JP2008028216A - 光電変換装置 - Google Patents

光電変換装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008028216A
JP2008028216A JP2006200326A JP2006200326A JP2008028216A JP 2008028216 A JP2008028216 A JP 2008028216A JP 2006200326 A JP2006200326 A JP 2006200326A JP 2006200326 A JP2006200326 A JP 2006200326A JP 2008028216 A JP2008028216 A JP 2008028216A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
adhesive
light
conversion element
cover glass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006200326A
Other languages
English (en)
Inventor
Junya Koyashiki
純也 古屋敷
Shinichi Kamimura
真一 上村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2006200326A priority Critical patent/JP2008028216A/ja
Publication of JP2008028216A publication Critical patent/JP2008028216A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85909Post-treatment of the connector or wire bonding area
    • H01L2224/8592Applying permanent coating, e.g. protective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • H01L2924/1815Shape

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

【課題】接着剤で受光部の受光を阻害することなく、光透過部材を確実に光電変換素子に貼り付けることで、信頼性を確保することが可能な光電変換装置を提供する。
【解決手段】光源からの光を受光して電気信号を出力する光電変換素子11と、光電変換素子11の受光部11aを覆うように形成され、光電変換素子11の表面に接着剤14で接着されたカバーガラス13と、光電変換素子11の表面に形成され、カバーガラス13を光電変換素子11の表面に接着剤14を接着面に塗布して接着するときに、カバーガラス13の接着面から外側に押し流された接着剤14を堰き止めるために、カバーガラス13の周囲に沿って、その周囲を囲うように形成されたポリイミド層15とを備えた。
【選択図】図1

Description

本発明は、光を電気信号に変換する光電変換装置に関する。
従来の光電変換装置として、特許文献1に記載されたものがある。この特許文献1に記載の光電変換装置は、硬質基板上に、光電変換素子であるセンサチップがろう付けされ、センサチップ上にはフォトダイオードアレイが受光部として設けられ、その上を覆うようにガラスが光学的窓部材として配置され、ガラス上面を除く、センサチップの周辺部を透明樹脂部材により覆い、さらに遮光用の塗料を混ぜた樹脂部材を塗布したものである。
特開平7−226524号公報
特許文献1に記載の光電変換装置では、ガラス上を除くセンサチップの周辺部を透明樹脂部材により覆うことでガラスを固定している。透明樹脂部材でセンサチップの周辺部を覆うことでガラスを固定することはできるが、透明樹脂部材で覆う際にガラスが移動するおそれがあるので、予めガラスをセンサチップに接着剤で貼り付けているものと思われる。
接着剤でガラスをセンサチップに貼り付けるときには、接着剤の量として、ガラスの接着面に付着する量だけでなく、ガラスをセンサチップに押しつけることでガラスの周囲に押し流されてしまう量までも考慮して決定する必要がある。従って、接着剤の量が少ないとガラスを押しつけてセンサチップに貼り付けるときに周囲に押し流されてしまってガラスの接着面への塗布量が不足してしまい接着力が弱い状態になるおそれがある。また接着剤の量が多いと接着面への塗布量は十分であるが、ガラスとセンサチップとの間を広がって受光部の上面まで達するおそれがある。
受光部に接着剤が付着すると、接着剤が受光を阻害するので受光量が減少して受光感度が低下する。そうなると受光部に接着剤が付着しているものと、いないものとでは受光感度が異なり光電変換装置でばらつきが発生するので信頼性の低いものとなってしまう。
そこで本発明は、接着剤で受光部の受光を阻害することなく、光透過部材を確実に光電変換素子に貼り付けることで、信頼性を確保することが可能な光電変換装置を提供することを目的とする。
本発明の発光装置は、光源からの光を受光して電気信号を出力する光電変換素子と、前記光電変換素子の受光部を覆うように形成され、前記光電変換素子の表面に接着剤で接着された光透過部材と、前記光電変換素子の表面に形成され、前記光透過部材を前記光電変換素子の表面に接着剤を接着面に塗布して接着するときに、前記光透過部材の接着面から外側に押し流された接着剤を堰き止める堰部とを備えたことを特徴とする。
本発明の光電変換装置は、堰部を設けているので、光透過部材を光電変換素子に接着するときに、接着剤の流出がなく、少量塗布しても接着強度が安定する。また接着剤が少量で済むので、光透過部材を押しつけても光電変換素子の受光部まで接着剤が到達してしまうことが防止できる。従って、それぞれの光電変換装置でばらつきの発生を防止することができ、接着剤の塗布量は必要最小限で接着強度を確保することができる。よって、高い信頼性を確保することが可能である。
本願の第1の発明は、光源からの光を受光して電気信号を出力する光電変換素子と、光電変換素子の受光部を覆うように接着剤で接着された光透過部材と、光透過部材を接着剤で接着するときに、光透過部材の接着面から外側に押し流された接着剤を堰き止める堰部とを備えたことを特徴としたものである。
光透過部材を接着剤で光電変換素子に押し付けて貼り付ける際に、接着剤が光透過部材の周囲に押し流されても堰部が設けられていることで、この堰部が押し流された接着剤を堰き止めるので、接着剤の量を多くしなくても確実に光透過部材を光電変換素子に接着することができる。従って、接着剤の量を多くしなくてもよいので、光透過部材を押しつけても光電変換素子の受光部まで接着剤が到達しない。つまりそれぞれの光電変換装置で接着強度や接着精度のばらつきの発生を防止することができる。
本願の第2の発明は、堰部は、光透過部材の周囲に沿って囲うように形成されていることを特徴としたものである。
堰部を光透過部材の周囲に沿って囲うように形成することで、確実に接着剤の流出を堰き止めるだけでなく、光透過部材を光電変換素子に接着するときの位置合わせ部材としても機能させることができる。
本願の第3の発明は、堰部は、光透過部材が上面に配置され、受光部への光入射を阻害しないように開口が設けられた第1平面部と、第1平面部より厚みが厚く形成され、光透過部材の周囲に沿って囲うように形成された第2平面部との厚みの違いで形成された壁面であることを特徴したものである。
光透過部材を光電変換素子の表面に直接配置すると、接着の際に光電変換素子の表面に傷が付いたり、光透過部材を押圧する応力で光透過部材が割れたりするおそれがある。従って、光透過部材を上面に配置する第1平面部を設けることで、光電変換素子の表面への傷の発生や、光透過部材の割れを防止することができる。
本願の第4の発明は、堰部は、樹脂層であることを特徴としたものである。
堰部を樹脂層とすることで、樹脂を積層して容易に所望とする形状の堰部を形成することができる。
本願の第5の発明は、樹脂層は、ポリイミドで形成されていることを特徴としたものである。
樹脂層をポリイミドで形成することで、光電変換素子の表面を機械的、または化学的に保護するパッシベーション膜としても機能させることができる。
(実施の形態1)
本発明の実施の形態1に係る発光装置を図1および図2に基づいて説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る光電変換装置の斜視図である。図2は、図1に示す光電変換装置の断面図である。
図1および図2に示すように本発明の実施の形態1に係る光電変換装置1は、カメラ、CD(Compact Disc)ドライブ、DVD(Digital Versatile Disk)ドライブのセンサなどに用いられるフォトIC(Integrated Circuit)である。
この光電変換装置1は、平面視して矩形状に形成された絶縁基板10に搭載された光電変換素子11を備えている。この光電変換素子11は、光源からの光を受光部11aで受光し、受光した光の強度に応じた電気信号を端子11bへ出力する機能を備えている。
光電変換素子11に設けられた端子11bは、絶縁基板10に形成された配線パターンとワイヤ12で接続されている。
受光部11aには光透過部材であるカバーガラス13が受光部11aを覆うように設けられている。カバーガラス13は、上面が主受光面13aとなる第1カバーガラス部131と、周囲に平面部13bを確保するように第1カバーガラス部131より大きく形成された第2カバーガラス部132とを有するように形成されている。第1カバーガラス部131と、第2カバーガラス部132とは、平面視して矩形状に形成されている。本実施の形態1では、カバーガラス13としてガラスで形成されているが、アクリルやポリカーボネートなどの樹脂素材で形成されていてもよい。このカバーガラス13は、4つの角部13cに塗布された接着剤14により光電変換素子11に接着されている。
接着剤14としては光電変換素子11とカバーガラス13とが接着できれば様々な材質のものが採用できる。しかし、接着剤14は、光電変換素子11とカバーガラス13とを接着するときに、不慮で受光部11aに付着してしまっても受光量の低減を最小限とするために光透過率が高い接着剤を採用するのが望ましい。例えば接着剤14としてシリコーンで形成されたものが採用できる。
光電変換素子11の表面には、堰部として機能させるためにカバーガラス13の周囲に沿って、その周囲を囲うように矩形状の開口部が設けられ、厚みが3〜100μmの樹脂層であるポリイミド層15が形成されている。本実施の形態1では、樹脂層としてポリイミドを採用しているが、ポリベンゾオキサゾール(PBO)、シリコーン系樹脂なども使用することができる。このポリベンゾオキサゾール(PBO)、シリコーン系樹脂であれば、ポリイミドと同様に、光電変換素子11の表面を保護するパッシベーション膜としても機能するので望ましい。
光電変換素子11およびワイヤ12を保護するためにカバーガラス13の平面部13bの一部を含むカバーガラス13の周囲に、光電変換素子11を包むように樹脂封止部16が形成されている。なお図1においては便宜上、樹脂封止部16は図示していない。この樹脂封止部16は、エポキシ系樹脂などが採用できる。
以上のように構成される本発明の実施の形態1に係る光電変換装置1の製造方法について、図3から図6に基づいて説明する。図3はダイボンド工程を示す図であり、(A)は断面図、(B)は平面図である。図4は、ワイヤボンディング工程を示す図であり、(A)は断面図、(B)は平面図である。図5は、カバーガラス搭載工程を示す図であり、(A)は断面図、(B)は平面図である。図6は、封止樹脂部形成工程を示す図であり、(A)は断面図、(B)は平面図である。
図3(A)および同図(B)に示すように、カバーガラス13を搭載する領域S1と、光電変換素子11の端子11bとを除く領域に、ポリイミド層15を形成した光電変換素子11を準備する。カバーガラス13を搭載する領域S1を除いてポリイミド層15を形成することで、カバーガラス13の周囲に沿って囲うように堰部を形成することができる。ポリイミド層15は、印刷法またはフォトエッチング法で形成することができる。しかし、カバーガラス13を搭載する領域や、端子11bを除いて、精度よくポリイミド層15を形成するには、フォトエッチング法で形成するのが望ましい。
次に、ポリイミド層形成工程が完了した光電変換素子11を、絶縁基板10の所定の位置に搭載するダイボンド工程を行う。
図4(A)および同図(B)に示すように、光電変換素子11の端子11bと、絶縁基板10に形成された配線パターンとをワイヤ12で接続するワイヤボンディング工程を行う。
図5(A)および同図(B)に示すように、ワイヤボンディング工程が完了すると次に、カバーガラス13を搭載するカバーガラス搭載工程を行う。カバーガラス搭載工程は、まず、カバーガラス13を搭載したときにカバーガラス13の角部13cに位置する2ヵ所または4ヵ所の光電変換素子11の表面に接着剤14を塗布してからカバーガラス13を搭載する。接着剤の塗布を2ヵ所とするときには、対角となる角部13cが位置する箇所に塗布するのが望ましい。また接着剤14の塗布は、カバーガラス13の角部13cに位置する4ヵ所のうち、いずれかの1ヵ所としてもよい。
そしてカバーガラス13をポリイミド層15の開口部に位置を合わせるように載置して押しつけて接着する。カバーガラス13を押しつけると、カバーガラス13の接着面と光電変換素子11の上面とが密着した状態となり、接着剤14がカバーガラス13と光電変換素子11との間を広がったり、カバーガラス13の周囲に広がったりする。しかし接着剤14は、ポリイミド層15の厚みによって形成される壁面に堰き止められ、カバーガラス13が搭載される領域S1より外側へは広がりにくい。従って、堰き止められた接着剤14は、カバーガラス13の第2カバーガラス部132の周囲壁面に付着して、より強固に光電変換素子11にカバーガラス13を接着するので、カバーガラス13を光電変換素子11に接着する接着剤14の量を多くする必要がない。少ない量の接着剤14でカバーガラス13を光電変換素子11に接着することができるので、カバーガラス13を押しつけたときに、接着剤14がカバーガラス13と光電変換素子11との間を広がって、受光部11aまで到達する心配がない。従って、接着剤14が付着することで受光部11aの受光を阻害することがないので、光電変換装置1を作製する際にばらつきを抑制することができる。よって高い信頼性を確保することができる。
また、ポリイミド層15は、カバーガラス13の周囲に沿って囲うように形成されているので、接着剤14の流出を堰き止めるだけでなく、カバーガラス13を光電変換素子11に接着するときの位置合わせ部材としても機能させることができる。従って、正確にカバーガラス13を光電変換素子11に搭載することができる。またポリイミド層15を、光電変換素子11を保護するパッシベーション膜としても機能させることができる。
図6(A)および同図(B)に示すように、カバーガラス搭載工程が完了すると、次に封止樹脂部形成工程を行う。封止樹脂部形成工程は、光電変換素子11およびワイヤ12を保護するために樹脂封止部16を形成する工程である。本実施の形態1ではポッティングにて形成する。樹脂封止部16は、カバーガラス13の平面部13bの一部を含むカバーガラス13の周囲に光電変換素子11を包むように形成されているが、ポッティングで樹脂封止部16を形成しても、第1カバーガラス部131の主受光面13aと第2カバーガラス部132の平面部13bとで段差があるため、平面部13bに樹脂が流れても主受光面13aにまで樹脂が達してしまうことが防止できる。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2に係る光電変換装置を、図7および図8に基づいて説明する。図7は、本発明の実施の形態2に係る光電変換装置を示す斜視図であり、カバーガラスを搭載した光電変換素子の一部を切り欠いた図である。図8は、図7に示す光電変換装置の断面図である。なお図7においては便宜上、樹脂封止部16は図示していない。また図7および図8について、図1および図2と同じ構成のものは同符号を付して説明を省略する。
本実施の形態2に係る光電変換装置20は、ポリイミド層21として、カバーガラス13が上面に配置され、受光部11aへの光入射を阻害しないように開口が設けられた第1平面部21aと、第1平面部21aより厚みが厚く形成され、カバーガラス13の周囲に沿って囲うように形成された第2平面部21bとが形成されたものを採用している。
カバーガラス13を上面に配置する第1平面部21aを設けることで、湿気や塵埃などの外部環境から光電変換素子11を保護すると共に、樹脂封止の際の熱応力から光電変換素子11を保護することができるので、光電変換素子11表面を機械的、化学的に保護することができる。従って、ポリイミド層21をパッシベーション膜として機能させることができる。また、ポリイミド層21の第1平面部21aがクッションとして作用するので、カバーガラス13を接着剤で接着するときの押圧力が加わっても、カバーガラス13の割れや傷の発生を防止することができる。
第1平面部21aと、第1平面部21aより厚みが厚く形成された第2平面部との厚みの違いにより形成された壁面21cが、実施の形態1と同様にカバーガラス13の周囲に形成されているので、カバーガラス13を接着する際には、接着剤14がこの壁面21cにより堰き止められる。従って、堰き止められた接着剤14は、カバーガラス13の第2カバーガラス部132の周囲壁面に付着して、より強固に第1平面部21aにカバーガラス13を接着させることができる。
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではない。例えば、本実施の形態では、ポリイミド層15,21をカバーガラス13の周囲全体を囲うようにして堰部を形成しているが、カバーガラス13を接着するときに流出する接着剤14が堰き止められれば、接着剤14が塗布された角部のみにL字状のポリイミド層を形成してもよい。
本発明は、接着剤で受光部の受光を阻害することなく、光透過部材を確実に光電変換素子に貼り付けることで、信頼性を確保することが可能なので、光を電気信号に変換する光電変換装置に好適である。
本発明の実施の形態1に係る光電変換装置の斜視図 図1に示す光電変換装置の断面図 ダイボンド工程を示す図であり、(A)は断面図、(B)は平面図 ワイヤボンディング工程を示す図であり、(A)は断面図、(B)は平面図 カバーガラス搭載工程を示す図であり、(A)は断面図、(B)は平面図 封止樹脂部形成工程を示す図であり、(A)は断面図、(B)は平面図 本発明の実施の形態2に係る光電変換装置を示す斜視図であり、カバーガラスを搭載した光電変換素子の一部を切り欠いた図 図7に示す光電変換装置の断面図
符号の説明
1 光電変換装置
10 絶縁基板
11 光電変換素子
11a 受光部
11b 端子
12 ワイヤ
13 カバーガラス
13a 主受光面
13b 平面部
13c 角部
131 第1カバーガラス部
132 第2カバーガラス部
14 接着剤
15 ポリイミド層
16 樹脂封止部
20 光電変換装置
21 ポリイミド層
21a 第1平面部
21b 第2平面部
21c 壁面

Claims (5)

  1. 光源からの光を受光して電気信号を出力する光電変換素子と、
    前記光電変換素子の受光部を覆うように接着剤で接着された光透過部材と、
    前記光透過部材を接着剤で接着するときに、前記光透過部材の接着面から外側に押し流された接着剤を堰き止める堰部とを備えたことを特徴とする光電変換装置。
  2. 前記堰部は、前記光透過部材の周囲に沿って囲うように形成されていることを特徴とする請求項1記載の光電変換装置。
  3. 前記堰部は、前記光透過部材が上面に配置され、前記受光部への光入射を阻害しないように開口が設けられた第1平面部と、前記第1平面部より厚みが厚く形成され、前記光透過部材の周囲に沿って囲うように形成された第2平面部との厚みの違いで形成された壁面であることを特徴する請求項1または2記載の光電変換装置。
  4. 前記堰部は、樹脂層であることを特徴とする請求項1または2記載の光電変換装置。
  5. 前記樹脂層は、ポリイミドで形成されていることを特徴とする請求項4記載の光電変換装置。
JP2006200326A 2006-07-24 2006-07-24 光電変換装置 Pending JP2008028216A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006200326A JP2008028216A (ja) 2006-07-24 2006-07-24 光電変換装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006200326A JP2008028216A (ja) 2006-07-24 2006-07-24 光電変換装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008028216A true JP2008028216A (ja) 2008-02-07

Family

ID=39118533

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006200326A Pending JP2008028216A (ja) 2006-07-24 2006-07-24 光電変換装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008028216A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090103736A (ko) * 2008-03-27 2009-10-01 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 반도체 장치의 제조 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5851454U (ja) * 1981-09-30 1983-04-07 新光電気工業株式会社 半導体装置
JPH0575935A (ja) * 1991-09-17 1993-03-26 Toshiba Corp Ccdモジユール
JP2003303947A (ja) * 2002-04-12 2003-10-24 Sony Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2005086100A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 Fuji Photo Film Co Ltd 固体撮像装置
JP2005286284A (ja) * 2004-02-03 2005-10-13 Sony Chem Corp 機能素子実装モジュール並びに光機能素子実装モジュール及びその製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5851454U (ja) * 1981-09-30 1983-04-07 新光電気工業株式会社 半導体装置
JPH0575935A (ja) * 1991-09-17 1993-03-26 Toshiba Corp Ccdモジユール
JP2003303947A (ja) * 2002-04-12 2003-10-24 Sony Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2005086100A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 Fuji Photo Film Co Ltd 固体撮像装置
JP2005286284A (ja) * 2004-02-03 2005-10-13 Sony Chem Corp 機能素子実装モジュール並びに光機能素子実装モジュール及びその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090103736A (ko) * 2008-03-27 2009-10-01 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
JP2009260323A (ja) * 2008-03-27 2009-11-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及び半導体装置の作製方法
KR101641368B1 (ko) 2008-03-27 2016-07-20 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 반도체 장치의 제조 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100575094B1 (ko) 광학장치용 모듈 및 그 제조방법
US6774481B2 (en) Solid-state image pickup device
KR100755165B1 (ko) 반도체 장치, 광학 장치용 모듈 및 반도체 장치의 제조 방법
CN101241921B (zh) 光学器件及其制造方法、以及摄像模块和内窥镜模块
JP3936365B2 (ja) 機能素子実装モジュール及びその製造方法
JP4236594B2 (ja) 光学装置用モジュール及び光学装置用モジュールの製造方法
US7893514B2 (en) Image sensor package, method of manufacturing the same, and image sensor module including the image sensor package
JP2001351997A (ja) 受光センサーの実装構造体およびその使用方法
JP2008092417A (ja) 半導体撮像素子およびその製造方法並びに半導体撮像装置および半導体撮像モジュール
JP2006228837A (ja) 半導体装置及びその製造方法
US20060121184A1 (en) Photocurable-resin application method and bonding method
JP4618639B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2017208468A (ja) 電子部品
JP2011187482A (ja) 固体撮像装置、光学装置用モジュール、及び固体撮像装置の製造方法
JP2002261260A (ja) 固体撮像装置
JP2008053546A (ja) 受光素子
JP2004193600A (ja) 半導体装置及びその製造方法、半導体装置用カバー並びに電子機器
JP2007123351A (ja) 固体撮像装置
JP2012033718A (ja) 半導体装置及びその製造方法
US9417344B1 (en) Glass cap wirebond protection for imaging tiles in an X or gamma ray indirect imaging detector
JP2005317878A (ja) フォトリフレクタ装置及びその製造方法
US20100181636A1 (en) Optical device, solid-state imaging device, and method of manufacturing optical device
JP2008028216A (ja) 光電変換装置
JP2009260260A (ja) 半導体装置およびその製造方法
TW201409672A (zh) 半導體器件

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090724

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20090817

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120221

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120619