JP2011075310A - むら検査方法及びむら検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の実施の形態1に係るむら検査装置は、透過照明部10、X−Y−θステージ部20、アライメント用撮像部30、回折光強度測定部兼撮像部40及び処理・制御部100を具備している。X−Y−θステージ部20は、被検査基板60の位置決め動作及び基板搬送動作が可能である。アライメント用撮像部30は、被検査基板60の位置決めを実施する。回折光強度測定部兼撮像部40は、被検査基板60からの回折光強度を取得し、また、被検査画像取得を実施する。処理・制御部100の情報処理手段101は、透過照明部10、X−Y−θステージ部20、アライメント用撮像部30及び回折光強度測定部兼撮像部40の動作管理及び制御を行う。
【選択図】図1
Description
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係るむら検査装置の構成を示す概略図である。図1では、透過回折光を得るための装置の構成例が示されている。なお、本装置は外乱光や迷光を極力低減させた暗環境かつ被検査基板への異物付着を防止するクリーン環境で稼動されることが望ましい。
0゜≦θ≦45゜のときは、
次に、本発明の実施の形態2について説明する。本発明の実施の形態2に係るむら検出装置の概略図は、図1と同じである。また、本発明の実施の形態2に係るむら検出装装置の動作は、図4に示すフローチャートに則って行われる。
11 円弧レール
12 照明ヘッド
13 光源
14 ライトガイド
20 X−Y−θステージ部
30 アライメント用撮像部
31 カメラ
32 レンズ
33 照明装置
34 照明制御装置
40 回折光強度測定部兼撮像部
41 光電センサー
42 平行光学系
60 被検査基板
100 処理・制御部
101 情報処理手段
102 信号入力装置
103 信号入力装置
104 表示手段
105 対人操作手段
Claims (10)
- 基板上に周期性パターンが形成された基板を検査対象とし前記基板に照明光を複数の照明角度で斜め入射し周期性パターンにより生じる回折光を用いて検査するむら検査方法であって、
前記周期性パターンのピッチ及びサイズの情報を入力する検査対象基板情報入力工程と、
前記基板の被検査内方向における位置決めを行う位置決め工程と、
前記周期性パターンのピッチと撮像分解能との関係から撮像倍率を決定するための撮像倍率決定工程と、
回折格子方程式による理論計算により照明光の照射角度を決定する照明照射角度決定工程と、
撮像に必要とされる光量を得るために前記照明光の照明光量の調整を行いながら光強度測定を行う照明光量調整工程と、
前記撮像倍率決定工程において得られた撮像倍率に対し撮像倍率の微調整を行う撮像倍率微調整工程と、
を具備することを特徴とするむら検査方法。 - 基板上に周期性パターンが形成された基板を検査対象とし前記基板に照明光を複数の照射角度で斜め入射し周期性パターンにより生じる回折光を用いて検査するむら検査方法であって、
前記周期性パターンのピッチ及びサイズの情報を入力する検査対象基板情報入力工程と、
前記基板の被検査内方向における位置決めを行う位置決め工程と、
前記検査対象基板情報入力工程において入力された前記周期性パターンに関する情報を元にパターンピッチと撮像分解能との関係から撮像倍率を決定するための撮像倍率決定工程と、
前記検査対象基板情報入力工程において入力された前記周期性パターンに関する情報を元に前記周期性パターンに対して基板面法線方向から光源からの光を照射した場合に生じうる回折光のうち回折した光強度の極大値が得られる回折光角度とその時の回折光次数を理論計算により取得することにより照明光の照射角度を決定する照明照射角度決定工程と、
前記照明照射角度決定工程において得られた少なくとも1つの照明光照射角度において撮像に必要とされる光量を得るために前記照明光の照明光量の調整を行いながら光強度測定を行う照明光量調整工程と、
前記撮像倍率決定工程において得られた撮像倍率に対し撮像倍率の微調整を行う撮像倍率微調整工程と、
を具備することを特徴とするむら検査方法。 - 前記検査対象基板情報入力工程は、前記基板の周期性パターンに対して任意の水平方向角度での照明について回折光強度の取得、検査条件の設定ができるように水平角度方向に関する条件入力が可能であることを特徴とする請求項1及び2のいずれかに記載のむら検査方法。
- 前記照明照射角度決定工程は、ブラッグの回折条件に基づいて計算が実行され、かつ、算出される回折光角度は次数が20次以下の回折光に関するものであることとし、角度の値は少なくとも10度以上60度以下であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のむら検査方法。
- 前記照明光は中心波長が540nmである緑色光であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のむら検査方法。
- 前記照明光量調整工程は、前記基板の周期性パターンからの回折光を光電変換素子を利用した光強度測定手段によって実施するものであり、かつ、前記光強度測定手段は、前記基板の周期性パターンにより生じる回折光のうち前記基板の被検査面に対して垂直な回折光のみを抽出する光学系を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のむら検査方法。
- 前記撮像倍率微調整工程は、撮像倍率の微調整を行うのに電動式ズームレンズを利用することを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のむら検査方法。
- 基板上に周期性パターンが形成された基板を検査対象とし前記基板に照明光を複数の照明角度で斜め入射し周期性パターンにより生じる回折光を用いて検査するむら検査装置であって、
前記周期性パターンのピッチ及びサイズの情報を入力する検査対象基板情報入力手段と、
前記基板の被検査内方向における位置決めを行う位置決め手段と、
前記周期性パターンのピッチと撮像分解能との関係から撮像倍率を決定するための撮像倍率決定手段と、
回折格子方程式による理論計算により照明光の照射角度を決定する照明照射角度決定手段と、
撮像に必要とされる光量を得るために前記照明光の照明光量の調整を行いながら光強度測定を行う照明光量調整手段と、
前記撮像倍率決定手段において得られた撮像倍率に対し撮像倍率の微調整を行う撮像倍率微調整手段と、
を具備することを特徴とするむら検査装置。 - 基板上に周期性パターンが形成された基板を検査対象とし前記基板に照明光を複数の照射角度で斜め入射し周期性パターンにより生じる回折光を用いて検査するむら検査装置であって、
前記周期性パターンのピッチ及びサイズの情報を入力する検査対象基板情報入力手段と、
前記基板の被検査内方向における位置決めを行う位置決め手段と、
前記検査対象基板情報入力手段において入力された前記周期性パターンに関する情報を元にパターンピッチと撮像分解能との関係から撮像倍率を決定するための撮像倍率決定手段と、
前記検査対象基板情報入力手段において入力された前記周期性パターンに関する情報を元に前記周期性パターンに対して基板面法線方向から光源からの光を照射した場合に生じうる回折光のうち回折した光強度の極大値が得られる回折光角度とその時の回折光次数を理論計算により取得することにより照明光の照射角度を決定する照明照射角度決定手段と、
前記照明照射角度決定手段において得られた少なくとも1つの照明光照射角度において撮像に必要とされる光量を得るために前記照明光の照明光量の調整を行いながら光強度測定を行う照明光量調整手段と、
前記撮像倍率決定手段において得られた撮像倍率に対し撮像倍率の微調整を行う撮像倍率微調整手段と、
を具備するむら検査装置。 - 基板上に周期性パターンが形成された基板を検査対象とし前記基板に照明光を複数の照射角度で斜め入射し周期性パターンにより生じる回折光を用いて検査するむら検査装置であって、
前記基板を載置しX軸、Y軸及びθ軸方向に駆動する機構を具備する搬送手段と、
前記基板の所定領域に光を照射してその所定領域を撮像して得られた画像に所定の画像処理を行って前記基板の被検査面内方向における位置決めを行う位置決め手段と、
照明光として可視光を発生可能な光源を具備する照明光源手段と、
前記照明光源手段の照明ヘッド部を支持し、かつ、前記搬送手段に載置された前記基板上の一定領域に照明光を照射しつつ前記基板の被検査面に垂直な方向に対する照明光照射角度を制御可能な照明ヘッド駆動手段と、
前記照明ヘッド部によって照明光が前記周期性パターンに照射されることにより生じる回折光を撮像する撮像手段と、
前記位置決め手段からの映像出力と前記撮像手段からの映像出力を画像情報とする画像入力手段と、
前記周期性パターンのピッチ及びサイズの情報の入力やその他操作を行うための対人操作手段と、
前記対人操作手段により入力された前記周期性パターンに関する情報を元にパターンピッチと撮像分解能との関係から撮像倍率を決定するための撮像倍率決定処理手段と、
前記対人操作手段により入力された前記周期性パターンに関する情報を元に前記周期性パターンに対して基板面法線方向から光源からの光を照射した場合に生じうる回折光のうち、回折した光強度の極大値が得られる回折光角度とその時の回折光次数を理論計算により取得することにより照明光の照射角度を決定する照明照射角度決定処理手段と、
前記照明照射角度決定工程において得られた少なくとも1つの照明光照射角度において撮像に必要とされる光量を得るために前記照明光の照明光量の調整を行いながら光強度測定を行う照明光量調整処理手段と、
前記撮像倍率決定工程において得られた撮像倍率に対し撮像倍率の微調整を行う撮像倍率微調整処理手段と、
前記搬送手段、前記位置決め手段、前記照明光源手段、前記照明ヘッド部、前記照明ヘッド手段及び前記撮像手段の動作制御を行う処理・制御手段と、
前記位置決め手段及び前記撮像手段にて撮像した画像及び前記処理・制御手段による処理結果を表示する表示手段と、
を具備することを特徴とするむら検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009224697A JP2011075310A (ja) | 2009-09-29 | 2009-09-29 | むら検査方法及びむら検査装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009224697A JP2011075310A (ja) | 2009-09-29 | 2009-09-29 | むら検査方法及びむら検査装置 |
Publications (1)
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Family Applications (1)
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JP2009224697A Pending JP2011075310A (ja) | 2009-09-29 | 2009-09-29 | むら検査方法及びむら検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2011075310A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013076651A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Toppan Printing Co Ltd | 周期性パターン検査方法および周期性パターン検査装置 |
KR20140075593A (ko) | 2012-12-10 | 2014-06-19 | 삼성전자주식회사 | 인식 장치, 인식 방법, 실장 장치 및 실장 방법 |
JP2015175607A (ja) * | 2014-03-13 | 2015-10-05 | 株式会社Screenホールディングス | 画像取得装置および検査装置 |
US9319593B2 (en) | 2012-12-10 | 2016-04-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Recognition apparatus, recognition method, mounting apparatus, and mounting method |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002027305A1 (fr) * | 2000-09-26 | 2002-04-04 | Olympus Optical Co., Ltd. | Dispositif de detection de defauts |
JP2005233869A (ja) * | 2004-02-23 | 2005-09-02 | Raitoron Kk | 微細構造検査装置及び微細構造検査方法 |
-
2009
- 2009-09-29 JP JP2009224697A patent/JP2011075310A/ja active Pending
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