JP2007293524A - 電子制御装置、及び、演算機能検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数のCPUを備え、複数のCPUに含まれる一のCPUの演算機能を他のCPUとの協働により検査可能な電子制御装置1であって、演算機能の検査を受ける被検査CPUが、所定のプログラム12に基づき検査用の演算課題を作成すると共に作成した演算課題の解答を自己の演算機能により作成して、被検査CPUを監視する監視CPUに対して作成した演算課題及び解答に関する情報を送信し、監視CPUが、送信された演算課題及び解答に関する情報に基づいて、被検査CPUが有する演算機能が正常か否かを判定することを特徴とする。
【選択図】図1
Description
10 ROM
12 被検査CPU制御プログラム
14 監視CPU制御プログラム
20 RAM
30 通信ポート
Claims (7)
- 複数のCPUを備え、該複数のCPUに含まれる一のCPUの演算機能を他のCPUとの協働により検査可能な電子制御装置であって、
前記演算機能の検査を受ける被検査CPUが、所定のプログラムに基づき検査用の演算課題を作成すると共に該作成した演算課題の解答を自己の演算機能により作成して、該被検査CPUを監視する監視CPUに対して前記作成した演算課題及び解答に関する情報を送信し、
該監視CPUが、前記送信された演算課題及び解答に関する情報に基づいて前記被検査CPUが有する演算機能が正常か否かを判定する、
ことを特徴とする、電子制御装置。 - 請求項1に記載の電子制御装置であって、
前記被検査CPUは、カウンタを用いて周期的に変化する演算課題を作成する、
ことを特徴とする、電子制御装置。 - 請求項2に記載の電子制御装置であって、
前記監視CPUは、前記被検査CPUが作成する演算課題の周期性に基づいて、該演算課題の正解を導出する、
ことを特徴とする、電子制御装置。 - 請求項1ないし3のいずれかに記載の電子制御装置であって、
前記被検査CPUは、自己の演算機能のうち使用頻度が高い演算機能を用いて解答が作成されるように、前記演算課題を作成する、
ことを特徴とする、電子制御装置。 - 請求項1ないし4のいずれかに記載の電子制御装置であって、
前記被検査CPUは、自己の演算機能のうちフェールセーフ上重要性の高い演算機能を用いて解答が作成されるように、前記演算課題を作成する、
ことを特徴とする、電子制御装置。 - CPUをマイクロプロセッサに置換して構成される、請求項1ないし5のいずれかに記載の電子制御装置。
- 複数のCPUを備える電子制御装置において、該複数のCPUに含まれる一のCPUの演算機能を他のCPUとの協働により検査する、演算機能検査方法であって、
(A)前記演算機能の検査を受ける被検査CPUが、所定のプログラムに基づき検査用の演算課題を作成するステップと、
(B)該被検査CPUが、作成した演算課題の解答を自己の演算機能により作成するステップと、
(C)該被検査CPUが、該被検査CPUを監視する監視CPUに対して前記作成した演算課題及び解答に関する情報を送信するステップと、
(D)該監視CPUが、前記送信された演算課題及び解答に関する情報に基づいて前記被検査CPUが有する演算機能が正常か否かを判定するステップと、
を備えることを特徴とする、演算機能検査方法。
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