JP2008129484A - 双方向光モジュールおよび光パルス試験器 - Google Patents

Abstract

【課題】筐体に力が加わっても光軸ずれが少なく小型化も図れる双方向光モジュールおよび光パルス試験器を実現することにある。
【解決手段】光を出射する光源と入射光を受光する受光部と光ファイバとが筐体の側面に取りつけられ、基板に実装される双方向光モジュールに改良を加えたものである。本モジュールは、筐体の底面の一部に、基板に接触させて固定するための凸部を設けたことを特徴とするものである。
【選択図】図１

Description

本発明は、光を出射する光源と入射光を受光する受光部と光ファイバとが筐体の側面に取りつけられ、基板に実装される双方向光モジュールおよびこの双方向光モジュールを用いた光パルス試験器に関し、詳しくは、筐体に力（内力、外力）が加わっても光軸ずれが少なく小型化も図れる双方向光モジュールおよび光パルス試験器に関するものである。

光通信システムや光を用いた測定機器（例えば、光ファイバセンサ）は、光を出力する送信部（光源）および光を受光する受信部（受光部）が必須である。また、光通信システムの保守・管理等をするための測定機器では、被測定光ファイバに測定用の光を出力する光源および被測定光ファイバによって伝送された光を受光する受光部が必須である。

例えば、光信号によってデータ通信等を行なう光通信システムでは、光信号を伝送する光ファイバを監視することが重要になっている。そして、光ファイバの敷設、保守等において光パルス試験器（以下、ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）と略す）が用いられる。ＯＴＤＲは、被測定光ファイバに対して繰り返しパルス光を入力し、被測定光ファイバからの反射光および後方散乱光のレベルおよび受光時間を測定することで、被測定光ファイバの断線、損失等の状態を測定する。

また、送信部および受光部をひとつの筐体に取り付けてモジュール化したものは、双方向光モジュール、ＢＩＤＩ（Bi−Directional）モジュールなどとよばれ、近年のＦＴＴＨ（Fiber To The Home）の普及に伴って低価格となり、ＯＴＤＲに限らずその他の測定機器や光通信システム等でも大量に使用されている（例えば、特許文献１、２）。

図７は、従来の双方向光モジュールの構成を示した図である。図７（ａ）は、基板に実装された双方向光モジュールの外観図であり、図７（ｂ）は、筐体に設けられる光学素子の構成を示した図である。図７（ｂ）においては、筐体の外側の面のみを破線で示している。なお、図７（ｂ）では、各光学素子を図示するため、それぞれの大きさ、素子間の距離等は実際とは異なって図示している。

図７において、プリント基板Ｐ１は、電子部品等が実装され、双方向光モジュールＭ１を固定する。
双方向光モジュールＭ１は、レーザダイオードモジュール１、レンズ２、レーザダイオードモジュール３、レンズ４、合分波フィルタ５、レンズ６、光ファイバ７、ビームスプリッタ８、レンズ９、アバランシェフォトダイオード１０、筐体２０を有し、例えば、ＯＴＤＲに用いられる場合は、光通信用の光信号が伝送される被測定光ファイバ（図示せず）にパルス光を出射し、出射したパルス光の戻り光を入射光として受光する。

レーザダイオード（以下、ＬＤ（Laser Diode）と略す）モジュール１は、ＬＤ（図示せず）を有し、波長λ１の光を出力する。レンズ２は、ＬＤモジュール１からの光を平行光にする。ＬＤモジュール３は、ＬＤ（図示せず）を有し、波長λ２の光を出力する。レンズ４は、ＬＤモジュール３からの光を平行光にする。

合分波フィルタ（合波手段）５は、レンズ２、４からの波長λ１、λ２の光を合波する。この合分波フィルタ５は、ガラス平板に誘電体多層膜が設けられ、波長λ１の光を効率よく透過し、波長λ２の光を効率よく反射する特性を持つ。

レンズ６は、合分波フィルタ５からの光を集光する。光ファイバ７は、一端がレンズ６の集光位置に設けられ、他端が、測定コネクタＣＮによって被測定光ファイバ（図示せず）と接続される。ビームスプリッタ（以下、ＢＳ（Beam Splitter）と略す）８は、反射手段であり、合分波フィルタ５とレンズ６の間に設けられ、光ファイバ７からの戻り光を分岐する。レンズ９は、ＢＳ８で分岐された戻り光を集光する。

アバランシェフォトダイオード（以下、ＡＰＤ（Avalanche Photodiode）と略す）モジュール１０は、ＡＰＤ（図示せず）を有し、ＡＰＤの受光面がレンズ９の集光位置に設けられ、戻り光を受光する。

双方向光モジュールの筐体２０は、底面（概長方形）２１がプリント基板Ｐ１に接触して固定される部分であり、基板Ｐ１に底面２１全体が密着するように底面２１全体が所定の平面度を持つ。

また、筐体２０の側面２２〜２５は、ＬＤモジュール１、３、ＡＰＤモジュール１０、筐体２０の外に出射する光や外から入射してくる光を伝送するための伝送路となる光ファイバ７等が溶接で取り付けられる。例えば、ＹＡＧレーザを用いて溶接するので、筐体２０の材質はステンレス等である。

その他の光学素子２、４〜６、８、９は、金属部品（図示せず）等によって筐体２０の内側に固定され、各素子１〜１０の位置関係が定まる。

筐体２０の羽根部２６は、ネジ穴２６ａを有し、底面２１の四隅に底面２１と同じ面に設けられ、基板Ｐ１と接触する。そして、羽根部２６のネジ穴２６ａによって、基板Ｐ１とネジＳｃで固定される。

また、ＬＤモジュール１、３やＡＰＤモジュール１０は、ＬＤやＡＰＤを窒素等で気密封止してあり、ＬＤを駆動したり、ＡＰＤを駆動、光電流を取り出すためのリード線１ａ、３ａ、１０ａが設けられる。これらのリード線１ａ、３ａ、１０ａは、基板Ｐ１上のパターンに半田付けされる。

なお、ＬＤモジュール１、３は光源であり、ＡＰＤモジュール１０は受光部である。また、波長の異なる複数のＬＤモジュール１，３を用いるのは、国内の光通信用の現用回線としては１３１０［ｎｍ］、１５５０［ｎｍ］帯域等の波長の光が用いられ、監視波長としては１６５０［ｎｍ］帯域の波長の光が用いられるので、ユーザが、用途によって所望の波長にて測定を行えるようにするためである。

特開平８−１６６５２６号公報 特開２００１−３０５０１７号公報

図７に示すピッグテール型の双方向光モジュールＭ１は、光源であるＬＤモジュール１、３からの光を光ファイバ７の一端に効率よく結合させるためにレンズ２、４、６を含め、非常に高い位置精度が要求される。また、光ファイバ７からの入射光を受光部であるＡＰＤモジュール１０に効率よく受光させるためにレンズ６、ＢＳ８、レンズ９を含め、非常に高い位置精度が要求される。

特にＯＴＤＲに光双方向光モジュールＭ１を用いる場合、光ファイバ７は、シングルモードが用いられコア径が１０［μｍ］弱である。また、ＯＴＤＲでは、被測定光ファイバの距離方向の分解能は、光パルス幅のパルス幅で決まり、約数［μｓ］〜数［ｎｓ］である。そのため、光−電気変換するＡＰＤモジュール１０は、パルス幅の狭い光信号を受光するために周波数帯域が広く（ＤＣ〜数百［ＭＨｚ］）応答特性もよくしなければならず、ＡＰＤの受光径が３０［μｍ］程度である。さらに、被測定光ファイバからの戻り光の光信号レベルが非常に低い。これらの結果、各素子１〜１０は、ＬＤモジュール１、３からの光の光軸、光ファイバ７からの入射光の光軸に対して非常に高い位置精度で調整されている。

そのため、筐体２０に基板Ｐ１からの力が加わることによって各素子１〜１０が、光軸に対して光軸ずれを生じないように、筐体２０に羽根部２６を設けて基板Ｐ１に固定している。

しかしながら、底面２０全体および羽根部２６で同じ面を形成し、基板Ｐ１に接触してネジＳｃで固定されるため、ネジＳｃ締め付けによる応力、基板Ｐ１自体の反りにより筐体２０に生じる外力、さらには、可搬型のＯＴＤＲに組み込まれた場合の落下や取り扱いによる人為的な衝撃が筐体２０に加わる。これらの外力によって筐体２０がひずみ、光軸ずれが発生するという問題があった。

また、底面２１から外側（実装面上）に羽根部２６を設けているので、双方向光モジュールＭ１自体の小型化を図ることが難しいという問題があった。

そこで本発明の目的は、筐体に力が加わっても光軸ずれが少なく小型化も図れる双方向光モジュールを実現し、この双方向光モジュールを用いて、被測定光ファイバを精度よく測定することができる光パルス試験器を実現することにある。

請求項１記載の発明は、
光を出射する光源と入射光を受光する受光部と光ファイバとが筐体の側面に取りつけられ、基板に実装される双方向光モジュールであって、
前記筐体の底面の一部に、前記基板に接触させて固定するための凸部を設けたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
前記筐体の上面の一部に、前記基板に接触させて固定するための凸部を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項２記載の発明において、
前記上面に設けられる凸部と前記底面に設けられる凸部とは、対称な位置に設けられることを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項１〜３のいずれかに記載の発明において、
前記凸部が基板に接触する面積は、凸部が設けられる面の面積よりも小さいことを特徴とするものである。
請求項５記載の発明は、請求項１〜４のいずれかに記載の発明において、
前記凸部は、複数のネジ穴が設けられ、ネジによって前記基板に固定されることを特徴とするものである。
請求項６記載の発明は、
光通信用の光信号が伝送される被測定光ファイバにパルス光を出射し、出射したパルス光の戻り光に基づいて前記被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器において、
基板と、
この基板に凸部を接触して固定され、パルス光を前記被測定光ファイバに出射し、前記戻り光を入射光として入射する請求項１〜５のいずれかに記載の双方向光モジュールと、
前記基板を介して電気的に前記双方向光モジュールと接続され、前記双方向光モジュールの光源にパルス光を出射させる駆動部と、
前記基板を介して電気的に前記双方向光モジュールと接続され、前記双方向光モジュールの受光部からの出力をサンプリングするサンプリング部と、
前記駆動部と前記サンプリング部とにタイミング信号を出力し、前記サンプリング部からの出力によって前記被測定光ファイバの測定を行なう信号処理部と
を設けたことを特徴とするものである。

本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項１〜５によれば、双方向光モジュールの筐体の底面の一部に凸部を設け、この凸部を基板に接触させて双方向光モジュールを基板に実装するので、底面全体を基板に接触する場合と比較して接触面積が著しく小さい。また、底面を基板面上に延長させた羽根部等を必要としない。これにより、基板への固定時、基板の反り、筐体外からの外力等の力が筐体に加わったとしても、光源、受光部、光ファイバ各素子での光軸ずれが生じにくく、小型化もできる。
請求項６によれば、請求項１〜５のいずれかに記載の双方向光モジュールを光パルス試験器に用いるので、力が加わっても光軸ずれが少なく、モジュール自体も小さい。これにより、被測定光ファイバからの戻り光を効率よく受光でき被測定光ファイバを精度よく測定することができると共に、装置全体も小型化できる。

以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明の一実施例を示した構成図である。また、図２は、図１に示す双方向光モジュールを用いたＯＴＤＲの実施例を示した構成図である。ここで、図７と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。また、符号の一部も省略している。

図７に示す双方向光モジュールＭ１と異なる点は、筐体２０の外形のみである。すなわち、筐体２０の羽根部２６を設けず、筐体２０の底面２１の一部に、基板Ｐ１に接触させて固定するための凸部２７が設けられる。また、底面２１に対向する上面２８の一部に、基板Ｐ１に接触させて固定することが可能な凸部２９が設けられる。

また、凸部２７，２９は、ネジ穴（メネジ）２９ａを有し（凸部２７のネジ穴は図示していない）、基板Ｐ１に接触する部分は、所定の平面度を有し、互いに平行になっている。そして、凸部２７のネジ穴でネジＳｃで基板Ｐ１に固定される。

そして、凸部２７、２９は、基板Ｐ１に接触する面積が、凸部が設けられる底面２１、、上面２８の面積よりも小さく、半分程度かそれ以下である。また、接触面積は小さいほど好ましいが、凸部２７、２９の強度、ネジ穴２９ａの大きさ等から決定するとよい。なお、底面２１の面積とは、図７において底面２１が基板Ｐ１と接触していた面積のことである。

さらに、凸部２７は底面２１、凸部２９は上面２８にと異なる面に設けられるが、形状は全く同じであり、筐体２０を挟んで対称な位置に設けられる。つまり、光ファイバ７の一端の光軸を回転軸として１８０度回転させれば、凸部２７、２９は、基板Ｐ１の同じ場所に接触する。

従って、図１では、底面２１の凸部２７を基板Ｐ１に接触させて固定しているが、上面２８の凸部２９を基板Ｐ１に接触させて固定してもよく、基板Ｐ１上に実装する際に都合のよい凸部２７、２９で固定するとよい。

また、基板Ｐ１は、ＯＴＤＲ１００のシャーシに固定される。

その他の光学素子１〜１０は、図７に示すのと同様の位置関係で筐体２０に固定されるので説明を省略する。

図２において、ＯＴＤＲ１００は、図１に示す双方向光モジュールＭ１、ＬＤ駆動部Ｍ２、サンプリング部Ｍ３、信号処理部Ｍ４、表示部Ｍ５を有する。双方向光モジュールＭ１は、測定コネクタＣＮを介して、被測定光ファイバＦ１にパルス光を出力し、被測定光ファイバＦ１からの戻り光を受光する。

ＬＤ駆動部Ｍ２は、双方向光モジュールＭ１内の光源のＬＤモジュール１、３を駆動する。サンプリング部Ｍ３は、双方向光モジュールＭ１内の受光部のＡＰＤモジュール１０からの電気信号（光電流）を電圧に変換し、サンプリングする。信号処理部Ｍ４は、ＬＤ駆動部Ｍ２を介して双方向光モジュールＭ１にパルス光を出力させ、サンプリング部Ｍ３にサンプリングを行なわせ、サンプリング結果の電気信号を演算処理する。表示部Ｍ５は、信号処理部Ｍ４の処理結果を表示する。

このような双方向光モジュールＭ１およびＯＴＤＲ１００の動作を説明する。
信号処理部Ｍ４が、あらかじめＬＤ駆動部Ｍ２にパルス光のパルス幅を設定しておく。そして、信号処理部Ｍ４内のタイミング発生手段（図示せず）が、所定の間隔でタイミング信号をＬＤ駆動部Ｍ２に送出する。そして、ＬＤ駆動部Ｍ２が、タイミング信号に同期させてＬＤモジュール１またはＬＤモジュール３に基板Ｐ１、リード端子１ａ、３ａを介して駆動電流を供給してパルス光を出力させる。つまり、波長λ１の光で測定を行なわせる場合は、ＬＤモジュール１にのみ電流を供給して発光させ、波長λ２の光で測定を行なわせる場合は、ＬＤモジュール３にのみ電流を供給してを発光させる。

そして、ＬＤモジュール１からのパルス光が、レンズ２で平行光となる。また、ＬＤモジュール３からのパルス光が、レンズ４で平行光となる。そして、合分波フィルタ５が、ＬＤモジュール１からの光を透過し、ＬＤモジュール３からの光を反射し、ＢＳ８に出射する。さらに、合分波フィルタ５からの透過光（ＬＤモジュール１からの光）、反射光（ＬＤモジュール３からの光）が、ＢＳ８を透過してレンズ６によって集光され、光ファイバ７の一端に入射する。

そして、光ファイバ７の一端に入射した光が、光ファイバの他端、測定コネクタＣＮを経て、被測定光ファイバＦ１に入射する。被測定光ファイバＦ１内部では、レイリー散乱が発生し、その一部はパルス光の進行方向とは逆方向に進み後方散乱光としてＯＴＤＲ１００に戻ってくる。また、被測定光ファイバＦ１の接続点や破断点で発生するフレネル反射光もＯＴＤＲ１００に戻ってくる。

そして、被測定光ファイバＦ１からの戻り光が、測定コネクタＣＮ、光ファイバ７の他端に入射する。さらに、光ファイバ７の一端から出射された戻り光が、レンズ６で平行光になり、ＢＳ８によって分岐される。そして、分岐された戻り光のうち、レンズ９方向に反射された戻り光をレンズ９が集光して、ＡＰＤモジュール１０にて受光する。さらに、ＡＰＤモジュール１０が、入射した戻り光を、この戻り光の光パワーに応じた電気信号（光電流）に変換し、リード端子１０ａ、基板Ｐ１を介してサンプリング部Ｍ３に出力する。

そして、サンプリング部Ｍ３内のＩＶ変換回路（図示せず）が、ＡＰＤモジュール１０からの光電流を電圧に変換し、サンプリング部Ｍ３内の多段のアンプ（図示せず）が、電気信号を増幅し、さらにサンプリング部Ｍ３内のＡＤ変換回路（図示せず）が、信号処理部Ｍ４のタイミング信号を時間的な基準にして、アナログ信号の電気信号をデジタル信号にＡＤ変換して、信号処理部Ｍ４に出力する。

さらに、信号処理部Ｍ４が、タイミング信号を出力したタイミングおよびサンプリング部Ｍ３からのデジタル信号によって、ＬＤモジュール１、ＬＤモジュール３にパルス光を出射させてから戻り光をＡＰＤモジュール１０で受光するまでの時間を求め、被測定光ファイバＦ１の距離測定、戻り光の光信号レベル測定を行ない、測定結果を横軸を距離、縦軸を戻り光の光信号レベルとして表示部Ｍ５に表示する。

また、戻り光の信号レベルは非常に微弱なため、パルス光を繰り返し被測定光ファイバＦ１に出力し、信号処理部Ｍ４が、複数回の測定値を平均化することでノイズ低減を図っている。

このように、双方向光モジュールＭ１の筐体２０の底面２１、上面２８の一部に凸部を設け、この凸部２７、２９を基板Ｐ１に接触させて双方向光モジュールＭ１を基板Ｐ１に実装するので、図７と比較して基板Ｐ１への接触面積が著しく小さい。これにより、ネジＳｃの締め付け、基板Ｐ１の反り、筐体２０外からの外力が加わったとして、各素子１〜１０の光軸ずれが生じにくい。従って、被測定光ファイバＦ１からの戻り光を効率よく受光でき、被測定光ファイバを精度よく測定することができる。

また、筐体２０の側面２２、２３、２５取り付けられるＬＤモジュール１、３、ＡＰＤモジュール１０それぞれのリード線１ａ、３ａ、１０ａは、基板Ｐ１に半田付けで固定されているが、凸部２７、２９の基板Ｐ１への接触面積が小さいので、筐体２０に力が加わっても、モジュール１、３、１０への影響が少なく、その結果光軸ずれを抑えることができる。従って、被測定光ファイバＦ１からの戻り光を効率よく受光でき、被測定光ファイバを精度よく測定することができる。

さらに、凸部２７、２９にネジ穴２９ａを設けることにより、羽根部２６が不要となり、実装面上での小型化を図ることができ、基板Ｐ１も小型化できる。さらには、ＯＴＤＲ１００そのものも小型化できる。

また、上面２８に設けられる凸部２９と底面２１に設けられる凸部２７とは、対称な位置に設けられるので、基板Ｐ１への実装の自由度が向上する。

ここで、図３は、プリント基板Ｐ１のたわみによって生じる光軸ずれの影響を示した図であり、横軸はたわみ量であり、縦軸はＬＤモジュール１（またはＬＤモジュール３）で発光した光を、光ファイバ７の他端で測定した場合の信号レベルの差である。なお、たわみ量”０”を基準とし、ネジＳｃの締め付け力は一定である。図７に示す羽根部２６で固定した場合と、図１に示す凸部２７で固定した場合、凸部２７で固定したほうが明らかに光軸ずれがが小さい。

また、図４は、図１に示す双方向光モジュールＭ１の衝撃試験（落下試験）の結果である。横軸は加速度であり、縦軸はＬＤモジュール１（またはＬＤモジュール３）の信号レベルの差（光ファイバ７の他端で測定）である。。なお、加速度”０”を基準としている。差が約０．１［ｄＢｐ−ｐ］であり、外力に対して光軸ずれがほとんど発生していないことが明らかである。

なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
（１）本発明の双方向光モジュールを、ＯＴＤＲ１００に用いる構成を示したが、その他の測定機器（例えば、光ファイバセンサ）や、光通信システムの送受信部に用いてもよい。要は、光を出力する送信部（光源）および光を受光する受信部（受光部）が必須な機器、システム等に用いるとよい。

（２）上面２８にも凸部２９を設ける構成を示したが、設けなくともよい。

（３）凸部２７、２９は、筐体の２０の中心付近に設ける構成を示したが、どの位置（つまり、光ファイバ７側に近づけたり、ＬＤモジュール１側に近づける）に設けてもよく、形状も概長方形でなく、円形、楕円形、四角形、多角形等どのような形状でもよい。

（４）光源のＬＤモジュール１、３を２個用いる構成を示したが、ＬＤモジュールの個数は１個でも、３個以上でもよく、ＬＤモジュールが出力する波長も、用途によって決定すればよく、どのような波長でもよい。例えば、光源をＬＤモジュール１のみとする場合は、図１、図２に示す双方向光モジュールＭ１において、ＬＤモジュール３、レンズ４を取り外すとよい。

また、３個とする場合は、図５に示すように、ＬＤモジュール１１、レンズ１２、合分波フィルタ１３を設ける。そして、駆動部Ｍ２からの駆動電流に従って波長λ３の光をＬＤモジュール１１が出射し、レンズ１２が平行光にして、合分波フィルタ１３がＬＤモジュール１、１１の光を合波して、合分波フィルタ５に出力する。この場合、ＬＤモジュール１１、レンズ１２、合分波フィルタ１３は、予めステンレスの筐体でモジュール化しておき、筐体２０と側面２２の間にこの筐体を挿入して取り付けるとよい。また、合分波フィルタ５は、ＬＤモジュール数に関わらず筐体２０に設けられるので、合分波フィルタ５が設けられる部分の上下に凸部２７、２９を設ければ、ＬＤモジュール数に関わらず筐体２０を共通に用いることができるので、金型や加工が共通となりコストを抑えることができる。

（６）基板Ｐ１に双方向光モジュールＭ１を１個だけ実装する構成を示したが、何個実装してもよい。例えば、図６に示すように実装してもよい。この場合、一方の双方向光モジュールＭ１（１）は、底面２１の凸部２７を基板Ｐ１に接触させ、他方の双方向光モジュールＭ１（２）は、上面２８の凸部２９を基板Ｐ１に接触させている。

これは、ＬＤモジュール１、３を精度よく駆動するためには、駆動部Ｍ２からＬＤモジュール１３への電気的な信号の配線を短くする必要が有り、ＬＤモジュール１、３と駆動部Ｍ２とを物理的に近くしなければならない。同様に、ＡＰＤ１０からの微弱な光電流を、サンプリング部Ｍ３にて電圧に変換、大きな増幅、ＡＤ変換するが、光電流を精度よくサンプリングするには、ＡＰＤ１０とサンプリング部Ｍ３との電気的な経路を短くし、物理的に近づけなればならい。

そして、図１に示す双方向光モジュールＭ１（１）、Ｍ１（２）は、上面２８、底面２１の両方に凸部２７、２９があるので、実装の自由度が高く、光ファイバ７同士も干渉せず、さらに、ＬＤモジュール１、３と駆動部Ｍ２と電気的な経路を短くでき精度よく駆動できる。同様に、ＡＰＤモジュール１０とサンプリングＭ３との電気的な経路を短くして精度よくサンプリングすることができる。なお、スイッチＳＷは、双方向光モジュールＭ１（１）、Ｍ１（２）からの出力を切り替えてサンプリング部Ｍ３に出力するものである。

（７）受光部にＡＰＤ１０を用いる構成を示したが、その他のフォトダイオード（シリコンのフォトダイオード、化合物半導体のフォトダイオード、ＰＩＮフォトダイオード等）を用いていもよい。

本発明の一実施例を示した構成図である。 図１に示す双方向光モジュールを用いたＯＴＤＲの構成図である。 基板のたわみによる光軸ずれの影響の実験結果である。 衝撃による光軸ずれの影響の実験結果である。 本発明の第２の実施例を示した構成図である。 本発明の第３の実施例を示した構成図である。 従来の双方向光モジュールの一例を示した構成図である。

符号の説明

１、３、１１ ＬＤモジュール（光源）
７ 光ファイバ
１０ ＡＰＤモジュール（受光部）
２０ 筐体
２１ 底面
２２〜２５ 側面
２７、２９ 凸部
２８ 上面
１００ ＯＴＤＲ
Ｆ１ 被測定光ファイバ
Ｐ１ 基板
Ｍ１、Ｍ１（１）、Ｍ１（２） 双方向光モジュール
Ｍ２ 駆動部
Ｍ３ サンプリング部
Ｍ４ 信号処理部

Claims (6)

1. 光を出射する光源と入射光を受光する受光部と光ファイバとが筐体の側面に取りつけられ、基板に実装される双方向光モジュールであって、
   前記筐体の底面の一部に、前記基板に接触させて固定するための凸部を設けたことを特徴とする双方向光モジュール。
2. 前記筐体の上面の一部に、前記基板に接触させて固定するための凸部を設けたことを特徴とする請求項１記載の双方向光モジュール。
3. 前記上面に設けられる凸部と前記底面に設けられる凸部とは、対称な位置に設けられることを特徴とする請求項２記載の双方向光モジュール。
4. 前記凸部が基板に接触する面積は、凸部が設けられる面の面積よりも小さいことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の双方向光モジュール。
5. 前記凸部は、複数のネジ穴が設けられ、ネジによって前記基板に固定されることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の双方向光モジュール。
6. 光通信用の光信号が伝送される被測定光ファイバにパルス光を出射し、出射したパルス光の戻り光に基づいて前記被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器において、
   基板と、
   この基板に凸部を接触して固定され、パルス光を前記被測定光ファイバに出射し、前記戻り光を入射光として入射する請求項１〜５のいずれかに記載の双方向光モジュールと、
   前記基板を介して電気的に前記双方向光モジュールと接続され、前記双方向光モジュールの光源にパルス光を出射させる駆動部と、
   前記基板を介して電気的に前記双方向光モジュールと接続され、前記双方向光モジュールの受光部からの出力をサンプリングするサンプリング部と、
   前記駆動部と前記サンプリング部とにタイミング信号を出力し、前記サンプリング部からの出力によって前記被測定光ファイバの測定を行なう信号処理部と
   を設けたことを特徴とする光パルス試験器。

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