JP2008076216A - 周期性パターンのムラ検査装置 - Google Patents
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Abstract
る。
【解決手段】周期性パターンが形成された基板上の撮像対象エリアを少なくとも2つのエリアに分割し、前記基板下に左右上下の4箇所設置された光源の光量を個別に調整する。次に撮像エリア外描画部による底面反射が生じないように、前記基板の下のステージに前記基板の左右上下の4軸方向に平行に、それぞれ独立かつ単独で駆動する、照明光を遮蔽する遮蔽板を4つ設置し、撮像対象外エリア外描画部を覆うようにそれぞれの遮蔽板を移動させ、調整した輝度レベルで各分割エリアをそれぞれ撮像し、撮像した分割画像データをそれぞれ取り込み、取り込んだ分割画像の大きさに応じた条件で互いにつなぎ合わせて合成し、該合成画像を用いてスジ状ムラを判定する、擬似欠陥除去手段を具備するスジ状ムラの検査方法及び検査装置を提供する。
【選択図】 図1
Description
前記XYステージ上の基板に対して前記光源の各々を二次元平面視野内で個別に移動させる移動手段と、前記移動手段によって前記光源が移動されたときに、検査対象となる前記周期性パターンに対して前記光源から斜め透過光の照明があたるように、前記移動手段と連動して前記光源の向きを変えさせる姿勢移動手段と、前記基板の撮像対象エリア外の部分に前記光源からの照明光をあてないように前記基板と前記光源との間の前記基板の周囲4方向に配置され、それぞれ独立に移動可能な4枚の遮蔽板と、前記基板上の撮像対象エリアを少なくとも2つのエリアに分割し、前記XYステージと前記光源との相対位置関係を調整するとともに前記光源の光量を個別に調整することにより前記分割エリアの各々の輝度レベルを調整し、調整した輝度レベルで前記撮像手段により各分割エリアをそれぞれ撮像し、撮像した分割画像データをそれぞれ取り込み、取り込んだ分割画像を互いにつなぎ合わせて合成し、該合成画像を用いてスジ状ムラを判定することを特徴とする周期性パターンのムラ検査装置を提供することである。これにより擬似欠陥が発生せず、高い精度で周期性パターンのムラを判定することができる。
また前記基板がセットされているXYステージ21の下に、マスク50の外枠の左右上下の4方向に平行に、それぞれ独立に移動可能な遮蔽板60を4つ設置する。
本発明の検査装置は5つのサブシステム40a〜40eによって構成されている。データ入力部40aは、センサ部411、照明部412、位置固定部413および位置制御部414を備えている。センサ部411は、位置検出用の位置センサ、移動距離検出用の距離センサ(エンコーダやカウンタを含む)および輝度検出用の光感知センサなど複数のセンサを有する。
図3は多重反射(底面反射)光による影(ゴースト)の発生原理を説明するための模式図である。照明光2がマスク50に入射してパターン51を照明すると、撮像部30の像面33にパターンの実像34が結像する。一方、パターン51からの底面反射光がマスク50の底面50bによって再度反射(多重反射)され、この多重反射像が像面33に結像して影(ゴースト)35となる。この影(ゴースト)35が擬似欠陥の像として画像面33上に出現すると、実像34の合否判定の精度を低下させる原因となる。
図4で示すように、擬似欠陥除去の画像合成では例えば撮像対象エリアを縦に二分する中心線Cを境に左右に分断しA2画像とB1画像を結合することで擬似欠陥除去画像としている。しかし、図5に示すような撮像対象エリア幅Xが極端に狭い場合や、アライメントマーク等何らかのエリア外描画が存在する場合においては撮像対象エリアの中心Cに対して左右両側に擬似欠陥が発生することがある。
図6(a)は、撮像対象エリア外描画部51により、中心線Cを境に分割された撮像対象エリアa−1に擬似欠陥35が生じていることを表している。また一方の分割された撮像対象エリアb−1でも別の擬似欠陥が生じている。
ここで、撮像対象エリアa−1に発生した擬似欠陥35は、図6(b)に示すように、撮像対象エリア外描画部62に下から照射された照明光により、撮像対象エリア外描画部62の底面で反射した光が基板60のガラス基板の底面で反射し、描画パターン部64と結合して擬似欠陥を発生する。
そこで、図6(c)に示すように、遮蔽板60を移動させ、撮像対象エリア外描画部62に下から照明光が照射されるのを防ぐと、擬似欠陥の発生を防ぐことが可能となる。
C1…光源
C2…光源
C…中心線
Claims (1)
- 矩形基板上の周期性パターンに発生するスジ状ムラを検査するための周期性パターンのムラ検査装置であって、
前記基板を実質的に水平に保持し、該基板を二次元平面視野内でX軸方向およびY軸方向にそれぞれ移動させる移動機構を備えたXYステージと、
前記XYステージ上の基板の周期性パターンに対して斜め透過光の照明を個別に行う4つの光源と、
前記XYステージを挟んで前記光源の反対側に配置され、前記光源によって斜め透過光照明された前記周期性パターンにおける回折光を撮像する撮像手段と、
前記XYステージ上の基板に対して前記光源の各々を二次元平面視野内で個別に移動させる移動手段と、
前記移動手段によって前記光源が移動されたときに、検査対象となる前記周期性パターンに対して前記光源から斜め透過光の照明があたるように、前記移動手段と連動して前記光源の向きを変えさせる姿勢移動手段と、
前記基板の撮像対象エリア外の部分に前記光源からの照明光をあてないように前記基板と前記光源との間の前記基板の周囲4方向に配置され、
それぞれ独立に移動可能な4枚の遮蔽板と、
前記基板上の撮像対象エリアを少なくとも2つのエリアに分割し、前記XYステージと前記光源との相対位置関係を調整するとともに前記光源の光量を個別に調整することにより前記分割エリアの各々の輝度レベルを調整し、調整した輝度レベルで前記撮像手段により各分割エリアをそれぞれ撮像し、撮像した分割画像データをそれぞれ取り込み、取り込んだ分割画像を互いにつなぎ合わせて合成し、該合成画像を用いてスジ状ムラを判定することを特徴とする周期性パターンのムラ検査装置。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010216974A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ムラ検査装置、ムラ検査方法、およびプログラム |
JP2012058029A (ja) * | 2010-09-07 | 2012-03-22 | Toppan Printing Co Ltd | 周期性パターン検査装置 |
WO2012043189A1 (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-05 | 大日本印刷株式会社 | タッチパネルセンサフィルム及びその製造方法 |
KR101366816B1 (ko) * | 2013-07-12 | 2014-02-25 | 주식회사 에이피에스 | 그래핀 인쇄패턴 검사장치와, 그래핀 인쇄패턴 검사시스템 및 그 운용방법 |
CN109443707A (zh) * | 2018-11-26 | 2019-03-08 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种面光源亮度均匀性检测装置及方法 |
CN113295387A (zh) * | 2021-05-25 | 2021-08-24 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种多波段条状滤光片光学参数测试系统及其测试方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002139444A (ja) * | 2000-11-01 | 2002-05-17 | Ckd Corp | 錠剤の外観検査装置およびptp包装機 |
JP2006208084A (ja) * | 2005-01-26 | 2006-08-10 | Toppan Printing Co Ltd | 周期性パターンのムラ検査装置 |
JP2006242821A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Seiko Epson Corp | 光学パネルの撮像方法、光学パネルの検査方法、光学パネルの撮像装置、光学パネルの検査装置 |
-
2006
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002139444A (ja) * | 2000-11-01 | 2002-05-17 | Ckd Corp | 錠剤の外観検査装置およびptp包装機 |
JP2006208084A (ja) * | 2005-01-26 | 2006-08-10 | Toppan Printing Co Ltd | 周期性パターンのムラ検査装置 |
JP2006242821A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Seiko Epson Corp | 光学パネルの撮像方法、光学パネルの検査方法、光学パネルの撮像装置、光学パネルの検査装置 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010216974A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ムラ検査装置、ムラ検査方法、およびプログラム |
JP2012058029A (ja) * | 2010-09-07 | 2012-03-22 | Toppan Printing Co Ltd | 周期性パターン検査装置 |
WO2012043189A1 (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-05 | 大日本印刷株式会社 | タッチパネルセンサフィルム及びその製造方法 |
CN103119542A (zh) * | 2010-09-29 | 2013-05-22 | 大日本印刷株式会社 | 触摸面板传感器膜及其制造方法 |
US9189033B2 (en) | 2010-09-29 | 2015-11-17 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Touchscreen panel sensor film and manufacturing method thereof |
JP5861641B2 (ja) * | 2010-09-29 | 2016-02-16 | 大日本印刷株式会社 | タッチパネルセンサフィルム及びその製造方法 |
US9360897B2 (en) | 2010-09-29 | 2016-06-07 | Dai Nippon Printing Co., Ltd | Touchscreen panel sensor film and manufacturing method thereof |
KR101366816B1 (ko) * | 2013-07-12 | 2014-02-25 | 주식회사 에이피에스 | 그래핀 인쇄패턴 검사장치와, 그래핀 인쇄패턴 검사시스템 및 그 운용방법 |
CN109443707A (zh) * | 2018-11-26 | 2019-03-08 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种面光源亮度均匀性检测装置及方法 |
CN113295387A (zh) * | 2021-05-25 | 2021-08-24 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种多波段条状滤光片光学参数测试系统及其测试方法 |
CN113295387B (zh) * | 2021-05-25 | 2023-11-17 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种多波段条状滤光片光学参数测试系统及其测试方法 |
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Publication number | Publication date |
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