JP2007304032A - 基板検査用治具及びこの治具における接続電極部の電極構造 - Google Patents

Abstract

【課題】 接触子と接続電極部との接触抵抗値を低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具の提供。
【解決手段】 被検査基板の電気的特性を検査するために、基板検査装置本体と被検査基板の配線パターンに設けられる複数の基板被検査点との間の電気的導通を得るための基板検査用治具であって、両端に電気的導通を図る端部を有し、一方の端部が基板被検査点の一つに圧接される導電性を有する接触子群と、接触子群を保持する接触子保持体と、接触子群の夫々の接触子の他方の端部と対向して配置された接続電極部を備える、基板検査装置本体に接続される接続電極体を有し、接触子群の他方の端部と接続電極体とを接続するに際して、夫々の他方の端部の近傍の側周面の少なくとも一部が、これに対向する接続電極部の一部と接触することにより電気的に導通状態となる。
【選択図】 図２

Description

本発明は、被検査基板を検査する場合に使用される基板検査用治具及び基板検査用治具における接続電極部の電極構造に関し、より詳しくは、基板検査用治具の接触子と基板検査用治具の電極部の接触抵抗を低減させる基板検査用治具の電極構造とこの電極構造を有する検査治具に関する。
尚、この発明は、プリント配線基板に限らず、例えば、フレキシブル基板、多層配線基板、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ用の電極板、及び半導体パッケージ用のパッケージ基板やフィルムキャリアなど種々の基板における電気的配線の検査に適用でき、この明細書では、それら種々の配線基板を総称して「基板」と称する。

従来、回路基板上に設けられる配線パターンは、その回路基板に搭載されるIC等の半導体や抵抗器などの電気・電子部品に電気信号を正確に伝達する必要があるため、電気・電子部品を実装する前のプリント配線基板、液晶パネルやプラズマディスプレイパネルに配線パターンが形成された回路配線基板、或いは、半導体ウェハ等の基板に形成された配線パターンに対して、検査対象となる配線パターンに設けられた検査点間の抵抗値を測定して、その良否が判定されていた。

このような判定検査には、配線パターンの断線及び短絡を検査する検査方法が実施されている。このような導通や短絡の検査では、検査対象となる配線パターンの２箇所に設けられる検査点に、夫々一つずつ測定端子を当接させ、その測定端子間に所定レベルの測定用電流を流すことによって、その測定端子間の電圧値を測定し、この電圧値と予め定められた閾値を比較することにより良否の判定が行われていた。

しかしながら、このような方法で使用される基板検査用治具では、配線パターンの２箇所の検査点それぞれに、一つずつ当接させた測定端子を測定用電流の供給と電圧の測定とに共用する場合には、測定端子と検査点との間の接触抵抗が測定電圧に影響を与え、抵抗値の測定精度が低下し、検査結果の信頼性が低下するという不都合があった。
特に、近年になって、回路基板上に設けられる配線パターンの微細化が進み、配線パターンの抵抗値が小さくなっており、上記の接触抵抗がこの測定値に及ぼす影響が大きな問題となっていた。

このような接触抵抗の問題を解決するために、特許文献２に開示されるような接触子が提案されている。この接触子は、測定対象の電極に対して略垂直に接触可能な略直線状の接触部を有しており、この接触部の長さ方向に沿って延びる一部が当該接触部の他の部分と異なる熱膨張率を有する材料で構成されている。このように構成されることによって、接触部がバイメタルとなっているので、所定の環境温度下で接触部を測定対象の電極に略垂直に接触させ、その状態でオーバードライブを行うと、当該測定対象の電極から伝わる環境温度の熱により当該接触部が小さい熱膨張率の素材で構成された部分に向けて湾曲することになる。

しかしながら、このような接触子を用いても、電極部に対して垂直に接触させることを可能とするのみであり、接触安定性という見地から勘案すると、十分な接触安定性を有して、接触抵抗値の低い接続を有しているとは言えなかった。

特開平６−６６８３２号公報 特開２００５−３４５１２９号公報

本発明は、このような実情に鑑みてなされたもので、基板検査用治具の接触子と基板検査用治具の電極部の接触抵抗を低減させる基板検査用治具の電極構造とこの電極構造を有する検査治具を提供する。

請求項１記載の発明は、被検査基板の電気的特性を検査するために、基板検査装置本体と該被検査基板の配線パターンに設けられる複数の基板被検査点との間の電気的導通を得るための基板検査用治具であって、前記基板検査用治具は、両端に電気的導通を図る端部を有し、一方の端部が前記基板被検査点の一つに圧接される導電性を有する棒状の接触子よりなる接触子群と、前記接触子群を保持する接触子保持体と、前記接触子群の夫々の接触子の他方の端部と対向して配置された接続電極部を備える、前記基板検査装置本体に接続される接続電極体を有し、前記接触子群の前記他方の端部と前記接続電極体とを接続するに際して、夫々の前記他方の端部の近傍の側周面の少なくとも一部が、これに対向する前記接続電極部の一部と接触することにより電気的に導通状態となることを特徴とする基板検査用治具を提供する。

請求項２記載の発明は、前記接続電極部は、これに対向する前記接触子の前記他方の端部を収容する構造を有し、且つ、前記接触子と前記接続電極部の導通状態は、少なくとも該接触子の他方の端部と該接続電極部の内部側表面の接触によることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具を提供する。

請求項３記載の発明は、前記接続電極部は、これらに対向する前記接触子の前記他方の端部の少なくとも一部を遊嵌することのできる形状であることを特徴とする請求項１又は２記載の基板検査用治具を提供する。

請求項４記載の発明は、前記接続電極部は、筒状に形成されていることを特徴とする請求項１乃至３いずれかに記載の基板検査用治具を提供する。

請求項５記載の発明は、前記接続電極部が、前記接触子の長軸に対して傾斜又は湾曲して形成されていることを特徴とする請求項１乃至４いずれかに記載の基板検査用治具を提供する。

請求項６記載の発明は、前記接続電極部は、前記接触子の入出方向と直角方向にスライドする滑走部を有することを特徴とする請求項１乃至５いずれかに記載の基板検査用治具を提供する。

請求項７記載の発明は、前記接触子の他方の端部は、該接触子の長軸に対して屈曲して形成されていることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具を提供する。

請求項８記載の発明は、前記接触子保持体は、前記接触子の一方の端部の近傍を保持する第一保持孔を有する第一保持部と、前記接触子の他方の端部の近傍を保持する第二保持孔を有する第二保持部を有し、前記第二保持部は、前記電極体と当接して配置されることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具を提供する。

請求項９記載の発明は、前記接触子保持体は、前記接触子の一方の端部の近傍を保持する第一保持孔を有する第一保持部と、前記接触子の他方の端部の近傍を保持する第二保持孔を有する第二保持部を有し、前記第二保持部は、前記電極体と所定間隔を有して配置されることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具を提供する。

請求項１０記載の発明は、前記接触子保持体は、前記接触子の他方が前記接続電極部に接触させる使用時において、該接触子が突出するように、該接触子の長軸方向に摺動する保護部を備えてなることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具を提供する。

請求項１１記載の発明は、前記他方の端部の近傍の範囲は、前記接続に際して、前記他方の端部の側周面が、少なくとも前記接続電極部に接触しうる範囲であることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具を提供する。

請求項１２記載の発明は、被検査基板の電気的特性を検査するために、基板検査装置本体と該被検査基板の配線パターンに設けられる複数の基板被検査点との間の電気的導通を得るために、一端が前記被検査点に導通接触を図るために圧接される接触子と、該接触子と導通接触して該基板検査装置本体と接続される接続電極体が有する、該接触子の他端と導通接触する接続電極部の電極構造であって、前記接続電極部は、前記接触子の他方の端部と該接続電極体とを接続するに際して、前記接触子の前記他方の端部の近傍の側周面の少なくとも一部が、これに対向する前記接続電極部の一部と接触することを特徴とする接続電極部の電極構造を提供する。
これらの発明を提供することによって、上記課題を悉く解決する。

請求項１記載の発明によれば、接触子群の他方の端部と接続電極体とを接続するに際して、接触子の他方の端部の近傍の側周面の少なくとも一部が、これに対向する接続電極部の一部と接触することにより電気的に導通状態となるので、接触子と接続電極部との接触抵抗値を低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具を提供する。

請求項２記載の発明によれば、接触子と接続電極部の導通状態が、少なくとも接触子の他方の端部と接続電極部の内部側表面の接触によるので、接触子と接続電極部の接触面積を大きくすることが可能となり、接触抵抗値をより低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具を提供する。

請求項３記載の発明によれば、接続電極部が接触子を遊嵌することのできる形状であるので、接触子を接続電極部に入出する際に、過剰な負担がかかることを防止することができる基板検査用治具を提供する。

請求項４記載の発明によれば、接続電極部は筒状に形成されているので、接触子が接触する接触面を均一に作成することができ、どの筒部に接触しても、安定した接触抵抗値の基板検査用治具を提供する。

請求項５記載の発明によれば、接続電極部が前記接触子の長軸に対して傾斜又は湾曲して形成されているので、接触子を接続電極部に入出する際に、接続電極部の内部側表面を接触子が擦りながら接触することになり、接触子と接続電極部との接触抵抗値を低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具を提供する。

請求項６記載の発明によれば、接続電極部が接触子の入出方向と直角方向にスライドする滑走部を有しているので、接触子が接続電極部に収容された際に確実に接触子と接続電極部を接触させることが可能となり、接触子と接続電極部との接触抵抗値を低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具を提供する。

請求項７記載の発明によれば、接触子の他方が該接触子の長軸に対して屈曲して形成されているので、接触子を接続電極部に入出する際に、接続電極部の内側表面を接触子が擦りながら接触することになり、接触子と接続電極部との接触抵抗値を低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具を提供する。

請求項８記載の発明によれば、接触子保持体が二つの部材から形成され、一方の保持部が接続電極体と当接して配置されるので、確実に接続電極部に接触子を案内することができる基板検査用治具を提供する。

請求項９記載の発明によれば、接触子保持体が二つの部材から構成され、一方の保持部が接続電極体と所定間隔を有して配置されるので、この所定間隔により形成される空間で接触子が撓むことが可能となり、接触子を接続電極部に入出する際に、接続電極部の内側表面を接触子が擦りながら接触することになり、接触子と接続電極部との接触抵抗値を低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具を提供する。

請求項１０記載の発明によれば、接触子保持体が接触子を保護する保護部を有するので、接触子を使用時未使用時において効果的に接触子を保護することができ、接触子の使用寿命を延ばすことができる基板検査用治具を提供する。

請求項１１記載の発明によれば、他方の端部の近傍の範囲は、前記接続に際して、前記他方の端部の側周面が、少なくとも前記接続電極部に接触しうる範囲であるので、接触子と接続電極部と接触する接触面積を大きくすることができ、接触子と接続電極部との接触抵抗値を低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具を提供する。

請求項１２記載の発明によれば、接触子の他方の端部と接続電極体とを接続するに際して、接触子の他方の端部の近傍の側周面の少なくとも一部が、これに対向する接続電極部の一部と接触するので、接触子と接続電極部との接触抵抗値を低減させることができるとともに使用回数に関係なく安定した接触抵抗値を有する基板検査用治具の接続電極部を提供する。

本発明を実施するための最良の形態を説明する。
図１は、本発明に係る基板検査用治具を使用する場合の構成の概略を示している。この図１では、複数の接触子１０１、これら接触子１０１を多針状に保持する保持体１０２、この保持体１０２を支持するとともに接触子１０１と接触して導通となる接続電極部を有する接続電極体１０３、検出される電気信号を処理する検査信号処理部である検査信号処理部１０４、及び検査用接触子１０１と検査信号処理部１０４を接続するワイヤーケーブル１０５を示している。接触子１０１は、被検査基板に形成される配線パターンの各検査点に接触する端子であり、接続電極体１０３は接触子１０１と検査信号処理部１０４のピッチ変換を行って電気的に接続する。
接続電極体１０３は、保持体１０２の配置側に接触子１０１と電気的に接続する接続電極部１０６を有している。本発明は、この接続電極部１０６を創意工夫することにより、接触子１０１との接続抵抗値を低減させることができるとともに安定性を有した接続抵抗値を提供する。

本発明に係る一実施形態の基板検査用治具１は、接触子２、接触子保持体３と接続電極体４を有してなる（図２参照）。尚、接続電極体４は、上記の如き検査信号処理部１０４と接続されているがこの図２では省略している。
接触子２は、可撓性及び導電性を有し、針状や長尺状などの棒状に形成されている。この接触子２は、一方が被検査基板の検査点に圧接され、他方が後述する接続電極部と接触される。このため、接触子２は検査信号処理部１０４からの電気信号を検査点に送信するとともに、検査点からの電気信号を検査信号処理部１０４へ送信することができる。
この接触子２は、可撓性を有しているため、後述する接触子保持体３の内部に形成される空間で、接触子２の長軸方向に対して直角方向に撓む（バックリングする）ことになる。このため、この接触子２が使用される場合には、被検査基板の検査点や接続電極部からの荷重を受けて撓み、この撓みにより各接触部に対して押圧力を生じることになる。

接触子２は、上記の如き形状に形成されれば特に限定されないが、図３で示す如き一実施形態のように形成することもできる。
この図３で示される接触子２は、図３（ａ）で示される如く、両先端を先細り形状とする細長い棒状部材２１に形成される。先細り形状は、図３（ａ）で示される如き尖鋭形状としても構わないし、球状形状としても構わない。
この棒状部材２１は、ステンレス鋼、ベリリウム銅（BeCu）やタングステン（W）を挙げることができるが、特に限定されるものではなく導電物質であれば構わない。
この棒状部材２１は、後述する接続電極部に接触する接触面積に均一な荷重がかかるように、円筒や円柱状に形成されることが好ましいが、特に限定されるものではない。
棒状部材２１の長さや太さは特に限定されるものではなく、被検査基板に形成される配線パターンのピッチや被検査基板の大きさに合わせて適宜設定される。

図３（ｂ）では、棒状部材２１を筒状部材２２に収容した状態を示している。この筒状部材２２は、可撓性及び導電性を有している。棒状部材２１が、この筒状部材２２に挿入される。図３（ｂ）では、筒状部材２２の一方の先端である一端２２ａと他方の先端である他端２２ｂを比べた場合、一端２２ａから突出する棒状部材２１の長さが他端２２ｂから突出する棒状部材２１の長さよりも長くなるように設定されている。
上記のような場合、一端２２ａは接続電極部に接触し、他端２２ｂは被検査基板の検査点に接触することになる。このように配置の長さを変化させることにより、棒状部材２１が接続電極部と接触する接触面積を大きくすることができ、また、他端２２ｂから棒状部材２１が突出する長さが短く設定されるため、バンプなどの検査点に接触子が接触する際に、筒状部材２２が棒状部材２１が必要以上に検査点に貫入することを防止するストッパー的な役割を果たすことができるとともに、球状のバンプなどの検査点に対して安定して接触することができる。またさらに、棒状部材２１の先端形状の加工性に依存することなく、棒状部材２１と筒状部材２２による検査点への接触を可能とすることができる。
尚、この他端２２ｂ側の棒状部材２１の突出量は、上記の如く、一端２２ａよりも短く設定することもできると同時に、上記説明の如き検査点に貫入される量（長さ）として設定することもできる。
この筒状部材２２は、棒状部材２１を内部に収容することができ、且つ棒状部材２１と導通状態となることのできる大きさであれば特に限定されない。

筒状部材２２と棒状部材２１は、互いに電気的に接続されている。このため、棒状部材２１を筒状部材２２へ挿入した状態（図３（ｂ）で示される状態）で、全体に電解鍍金又は無電解鍍金を施すことにより形成する。
他の方法として、筒状部材２２内部に突状部（図示せず）を複数設けることにより、筒状部材２２が棒状部材２１を押圧するかしめ構造を有することにより接触して電気的に導通させることができる。

図３（ｃ）は、棒状部材２１と筒状部材２２が一体化され、筒状部材２２の表周面に絶縁部２３が設けられている。この絶縁部２３が形成される場所は、図３（ｃ）で示される如く、接触子２の一方端と他方端以外の場所に形成される。また、この絶縁部２３と筒状部材２２とにより形成される段差２４は、後述する接触子保持体３に接触子２が配置された際の係止部として用いられることになる。
この絶縁部２３は、接触子２が撓んだ際に、隣接する接触子２と接触しても短絡することを防止している。
この絶縁部２３は、ポリウレタンを用いることができるが、特に限定されるものではない。
上記説明では、棒状部材２１と筒状部材２２と絶縁部２３を用いて接触子２を構成した場合を説明したが、棒状部材２１と絶縁部２３からなる接触子を用いてもよく、接触子の構造はこれらに限定されるものではない。
尚、本明細書では、接続電極部４１に収容される接触子２の一部を符号２Ａとして説明するが、この接触子２の収容部２Ａは、絶縁部２３が形成されていない接触子２の一端となる。例えば、接触子２の先端から段差２４までの接触子２の部分（長さＬの部分）である。この部分Ｌは、全てが接続電極部に収容される必要はないが、できるだけ多くの部分が収容されることが好ましい。
この部分の長さＬは、接続電極部に収容される長さにより適宜設定されるが、十分な安定性のある接触状態（導通状態）になるためにも、2〜5ｍｍ程度であることが好ましい。
接触子２のこの部分が他方の端部に相当し、この部分の側周面の少なくとも一部が、接続電極部４１と接触することになる。

接触子保持体３は、複数の接触子２からなる接触子群を保持する。この接触子保持体３は、図２で示される如く、複数の接触子２を保持するために、第一保持部３１と第二保持部３２を有してなる。
図２で示される接触子保持体３は、紙面奥手側に第一保持部３１が配置され、紙面手前側に第二保持部３２が配置され、第一保持部３１は接触子２の先端を検査点へ案内し、第二保持体３２は接触子２の他端を接続電極部へ案内する。
第一保持部３１は、所定の接触子２を所定検査点へ案内するための第一保持孔３３を有している。この第一保持孔３３は、接触子２の棒状部材２１や筒状部材２２の外径よりも大きく、絶縁部２３の径よりも小さくなるように形成されている。このように形成されることにより、接触子２が第一保持部３１の第一保持孔３３より抜け出ることを防止する。
第二保持孔３２は、所定の接触子２を所定接続電極部へ案内するための第二保持孔３４を有している。この第二保持孔３２は、接触子２の棒状部材２１や筒状部材２２の外径よりも大きく、絶縁部２３の径よりも小さくなるように形成されている。このように形成されることにより、接触子２が第二保持部３２の第二保持孔３４より抜け出ることを防止する。
このように第一及び第二保持孔３３，３４を形成することにより、接触子２がこの接触子保持体３から外れることを防止する。

第一保持部３１と第二保持部３２は、支柱３５を介して、所定間隔を有して配置される。このため、支柱３５により第一保持部３１と第二保持部３２の間に空間が形成され、この空間内を接触子２が撓むことができる。
この支柱３５による空間の長さは、使用者により適宜設定される。

図２では、第一保持部３１が2枚の板部材により形成されている。これらの板部材は、第一保持孔３３を形成するための板部材と、支柱３５に固着するための螺子穴を形成する板部材として設けられている。これら板部材の数は、特に限定されるものではなく、少なくとも上記の機能を有するのであれば1枚であっても2枚以上でも構わない。
また、図２では、第二保持部３２は3枚の板部材により形成されている。これらの板部材は、第二保持孔３４を形成するための板部材と、支柱３５を固着するための螺子穴を形成するための板部材として設けられている。これら板部材の数は、特に限定されるものではなく、少なくとも上記の機能を有するのであれば1枚であっても2枚以上でも構わない。
第二保持部３２は、複数の板部材から形成されるとともに、これら板部材が接触子２に対して直角方向（図２では左右方向）に夫々所定長さ分だけずらして配置されることが好ましい。
このように複数の板部材を徐々にずらして配置することにより、第二保持孔３４が傾斜して形成されることになる。このため、接触子２が接触子保持体３に保持された際に、接触子２が軽く撓むことになり、板部材と接触抵抗が生じることになり接触子２が安定性を有して保持されることになる。

第二保持部３２は、接触子２の接続電極部側に、接触子２を接続電極部に接触させる使用時において接触子２が突出するように、接触子２の長軸方向に摺動する保護部３６を備えている。
この保護部３６は、図２で示される如く、第二保持部３２の接続電極部側に配置されるとともに、接触子２の長軸方向に摺動するようにスプリング機構３７が設けられている。
この保護部３６は、所定厚みの板部材から形成され、基板検査治具の未使用時において、接触子２の先端部（接続電極部に接触する部分）を保護する。
例えば、図４では、この保護部の動作を示しており、図４（ａ）は基板検査用治具の未使用時の状態を示しており、図４（ｂ）は基板検査用治具の使用時の状態を示している。
図４（ａ）では、基板検査用治具の接触子２と接触子保持体３が接続電極体４に接続されていない状態を示しており、この状態では、接触子２の接続電極部へ接触する端部は、保護部３６により保護されている。尚、図面では、接触子２の先端が僅かに突出している状態を示しているが、保護部３６の内部に収容されていてもよい。

図４（ｂ）は、基板検査用治具の接触子２と接触子保持体３が接続電極体４に接続されている状態を示している。尚、この図４（ｂ）では接続電極体４は省略している。この状態では、保護部３６が摺動して、接触子２が突出した状態となり、この突出した接触子２が接続電極部へ接触することになる。
この場合、保護部３６は、第二保持部３２の下端に当接するとともに、スプリング機構３７のスプリングにより付勢状態となる。また、保護部３６が図４（ａ）で示される位置へ戻ろうとするが、図４（ｂ）の状態では接続電極体４と保護部３６、保護部３６と第二保持部３２が夫々当接する状態となる。
尚、図２では、接触子保持体３と後述する接続電極体４との位置合わせを行う突状部３８が二つ設けられている。

接続電極体４は、接触子保持体３を支持するとともに、接触子２の一部を内部に収容する接続電極部４１を備える。
この接続電極部４１は、接触子２を内部に収容するために、接続電極体４の表面から接続電極体４内部へ延びる穴形状に形成される。接続電極部４１が、このように接続電極体４の内部に延びる穴形状に形成されることにより、確実に接触子２の一部を接続電極部４１内部に収容することができる。この場合、接触子２の一部は、接続電極部４１の内部側表面に電極部を形成することによって、接触子２の一部が内部側表面と接触させることができる。
接続電極部４１は導線４２に接続されている。この導線４２は、上記の如き検査信号処理部に接続される。

接続電極部４１は、接触子２を遊嵌することができる形状であることが好ましい。接続電極部４１が接触子２を遊嵌できることにより、接触子２を接続電極部４１内部に収容したり、接触子２を接続電極部４１から取り除いたりする場合に、接触子２と接続電極部４１との摩擦抵抗を低減させることができ、簡単に抜き取りすることができるからである。

接続電極部４１は、その内部に接触子２の一部を収容し、接続電極部４１の内部側表面を電極部としている。このため、接続電極４１を導電性の筒状に形成することができる。この場合、筒状の接続電極部４１は、接触子２を内部に収容するとともに筒状の内部側表面が電極部として機能する。
尚、この接続電極部４１は、接続電極体４の表面と面一となるように筒（パイプ）を配置する。このように配置することによって、接続電極体４の表面が面一となり、第二保持部３２や保護部３６が接続電極体４に当接する場合に、接続電極体４表面に対して直角となるように配置することができ、接触子２が使用時において圧接され、撓んだ際に、どの接触子２に対しても均一な荷重を負荷することができる。

接続電極部４１は、使用時や未使用時に応じて接触子２が接続電極部４１内を入出することになるので、接続電極部４１に確実に接触させるために、接触子２の長さ方向と接続電極部４１の長さ方向が交差する（相対的に交わる）ように配置又は形成することが好ましい。
この具体的な例として、例えば、接続電極部４１を接触子２の長軸に対して傾斜又は湾曲して形成する。
このように接続電極部４１が形成されることによって、接触子２が接続電極部４１内部に収容される際に、接続電極部４１の内側表面を擦りながら収容されることになり、接触子２が接続電極部４１と確実に接触状態を確立することができる。特に、このように構成することにより、内側表面の電極部や接触子２の表面に形成される酸化膜を破ることができる。

図５は、接続電極部の一実施形態を示す。図５（ａ）で示す接続電極部４１は、接続電極体４の厚み方向に平行に沿って形成されている。このような場合であっても、上記の如き接触子２が傾斜して配置されている際には、接続電極部４１の内部側表面に接触子２が擦りながら接触することになる。
図５（ｂ）は、接続電極部４１が接続電極体４の表面に対して一定角度で傾斜して形成された場合を示す。この場合は、接触子２が接続電極体４の表面に略直角方向に収容されても、接続電極部４１の内部側表面を擦りながら接触することになる。
図５（ｃ）は、接続電極部４１が逆く字状に形成された場合を示す。この場合は、接触子２が図５（ｂ）と同様に擦りながら接触して内部に収容されるとともに、く字状の頂点部で逆方向の傾斜を接続電極部４１が形成しているので、この頂点部では確実に接触子２が内部側表面と接触することになる。
図５（ｄ）は、接続電極部４１が湾曲して形成された場合を示す。この場合は、接触子２が収容される際に、この接続電極部４１の内部側表面に沿って湾曲しながら表面を擦りながら接触することになる。さらに、この場合には、図５（ｃ）よりも接触子２に係る荷重が低いため、接触子２を抜き差しすることを容易に行うことができる。
これら図５で示された接続電極部４１の形状は、これらに限定されるものではなく、接触子２の入出方向に対して、接続電極部４１の収容方向が交差するように形成されるように設定することができる。このように接続電極部４１を形成することによって、接触子２が確実に接続電極部４１の内側表面に接触することになるとともに、収容される際に内部側表面を擦りながら収容されることになるので、接触抵抗値が低いとともに接触抵抗値の安定性が高い接触子２と接続電極部４１の接続を可能にする。

また、他の具体的な例として、図６に示される如く、接続電極部４１内部に収容される接触子２の先端２Ａを、接触子２の長軸に対して屈曲させて形成する。
このように接触子２の先端２Ａを屈曲させて形成させることにより、接触子２の先端２Ａが接続電極部４１に収容される際に、接続電極部４１の内側表面を擦りながら接触することになる。
この図６で示される接触子２は、接触子２の中心軸から接触子２の先端２Ａが幅Ｗを有するように屈曲している。この幅Ｗは、接続電極部４１の内径と略同じ程度に形成されることが好ましい。この幅Ｗが接続電極部４１の内径と略同じに形成されることにより、確実に内側表面に接触することができるとともに、屈曲させる量（幅）を小さくすることができるからである。

図７は、本発明に係る基板検査用治具を使用している状態を示す。
この図７（ａ）では、複数の接触子２の収容部２Ａが接続電極部４１内部に収容されている。図７（ａ）では示されていないが、接触子２の収容部２Ａが屈曲形状であったり、接触子２が傾斜して配置されたりしている場合には、接続電極部４１内に接触子２が収容される際には、内部側表面を擦りながら接触して収容される。尚、図７では便宜的に接触子２が接続電極部４１の略中央に位置している。

接触子２が接続電極部４１に収容されると、接触子保持体３や接続電極体４を相対的に移動させることにより、接触子２の収容部２Ａを確実に接続電極部４１の内部側表面に圧接させることが好ましい。
図７（ｂ）では、接触子保持体３と接続電極体４を、接触子２の長軸に対して直角方向に移動させることによって、確実に接続電極部４１の内部側表面に接触させることを示している。例えば、図７（ｂ）で示される如く、接続電極体４を紙面左（図７（ｂ）の黒塗り矢印方向）に移動させることにより、接触子２の収容部２Ａを接続電極部４１の内部側表面に圧接する。又は、接触子保持体３を紙面右（図７（ｂ）の白抜き矢印方向）に移動させることにより、接触子２の収容部２Ａを接続電極部４１の内部側表面に圧接する。このように、接触子保持体３及び／又は接続電極体４を接触子２の入出方向と直角方向にスライドする滑走部を設けることによって、接触子２の収容部２Ａを接続電極部４１の内部側表面へより安定的に接触させることが可能となる。

図８は、接続電極体が有する滑走部の一実施例を示す。この図８で示される滑走部は、接続電極体４を3枚の第一板部材４３、第二板部材４４と第四板部材４５を有してなる。これらの3枚の板部材を貫通するように接続電極部４１が形成されている。第一板部材４３と第三板部材４５は固定部材であり、第二板部材４４がスライドする機構となっている。このため、図８（ｂ）で示される如く、第二板部材４４が、スライドして接続電極部４１を側面側から押圧することになり、そして、接続電極部４１が湾曲形状となり接触子２の収容部２Ａを側面から押圧して接触することになる。
尚、この図８で示される接続電極体４では、3枚の板部材を用いて説明したが、3枚に限定されず、更に複数の板部材を用いて滑走部を形成しても構わない。

次に、接触子２と接触子保持体３の他の実施形態を説明する。
図９は、接触子２と接触子保持体３の他の実施形態を示している。この実施形態では、用いられる接触子２の収容部２Ａが、接触子２の長軸に対して屈曲している（図６参照）。この接触子２は収容部２Ａが屈曲しているが、未使用時において保護部３６（の貫通孔）が接触子２の収容部２Ａを保持することになり、接触子２が一直線形状を有するように保持している。この実施形態の基板検査用治具を使用する場合には、保護部３６が押し上げられて、接触子２が保護部３６より突出することになるが、このとき、接触子２の収容部２Ａは屈曲するよう形成されているので、所定方向へ屈曲することになる。
尚、接続電極体４にこの基板検査用治具を取り付ける場合には、保護部３６を接続電極体４の接続電極部４１に位置合わせして、接続電極体４と接触した状態で、保護部３６を押し上げることになるので、接触子２が接続電極部４１に収容されるとともに、接触子２の収容部２Ａが接続電極部４１の内側表面を擦りながら接触することになる。

さらに他の実施形態を説明する。
図１０は、接触子２と接触子保持体３のさらに他の実施形態を示している。この実施形態では、第二保持部３２若しくは保護部３６と、接続電極体４の間に空間Ｓを形成する場合である。
図１０では、接触子保持体３と接続電極体４との間に空間Ｓが形成され、この空間Ｓにおいて接触子２の収容部２Ａが接続電極部４１に収容された際に撓むようになる。このように収容部２Ａが空間Ｓで撓むことができるので、接続電極部４１に収容され且つ接続電極部４１の内側表面に接触する箇所の収容部２Ａへ収容部２Ａの撓み分だけの押圧がかかるようになる。このため、収容部２Ａが接続電極部４１の内側表面に安定的に接触することになる。
また、この実施形態では、接続電極体４を滑走（矢印方向に移動）させて、接触子２が接続電極部４１に安定して接触するようにしている。
本発明に係る基板検査用治具の構成の説明である。

次に、本発明にかかる基板検査用治具の一実施例を説明する。
図１１は、本発明で実施される基板検査用治具の一実施例を示している。
この一実施例で示される接触子２は、タングステンを素材として、長さ30ｍｍ、直径90μｍの棒状部材２１を形成し、収容部２Ａの長さが2ｍｍになるように絶縁部２３を形成する。
また、接続電極部４１は内径95μｍ、外径125μmとなる導電性のパイプで、このパイプの内側表面に金メッキ処理する。
この図１１で示される一実施例では、接続電極体４が第一板状部４３、第二板状部４４、第三板状部４５と第四板状部４６から形成されるとともに、第二板状部４４を横方向に移動させる滑走部４７を有している。この第一板状部４３と第三板状部４５は、固定の部材であり、第四板状部４６は、基板検査用治具１’の台座として用いている。
接続電極部４１は、第一乃至第三板状部を貫通するように形成されている。
滑走部４７は、第二板状部４４を左右に移動させることができる。この滑走部４７は、左右一対の螺子機構を有してなり、左右の螺子を調整することによって第二板状部４４の位置を調整することができる。
尚、この図１１（ａ）では、第二保持部３２と保護部３６の間に空間が形成されており、未使用時の状態である。

図１１（ｂ）は、基板検査用治具１’を使用している状態を示している。このとき、第二保持部３２と保護部３６が当接するとともに、接触子２の収容部２Ａが接続電極部４１に収容される。そして、この接触子２の収容部２Ａが接続電極部４１の内側表面を擦りながら接触した状態となり、導通状態を確立することができる。
また、この基板検査用治具１’では、滑走部４７を左右に有しており、接触子２の収容部２Ａが接続電極部４１に収容された後、螺子を調整することによって、接続電極体４の第二板状部４４を横方向に移動させる。このとき、接続電極部４１の第二板状部４４部分は、第二板状部４４の移動に合わせて、湾曲状態となり接続電極部４１の内側表面と接触子２が圧接されることになる。
この一実施例では、接触子２も傾斜して接触子保持体３に保持され、更に、接続電極体４が滑走部４７を有しているので、接触子２が接続電極部４１の内側表面を擦りながら収容されるとともに安定して接触し導通状態を確立することができる。

図１２は、本発明にかかる基板検査用治具と従来の電極構造を有する基板検査治具との接触抵抗を含めた接触子の抵抗を測定した結果を示している。この実験では、基板検査用治具を使用時となるようにセットし、被検査基板として一面に金メッキが施された板を接触子２の被検査基板側（収容部２Ａの他方側）に載置し、この被検査基板を押し付ける。このとき、接触電極部４１の導線４２と被検査基板の間の抵抗値を測定する。このため、この抵抗値は、接続電極部４１と接触子２の接触抵抗と接触子２自体の抵抗、接触子２と被検査基板の接触抵抗を含むことになる。
尚、図１２に示される「回数」は、何回押し付けられたかを示すショット回数を表している。

この図１２より、本発明の基板検査用治具は、その抵抗値が420〜570ｍオームの範囲（幅にして0.15オーム）に存在しているのに対して、従来の接続電極を有する基板検査用治具は、1.5〜5.5オーム範囲（幅にして4オーム）に存在している。本発明が従来治具に比して、極めて低い接触抵抗値であるかが理解されるとともに、ショット回数の増加に伴う接触抵抗値のズレも極めて小さいことが理解される。
このため、本発明の治具を用いることにより、接触抵抗値を小さくすることができるとともに、接触抵抗値を補正値として処理する場合であっても、ショット回数の増加に伴うズレが生じることがないので、補正値を修正する必要が無く、極めて安定的に使用することが可能となる。

本発明に係る基板検査用治具を使用する場合の構成の概略を示している。 本発明に係る基板検査用治具の概略構成を示し、接触子、接触子保持体と接続電極体の位置構造を示している。 接触子の一実施形態を示す。（ａ）は棒状部材、（ｂ）は棒状部材と筒状部材、（ｃ）は棒状部材、筒状部材と絶縁部を示している。 この保護部の動作を示しており、図４（ａ）は基板検査用治具の未使用時の状態を示しており、図４（ｂ）は基板検査用治具の使用時の状態を示している。 （ａ）〜（ｄ）は接続電極部の一実施形態を夫々示す。 接触子の他の実施形態を示す。 本発明に係る基板検査用治具を使用している状態を示す。 接続電極体が有する滑走部の一実施形態を示す。 本発明に係る接触子と接触子保持体の他の実施形態を示している。 本発明に係る接触子と接触子保持体のさらに他の実施形態を示している。 本発明で実施される基板検査用治具の一実施例を示している。 本発明にかかる基板検査用治具と従来の電極構造を有する基板検査治具との接触抵抗を含めた接触子の抵抗を測定した結果を示している。

符号の説明

１・・・・・基板検査用治具
１’・・・・・基板検査用治具（他の実施形態）
２・・・・・接触子
２Ａ・・・・収容部
３・・・・・接触子保持体
３１・・・・第一保持部
３２・・・・第二保持部
４・・・・・接続電極体
４１・・・・接続電極部

Claims (12)

1. 被検査基板の電気的特性を検査するために、基板検査装置本体と該被検査基板の配線パターンに設けられる複数の基板被検査点との間の電気的導通を得るための基板検査用治具であって、
   前記基板検査用治具は、
   両端に電気的導通を図る端部を有し、一方の端部が前記基板被検査点の一つに圧接される導電性を有する棒状の接触子よりなる接触子群と、
   前記接触子群を保持する接触子保持体と、
   前記接触子群の夫々の接触子の他方の端部と対向して配置された接続電極部を備える、前記基板検査装置本体に接続される接続電極体を有し、
   前記接触子群の前記他方の端部と前記接続電極体とを接続するに際して、夫々の前記他方の端部の近傍の側周面の少なくとも一部が、これに対向する前記接続電極部の一部と接触することにより電気的に導通状態となることを特徴とする基板検査用治具。
2. 前記接続電極部は、これに対向する前記接触子の前記他方の端部を収容する構造を有し、且つ、前記接触子と前記接続電極部の導通状態は、少なくとも該接触子の他方の端部と該接続電極部の内部側表面の接触によることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具。
3. 前記接続電極部は、これらに対向する前記接触子の前記他方の端部の少なくとも一部を遊嵌することのできる形状であることを特徴とする請求項１又は２記載の基板検査用治具。
4. 前記接続電極部は、筒状に形成されていることを特徴とする請求項１乃至３いずれかに記載の基板検査用治具。
5. 前記接続電極部が、前記接触子の長軸に対して傾斜又は湾曲して形成されていることを特徴とする請求項１乃至４いずれかに記載の基板検査用治具。
6. 前記接続電極部は、前記接触子の入出方向と直角方向にスライドする滑走部を有することを特徴とする請求項１乃至５いずれかに記載の基板検査用治具。
7. 前記接触子の他方の端部は、該接触子の長軸に対して屈曲して形成されていることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具。
8. 前記接触子保持体は、前記接触子の一方の端部の近傍を保持する第一保持孔を有する第一保持部と、前記接触子の他方の端部の近傍を保持する第二保持孔を有する第二保持部を有し、
   前記第二保持部は、前記電極体と当接して配置されることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具。
9. 前記接触子保持体は、前記接触子の一方の端部の近傍を保持する第一保持孔を有する第一保持部と、前記接触子の他方の端部の近傍を保持する第二保持孔を有する第二保持部を有し、
   前記第二保持部は、前記電極体と所定間隔を有して配置されることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具。
10. 前記接触子保持体は、前記接触子の他方が前記接続電極部に接触させる使用時において、該接触子が突出するように、該接触子の長軸方向に摺動する保護部を備えてなることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具。
11. 前記他方の端部の近傍の範囲は、前記接続に際して、前記他方の端部の側周面が、少なくとも前記接続電極部に接触しうる範囲であることを特徴とする請求項１記載の基板検査用治具。
12. 被検査基板の電気的特性を検査するために、基板検査装置本体と該被検査基板の配線パターンに設けられる複数の基板被検査点との間の電気的導通を得るために、一端が前記被検査点に導通接触を図るために圧接される接触子と、該接触子と導通接触して該基板検査装置本体と接続される接続電極体が有する、該接触子の他端と導通接触する接続電極部の電極構造であって、
    前記接続電極部は、
    前記接触子の他方の端部と該接続電極体とを接続するに際して、前記接触子の前記他方の端部の近傍の側周面の少なくとも一部が、これに対向する前記接続電極部の一部と接触することを特徴とする接続電極部の電極構造。

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