタと反射ミラーの間の距離を小さくすることができ、光学系の小型化を図ることができる。なお、請求項８の発明は、図４に示す実施形態に対応するものである。

請求項９の発明は、請求項８に記載の光ピックアップ装置において、前記１／４波長板の前記偏光ビームスプリッタから離れる方の面にミラー面を形成することにより前記１／４波長板と前記反射ミラーが一体化されており、該ミラー面の前記１つの迷光の収束領域部分に光を透過するための非ミラー面が配されていることを特徴とする。

この発明によれば、反射ミラーと迷光を遮光または減光するための手段が１／４波長板に一体化されているため、部品点数の削減と構成の簡素化を図ることができる。なお、請求項９の発明は、図４に示す実施形態に対応するものである。

請求項１０の発明は、請求項９に記載の光ピックアップ装置において、前記偏光ビームスプリッタと、前記１／４波長板と、前記光検出器に前記反射光を収束させるための集光レンズが一体化されており、該一体化された構造体が、前記集光レンズのレンズ面が前記一つの迷光の焦点位置に位置づけられるよう構成され、このレンズ面の当該迷光の収束領域部分に遮光部材または減光部材が形成されていることを特徴とする。

この発明によれば、迷光を遮光または減光するための手段と、偏光ビームスプリッタ、１／４波長板、反射ミラー、および、光検出器に前記反射光を収束させるための集光レンズが一体化されているため、更なる部品点数の削減と構成の簡素化を図ることができる。また、一体化された構造体を光学系に配置すればよいから、各々の光学部品を配置し調整する場合に比べ、作業性の向上を図ることができ、また、各部品の位置精度を高めることができる。なお、請求項１０の発明は、図５に示す実施形態に対応するものである。

請求項１１の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記ビーム分岐素子によって分離された後の前記反射光が直線偏光となるよう前記光源から前記対物レンズまでの光学系が構成され、前記ビーム分岐素子によって分離された後の前記反射光の進行経路に沿って第１および第２の偏光面と、第１および第２の反射面と、前記反射光の偏光方向を９０°変化させる波長板を具備する光学手段が配置され、該光学手段は、前記第１の偏光面を介して入射した反射光が、前記第２の偏光面、前記第１の反射面、前記第２の反射面を経由した後、再び前記第１の偏光面を経由して、前記第２の偏光面から前記光検出器に向かう方向に導かれるよう構成されるとともに、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置が前記第１の偏光面と前記第２の偏光面の間の光路において一致することとなるよう配置され、前記光学素子は、これら２つの迷光の共通の焦点位置に配置されていることを特徴とする。

この発明によれば、迷光を遮光または減光するための構成を、ビーム分岐素子から光検出器へと向かう光路上に配置することができる。また、この発明によれば、２つの迷光の共通の焦点位置に一つの光学素子を配置すれば良いため、光学素子の部品点数の削減と、光学系の構成の簡素化を図ることができる。なお、請求項１１の発明は、図７に示す実施形態に対応するものである。

請求項１２の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置において、前記ビーム分岐素子によって分離された後の前記反射光が直線偏光となるよう前記光源から前記対物レンズまでの光学系が構成され、前記ビーム分岐素子によって分離された後の前記反射光の進行経路に沿って第１および第２の偏光面と、第１および第２の反射面と、前記反射光の偏光方向を９０°変化させる波長板を具備する光学手段が配置され、該光学手段は、前記第１の偏光面を介して入射した反射光が、前記第２の偏光面、前記第１の反射面、前記第２の反射面を経由した後、再び前記第１の偏光面を経由して、前記第２の偏光面から前記光検出器に向かう方向に導かれるよう構成されるとともに、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置が、前記ビーム分岐素子と前記第１の偏光面の間の光路上と、前記第２の偏光面、前記第１および第２の反射面の何れかに生じることとなるよう配置され、前記光学素子は、これら２つの迷光の焦点位置にそれぞれ配置されていることを特徴とする。

この発明によれば、請求項１１の発明と同様、迷光を遮光または減光するための構成を、ビーム分岐素子から光検出器へと向かう光路上に配置することができる。なお、請求項１２の発明は、図８に示す実施形態に対応するものである。

請求項１３の発明は、請求項１２に記載の光ピックアップ装置において、前記ビーム分岐素子と前記第１の偏光面の間の光路上に配置された前記光学素子は、前記収束領域の光とその他の領域の光の偏光方向を互いに相違させる偏光変換素子から構成されていることを特徴とする。

この発明によれば、第１の偏光面の前段に偏光変換素子を配することにより、迷光を他の光（信号光）に対して円滑に除去することができる。なお、請求項１２の発明は、図８に示す実施形態に対応するものである。

以上のとおり、本発明によれば、信号光から迷光を円滑に除去することができ、各種信号特性に対する迷光の影響を効果的に抑制することができる。

本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。

以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。

図１に、実施例１に係る光ピックアップ装置の構成を示す。なお、図９の構成例と同一部材には同一符号を付しその説明を省略する。

本実施例では、ビームスプリッタ１３が偏光ビームスプリッタ２１に置き換えられ、対物レンズ１５の前段に１／４波長板２２が配置されている。ここで、偏光ビームスプリッタ２１は、半導体レーザ１１側から入射されるレーザ光を略全透過するよう配置されている。ディスクからの反射光は、１／４波長板２２による作用によって、ディスクへの入射時に比べ偏光方向が９０度回転する。よって、この反射光は、偏光ビームスプリッタ２１によって略全反射される。なお、１／４波長板２２は、対物レンズを保持するレンズホルダーに一体的に配しても良い。

また、本実施例では、２つの反射ミラー２３、２４と、集光レンズ２５が配置されている。偏光ビームスプリッタ２１によって反射された反射光は、２つの反射ミラー２３、２４によってそれぞれ進行方向が９０°曲げられるよう反射された後、集光レンズ２５によって集光される。同図中、破線は、Ｌ１層がターゲット記録層であるときのＬ０層からの迷光を示し、一点鎖線は、Ｌ０層がターゲット記録層であるときのＬ１層からの迷光を示している。実線は、信号光である。

反射ミラー２３は、ミラー面がＬ０層からの迷光の焦点位置に位置づけられるよう配置され、また、反射ミラー２４は、ミラー面がＬ１層からの迷光の焦点位置に位置づけられるよう配置されている。さらに、これら反射ミラー２３、２４のミラー面には、それぞれ、Ｌ０層からの迷光（メインビームによる迷光、以下同じ）の収束領域と、Ｌ１層からの迷光（メインビームによる迷光、以下同じ）の収束領域に、ミラー面が除去されたピンホール２３ａ、２４ａが形成されている。したがって、Ｌ０層からの迷光とＬ１層からの迷光は、全て、ピンホール２３ａと２４ａを通過し、信号光（ターゲット記録層からの反射光）に対して完全に除去される。その結果、光検出器１７には、迷光は入射されず、信号光のみが入射されるようになる。

図１の下段は、光検出器１７の受光面上におけるメインビームとサブビームの収束スポットの状態を示す図である。メインビームとサブビームの信号光は、それぞれその一部がピンホール２３ａ、２４ａを通過するため、これらビームの収束スポットには、同図に示すように、光の欠け部分Ｐが生じる。しかし、反射ミラー２３、２４上におけるこれら信号光の入射領域は、ピンホール２３ａ、２４ａの形成領域に対して十分拡がっているため、欠け部分Ｐの面積は、収束スポット全体の面積に対して極めて小さいものとなる。このため、この欠け部分Ｐは、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に対し、ほとんど影響を与えない。

図２に、信号光および迷光の光学的特徴を示す。同図（ａ）に示すように、信号光と迷光の焦点は、コリメータレンズ１４側から集光レンズ２５に向かって、Ｌ０層からの迷光の焦点、信号光の焦点、Ｌ１層からの迷光の焦点の順で並ぶ。同図（ｂ）および（ｃ）は、それぞれ、Ｌ０層からの迷光の焦点位置（Ｆ０）におけるビーム断面と、Ｌ１層からの迷光の焦点位置（Ｆ１）でのビーム断面を示すものである。図示の如く、何れのビーム断面においても、信号光は、迷光の焦点スポットに対して十分な拡がりを持っている。よって、上記の如く、迷光の焦点位置に、ピンホール等の迷光除去手段を設けても、この迷光除去手段が信号光の光量に与える影響は極めて小さいものとなる。

実施例１によれば、光検出器１７に入射される前に迷光が完全に除去されるため、フォーカス誤差検出およびトラッキング誤差検出に対する迷光の影響を抑制することができる。また、ピンホール２３ａ、２４ａをメインビームによる迷光の焦点位置に位置合わせすれば良いため、上記引用文献２の場合に比べ、ピンホール２３ａ、２４ａと迷光焦点位置の位置調整を容易化することができる。本実施例では、メインビームによる迷光用のピンホール２３ａ、２４ａを一つだけ反射ミラー２３、２４のミラー面に形成すれば良く、このピンホールをメインビームによる迷光の焦点位置に位置合わせすれば良い。この場合、サブビームによる迷光が光検出器１７に入射するが、上記の如く、この迷光の強度は極めて微小なため、この迷光が光検出器１７の受光面に入射されても、殆ど問題とはならない。加えて、実施例１によれば、ピンホールが形成されたミラーを配置するのみでよいため、特殊な光学部品を必要とせずに、簡単かつ安価な光学部品を用いながら、迷光を円滑に除去できるという利点を奏することができる。なお、ピンホール２３ａ、２４ａを遮光／減光部材に置き換えてもよい。

図３に、実施例２の構成を示す。なお、同図には、図１の点線Ｔで矩形に囲まれた部分の構成のみが示されており、その他の部分は図１と同じであるため図示省略されている（以下、全ての他の実施例でも同様）。

本実施例では、ディスクからの反射光が光検出器１７に向かう方向と反対方向に反射されるよう、偏光ビームスプリッタ２１が配置されている。また、偏光ビームスプリッタ２１によって反射された後のレーザ光の光路中に１／４波長板３１と反射ミラー３２が配置されている。偏光ビームスプリッタ２１によって反射された反射光は、１／４波長板３１を通過することにより円偏光とされ、さらに、反射ミラー３２によって反射された後に再び１／４波長板３１を通過することにより、偏光ビームスプリッタ２１から反射ミラー３２に向かうときの偏光方向に直交する直線偏光に変換される。よって、反射ミラー３２によって反射された反射光は、偏光ビームスプリッタ２１を略透過し、光検出器１７へと導かれる。

１／４波長板３１と偏光ビームスプリッタ２１の間の距離ｄ１は、Ｌ０層からの迷光の焦点位置が１／４波長板３１の偏光ビームスプリッタ２１側の表面に位置づけられるよう設定されている。また、この表面と反射ミラー３２の間の距離ｄ２は、Ｌ１層からの迷光の焦点位置が１／４波長板３１の偏光ビームスプリッタ２１側の表面に位置づけられるよう設定されている。すなわち、これら距離ｄ１、ｄ２をこのように設定することにより、Ｌ０層からの迷光の焦点位置とＬ１層からの迷光の焦点位置は、共に、１／４波長板３１の偏光ビームスプリッタ２１側の表面に位置づけられる。

本実施例では、１／４波長板３１上の、これら２つの迷光の収束領域に、スポット状の遮光／減光部材３１ａが形成されている。したがって、Ｌ０層からの迷光とＬ１層からの迷光は、共に、遮光／減光部材３１ａによって遮光／減光されて、信号光（ターゲット記録層からの反射光）に対して除去される。その結果、光検出器１７には、迷光は入射されず、信号光のみが入射されるようになる。

なお、メインビームとサブビームの信号光は、それぞれその一部が遮光／減光部材３１ａを通過するため、これらビームの収束スポットには、図１の下段に示すように、光の欠け部分Ｐが生じる。しかし、この場合も、上記実施例１と同様、１／４波長板３１表面上におけるこれら信号光の入射領域は、遮光／減光部材３１ａの形成領域に対して十分な拡がりを持つため、欠け部分Ｐの面積は、収束スポット全体の面積に対して極めて小さいものとなる。よって、この欠け部分Ｐは、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に対し、ほとんど影響を与えない。

本実施例によれば、上記実施例１と同様、迷光を円滑に除去できる。なお、本実施例では、１つの遮光／減光部材３１ａによって、Ｌ０層からの迷光とＬ１層からの迷光を同時に除去できるという利点が奏される。よって、上記実施例１に比べ、部品点数の削減と構成の簡素化を図ることができる。

図４に、実施例３の構成を示す。本実施例では、偏光ビームスプリッタ２１によって反射された反射光の光路中に、全反射面４１ａとピンホール４１ｂを有する１／４波長板４１が配置され、偏光ビームスプリッタ２１と光検出器１７の間の光路中に、遮光／減光部材４２ａがスポット状に形成された透明基板４２が配置されている。

ここで、偏光ビームスプリッタ２１と全反射面４１ａの距離ｄ３は、Ｌ０層からの迷光の焦点位置が全反射面４１ａ上に位置づけられるよう設定され、ピンホール４１ｂは、この迷光の収束領域をカバーするよう配されている。また、偏光ビームスプリッタ２１と透明基板４２の間の距離ｄ４は、Ｌ１層からの迷光の焦点位置が透明基板４２の光検出器１７側表面に位置づけられるよう設定され、この表面上の当該迷光の収束領域に遮光／減光部材４２ａが配されている。

本実施例では、Ｌ０層からの迷光は、ピンホール４１ｂを通過することにより、信号光（ターゲット記録層からの反射光）に対して完全に除去される。また、Ｌ１層からの迷光は、遮光／減光部材４２ａによって、信号光に対して除去される。よって、本実施例によれば、光検出器１７に対する迷光の入射が抑制され、光検出器１７には、信号光のみが入射されるようになる。

なお、本実施例においても、メインビームとサブビームの信号光の収束スポットには、図１の下段に示すように、光の欠け部分Ｐが生じるが、この場合も、上記実施例１、２と同様、欠け部分Ｐの面積は、収束スポット全体の面積に対して極めて小さいものとなる。よって、この欠け部分Ｐは、フォーカスおよびトラッキングの誤差信号の検出に対し、ほとんど影響を与えることがない。

本実施例においても、上記実施例１と同様、迷光を円滑に除去できる。なお、本実施例は、上記実施例２に比べ、１／４波長板４１側における光学系の所要スペースを縮小できるとの利点を有する。よって、上記実施例２に比べ、光学系の小型化を図ることができる。なお、ピンホール４１ｂを遮光／減光部材に置き換えても良い。

図５に、実施例４の構成を示す。本実施例は、実施例３における光学部品を集積化したものである。

すなわち、本実施例では、実施例４における偏光ビームスプリッタ２１と、１／４波長板４１と、透明板４２と、集光レンズ２５が一体化されている。具体的には、１／４波長板４１が偏光ビームスプリッタ２１の下面に接着され、さらに、実施例３における透明板４２と集光レンズ２５を一体化した平凸レンズ５１が偏光ビームスプリッタ２１の上面に接着されている。

ここで、偏光ビームスプリッタ２１の下面から全反射面４１ａまでの距離ｄ５は、図４における距離ｄ３と同様、Ｌ０層からの迷光の焦点位置がピンホール４１ｂの形成位置に位置づけられるよう設定されている。なお、市販の１／４波長板には、透明基板上に偏光制御シートを貼り付けたものが存在するので、距離ｄ５は、この透明基板の厚み、あるいは偏光ビームスプリッタ２１のサイズ（一辺の長さ）を適宜調整することによって設定できる。

平凸レンズ５１は、光検出器１７側の表面が凸レンズ面５１ａとなっており、凸レンズ面５１ａのトップ位置に、遮光／減光部材５１ｂが形成されている。ここで、偏光ビームスプリッタ２１の上面から凸レンズ面５１ａのトップ位置までの距離ｄ６は、図４における距離ｄ４と同様、Ｌ１層からの迷光の焦点位置が遮光／減光部材５１ｂの形成位置に位置づけられるよう設定されている。なお、平凸レンズ５１の集光特性は、凸レンズ面５１ａの曲率を変更することにより調整できる。

本実施例においても、実施例４と同様の効果が奏される。加えて、本実施例によれば、距離ｄ５とｄ６が部品作製段階で適正値に固定されるので、ピンホール４１ｂと遮光／減光部材５１ｂの位置精度が向上し、また、光学部品の配置作業が簡易化するとの利点が奏される。なお、この場合も実施例４と同様、ピンホール４１ｂを遮光／減光部材に置き換えても良い。

本実施例は、迷光除去手段を全て光検出器１７側に配置する場合の構成例である。具体的には、図６の破線Ｖで囲んだ領域に、図７または図８の構成が配置される。図７および図８の何れの場合にも、偏光ビームスプリッタ２１以降の光学系が全て光検出器１７側にあるため、常に、光検出器１７を起点として同じ方向にて光学部品の配置を調整できる。このため、上記実施例２ないし実施例４の場合に比べ、光学系の調整作業が容易になるという利点がある。

図７に、図６の破線Ｖで囲んだ領域の構成例を示す。この構成例では、図６の破線Ｖで囲んだ領域に、図７に示す光学プリズム１００が、同図に示す如く配置される。なお、図７は、光学系内に配置された光学プリズム１００を図６のＺ軸方向に見たときのものである。

この光学プリズム１００には、第１の偏光面１０１と、第２の偏光面１０４と、２つの全反射面１０５、１０７が配置されている。また、第１の偏光面１０１と第２の偏光面１０４の間に、スポット状の遮光／減光部材１０３を有する透明基板層１０２が配置されており、さらに、２つの全反射面１０５、１０７の間に１／２波長板１０６が配置されている。

ここで、第１の偏光面１０１は、偏光ビームスプリッタ２１側から入射されるディスク反射光を略全透過し、第２の偏光面１０４は、第１の偏光面１０１を透過したレーザ光を９０度曲げる方向に略全反射する。また、２つの全反射面１０５、１０７は、それぞれ、第２偏光面１０４によって反射された反射光を、９０度曲げる方向に全反射する。このとき、反射光は、１／２波長板１０６を通過する際に、偏光方向が９０度回転される。よって、全反射面１０７によって反射された後に再び第１の偏光面１０１に入射する反射光は、第１の偏光面１０１によって略全反射され、さらに、第２の偏光面１０４を略全透過し、集光レンズ２５へと導かれる。

なお、第１および第２の偏光面１０１、１０４と、２つの全反射面１０５、１０７は、Ｌ０層からの迷光の焦点位置と、光学プリズム１００内を巡回する間に次第に収束されるＬ１層からの迷光の焦点位置とが互いに一致するように配置されている。また、透明基板層１０２上に形成されたスポット状の遮光／減光部材１０３は、Ｌ０層からの迷光とＬ１層からの迷光の収束領域を同時にカバーするようにして、これら迷光の共通の焦点位置に配置されている。

この構成例によれば、偏光ビームスプリッタ２１と集光レンズ２５の間に図７に示す光学プリズム１００を配置することにより、光検出器１７に対する迷光の入射を円滑に抑制することができ、信号光のみを光検出器１７へと導くことができる。また、この構成例によれば、一つの遮光／減光部材１０３によって、Ｌ０層からの迷光とＬ１層からの迷光の両方を遮光／減光することができる。

図８に、図６の破線Ｖで囲んだ領域の他の構成例を示す。この構成例では、図６の破線Ｖで囲んだ領域に、図８に示す光学プリズム２００が、同図に示す如く配置される。なお、図８は、光学系内に配置された光学プリズム２００を図６のＺ軸方向に見たときのものである。

この光学プリズム２００には、上記図７に示す構成例の場合と同様、第１の偏光面２０２と、第２の偏光面２０３と、２つの全反射面２０４、２０５が配置されている。また、第１の偏光面２０２の前段に、１／２波長板の機能がスポット領域２０１ａにおいてスポット状に除去された１／２波長板２０１が配置されており、また、２つの全反射面２０４、２０５の間に１／２波長板２０６が配置されている。さらに、全反射面２０５にピンホール２０５ａが形成されている。

ここで、第１の偏光面２０２は、１／２波長板２０１によって偏光面が９０度回転された後のディスク反射光を略全透過し、第２の偏光面２０３は、第１の偏光面２０２を透過したレーザ光を９０度曲げる方向に略全反射する。また、２つの全反射面２０４、２０５は、それぞれ、第２偏光面２０３によって反射された反射光を、９０度曲げる方向に全反射する。このとき、反射光は、１／２波長板２０６を通過する際に、偏光方向が９０度回転される。よって、全反射面２０５によって反射された後に再び第１の偏光面２０２に入射する反射光は、第１の偏光面２０２によって略全反射され、さらに、第２の偏光面２０３を略全透過する。

なお、１／２波長板２０１上のスポット領域２０１ａは、Ｌ０層からの迷光の収束領域をカバーするようにして、この迷光の焦点位置に配置されている。よって、この迷光は、その全てが、１／２波長板２０１による偏光回転作用を受けることなく、偏光ビームスプリッタ２１によって反射されたときの偏光方向のまま第１の偏光面２０２に入射する。このため、この迷光は、その全てが、第１の偏光面２０２によって反射される。これにより、Ｌ０層からの迷光が信号光（ターゲット記録層からの反射光）から除去される。

また、全反射面２０５ａ上のピンホール２０５ａは、Ｌ１層からの迷光の収束領域をカバーするようにして、この迷光の焦点位置に配置されている。よって、この迷光は、その全てが、ピンホール２０５ａを通過する。これにより、Ｌ１層からの迷光が信号光（ターゲット記録層からの反射光）から除去される。

この構成例によれば、偏光ビームスプリッタ２１と集光レンズ２５の間に図８に示す光学プリズム２００を配置することにより、光検出器１７に対する迷光の入射を円滑に抑制することができ、信号光のみを光検出器１７へと導くことができる。なお、スポット領域２０１ａやピンホール２０５ａを減光／遮光部材に置き換えても良い。

なお、図７および図８の構成例においても、上記実施例１ないし４の場合と同様、信号光の一部が、遮光／減光部材１０３やピンホール２０５ａ等によって除去されるが、この場合も、信号光の光量減少は、上記実施例の場合と同様、極めて小さく抑えられる。よって、この光量減少が、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号に影響を与えることは殆どない。

以上、本発明の好ましい実施例について種々例示したが、本発明は、これらに限定されるものではなく、「特許請求の範囲」に示された技術思想によってその範囲が画定されることは言うまでもない。

なお、上記実施例で用いた遮光／減光部材には、半導体レーザ１１から出射される波長帯のレーザ光を吸収または拡散する樹脂材料、金属、あるいは入射角に依存した透過率分布をもつ入射角フィルター構造等を用いることができる。

本発明は、記録層を複数有する記録媒体に対応可能な光ピックアップ装置であれば如何なるものにも適用可能である。本発明は、次世代ＤＶＤの他に、既存のＤＶＤやＣＤ等のドライブ装置に搭載される光ピックアップ装置にも適宜適用可能なものである。

さらに、本発明は、回折格子によってレーザ光がメインビームとサブビームに分離される３ビーム方式の光ピックアップ装置（差動プッシュプル法、差動非点収差法によるもの）に用いて特に好適なものであるが、１ビーム方式の光ピックアップ装置における迷光対策としても適宜用い得るものである。

この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。

実施例１に係る光ピックアップ装置の構成を示す図 実施例１に係る信号光および迷光の光学的特徴を説明する図 実施例２に係る光ピックアップ装置の構成を示す図 実施例３に係る光ピックアップ装置の構成を示す図 実施例４に係る光ピックアップ装置の構成を示す図 実施例５に係る光ピックアップ装置の構成を示す図 実施例５に係る光ピックアップ装置の具体的構成例を示す図 実施例５に係る光ピックアップ装置の具体的構成例を示す図 従来例に係る光ピックアップ装置の構成を示す図 ディスク上におけるレーザ光の照射状態と光強度分布を示す図 光検出器上におけるメインビームとサブビームの状態を示す図 従来例に係る迷光の光路を説明する図 従来例に係る迷光の照射状態を示す図 従来例に係る信号光と迷光の光強度分布を示す図 従来例に係る迷光の抑制技術を説明する図 従来例に係る迷光の抑制技術を説明する図 従来例に係る迷光の抑制技術を説明する図

符号の説明

１１ 半導体レーザ
１５ 対物レンズ
１７ 光検出器
２１ 偏光ビームスプリッタ
２３ 反射ミラー
２３ａ ピンホール
２４ 反射ミラー
２４ａ ピンホール
３１ １／４波長板
３１ａ 遮光／減光部材
３２ 反射ミラー
４１ １／４波長板
４１ａ 全反射面
４１ｂ ピンホール
４２ 透明基板
４２ａ 遮光／減光部材
５１ 平凸レンズ
５１ａ 凸レンズ面
５１ｂ 遮光／減光部材
１００ 光学プリズム
１０１ 第１の偏光面
１０３ 遮光／減光部材
１０４ 第２の偏光面
１０５ 全反射面
１０６ １／２波長板
１０７ 全反射面
２００ 光学プリズム
２０１ １／２波長板
２０１ａ スポット領域（１／２波長板の機能が除去された領域）
２０２ 第１の偏光面
２０３ 第２の偏光面
２０４ 反射面
２０５ 反射面
２０５ａ ピンホール
２０６ １／２波長板

Claims (13)

1. 積層方向に複数の記録層を有するディスクに対しレーザ光を照射する光ピックアップ装置において、
   前記レーザ光を出射する光源と、
   前記光源から出射されたレーザ光を前記複数の記録層のうちターゲットとされる記録層上に収束させる対物レンズと、
   前記ターゲット記録層からの反射光を受光する光検出器と、
   前記光源から出射されたレーザ光と前記記録層によって反射された反射光とを分離するビーム分岐素子と、
   前記ビーム分岐素子と前記光検出器の間の光路上、前記ターゲット記録層以外の記録層によって反射された迷光の焦点位置に配置され、入射される前記反射光のうち該迷光の収束領域部分の光を遮光または減光するための光学素子と、
   を有することを特徴とする光ピックアップ装置。
2. 請求項１に記載の光ピックアップ装置において、
   前記光学素子は、前記収束領域部分が非ミラー面となっているミラー素子を具備する、
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。
3. 請求項１に記載の光ピックアップ装置おいて、
   前記光学素子は、遮光または減光部材が前記収束領域部分に形成された光透過素子を具備する、
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。
4. 請求項１に記載の光ピックアップ装置において、
   前記光学素子は、前記収束領域の光とその他の領域の光の偏光方向を互いに相違させる偏光変換素子と、該偏光変換素子を通過した後の光が入射するとともに入射光の偏光方向に応じて光透過率が変化する偏光ミラー素子を具備する、
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。
5. 請求項１に記載の光ピックアップ装置おいて、
   互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置を一致させるための光学系を具備し、これら２つの迷光の共通の焦点位置に前記光学素子が配置されている、
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。
6. 請求項１に記載の光ピックアップ装置において、
   前記ビーム分岐素子は偏光ビームスプリッタによって構成され、
   該偏光ビームスプリッタは、その偏光面が前記反射光の光軸に対して４５°傾斜し、且つ、前記記録層からの反射光を前記光検出器に向かう方向とは異なる方向に導くよう配置され、
   さらに、前記偏光ビームスプリッタを経由した前記反射光を逆戻りさせる反射ミラーと、前記偏光ビームスプリッタと前記反射ミラーの間に配された１／４波長板を備え、
   前記反射ミラーは、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置が前記偏光ビームスプリッタと前記１／４波長板の間の光路において一致することとなる位置に配置され、
   前記光学素子は、これら２つの迷光の共通の焦点位置に配置されている、
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。
7. 請求項６に記載の光ピックアップ装置において、
   前記１／４波長板は、前記反射光が通過する２つの面のうち一方の面が前記２つの迷光の共通の焦点位置に位置づけられるよう配置され、この面の前記２つの迷光の収束領域部分に遮光部材または減光部材が形成されている、
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。
8. 請求項１に記載の光ピックアップ装置において、
   前記ビーム分岐素子は偏光ビームスプリッタによって構成され、
   該偏光ビームスプリッタは、その偏光面が前記反射光の光軸に対して４５°傾斜し、且つ、前記記録層からの反射光を前記光検出器に向かう方向とは異なる方向に導くよう配置され、
   さらに、前記偏光ビームスプリッタを経由した前記反射光を逆戻りさせる反射ミラーと、前記偏光ビームスプリッタと前記反射ミラーの間に配された１／４波長板を備え、
   前記反射ミラーは、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置が、当該反射ミラーのミラー面上と、前記偏光ビームスプリッタと前記光検出器の間の光路にそれぞれ生じることとなる位置に配置され、
   前記光学素子は、これら２つの迷光の焦点位置にそれぞれ配置されている、
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。
9. 請求項８に記載の光ピックアップ装置において、
   前記１／４波長板の前記偏光ビームスプリッタから離れる方の面にミラー面を形成することにより前記１／４波長板と前記反射ミラーが一体化されており、該ミラー面の前記１つの迷光の収束領域部分に光を透過するための非ミラー面が配されている、
   ことを特徴とする光ピックアップ装置。
10. 請求項９に記載の光ピックアップ装置において、
    前記偏光ビームスプリッタと、前記１／４波長板と、前記光検出器に前記反射光を収束させるための集光レンズが一体化されており、該一体化された構造体が、前記集光レンズのレンズ面が前記一つの迷光の焦点位置に位置づけられるよう構成され、このレンズ面の当該迷光の収束領域部分に遮光部材または減光部材が形成されている、
    ことを特徴とする光ピックアップ装置。
11. 請求項１に記載の光ピックアップ装置において、
    前記ビーム分岐素子によって分離された後の前記反射光が直線偏光となるよう前記光源から前記対物レンズまでの光学系が構成され、
    前記ビーム分岐素子によって分離された後の前記反射光の進行経路に沿って第１および第２の偏光面と、第１および第２の反射面と、前記反射光の偏光方向を９０°変化させる波長板を具備する光学手段が配置され、
    該光学手段は、前記第１の偏光面を介して入射した反射光が、前記第２の偏光面、前記第１の反射面、前記第２の反射面を経由した後、再び前記第１の偏光面を経由して、前記第２の偏光面から前記光検出器に向かう方向に導かれるよう構成されるとともに、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置が前記第１の偏光面と前記第２の偏光面の間の光路において一致することとなるよう配置され、
    前記光学素子は、これら２つの迷光の共通の焦点位置に配置されている、
    ことを特徴とする光ピックアップ装置。
12. 請求項１に記載の光ピックアップ装置において、
    前記ビーム分岐素子によって分離された後の前記反射光が直線偏光となるよう前記光源から前記対物レンズまでの光学系が構成され、
    前記ビーム分岐素子によって分離された後の前記反射光の進行経路に沿って第１および第２の偏光面と、第１および第２の反射面と、前記反射光の偏光方向を９０°変化させる波長板を具備する光学手段が配置され、
    該光学手段は、前記第１の偏光面を介して入射した反射光が、前記第２の偏光面、前記第１の反射面、前記第２の反射面を経由した後、再び前記第１の偏光面を経由して、前記第２の偏光面から前記光検出器に向かう方向に導かれるよう構成されるとともに、互いに異なる２つの前記記録層からの迷光の焦点位置が、前記ビーム分岐素子と前記第１の偏光面の間の光路上と、前記第２の偏光面、前記第１および第２の反射面の何れかに生じることとなるよう配置され、
    前記光学素子は、これら２つの迷光の焦点位置にそれぞれ配置されている、
    ことを特徴とする光ピックアップ装置。
13. 請求項１２に記載の光ピックアップ装置において、
    前記ビーム分岐素子と前記第１の偏光面の間の光路上に配置された前記光学素子は、前記収束領域の光とその他の領域の光の偏光方向を互いに相違させる偏光変換素子から構成されている、
    ことを特徴とする光ピックアップ装置。

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