JP2008058316A5

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Publication number: JP2008058316A5
Application number: JP2007224532A
Authority: JP
Filing date: 2007-08-30
Publication date: 2010-08-19
Anticipated expiration: 2027-08-30

Claims

切断平面に平行かつ実質的にナイフ（６）の切断刃先に平行に振動するように適合したナイフ（６）を含む振動刃ミクロトーム（１）のための測定装置（３）であって、
該測定装置（３）は、該切断刃先をその中に配置できるとともに、横方向の振動的動きの間、該切断平面に対する該切断刃先の潜在的に存在しうる傾きに伴う該切断刃先の横断方向変位(transverse offset)を測定するための光通過センサ（９）を含み、
該光通過センサは該切断平面及び該光通過センサの光を一部遮る該切断刃先に平行に配向されること、
該光通過センサから導かれる測定信号(tpm)の全時間にわたる変動は該ナイフの振動により発生し、該変動は横断方向変位の決定に用いられること、
該測定装置（３）は、該ナイフの振動の時間的推移を記述する１以上の制御アプリケーション信号(pklo,pkhi)を受け、そして該制御アプリケーション信号(pklo,pkhi)により決定される時点（複数）における該光通過センサから導かれる該測定信号(tpm)の値（複数）をもとに該切断刃先の該横断方向変位を決定するように構成される、電子測定システム（Ｃ−３）をさらに含むことを特徴とする測定装置。
前記１以上の制御アプリケーション信号(pklo,pkhi)は前記ナイフ（６）の振動最大時の位置を規定し、前記電子測定システム（Ｃ−３）は前記測定信号(tpm)から対向する（正負の）振動最大時（複数）の切断刃先の横断方向位置に対応する値（複数）を求め、さらにこれらの値の差から前記横断方向変位を決定することを特徴とする、請求項１に記載の測定装置。
前記測定装置（３）は、前記振動刃ミクロトーム（１）から取外し可能なユニットとして構成され、及び前記電子測定システム（Ｃ−３）は前記測定装置の中に収納されることを特徴とする、請求項１又は２に記載の測定装置。
前記測定装置（３）は、測定された前記横断方向変位の大きさを記述する信号を生成し、該信号を前記振動刃ミクロトーム（１）に送るように構成されることを特徴とする、請求項１〜３のいずれか一に記載の測定装置。
前記電子測定システムは、前記横断方向変位を決定する前に前記光通過センサの光線ビーム強度を調節するよう、即ち前記切断刃先が前記光通過センサから完全に外れている位置にあるときに前記光通過センサの検出要素の変調範囲の９０％を超える使用率が達成されるように追加的に構成されることを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一に記載の測定装置。
前記光通過センサ（９）は、前記切断平面に平行方向に配向されていることを特徴とする、請求項１〜５のいずれか一に記載の測定装置。
切断平面に平行かつ、実質的にナイフ（６）の切断刃先に平行な方向に振動するよう適合したナイフ（６）を含む振動刃ミクロトーム（１）であって、
電子制御システム（Ｃ−１）をさらに含み、該電子制御システム（Ｃ−１）は、
該ナイフ（６）の振動的動きから導かれる振動信号(tp2)から、ナイフ（６）の振動の時間的推移を記述する１以上の制御アプリケーション信号(pklo,pkhi)を発生し、そして該切断平面に対する該切断刃先の潜在的に存在しうる傾きによる横方向の振動的動きという意味での該切断刃先の横断方向変位を測定するために、該電子制御システムは、該制御アプリケーション信号を、該振動刃ミクロトーム（１）に備えられ、該切断刃先をその中に配置できる光通過センサ（９）を有する測定装置（３）に伝えるようにさらに構成される、振動刃ミクロトーム。
前記電子制御システムは、前記測定装置（３）から前記横断方向変位の大きさを記述する信号を受け、該信号を前記振動刃ミクロトームに結合されるディスプレイ（１１）に表示するように構成されることを特徴とする、請求項７に記載の振動刃ミクロトーム。
前記１以上の制御アプリケーション信号(pklo,pkhi)は、前記ナイフ（６）の最大振動時の位置を規定することを特徴とする、請求項７又は８に記載の振動刃ミクロトーム。
前記測定装置（３）は、前記振動刃ミクロトーム（１）から取外し可能なユニットとして備えられ、前記電子制御システム（Ｃ−１）と電子的に連絡可能なように別の電子測定システム（Ｃ−３）を有することを特徴とする、請求項７〜９のいずれか一に記載の振動刃ミクロトーム。