JP2008060205A - 太陽電池セル及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】発電機能を有する半導体接合領域が一方主面側に形成された半導体基板を備える太陽電池セル10であって、少なくとも1つの側面11が、エネルギービーム加工により形成された分割溝の部分で割断して形成した側面であり、該側面が、エネルギービーム加工によるエネルギービーム加工領域8aと、割断による割断領域9aとから形成されており、エネルギービーム加工領域の深さdが、太陽電池セル10の厚みの35〜65%であることを特徴としている。
【選択図】図2
Description
分割溝の深さを変化させ、分割溝による割断の加工性と、割断加工の前後における太陽電池セルのセル特性の関係を検討した。
モード:マルチモード
波長:第2高調波(532nm)
発振方法:Qスイッチ
周波数:25kHz
加工点:21W
レーザーの走査速度:200mm/秒
図5は、太陽電池セルの厚みに対する分割溝の深さ(加工深さ率)と、割断加工性との関係を示す図である。横軸は、太陽電池セルの厚みを示しており、図5に示すように、平均115μm、平均155μm、及び平均200μmの3種類のセル厚みを有する太陽電池セルを用いている。割断加工の加工性は、以下に示す●、▲、×で評価した。
▲:割断不良(端面に非直線部分がある)
×:割断不良(セルに割れが発生する)
図5に示すように、加工深さ率が35%未満になると、割断加工の際に、分割溝以外の部分で割断され、不良品が発生しやすくなることがわかる。
図6は、太陽電池セルの厚みに対する分割溝の深さ(加工深さ率)と、分割前後における太陽電池特性としてのフィルファクター(FF)の変化率との関係を示す図である。FF変化率は、(分割後の太陽電池セルのFF)/(分割前の太陽電池のFF)×100である。
2…i型非晶質シリコン層
3…p型非晶質シリコン層
4…透明導電膜
5…i型非晶質シリコン層
6…n型非晶質シリコン層
7…透明導電膜
8…分割溝
8a…レーザー加工領域
9…割断領域
9a…割断領域
10…太陽電池セル
11…側面
20…大面積の太陽電池セル
21…集電極
22…割断線
23…分割後の太陽電池セル
Claims (4)
- 発電機能を有する半導体接合領域が一方主面側に形成された半導体基板を備える太陽電池セルであって、
少なくとも1つの側面が、エネルギービーム加工により形成された分割溝の部分で割断して形成した側面であり、該側面が、前記エネルギービーム加工によるエネルギービーム加工領域と、前記割断による割断領域とから形成されており、前記エネルギービーム加工領域の深さが、太陽電池セルの厚みの35〜65%であることを特徴とする太陽電池セル。 - 前記エネルギービーム加工領域の深さが、太陽電池セルの厚みの35〜50%であることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池セル。
- 前記エネルギービーム加工領域が、前記一方主面と対向する他方主面側から形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の太陽電池セル。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の太陽電池セルを該セルより大きな面積を有する大面積セルから製造する方法であって、
エネルギービーム加工により、前記大面積セルに前記分割溝をその深さが太陽電池セルの厚みの35〜65%となるように形成する工程と、
前記分割溝の部分で割ることにより、前記大面積セルから前記太陽電池セルを製造する工程とを備えることを特徴とする太陽電池セルの製造方法。
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