JP2007277059A5 - - Google Patents

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上記の課題を解決するため、請求項1に係る発明は、III族窒化物系化合物半導体の製造装置であって、III族金属とそれとは異なる金属とを溶融した状態で保持する反応容器と、当該反応容器とそれを加熱する加熱装置とを内部に有する外部容器とを有し、反応容器の圧力を外部容器の圧力よりも高くすることで、当該外部容器内の雰囲気が反応容器内に拡散しないことを特徴とするIII族窒化物系化合物半導体の製造装置である。また、請求項2に係る発明は、更に反応容器と外部容器との差圧が5kPa以上1MPa以下であることを特徴とする。
請求項3に係る発明は、外部容器の外側から反応容器内に少なくとも窒素を含む気体を供給するための供給管と当該反応容器からの排気のための排出管を有し、排出管は、外部容器に窒素を含む気体を供給するための配管に接続されていることを特徴とする。窒素を含む気体とは、窒素分子及び/又は窒素化合物の気体を含む単一又は混合気体を言い、例えば希ガス等の不活性ガスを任意割合で含んでいても良い。請求項4に係る発明は、外部容器の圧力保持中に反応容器に供給する少なくとも窒素を含む気体の流量が1〜200ml/分であることを特徴とする。
請求項5に係る発明は、排出管内部と外部容器に少なくとも窒素含む気体を供給するための配管内部に、III族金属及びそれとは異なる金属が付着しないことを特徴とする。請求項6に係る発明は、排出管と外部容器に少なくとも窒素を含む気体を供給するための配管との間に、III族金属及びそれとは異なる金属を吸着除去又はトラップするための器具が設けられていることを特徴とする。請求項7に係る発明は、排出管と外部容器に少なくとも窒素を含む気体を供給するための配管をIII族金属及びそれとは異なる金属の蒸気の温度よりも高温に保持することを特徴とする。
請求項8に係る発明は、III族金属がガリウム(Ga)であり、それとは異なる金属がナトリウム(Na)であることを特徴とする。

Claims (8)

  1. III族窒化物系化合物半導体の製造装置であって、
    III族金属とそれとは異なる金属とを溶融した状態で保持する反応容器と、
    当該反応容器とそれを加熱する加熱装置とを内部に有する外部容器とを有し、
    前記反応容器の圧力を前記外部容器の圧力よりも高くすることで、当該外部容器内の雰囲気が前記反応容器内に拡散しないことを特徴とするIII族窒化物系化合物半導体の製造装置。
  2. 前記反応容器と前記外部容器との差圧が5kPa以上1MPa以下であることを特徴とする請求項1に記載のIII族窒化物系化合物半導体の製造装置。
  3. 前記外部容器の外側から前記反応容器内に少なくとも窒素を含む気体を供給するための供給管と当該反応容器からの排気のための排出管を有し、
    前記排出管は、前記外部容器に窒素を含む気体を供給するための配管に接続されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のIII族窒化物系化合物半導体の製造装置。
  4. 前記外部容器の圧力保持中に前記反応容器に供給する少なくとも窒素を含む気体の流量が1〜200ml/分であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のIII族窒化物系化合物半導体の製造装置。
  5. 前記排出管内部と前記外部容器に少なくとも窒素含む気体を供給するための配管内部に、III族金属及びそれとは異なる前記金属が付着しないことを特徴とする請求項3に記載のIII族窒化物系化合物半導体の製造装置。
  6. 前記排出管と前記外部容器に少なくとも窒素を含む気体を供給するための配管との間に、III族金属及びそれとは異なる前記金属を吸着除去又はトラップするための器具が設けられていることを特徴とする請求項5に記載のIII族窒化物系化合物半導体の製造装置。
  7. 前記排出管と前記外部容器に少なくとも窒素を含む気体を供給するための配管をIII族金属及びそれとは異なる前記金属の蒸気の温度よりも高温に保持することを特徴とする請求項5又は請求項6に記載のIII族窒化物系化合物半導体の製造装置。
  8. III族金属がガリウム(Ga)であり、それとは異なる前記金属がナトリウム(Na)であることを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載のIII族窒化物系化合物半導体の製造装置。
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