JP2008046314A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008046314A5 JP2008046314A5 JP2006221182A JP2006221182A JP2008046314A5 JP 2008046314 A5 JP2008046314 A5 JP 2008046314A5 JP 2006221182 A JP2006221182 A JP 2006221182A JP 2006221182 A JP2006221182 A JP 2006221182A JP 2008046314 A5 JP2008046314 A5 JP 2008046314A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- projection
- light
- unit
- reflected
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 18
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
Images
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006221182A JP4872525B2 (ja) | 2006-08-14 | 2006-08-14 | プロジェクタ、プロジェクタの距離計測方法、プロジェクタの投影面傾き取得方法及びプログラム |
| US11/891,564 US7667825B2 (en) | 2006-08-14 | 2007-08-10 | Projector, method of measuring distance to the projector, and method and program for acquiring inclination angles of projection screen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006221182A JP4872525B2 (ja) | 2006-08-14 | 2006-08-14 | プロジェクタ、プロジェクタの距離計測方法、プロジェクタの投影面傾き取得方法及びプログラム |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008046314A JP2008046314A (ja) | 2008-02-28 |
| JP2008046314A5 true JP2008046314A5 (enExample) | 2009-09-24 |
| JP4872525B2 JP4872525B2 (ja) | 2012-02-08 |
Family
ID=39050399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006221182A Expired - Fee Related JP4872525B2 (ja) | 2006-08-14 | 2006-08-14 | プロジェクタ、プロジェクタの距離計測方法、プロジェクタの投影面傾き取得方法及びプログラム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7667825B2 (enExample) |
| JP (1) | JP4872525B2 (enExample) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010085133A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Casio Computer Co Ltd | 距離測定装置、距離測定方法及び投影装置 |
| JP6011157B2 (ja) * | 2011-09-05 | 2016-10-19 | 株式会社リコー | 投影システム、投影装置、センサ装置、発電制御方法及び発電制御プログラム |
| JP6098386B2 (ja) | 2013-06-18 | 2017-03-22 | 船井電機株式会社 | プロジェクタ |
| WO2018167999A1 (ja) * | 2017-03-17 | 2018-09-20 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | プロジェクタ及びプロジェクタシステム |
| JP7008244B2 (ja) | 2017-07-11 | 2022-01-25 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 投写型映像表示装置 |
| CN108762483B (zh) * | 2018-04-16 | 2021-02-09 | 广景视睿科技(深圳)有限公司 | 一种互动投影仪及互动投影方法 |
| DE102019003049B4 (de) * | 2019-04-27 | 2021-04-29 | Tarsier Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen von Objekten |
| US20230418145A1 (en) | 2020-11-25 | 2023-12-28 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Projection device |
| CN120188473A (zh) * | 2022-11-11 | 2025-06-20 | 三星电子株式会社 | 电子设备及控制电子设备的方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0728166A (ja) * | 1993-07-14 | 1995-01-31 | Mitsubishi Electric Corp | ビデオプロジェクター装置 |
| US7194112B2 (en) * | 2001-03-12 | 2007-03-20 | Eastman Kodak Company | Three dimensional spatial panorama formation with a range imaging system |
| JP4810763B2 (ja) * | 2001-06-20 | 2011-11-09 | 株式会社デンソー | 距離測定装置 |
| JP2005006228A (ja) * | 2003-06-13 | 2005-01-06 | Casio Comput Co Ltd | プロジェクタ |
| JP2005024523A (ja) * | 2003-07-04 | 2005-01-27 | Nec Viewtechnology Ltd | 距離計測装置および該装置を有するプロジェクタ |
| JP4155890B2 (ja) * | 2003-07-15 | 2008-09-24 | カシオ計算機株式会社 | プロジェクタ、プロジェクタの傾斜角度取得方法及び投影像補正方法 |
| JP3757224B2 (ja) * | 2003-09-03 | 2006-03-22 | Necビューテクノロジー株式会社 | 傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ |
| JP3761550B2 (ja) * | 2003-09-24 | 2006-03-29 | Necビューテクノロジー株式会社 | 反射光強度測定機構を有するプロジェクタ |
| JP4725021B2 (ja) * | 2004-02-13 | 2011-07-13 | カシオ計算機株式会社 | 投影装置、投影装置の光源制御方法 |
| JP2005233880A (ja) | 2004-02-23 | 2005-09-02 | Casio Comput Co Ltd | 距離測定装置、投影装置、距離測定方法及びプログラム |
| JP2005331585A (ja) * | 2004-05-18 | 2005-12-02 | Nec Viewtechnology Ltd | 距離傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ |
-
2006
- 2006-08-14 JP JP2006221182A patent/JP4872525B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-08-10 US US11/891,564 patent/US7667825B2/en active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN104285160B (zh) | 包括干涉仪和绝对距离测量单元的激光跟踪器和用于激光跟踪器的校准方法 | |
| US9146096B2 (en) | Form measuring apparatus, structure manufacturing system, scanning apparatus, method for measuring form, method for manufacturing structure, and non-transitory computer readable medium storing program for measuring form | |
| JP6061616B2 (ja) | 測定装置及びその制御方法、プログラム | |
| CA2746191C (en) | Device and method for the three-dimensional optical measurement of strongly reflective or transparent objects | |
| US9131219B2 (en) | Method and apparatus for triangulation-based 3D optical profilometry | |
| US9513114B2 (en) | Measuring device, measuring method, and computer program product | |
| WO2008120457A1 (ja) | 非静止物体の三次元画像計測装置、三次元画像計測方法および三次元画像計測プログラム | |
| WO2013129387A1 (ja) | 距離計測装置及び距離計測方法 | |
| US10121246B2 (en) | Measurement apparatus that obtains information of a shape of a surface using a corrected image and measurement method | |
| CN104614925B (zh) | 投影装置与深度测量系统 | |
| US10223575B2 (en) | Measurement apparatus for measuring shape of object, system and method for producing article | |
| JP2017020874A (ja) | 被計測物の形状を計測する計測装置 | |
| JP2008046314A5 (enExample) | ||
| JP2020016577A (ja) | 光学系異常を検出する測距装置 | |
| JP2007121291A5 (enExample) | ||
| US20140009584A1 (en) | Device and method for the optical 3d measurement of surfaces | |
| JP2011002416A (ja) | 三次元形状測定装置 | |
| JP2011227372A5 (enExample) | ||
| WO2009035041A1 (ja) | 画像表示装置、画像表示方法、および方向算出プログラム | |
| JPWO2022153969A5 (enExample) | ||
| JPWO2018056195A1 (ja) | 投射システム、投射方法およびプログラム | |
| TWI435051B (zh) | 位置及深度之檢出裝置及其方法 | |
| JP4872525B2 (ja) | プロジェクタ、プロジェクタの距離計測方法、プロジェクタの投影面傾き取得方法及びプログラム | |
| JP5295900B2 (ja) | チルトセンサ | |
| JP2014035198A (ja) | 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラム |