JP2008124706A - Tdmデータ比較試験回路 - Google Patents

Tdmデータ比較試験回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2008124706A
JP2008124706A JP2006305263A JP2006305263A JP2008124706A JP 2008124706 A JP2008124706 A JP 2008124706A JP 2006305263 A JP2006305263 A JP 2006305263A JP 2006305263 A JP2006305263 A JP 2006305263A JP 2008124706 A JP2008124706 A JP 2008124706A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
spare
address
memory
working
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006305263A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Sato
洋 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Comtec Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Comtec Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd, Oki Comtec Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP2006305263A priority Critical patent/JP2008124706A/ja
Publication of JP2008124706A publication Critical patent/JP2008124706A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)

Abstract

【課題】集中配置型及び分散配置型などの多重化形式でメモリ内に格納されているTDMデータを配置し直すことなく、所望のTDMデータが正常であるか否かを確認することが可能な試験回路を提供する。
【解決手段】本発明のTDMデータ比較試験回路は、アドレスカウンタから供給されるアドレスに応じて現用系メモリから読み出された現用データと予備系メモリから読み出された予備データとを比較し、同様に供給されるアドレスに応じて比較レジスタから読み出された選別子に基づいて当該比較したデータ比較結果を選別する。
【選択図】図1

Description

本発明は、冗長化されたTDM(Time Division Multiplexing)データの正誤を比較試験するTDMデータ比較試験回路に関する。
1チャネルに固定のタイムスロットが割り当てられるSTM(Synchronous Transfer Mode)形式を用いた通信サービスにおいて、通信サービスの1利用者が複数チャネルを使用する場合がある。低速の伝送路に伝送される利用者のデータは、他の利用者のデータと共に多重化され、TDM信号として高速の伝送路に伝送される。低速の伝送路には例えば、PDH(Plesiochronous Digital Hierarchy)形式のデータが伝送され、高速の伝送路には例えば、SDH(Synchronous Digital Hierarchy)形式のデータが伝送される。多重化時の割り当て方法には、1利用者が使用する複数の連続したチャネルをTDM信号における連続するタイムスロットに割り当てる集中配置型の割り当て方法と、1利用者が使用する複数の連続したチャネルをTDM信号における不連続の離散したタイムスロットに割り当てる分散配置型の割り当て方法とがある。例えば、これら集中及び分散配置型の割り当てに関する発明が特許文献1に開示されている。ここでは、分散配置型に割り当てられたチャネルを集中配置型に割り当て変換する回路が開示されている。
特許2870813号公報
ところで上述した低速の伝送路を冗長構成とする場合がある。例えば、現用系と予備系の2系統の構成とし、両系の伝送路に同一のデータを伝送させ、受信側でいずれかの系を選択する運用形態などである。現用系と予備系の切り替えを行う前に、切り替え後の系のデータが正常であるか否かを確認する必要がある。例えば、現用系から予備系へ切り替える場合、予備系のデータが現用系のデータと一致しているか否かを確認すれば良い。
低速の伝送路から伝送された利用者のデータは、データの位相調整及び多重化のため受信側装置内のメモリに一旦、格納される。切り替え後の系のデータが正常であるか否かの確認は、メモリ内に格納されるデータを用いて行われる。データの割り当て方法が上述した分散配置型である場合、1利用者のデータがメモリ内に分散して格納される。通常、データはメモリに格納されている順番に読み出されるため、データが正常であるか否かを利用者毎すなわち低速の伝送路毎に確認する場合などには、分散配置型に格納されたデータを一旦、集中配置型に配置し直さなければならないという問題点があった。
本発明は、上記した如き問題点に鑑みてなされたものであって、集中配置型及び分散配置型などの多重化形式でメモリ内に格納されているTDMデータを配置し直すことなく、所望のTDMデータが正常であるか否かを確認することが可能な試験回路を提供することを目的とする。
本発明によるTDMデータ比較試験回路は、現用系のTDM信号に含まれる複数の現用データの各々をアドレス毎に格納すると共に、供給される読み出しアドレスに応じて当該供給されたアドレスに格納されている現用データを読み出す現用系メモリと、予備系のTDM信号に含まれる複数の予備データの各々をアドレス毎に格納すると共に、供給される読み出しアドレスに応じて当該供給されたアドレスに格納されている予備データを読み出す予備系メモリと、前記現用系メモリから読み出された現用データと前記予備系メモリから読み出された予備データとを取り込み、当該取り込んだ両データを比較するデータ比較部とを含むTDMデータ比較試験回路であって、前記現用データ及び前記予備データの各々が比較対象となるか否かを示す選別子をアドレス毎に記憶すると共に、供給される読み出しアドレスに応じて当該供給されたアドレスに記憶してある選別子を読み出す比較レジスタと、一連の読み出しアドレスを生成し、当該生成された読み出しアドレスを前記現用系メモリと前記予備系メモリと前記比較レジスタとに共通してアドレス番号順に順次、供給するアドレスカウンタと、前記比較レジスタから読み出された選別子を取り込み、前記データ比較部から供給されたデータ比較結果を当該選別子に基づいて選別する比較結果選別部とを含むことを特徴とする。
以下、本発明に係る実施例について添付の図面を参照しつつ詳細に説明する。
図1は、本発明によるTDMデータ比較試験回路を低速伝送路と共に示すブロック図である。
TDMデータ比較試験回路100は、現用系受信部3−1〜3−n(nは正整数)と、予備系受信部4−1〜4−n(nは正整数)と、制御部5と、現用系メモリ書き込み制御部6と、予備系メモリ書き込み制御部7と、アドレスカウンタ8と、現用系メモリ9と、予備系メモリ10と、比較レジスタ11と、データ比較部12と、比較結果選別部13と、系選択部14と、切り替え指令部15と、現用系送信部16と、予備系送信部17とを含む。
現用系受信部3−1〜3−nの各々は現用系低速伝送路1−1〜1−n(nは正整数)の各々と接続される。また、予備系受信部4−1〜4−nの各々は予備系低速伝送路2−1〜2−n(nは正整数)の各々と接続される。現用系低速伝送路1−1〜1−n及び予備系低速伝送路2−1〜2−nの各々は、例えばPDH形式の信号を伝送する低速の伝送路である。予備系低速伝送路2−1〜2−nの各々は、現用系低速伝送路1−1〜1−nの各々に対する予備の伝送路であり、現用系低速伝送路2−1〜2−nの各々に伝送される信号と予備系低速伝送路1−1〜1−nの各々に伝送される信号とは同一である。
現用系受信部3−1〜3−nの各々は現用系低速伝送路1−1〜1−nの各々から伝送された信号に含まれるデータ列を現用系メモリ書き込み制御部6に供給する(図1中のSA1〜SAn。nは正整数)。また、予備系受信部4−1〜4−nの各々は予備系低速伝送路2−1〜2−nの各々から伝送された信号に含まれるデータ列を予備系メモリ書き込み制御部7に供給する(図1中のSB1〜SBn。nは正整数)。
図2はデータ列SA1〜SAn及びSB1〜SBnを表す図である。SA1は現用系低速伝送路1−1から、SA2は現用系低速伝送路1−2から、・・・、SAnは現用系低速伝送路1−nから伝送された信号に含まれていたデータ列である。同様に、SB1は予備系低速伝送路1−1から、SB2は予備系低速伝送路1−2から、・・・、SBnは予備系低速伝送路1−nから伝送された信号に含まれていたデータ列である。データ列SA1は現用データA1−1〜A1−m、データ列SA2は現用データA2−1〜A2−m、・・・、データ列SAnは現用データAn−1〜An−mからなる(mは正整数)。同様に、データ列SB1は予備データB1−1〜B1−m、データ列SB2は予備データB2−1〜B2−m、・・・、データ列SBnは予備データBn−1〜Bn−mからなる(mは正整数)。データ列SB1〜SBnの各々は、データ列SA1〜SAnの各々に対する予備としてのデータ列であるため、現用データSA1と予備データSB1と、現用データSA2と予備データSB2と、・・・、現用データSAnと予備データSBnとは同一のデータ情報であることが望まれる。
現用系メモリ書き込み制御部6は、現用系受信部3−1〜3−nの各々から供給されたデータ列SA1〜SAnの各々を構成する現用データA1−1〜An−mを多重信号化(TDM信号化)する。同様に予備系メモリ書き込み制御部7は、予備系受信部4−1〜4−nの各々から供給されたデータ列SB1〜SBnの各々を構成する予備データB1−1〜Bn−mを多重信号化(TDM信号化)する。現用系メモリ書き込み制御部6及び予備系メモリ書き込み制御部7は、これらの現用データ及び予備データを多重化する際の多重化形式を制御部5から指示される(図1中のS1)。本実施例における多重化形式は集中配置型及び分散配置型のいずれかとする。
また、現用系メモリ書き込み制御部6は現用系メモリ9をして、変換したTDM信号を構成する現用データA1−1〜An−mを格納せしめる(図1中のSC)。同様に、予備系メモリ書き込み制御部7は予備系メモリ10をして、変換したTDM信号を構成する予備データB1−1〜Bn−mを格納せしめる(図1中のSD)。
制御部5は、複数のアドレス番号を生成し、当該生成された複数のアドレス番号にて多重化形式を現用系メモリ書き込み制御部6及び予備系メモリ書き込み制御部7に指示する。アドレス番号は現用データ及び予備データを格納すべき現用系メモリ9及び予備系メモリ10のアドレス番号である。当該アドレス番号は現用系メモリ書き込み制御部6及び予備系メモリ書き込み制御部7に共通して指示される。
また、制御部5は、比較レジスタ11をして、アドレス毎に当該アドレスに格納される現用データ及び予備データが比較対象となるか否かを示す選別子を記憶せしめる(図2中のS2)。比較レジスタ11、現用系メモリ9及び予備系メモリ10のアドレスには共通のアドレス番号が割り振られている。比較対象である現用データが格納されている現用系メモリ9のアドレス番号と、当該現用データと比較されるべき予備データが格納されている予備系メモリ10のアドレス番号と、当該現用データ及び予備データが比較対象であることを示す選別子が記憶される比較レジスタ11のアドレス番号とは、同一のアドレス番号である。
現用系メモリ9は、TDM信号を構成する現用データA1−1〜An−mを格納する。また、現用系メモリ9は、アドレスカウンタ8から供給された読み出しアドレスに応じて、当該供給されたアドレスに格納されている現用データを読み出す(図2中のSE)。予備系メモリ10は、TDM信号を構成する予備データB1−1〜Bn−mを格納する。また、予備系メモリ10は、アドレスカウンタ8から供給された読み出しアドレスに応じて、当該供給されたアドレスに格納されている予備データを読み出す(図2中のSF)。
図3は、多重化形式が集中配置型であるときに、現用系メモリ9及び予備系メモリ10に格納される現用データ及び予備データの配列の例を表す図である。同図中の記号SCが現用系メモリ9に格納される現用データA1−1〜An−mの配列を表す。同図中の記号SDが予備系メモリ10に格納される予備データB1−1〜Bn−mの配列を表す。同図中では現用系低速伝送路1−1から伝送された現用データA1−1〜A1−m及び予備系低速伝送路2−1から伝送された予備データB1−1〜B1−mが太枠で示される。集中配置型では、例えば、現用データA1−1〜A1−6が現用系メモリ9のアドレス番号1〜6に格納されているように、同一の低速伝送路から伝送された現用データが、所定の個数単位(本実施例においては6個単位)で連続したアドレスに集中して格納される。
図4は、多重化形式が分散配置型であるときに、現用系メモリ9及び予備系メモリ10に格納される現用データ及び予備データの配列の例を表す図である。同図中の記号SCが現用系メモリ9に格納される現用データA1−1〜An−mの配列を表す。同図中の記号SDが予備系メモリ10に格納される予備データB1−1〜Bn−mの配列を表す。同図中では現用系低速伝送路1−1から伝送された現用データA1−1〜A1−m及び予備系低速伝送路2−1から伝送された予備データB1−1〜B1−mが太枠で示される。分散配置型では、例えば、現用系低速伝送路1−1から伝送された現用データA1−1、A1−7、A1−13、A1−19の各々が、現用系メモリ9のアドレス番号1、5、9、13に格納されているように、同一の低速伝送路から伝送された現用データは、不連続のアドレスに分散して格納される。
現用系メモリ書き込み制御部6が現用系メモリ9をして複数の現用データの各々を格納せしめるときのアドレス番号と、予備系メモリ書き込み制御部7が予備系メモリ10をして複数の予備データの各々を格納せしめるときのアドレス番号とは現用系メモリ9と予備系メモリ10とで共通のアドレス番号である。なお、当該アドレス番号は、制御部5が現用系メモリ書き込み制御部6及び予備系メモリ書き込み制御部7に指示したアドレス番号である。ここでは、図3及び4中に示されるように、アドレス番号を1〜p(pは正整数)としている。
アドレスカウンタ8は、一連の読み出しアドレスを生成し、当該生成された読み出しアドレスを現用系メモリ9と予備系メモリ10と比較レジスタ11とに共通してアドレス番号順に順次、供給する(図1中のS3)。
比較レジスタ11は、アドレス毎に当該アドレスに格納される現用データ及び予備データが比較対象となるか否かを示す選別子を記憶する。また、比較レジスタ11は、アドレスカウンタ8から供給された読み出しアドレスに応じて当該供給されたアドレスに記憶してある選別子を読み出す(図1中のSH)。
データ比較部12は、現用系メモリ9から読み出された現用データと予備系メモリ10から読み出された予備データとを取り込み、当該取り込んだ両データを比較する。続いて、データ比較部12は、当該比較された結果であるデータ比較結果を比較結果選別部13に供給する(図1中のSG)。なお、アドレスカウンタ8が、現用系メモリ9及び予備系メモリ10に共通のアドレスをアドレス番号順に順次、供給するため、データ比較部12が取り込む現用データ及び予備データの各々が格納されていた現用系メモリ9及び予備系メモリ10のアドレス番号は同一である。
図5は、データ比較部12の構成の例を表す回路図である。同図の回路は、一方の入力を現用系メモリ9から読み出された現用データ(同図中のSE)とし、他方の入力を予備系メモリ10から読み出された予備データ(同図中のSF)とし、これら両入力の排他的論理和演算の出力(同図中のSG)をデータ比較結果とする排他的論理和回路である。当該排他的論理和回路の真理値表は表1に表される。表1に示されるように、本実施例におけるデータ比較結果は、現用データと予備データとが同一であるときに論理値0、現用データと予備データとが異なるときに論理値1となる。
Figure 2008124706
比較結果選別部13は、比較レジスタ11から読み出された選別子を取り込み、データ比較部12から供給されたデータ比較結果を当該選別子に基づいて選別する。続いて、比較結果選別部13は、選別したデータ比較結果を出力する(図1中のSI)。なお、アドレスカウンタ8が、比較レジスタ11、現用系メモリ9及び予備系メモリ10に共通のアドレスをアドレス番号順に順次、供給するため、比較結果選別部13が取り込む選別子が記憶されていた比較レジスタ11のアドレス番号と、データ比較部12から供給されるデータ比較結果の比較対象である現用データ及び予備データの各々が格納されていた現用系メモリ9及び予備系メモリ10のアドレス番号は同一である。
図6は、比較結果選別部13の構成の例を表す回路図である。同図の回路は、一方の入力を比較レジスタ11から読み出された選別子(同図中のSH)とし、他方の入力をデータ比較部12から供給されたデータ比較結果(同図中のSG)とし、これら両入力の論理積演算の出力(同図中のSI)を選別結果とする論理積回路である。当該論理積回路の真理値表は表2に表される。表2に示されるように、本実施例における選別結果は、選別子及びデータ比較結果の論理値が共に1であるときに論理値1、それ以外は論理値0となる。
Figure 2008124706
系選択部14は、現用系メモリ9から読み出された現用データ(図1中のSE)及び予備系メモリ10から読み出された予備データ(図1中のSF)のいずれかを選択する。切り替え指令部15は、系選択部14に現用データ及び予備データのどちらを選択すべきか指示する(図1中のS4)。当該指示により、現用系と予備系を切り替えることになる。
現用系送信部16は、系選択部14が選択した現用データ(図1中のSJ)を多重信号化して多重化信号伝送路(図示せず)へ送信する(図1中のSK)。また、予備系送信部17は、系選択部が選択した予備データ(図1中のSJ)を多重信号化して多重化信号伝送路(図示せず)へ送信する(図1中のSL)。多重化信号伝送路は、例えばSDH形式のデータを伝送する高速の伝送路などである。
図7は多重化形式が集中配置型であるときの、図8は多重化形式が分散配置型であるときの、現用系メモリ9、予備系メモリ10、比較レジスタ11、データ比較部12及び比較結果選別部13の各々の出力を表す図である。以下に、図7及び8を参照しつつ、現用データ及び予備データの比較選別処理について説明する。
先ず、アドレスカウンタ8が、一連の読み出しアドレスを生成し、当該生成された読み出しアドレスを現用系メモリ9と予備系メモリ10と比較レジスタ11とに共通してアドレス番号順に順次、供給する。
現用系メモリ9は、アドレスカウンタ8から供給された読み出しアドレスに応じて、当該供給されたアドレスに格納されている現用データを読み出す。図7及び8中の記号SEが現用系メモリ9から読み出される現用データを表す。同様に、予備系メモリ10は、アドレスカウンタ8から供給された読み出しアドレスに応じて、当該供給されたアドレスに格納されている予備データを読み出す。同図中の記号SFが予備系メモリ10から読み出される予備データを表す。本実施例においては、現用系低速伝送路1−1に伝送される現用データA1−1〜A1−mの各々と予備系低速伝送路2−1に伝送される予備データB1−1〜B1−mの各々とを比較対象とする。同図中の記号SE及びSFにおいては、これらの現用データ及び予備データを太枠で示してある。
予備データB1−1〜B1−mの各々は、現用データA1−1〜A1−mの各々に対する予備としてのデータであるため、現用データA1−1と予備データB1−1と、現用データA1−2と予備データB1−2と、・・・、現用データA1−mと予備データB1−mとは同一のデータ情報であることが望まれるが、本実施例においては、現用データA1−7のデータ情報と予備データB1−7のデータ情報とが異なる、すなわち、予備データB1−7が正常でないとする。例えば、現用データA1−7のデータ情報が論理値1であり、予備データB1−7のデータ情報が論理値0である場合などである。また、同様に現用データA3−2のデータ情報と予備データB3−2のデータ情報とが異なる、すなわち、予備データB3−2が正常でないとする。同図中の記号SE及びSFにおいては、予備データB1−7及びB3−2を網掛けで表している。これらの現用データ及び予備データ以外については、現用データSA1と予備データSB1と、現用データSA2と予備データSB2と、・・・、現用データSAnと予備データSBnとは同一のデータ情報であるとする。
データ比較部12は、現用系メモリ9から読み出された現用データと予備系メモリ10から読み出された予備データとを取り込み、当該取り込んだ両データを比較する。同図中の記号SGはデータ比較部12から比較結果選別部13へ供給されるデータ比較結果を論理値0及び1で表したものである。本実施例においては、データ比較部12は、現用系メモリ9から読み出された現用データと予備系メモリ10から読み出された予備データとの排他的論理和演算の結果をデータ比較結果とする。ここでは、予備データB1−7が正常ではなく、現用データA1−7のデータ情報と当該予備データB1−7のデータ情報とが異なるため、データ比較結果は1となっている。同様に、予備データB3−2が正常ではなく、現用データA3−2のデータ情報と当該予備データB3−2のデータ情報とが異なるため、データ比較結果が1となっている。その他の現用データと予備データのデータ比較結果は全て0となっている。データ比較部12は、データ比較結果を比較結果選別部13に順次、供給する。
比較レジスタ11は、アドレス毎に当該アドレスに格納される現用データ及び予備データが比較対象となるか否かを示す選別子を記憶している。本実施例における選別子は論理値0及び1である。本実施例においては、現用データA1−1〜A1−mの各々と予備データB1−1〜B1−mの各々とを比較対象としており、これらの現用データ及び予備データが格納されるアドレス番号の識別子を論理値1として記憶している。比較レジスタ11は、アドレスカウンタ8から供給された読み出しアドレスに応じて当該供給されたアドレスに記憶してある選別子を読み出す。同図中の記号SHが比較レジスタ11から読み出される選別子を表す。現用データA1−1〜A1−m及び予備データB1−1〜B1−mが格納されていた現用系メモリ9及び予備系メモリ10のアドレス番号と同一のアドレス番号から読み出された識別子の論理値は1となっている。
比較結果選別部13は、比較レジスタ11から読み出された選別子を取り込み、データ比較部12から供給されたデータ比較結果を当該選別子に基づいて選別する。本実施例における比較結果選別部13は、比較レジスタ11から読み出された選別子とデータ比較部12から供給されたデータ比較結果との論理積演算により当該データ比較結果を選別する。同図中の記号SIは比較結果選別部13の出力される論理値を表す。ここでは、比較対象となっている現用データA1−7と予備データB1−7とのデータ比較結果である論理値1は、比較結果選別部13からそのまま論理値1として出力される。また、現用データA3−2と予備データB3−2とは比較対象となっていないため、これらのデータ比較結果が論理値1であっても、比較結果選別部13からは論理値0が出力される。すなわち、比較対象となっている現用データA1−1〜A1−m及び予備データB1−1〜B1−mのデータ比較結果のみが、予備データが正常でないことを表す論理値1として出力される。更に、比較結果選別部13が当該論理値を制御部5に供給し、制御部5が当該供給された論理値に基づいて予備データの正常性を判断できる。
上記した如く、本発明によれば、TDMデータの多重化形式が集中配置型及び分散配置型のいずれであっても、メモリに格納されているデータの配置を変更することなく、現用系及び予備系のデータを容易に比較可能であり、所望のデータ比較結果のみを得ることが可能である。更に、当該データ比較結果に基づいて所望の予備データの正常性について確認することが本発明において可能である。
なお、本実施例においては、比較対照となるデータを現用データA1−1〜A1−m及び予備用データB1−1〜B1−mとしたが、本発明においては、比較レジスタに記憶される選別子の情報を変更することにより、所望のデータを比較対象とすることが可能である。
本発明によるTDMデータ比較試験回路を低速伝送路と共に示すブロック図である。 現用系受信部から現用系メモリ書き込み制御部に供給されるデータ列及び予備系受信部から予備系メモリ書き込み制御部に供給されるデータ列を表す図である。 多重化形式が集中配置型であるときに、現用系メモリ及び予備系メモリに格納されるデータの配列の例を表す図である。 多重化形式が分散配置型であるときに、現用系メモリ及び予備系メモリに格納されるデータの配列の例を表す図である。 データ比較部の構成の例を表す回路図である。 比較結果選別部の構成の例を表す回路図である。 多重化形式が集中配置型であるときの、現用系メモリ、予備系メモリ、比較レジスタ、データ比較部、比較結果選別部の各々の出力を表す図である。 多重化形式が分散配置型であるときの、現用系メモリ、予備系メモリ、比較レジスタ、データ比較部、比較結果選別部の各々の出力を表す図である。
符号の説明
1−1〜1−n 現用系低速伝送路
2−1〜2−n 予備系低速伝送路
3−1〜3−n 現用系受信部
4−1〜4−n 予備系受信部
5 制御部
6 現用系メモリ書き込み制御部
7 予備系メモリ書き込み制御部
8 アドレスカウンタ
9 現用系メモリ
10 予備系メモリ
11 比較レジスタ
12 データ比較部
13 比較結果選別部
14 系選択部
15 切り替え指令部
16 現用系送信部
17 予備系送信部
100 TDMデータ比較試験回路

Claims (8)

  1. 現用系のTDM信号に含まれる複数の現用データの各々をアドレス毎に格納すると共に、供給される読み出しアドレスに応じて当該供給されたアドレスに格納されている現用データを読み出す現用系メモリと、
    予備系のTDM信号に含まれる複数の予備データの各々をアドレス毎に格納すると共に、供給される読み出しアドレスに応じて当該供給されたアドレスに格納されている予備データを読み出す予備系メモリと、
    前記現用系メモリから読み出された現用データと前記予備系メモリから読み出された予備データとを取り込み、当該取り込んだ両データを比較するデータ比較部とを含むTDMデータ比較試験回路であって、
    前記現用データ及び前記予備データの各々が比較対象となるか否かを示す選別子をアドレス毎に記憶すると共に、供給される読み出しアドレスに応じて当該供給されたアドレスに記憶してある選別子を読み出す比較レジスタと、
    一連の読み出しアドレスを生成し、当該生成された読み出しアドレスを前記現用系メモリと前記予備系メモリと前記比較レジスタとに共通してアドレス番号順に順次、供給するアドレスカウンタと、
    前記比較レジスタから読み出された選別子を取り込み、前記データ比較部から供給されたデータ比較結果を当該選別子に基づいて選別する比較結果選別部とを含むことを特徴とするTDMデータ比較試験回路。
  2. 前記データ比較部は、一方の入力を前記現用系メモリから読み出された現用データとし、他方の入力を前記予備系メモリから読み出された予備データとし、これら両入力の排他的論理和演算の出力を前記データ比較結果とする排他的論理和回路であることを特徴とする請求項1に記載のTDMデータ比較試験回路。
  3. 前記比較結果選別部は、一方の入力を前記比較レジスタから読み出された選別子とし、他方の入力を前記データ比較部から供給されたデータ比較結果とし、これら両入力の論理積演算の出力を選別結果とする論理積回路であることを特徴とする請求項1に記載のTDMデータ比較試験回路。
  4. 前記現用系メモリから読み出された現用データ及び前記予備系メモリから読み出された予備データのいずれかを選択する系選択部と、前記系選択部が選択した現用データを多重信号化して伝送路へ送信する現用系送信部と、前記系選択部が選択した予備データを多重信号化して伝送路へ送信する予備系送信部とを更に含むことを特徴とする請求項1に記載のTDMデータ比較試験回路。
  5. 複数回線の各々から現用データを受信する現用データ受信部と、複数回線の各々から予備データを受信する予備データ受信部とを更に含むことを特徴とする請求項1に記載のTDMデータ比較試験回路。
  6. 前記現用データ受信部から供給される複数の現用データをTDM信号に変換し、前記現用系メモリをして当該変換したTDM信号を構成する複数の現用データを格納せしめる現用系メモリ書き込み制御部と、前記予備データ受信部から供給される複数の予備データをTDM信号に変換し、前記予備系メモリをして当該変換したTDM信号を構成する複数の予備データを格納せしめる予備系メモリ書き込み制御部とを更に含むことを特徴とする請求項5に記載のTDMデータ比較試験回路。
  7. 現用データ及び予備データをTDM信号に変換する多重化形式を前記現用系メモリ書き込み制御部と前記予備系メモリ書き込み制御部とに共通して指示すると共に、前記比較レジスタをして、アドレス毎に当該アドレスに格納される現用データ及び予備データが比較対象となるか否かを示す選別子を記憶せしめるアドレス制御部とを更に含むことを特徴とする請求項6に記載のTDMデータ比較試験回路。
  8. 前記アドレス制御部は、複数のアドレス番号を生成し、当該生成された複数のアドレス番号にて前記多重化形式を前記現用系メモリ書き込み制御部と前記予備系メモリ書き込み制御部とに共通して指示することを特徴とする請求項7に記載のTDMデータ比較試験回路。
JP2006305263A 2006-11-10 2006-11-10 Tdmデータ比較試験回路 Pending JP2008124706A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006305263A JP2008124706A (ja) 2006-11-10 2006-11-10 Tdmデータ比較試験回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006305263A JP2008124706A (ja) 2006-11-10 2006-11-10 Tdmデータ比較試験回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008124706A true JP2008124706A (ja) 2008-05-29

Family

ID=39509023

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006305263A Pending JP2008124706A (ja) 2006-11-10 2006-11-10 Tdmデータ比較試験回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008124706A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3765520B2 (ja) クロスコネクト方法及びクロスコネクト装置
JPH07154883A (ja) 複数個のデータフレーム中に可変データを挿入する装置と方法
JP3892441B2 (ja) 仮想コンカチネーション伝送方法及び装置
JP2600596B2 (ja) クロスコネクト装置
JP3156611B2 (ja) データ多重分離装置
JP5239774B2 (ja) ノード装置
JP2008124706A (ja) Tdmデータ比較試験回路
US20030165115A1 (en) Hitless switching system and transmission apparatus
US6513078B1 (en) Data transfer control apparatus, data transfer control system and data transfer control method
US7206328B2 (en) SONET/SDH transmission control device
JP4033152B2 (ja) 時分割多重装置及び方法
JPH03153136A (ja) フレーム位相変換方法および信号伝送方法
JPH11275039A (ja) タイムスロット・アサインメント回路
JP4910893B2 (ja) タイムスロット入替装置
JP5233569B2 (ja) クロスコネクト方法及びクロスコネクト装置
JP4810004B2 (ja) 多重化伝送装置
US6763038B1 (en) Light transmission equipment
JP4893831B2 (ja) 伝送装置
JP5126551B2 (ja) 伝送装置、伝送システム、伝送方法及び伝送プログラム
JP4190972B2 (ja) Sdh伝送装置
KR0168921B1 (ko) 동기식 전송시스템에서 시험액세스를 위한 24x3교차 스위치 회로
KR100439216B1 (ko) 동기식 전송시스템의 채널 스위치의 읽기/쓰기 어드레스생성장치 및 그 방법
JP3264212B2 (ja) リング型ネットワーク
JP2888286B2 (ja) 回線設定装置
JP2003198575A (ja) 伝送装置および該伝送装置におけるデータ処理方法