JP2008055907A - 大面積スタンパーの製造方法 - Google Patents

大面積スタンパーの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008055907A
JP2008055907A JP2007219965A JP2007219965A JP2008055907A JP 2008055907 A JP2008055907 A JP 2008055907A JP 2007219965 A JP2007219965 A JP 2007219965A JP 2007219965 A JP2007219965 A JP 2007219965A JP 2008055907 A JP2008055907 A JP 2008055907A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
large area
photoresist layer
mask
manufacturing
positive photoresist
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007219965A
Other languages
English (en)
Inventor
Seung Hyun Ra
承 鉉 羅
Choon-Keun Lee
春 根 李
Sang Moon Kee
上 文 李
Jae-Choon Cho
在 春 趙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electro Mechanics Co Ltd filed Critical Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Publication of JP2008055907A publication Critical patent/JP2008055907A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/2002Exposure; Apparatus therefor with visible light or UV light, through an original having an opaque pattern on a transparent support, e.g. film printing, projection printing; by reflection of visible or UV light from an original such as a printed image
    • G03F7/2012Exposure; Apparatus therefor with visible light or UV light, through an original having an opaque pattern on a transparent support, e.g. film printing, projection printing; by reflection of visible or UV light from an original such as a printed image using liquid photohardening compositions, e.g. for the production of reliefs such as flexographic plates or stamps
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C35/00Heating, cooling or curing, e.g. crosslinking or vulcanising; Apparatus therefor
    • B29C35/02Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould
    • B29C35/08Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation
    • B29C35/0888Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation using transparant moulds
    • B29C35/0894Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation using transparant moulds provided with masks or diaphragms
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C59/00Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
    • B29C59/02Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing
    • B29C59/022Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing characterised by the disposition or the configuration, e.g. dimensions, of the embossments or the shaping tools therefor
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0017Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor for the production of embossing, cutting or similar devices; for the production of casting means
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/2002Exposure; Apparatus therefor with visible light or UV light, through an original having an opaque pattern on a transparent support, e.g. film printing, projection printing; by reflection of visible or UV light from an original such as a printed image
    • G03F7/2014Contact or film exposure of light sensitive plates such as lithographic plates or circuit boards, e.g. in a vacuum frame
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1258Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by using a substrate provided with a shape pattern, e.g. grooves, banks, resist pattern
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C35/00Heating, cooling or curing, e.g. crosslinking or vulcanising; Apparatus therefor
    • B29C35/02Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould
    • B29C35/08Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation
    • B29C35/0805Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation using electromagnetic radiation
    • B29C2035/0827Heating or curing, e.g. crosslinking or vulcanizing during moulding, e.g. in a mould by wave energy or particle radiation using electromagnetic radiation using UV radiation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Oral & Maxillofacial Surgery (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】簡単な工程で多段の大面積スタンパーを製造することのできる大面積スタンパーの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の大面積スタンパーの製造方法は、(a)ポジティブフォトレジスト層21に第1パターン26aが形成された第1マスク23aを積層する段階と、(b)第1マスク23aの上面を露光する段階と、(c)ポジティブフォトレジスト層21を現像して凹状27を形成する段階と、(d)凹状27に対応した凸状28が形成されるようにモールディング(molding)する段階と、(e)ポジティブフォトレジスト層21を除去する段階とを含んでスタンパー20を製造することを特徴とする。
【選択図】図2

Description

本発明は、スタンパーの製造方法に関するもので、より詳細には、同様に反復されるパターンを有する大面積スタンパーの製造方法に関する。
現在、電子電気技術は、21世紀の高度情報通信社会の実現に合わせて、さらに多くの容量の情報を保存し、さらに早い情報処理と伝送及び簡便な情報通信網の構築のために急速に発展している。
特に、与えられた情報伝送速度の有限性という条件の下で、このような条件を満たし得る一つの方法として、複数の構成素子をできるだけより一層小さく具現し、かつ、信頼性を高めて新たな機能性を付与するという方法が提示されている。
前述したように、電子製品が小型化するにつれて、印刷回路基板においても微細パターン(fine pattern)化、小型化及びパッケージ化が同様に進行している。これによって信号処理能力が優れた回路をより狭い面積に具現するために、高密度の基板(line/space=10μm/10μm、Microvia<30μm)の製造に対して、強い必要性がある。
今まで、最も広く使用されていた微細構造製作技術の一つとしては、UVリソグラフィ(UV lithography)があり、これはフォトレジスト薄膜で覆われた基板の上に紫外線を照射して回路パターンを形成する方法である。
しかし、UVリソグラフィ法を用いて基板を製造する時には、回路として用いられる銅箔が厚くなくてはならないという制限と、湿式エッチング法を使用しなくてはならないという制限があるため、UVリソグラフィで10μm以下の微細線幅を形成する場合には、製品の信頼性が落ちるという問題点があった。
一方、最近では印刷回路基板の集積度が一層高くなる趨勢があり、それに従って微細パターンを形成する方法に対する研究がさらに活発になっている。そして、前述したUVリソグラフィに代わる方法として、回路パターン形成用スタンパーを用いて高密度の基板を製造するという試みが注目されている。
スタンパーは、普通ニッケル電鋳メッキ(electroforming)またはポリマーのモールディング(molding)法によって製作されるが、このような方法でスタンパーを製造するためには、所望するパターンが凹状に形成されたマスターモールド(master mold)が必要である。
このマスターモールドは、シリコンウェーハ(Si―Wafer)などのエッチング工程で作られるが、スタンパーの最大面積は、ウェーハの大きさに制限される。したがって、小型のスタンパーを反復して用いて回路パターンを形成する方法がり、従来ではUV硬化性レジンを用いる方式があった。この方式は、いわゆる、‘ステップ反復(step&repat)’方式と呼ばれるが、これはスタンパーをレジン上にインプリント(imprint)してパターンを形成し、UVを照射して硬化させた後に、次の領域で再び同様の作業を反復するという方式である。しかし、このような方式は、加工時間が長くなるという問題があった。
また、他の方式として、熱硬化性樹脂上にスタンパーをインプリントする方式もあるが、この場合には、インプリントの加工面積が、使用するスタンパーの面積によることになる。
また、超微細(ナノサイズ)パターンの場合に、電子ビームやFIB(focused ion beam)などの加工法によってスタンパーを一度に製作することができるが、加工時間が非常に長くなり、尚且つ費用が高くなる。
上述したように、既存の方法では超微細パターンの大面積スタンパーを製造するためには、時間的、費用的な側面からかなりの制限があった。
本発明は、超微細パターンを有する大面積スタンパーを簡単な工程で製造することのできる方法を提供する。
本発明の一実施形態によれば、(a)ポジティブフォトレジスト層(positive photoresist layer)に第1パターンが形成された第1マスクを積層する段階と、(b)第1マスクの上面を露光する段階と、(c)ポジティブフォトレジスト層を現像して凹状を形成する段階と、(d)凹状に対応した凸状が形成されるようにモールディング(molding)する段階とを含むことを特徴とする大面積スタンパーの製造方法を提供する。
第1マスクを除去した後に、段階(b)と段階(c)との間に、(b1)ポジティブフォトレジスト層に第2パターンが形成された第2マスクを積層する段階と、(b2)第2マスクの上面を露光する段階と、(b3)第2マスクを除去する段階とをさらに行うことができる。複数のマスクを用いることにより、多段の大面積スタンパーを製造することができる。
この場合に、第1パターンの開口部より第2パターンの開口部を小さくすることが好ましい。これは、第1パターンによって形成された第1露光部が、後に形成された第2マスクの上面を露光した際に影響を受けないようにするためである。
段階(d)は、ニッケル電鋳メッキまたは高分子ポリマーのうちいずれか一つからなるようにすることが好ましい。ニッケルと高分子ポリマーとは取り扱いやすいので、モールディング材料として好ましいからである。
一方、段階(c)と段階(d)との間に、ポジティブフォトレジスト層を硬化させる段階をさらに含むことが好ましい。モールディング工程を行うためには、ポジティブフォトレジスト層がある程の硬度を持つことが要求される。したがって、ポジティブフォトレジスト層を硬化させる工程を行った後にモールディング工程を行うことが好ましい。
段階(d)の後に、(e)ポジティブフォトレジスト層を除去する段階を行うことにより、大面積スタンパーが完成する。
本発明によれば、ポジティブフォトレジスト層と、パターンの形成された複数のマスクとを用いて多段の大面積スタンパーを簡単な工程で製造することができる。
以下、本発明に係る大面積スタンパーの製造方法における好ましい実施例を、添付した図面に基づいて詳しく説明する。添付図面において、同一の構成要素には同一の参照番号を付与し、重複した説明は省略する。
図1は、本発明の好ましい第1実施例に係る大面積スタンパーの製造方法を示すフローチャートであり、図2は、本発明の好ましい第1実施例に係る大面積スタンパーの製造工程を示す図である。図2を参照すると、大面積スタンパー20、ポジティブフォトレジスト層21、基板22、第1マスク23a、第2マスク23b、第1露光部24a、第2露光部24b、モールディング部25、第1パターン26a、第2パターン26b、凹状27、凸状28を示している。
図1の段階S11は、ポジティブフォトレジスト層21に第1パターン26aが形成された第1マスク23aを積層する段階であり、図2の(a)及び(b)は、この工程を示す図である。
ポジティブフォトレジスト層21とは、露光された部分が除去される部分となり、特に本実施例のポジティブフォトレジスト層21は、露光された部分が透明になる性質をもっている。
第1マスク23aには、第1パターン26aが形成されている。この第1パターン26aは、第1マスク23aに穿孔された部分である。第1マスク23aの第1パターン26aは、後に回路パターンが形成される位置に対応している。
一方、ポジティブフォトレジスト層21は、それ自体の強度が低いため、これを支持するための基板22に積層して工程を行うことが好ましい。基板の材質としては、ガラス、石英(quartz)、シリコンウェーハなどを用いることが可能であるが、特にこれらに限定されるわけではなく、金属性の材質を用いてもよい。
図1の段階S12は、第1マスク23aの上面を露光する段階であって、図2の(c)は、この工程に対応する図である。図2の(c)に示すようにUVを照射する場合、ポジティブフォトレジスト層21の光を受けた部分は透明になる。この部分を以下‘第1露光部’と称する。この第1露光部24aは、後に除去される部分である。一方、多段のパターンを形成するために第1露光部24aの厚さを調節する必要があるが、この調節方法としては、露光する光の強度と時間を調節すればよい。
図1の段階S13は、第2マスク23bを積層する段階であって、図2の(d)はこの工程に対応する図である。段階S13の前に第1マスク23aを除去することが好ましいが、除去せずに本段階を行うこともできる。このような段階S13を行う理由は、ポジティブフォトレジスト層21に多段の凹状27を形成するためである。
図2の(d)に示すように、第2マスク23bを積層する場合、第2マスク23bの第2パターン26bは、第1マスク23aの第1パターン26aの開口部よりも小さな開口部になることが好ましい。これは、第1パターン26aによって形成された第1露光部24aが第2パターン26bに対する露光で影響を受けないようにするためである。すなわち、第2パターン26bはより深い凹状27を形成するために設置されるものなので、第1露光部24aを変形させることがないようにする必要がある。
図1の段階S14は、第2マスク23bの上面を露光する段階であって、図2の(e)は、この工程に対応する図である。図2の(e)に示すように露光が行われると、第2露光部24bが形成される。ポジティブフォトレジスト層21は、露光されると透明な材質に変化するので、照射されたUVは透明な第1露光部24aを貫通して第2露光部24bを形成することになる。第1パターン26aの開口部の大きさよりも第2パターン26bの開口部の大きさのほうが小さいので、第1露光部24aと第2露光部24bは多段の形状となる。
図1の段階S15は、第2マスク23bを除去して現像する段階である。ポジティブフォトレジスト層21の露光された部分が現像されるので、この現像工程により第1露光部24aと第2露光部24bとが除去される。結果的に、図2の(f)に示すように凹状27が形成されたポジティブフォトレジスト層21を得ることができる。
図1の段階S16は、ポジティブフォトレジスト層21の凹状27に対応した凸状28が形成されるようにモールディング(molding)する段階であって、図2の(g)は、この工程に対応する図である。
ここで、段階S16の前にポジティブフォトレジスト層21を硬化させる作業を行うことも可能である。ポジティブフォトレジスト層21は、一般的に強度が低いのでモールディング作業を行うには好ましくない。よって、硬化工程を経ることにより、段階S16のモールディング作業を円滑に行うことができる。
モールディングは、ニッケル電鋳メッキや、高分子ポリマーを用いて行う。しかし、一定した硬度とスタンパーとしての信頼性が保障される材質であれば、その他の材質を用いてもかまわない。
図2の(h)に示すようにポジティブフォトレジスト層21と基板20とを除去すると、大面積スタンパー20が完成する。大面積スタンパー20には、凸状28が形成されている。この凸状28は、ポジティブフォトレジスト層21の凹状27に対応した形状となっている。
本発明の技術的思想を上述した実施例に基づいて具体的に記述したが、上述した実施例は、本発明を好適に説明するための例示に過ぎず、本発明を限定するものではない。また、本発明が属する技術分野の通常の専門家であれば、本発明の技術的思想の範囲内で多様な実施例があることを理解できるであろう。
本発明の好ましい第1実施例に係る大面積スタンパーの製造方法を示すフローチャートである。 本発明の好ましい第1実施例に係る大面積スタンパーの製造工程を示す図である。
符号の説明
20 大面積スタンパー
21 ポジティブフォトレジスト層
22 基板
23a 第1マスク
23b 第2マスク
24a 第1露光部
24b 第2露光部
25 モールディング部
26a 第1パターン
26b 第2パターン
27 凹状
28 凸状

Claims (7)

  1. (a)ポジティブフォトレジスト層(positive photoresist layer)に第1パターンが形成された第1マスクを積層する段階と、
    (b)前記第1マスクの上面を露光する段階と、
    (c)前記ポジティブフォトレジスト層を現像して凹状を形成する段階と、
    (d)前記凹状に対応した凸状が形成されるようにモールディング(molding)する段階と
    を含むことを特徴とする大面積スタンパーの製造方法。
  2. 前記段階(b)と段階(c)との間に、
    (b1)前記ポジティブフォトレジスト層に第2パターンが形成された第2マスクを積層する段階と、
    (b2)前記第2マスクの上面を露光する段階と、
    (b3)前記第2マスクを除去する段階と
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の大面積スタンパーの製造方法。
  3. 前記第1パターンの開口部より前記第2パターンの開口部のほうが小さいことを特徴とする請求項2に記載の大面積スタンパーの製造方法。
  4. 前記段階(b1)の以前に、
    前記第1マスクを除去する段階をさらに含むことを特徴とする請求項2または請求項3に記載の大面積スタンパーの製造方法。
  5. 前記段階(d)は、ニッケル電鋳メッキまたは高分子ポリマーのうちいずれか一つからなることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の大面積スタンパーの製造方法。
  6. 前記段階(c)と前記段階(d)との間に、
    前記ポジティブフォトレジスト層を硬化させる段階をさらに含むことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の大面積スタンパーの製造方法。
  7. 前記段階(d)の後に、
    (e)前記ポジティブフォトレジスト層を除去する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の大面積スタンパーの製造方法。
JP2007219965A 2006-08-31 2007-08-27 大面積スタンパーの製造方法 Pending JP2008055907A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060083311A KR100803749B1 (ko) 2006-08-31 2006-08-31 대면적 스템퍼 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008055907A true JP2008055907A (ja) 2008-03-13

Family

ID=39152081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007219965A Pending JP2008055907A (ja) 2006-08-31 2007-08-27 大面積スタンパーの製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20080057444A1 (ja)
JP (1) JP2008055907A (ja)
KR (1) KR100803749B1 (ja)
CN (1) CN101135841A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102157961B1 (ko) * 2019-04-29 2020-09-18 연세대학교 산학협력단 컬러 필터를 위한 멀티 도메인 나노 패턴 형성 장치 및 방법

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100811768B1 (ko) * 2007-04-23 2008-03-07 삼성전기주식회사 인쇄회로기판의 제조방법
GB2468635B (en) * 2009-02-05 2014-05-14 Api Group Plc Production of a surface relief on a substrate
KR101302402B1 (ko) * 2011-02-01 2013-09-02 레이젠 주식회사 도광판 제조용 스탬퍼 및 이의 제조 방법
CN104321034B (zh) * 2013-01-11 2018-01-30 Bvw控股公司 可植入的超疏水表面
KR20150095971A (ko) * 2014-02-12 2015-08-24 삼성디스플레이 주식회사 마스터 몰드, 임프린트 몰드 및 임프린트 몰드를 이용하여 표시장치를 제조하는 방법
WO2019185110A1 (en) * 2018-03-26 2019-10-03 Applied Materials, Inc. Method for producing a multilevel imprint master, multilevel imprint master, and use of a multilevel imprint master
KR102201705B1 (ko) * 2019-10-31 2021-01-12 (주)영진아스텍 복수의 프로브 팁이 브릿지로 연결된 프로브 팁 모듈의 제조방법

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02210632A (ja) * 1989-02-09 1990-08-22 Toppan Printing Co Ltd 光カード用スタンパの製造方法
JPH09222514A (ja) * 1995-06-16 1997-08-26 Kuraray Co Ltd 導光体の製造方法
JP2001033634A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Nippon Columbia Co Ltd スタンパの製造方法
JP2001347529A (ja) * 2000-06-06 2001-12-18 Mitsui Chemicals Inc 配線基板製造用スタンパ及びスタンパの製造方法
JP2003071849A (ja) * 2001-08-30 2003-03-12 Columbia Music Entertainment Inc スタンパ製造方法
JP2003266486A (ja) * 2002-03-18 2003-09-24 Sumitomo Chem Co Ltd 光学パネル成形用型並びにその製造及び使用

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0298848A (ja) * 1988-10-04 1990-04-11 Fuji Photo Film Co Ltd 情報記録媒体の製造方法
JP2003209049A (ja) 2002-01-17 2003-07-25 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法及び製造用マスクセット
JP2004218034A (ja) 2003-01-17 2004-08-05 Toppan Printing Co Ltd メタルマスクの製造方法およびメタルマスク
JP3990307B2 (ja) * 2003-03-24 2007-10-10 株式会社クラレ 樹脂成形品の製造方法、金属構造体の製造方法、チップ
US20050064346A1 (en) * 2003-09-19 2005-03-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for forming resist pattern, method for manufacturing master information carrier, magnetic recording medium, and magnetic recording/reproducing apparatus, and magnetic recording/reproducing apparatus
JP2005272912A (ja) 2004-03-24 2005-10-06 ▲ぎょく▼徳科技股▲ふん▼有限公司 ハーフトーン技術で導光板のスタンパーを製作する方法
KR100674207B1 (ko) * 2004-08-31 2007-01-24 주식회사 나모텍 도광판용 스템퍼 제조방법
JP4852848B2 (ja) 2005-01-12 2012-01-11 大日本印刷株式会社 スペーサ形成方法とこれに用いられる露光用マスク

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02210632A (ja) * 1989-02-09 1990-08-22 Toppan Printing Co Ltd 光カード用スタンパの製造方法
JPH09222514A (ja) * 1995-06-16 1997-08-26 Kuraray Co Ltd 導光体の製造方法
JP2001033634A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Nippon Columbia Co Ltd スタンパの製造方法
JP2001347529A (ja) * 2000-06-06 2001-12-18 Mitsui Chemicals Inc 配線基板製造用スタンパ及びスタンパの製造方法
JP2003071849A (ja) * 2001-08-30 2003-03-12 Columbia Music Entertainment Inc スタンパ製造方法
JP2003266486A (ja) * 2002-03-18 2003-09-24 Sumitomo Chem Co Ltd 光学パネル成形用型並びにその製造及び使用

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102157961B1 (ko) * 2019-04-29 2020-09-18 연세대학교 산학협력단 컬러 필터를 위한 멀티 도메인 나노 패턴 형성 장치 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN101135841A (zh) 2008-03-05
US20080057444A1 (en) 2008-03-06
KR100803749B1 (ko) 2008-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100746360B1 (ko) 스템퍼 제조방법
JP2008055907A (ja) 大面積スタンパーの製造方法
JP4407770B2 (ja) パターン形成方法
US20120138336A1 (en) Printed circuit board and method of manufacturing the same
CN101520600B (zh) 基于x射线曝光技术制作透光纳米压印模板的方法
JP2007051336A (ja) 金属板パターン及び回路基板の形成方法
JP5359430B2 (ja) パターン形成方法、インプリントモールド及びフォトマスク
JP4998168B2 (ja) インプリントモールド製造方法
JP5813607B2 (ja) パターン形成方法及びリソグラフィ原版の製造方法
KR100930177B1 (ko) 나노 임프린트용 스탬프 제조 방법
JP2008015462A (ja) モールドの製造方法。
JP2007258419A (ja) インプリント用モールドの製造方法
US10813223B2 (en) Piezochromic stamp
JP2007210275A (ja) インプリント用モールド
JP2012005939A (ja) パターン形成方法
US20130082029A1 (en) Stamper, imprint device, product processed by imprint device, device for manufacturing product processed by imprint device, and method for manufacturing product processed by imprint device
KR20110078794A (ko) 반도체의 컨택트홀 마스크 설계 방법
JP4647542B2 (ja) 微細パターンの形成方法
JP6015140B2 (ja) ナノインプリントモールドおよびその製造方法
JP4922376B2 (ja) テンプレートの製造方法及び半導体装置の製造方法
JP2010171109A (ja) インプリント用金型の原版及びインプリント用金型原版の製造方法
JP2011071383A (ja) パターン形成方法、パターン形成体
JP5186663B2 (ja) 微細構造の製造方法および回路基盤の製造方法
KR100836633B1 (ko) 스템퍼 제조방법
TW450863B (en) Method for producing high precision tiny component with energy beam

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100105

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100601