WO2008120457A1 - 非静止物体の三次元画像計測装置、三次元画像計測方法および三次元画像計測プログラム - Google Patents
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Abstract
本発明の非静止物体の三次元画像計測装置は、計測対象物体Aにパターン光を投影するパターン投影機1と、パターン光が投影された計測対象物体Aを撮像して画像を撮像するカメラ2と、カメラ2により撮像した画像のデータを処理するデータ処理装置3とから構成され、パターン投影機1とカメラ2により、計測対象物体Aに全面投影用のパターンの光および強度変調パターン光を投影して画像を撮影し、撮影した全照明反射画像および反射パターン画像により計測対象物体Aの運動状態を推定し、全照明反射画像もしくは反射パターン画像を調節した上で、反射パターン画像の強度値を補正し、補正された反射パターン画像の強度値から投影パターン光を形成している個別パターン光の投影方向角を算出し、奥行き距離が算出されるので、精度の高い三次元情報を非接触で得ることができる。
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HK10105102.2A HK1139199A1 (en) | 2007-03-29 | 2010-05-24 | Three-dimensional image measurement apparatus, three-dimensional image measurement method, and three-dimensional image measurement program of non- static object |
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2381213A1 (de) * | 2010-04-21 | 2011-10-26 | Aktiebolaget SKF | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Lagerbauteils |
EP2568253A1 (en) * | 2010-05-07 | 2013-03-13 | Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd. | Structured-light measuring method and system |
US9441958B2 (en) | 2013-08-12 | 2016-09-13 | Ricoh Company, Ltd. | Device, method, and non-transitory computer-readable recording medium to calculate a parameter for calibration |
US9739603B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-08-22 | Ricoh Company, Ltd. | Calibration device, calibration method, and non-transitory computer-readable recording medium |
WO2019008330A1 (en) * | 2017-07-04 | 2019-01-10 | Optoscale As | MOTION COMPENSATION IN PHASE SHIFT STRUCTURED LIGHT LIGHT FOR MEASURING DIMENSIONS OF OBJECTS LIKELY TO MOVE FREELY |
CN112697258A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-04-23 | 天津大学 | 一种基于单帧编码照明的视觉振动测量方法 |
CN112955844A (zh) * | 2020-06-30 | 2021-06-11 | 深圳市大疆创新科技有限公司 | 目标跟踪方法、设备、系统及存储介质 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5224288B2 (ja) * | 2009-02-13 | 2013-07-03 | 学校法人福岡工業大学 | 表面検査装置および表面検査方法 |
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WO2012050107A1 (ja) * | 2010-10-12 | 2012-04-19 | グローリー株式会社 | 硬貨処理装置及び硬貨処理方法 |
CN102175172B (zh) * | 2010-12-30 | 2012-07-04 | 南京理工大学 | 一种基于图像识别的机动车辆外形尺寸检测系统 |
TW201315962A (zh) * | 2011-10-05 | 2013-04-16 | Au Optronics Corp | 投影式影像辨識裝置及其影像辨識方法 |
CN110440747B (zh) | 2013-04-08 | 2021-11-09 | 斯纳普公司 | 使用多个相机设备的距离评估 |
CN103246141B (zh) * | 2013-05-03 | 2015-03-04 | 苏州佳世达光电有限公司 | 光源校正系统 |
CN103241527B (zh) * | 2013-05-20 | 2016-04-20 | 无锡集聚智能纺织机械有限公司 | 自动理管装置 |
CN104183010A (zh) * | 2013-05-22 | 2014-12-03 | 上海迪谱工业检测技术有限公司 | 多视角三维在线重建的方法 |
FR3008522B1 (fr) * | 2013-07-15 | 2016-11-11 | European Aeronautic Defence & Space Co Eads France | Procede de mesure multi-echelles de forme, de deplacement et/ou de deformation d’une piece de structure soumise a des sollicitations par creation d’une pluralite de mouchetis colorimetriques |
JP7005175B2 (ja) * | 2017-05-30 | 2022-01-21 | キヤノン株式会社 | 距離測定装置、距離測定方法及び撮像装置 |
JP6970376B2 (ja) | 2017-12-01 | 2021-11-24 | オムロン株式会社 | 画像処理システム、及び画像処理方法 |
JP7121622B2 (ja) * | 2018-09-28 | 2022-08-18 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 錠剤印刷装置及び錠剤印刷方法 |
CN110553584A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-12-10 | 长春理工大学 | 一种小型复杂零件的测量工装、自动测量系统及测量方法 |
TWI795111B (zh) * | 2021-12-06 | 2023-03-01 | 財團法人金屬工業研究發展中心 | 交錯光源取像系統 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03289505A (ja) * | 1990-04-06 | 1991-12-19 | Nippondenso Co Ltd | 3次元形状測定装置 |
JP2003504947A (ja) * | 1999-07-09 | 2003-02-04 | ヒューレット・パッカード・カンパニー | 文書撮像システム |
JP2003083730A (ja) * | 2001-06-26 | 2003-03-19 | Olympus Optical Co Ltd | 3次元情報取得装置、3次元情報取得における投影パターン、及び、3次元情報取得方法 |
JP2004077290A (ja) * | 2002-08-19 | 2004-03-11 | Fuji Xerox Co Ltd | 3次元形状計測装置および方法 |
JP2006145405A (ja) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Fukuoka Institute Of Technology | 三次元計測装置および三次元計測方法並びに三次元計測プログラム |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1176351C (zh) * | 2002-10-09 | 2004-11-17 | 天津大学 | 动态多分辨率的三维数字成像的方法及装置 |
-
2007
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-
2010
- 2010-05-24 HK HK10105102.2A patent/HK1139199A1/xx unknown
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03289505A (ja) * | 1990-04-06 | 1991-12-19 | Nippondenso Co Ltd | 3次元形状測定装置 |
JP2003504947A (ja) * | 1999-07-09 | 2003-02-04 | ヒューレット・パッカード・カンパニー | 文書撮像システム |
JP2003083730A (ja) * | 2001-06-26 | 2003-03-19 | Olympus Optical Co Ltd | 3次元情報取得装置、3次元情報取得における投影パターン、及び、3次元情報取得方法 |
JP2004077290A (ja) * | 2002-08-19 | 2004-03-11 | Fuji Xerox Co Ltd | 3次元形状計測装置および方法 |
JP2006145405A (ja) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Fukuoka Institute Of Technology | 三次元計測装置および三次元計測方法並びに三次元計測プログラム |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2381213A1 (de) * | 2010-04-21 | 2011-10-26 | Aktiebolaget SKF | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Lagerbauteils |
EP2568253A1 (en) * | 2010-05-07 | 2013-03-13 | Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd. | Structured-light measuring method and system |
JP2013525821A (ja) * | 2010-05-07 | 2013-06-20 | 深▲せん▼泰山在線科技有限公司 | 構造化光測定方法及びシステム |
EP2568253A4 (en) * | 2010-05-07 | 2013-10-02 | Shenzhen Taishan Online Tech | METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING STRUCTURED LIGHT |
US9739603B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-08-22 | Ricoh Company, Ltd. | Calibration device, calibration method, and non-transitory computer-readable recording medium |
US9441958B2 (en) | 2013-08-12 | 2016-09-13 | Ricoh Company, Ltd. | Device, method, and non-transitory computer-readable recording medium to calculate a parameter for calibration |
WO2019008330A1 (en) * | 2017-07-04 | 2019-01-10 | Optoscale As | MOTION COMPENSATION IN PHASE SHIFT STRUCTURED LIGHT LIGHT FOR MEASURING DIMENSIONS OF OBJECTS LIKELY TO MOVE FREELY |
CN112955844A (zh) * | 2020-06-30 | 2021-06-11 | 深圳市大疆创新科技有限公司 | 目标跟踪方法、设备、系统及存储介质 |
CN112697258A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-04-23 | 天津大学 | 一种基于单帧编码照明的视觉振动测量方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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