JP2007265540A - ツェナーザップprom回路およびその動作方法 - Google Patents
ツェナーザップprom回路およびその動作方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007265540A JP2007265540A JP2006089667A JP2006089667A JP2007265540A JP 2007265540 A JP2007265540 A JP 2007265540A JP 2006089667 A JP2006089667 A JP 2006089667A JP 2006089667 A JP2006089667 A JP 2006089667A JP 2007265540 A JP2007265540 A JP 2007265540A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- zener zap
- read
- circuit
- zap
- transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
【課題】10〜20mA程度の低電流でザップして形成した細いAlフィラメント線から成るツェナーザップ素子を用いても、信頼性的に長寿命で、長期間にわたって使用が可能なツェナーザップPROM回路を提供する。
【解決手段】通常動作モードに移る前のリードモード時にのみツェナーザップ素子1にリード電流を印加して各ビットのデータを読み、そのデータをラッチ回路6に出力する。通常の回路動作時では、ツェナーザップ素子1に電流を印加せずにリードモード時に読み込んだデータをラッチ回路6より出力する。
【選択図】図1
【解決手段】通常動作モードに移る前のリードモード時にのみツェナーザップ素子1にリード電流を印加して各ビットのデータを読み、そのデータをラッチ回路6に出力する。通常の回路動作時では、ツェナーザップ素子1に電流を印加せずにリードモード時に読み込んだデータをラッチ回路6より出力する。
【選択図】図1
Description
本発明は、ツェナーザップを用いたPROM回路に関するものである。
従来から、ツェナーザップを用いたPROM(プログラマブル・リード・オンリー・メモリー)回路(以下、ツェナーザップPROM回路と言う)は、各ビットのツェナーザップ素子のザップを行うザップモード、通常の回路動作を行う通常モードで動作する。通常モードにおいて、常時、全ビットのツェナーザップ素子に電流を印加して各ビットのデータを読み込み、動作回路へ伝達する方法および回路構成が用いられている。
従来のツェナーザップPROM回路について説明する。
図5(a)(b)は特許文献1のツェナーザップPROM回路1ビット分の回路図とタイミングチャートを示す。
図5(a)(b)は特許文献1のツェナーザップPROM回路1ビット分の回路図とタイミングチャートを示す。
図5において、1は各ビットのデータを記録するツェナーザップ素子、2はザップするビットのツェナーザップ素子1を選択し、ザップ電流を印加するためのトランジスタ、3は通常モード時において、ザップされた各ビットに一定のリード電流がVccより流れ、他のビットへ流れ込みを防止するための流れ込み防止ダイオード、4は出力端子側の回路を保護するための保護ダイオード、5はVccからのリード電流による電圧降下を発生させるための抵抗である。
各ビットのツェナーザップ素子1をザップするザップモード時の動作と、ザップした各ビットのデータを読み出して動作回路に出力する通常モード時の動作について説明する。
ザップモード時において、ザップするビットに割り当てられているツェナーザップ素子1を各ビットごとに順番にザップする。まず、ザップするビットのトランジスタ2をオンし、その他のビットのトランジスタ2はオフし、ザップするビットのツェナーザップ素子1を選択する。次に共通端子PEより150〜200mAの電流パルスを印加する。電流パルスは、流れ込み防止ダイオード3および駆動用トランジスタ2を通してツェナーザップ素子1に流れ込みザップされる。ザップされるとツェナーザップ素子1のコンタクト−コンタクト間に10〜20Ω程度のAlのフィラメントが形成され、ダイオードからAl線となる。
ザップモード時において、ザップするビットに割り当てられているツェナーザップ素子1を各ビットごとに順番にザップする。まず、ザップするビットのトランジスタ2をオンし、その他のビットのトランジスタ2はオフし、ザップするビットのツェナーザップ素子1を選択する。次に共通端子PEより150〜200mAの電流パルスを印加する。電流パルスは、流れ込み防止ダイオード3および駆動用トランジスタ2を通してツェナーザップ素子1に流れ込みザップされる。ザップされるとツェナーザップ素子1のコンタクト−コンタクト間に10〜20Ω程度のAlのフィラメントが形成され、ダイオードからAl線となる。
通常動作モード時において、全てのビットのトランジスタ2をオンする。ザップされたビットのツェナーザップ素子1は10〜20Ω程度の抵抗であるため、Vccより抵抗5、保護ダイオード4を通してリード電流が流れる。リード電流は、流れ込み防止ダイオード3により他のビットには流れない。その結果、ザップされた各ビットの抵抗5の両端には一定の同じ電圧が発生し、出力端子outの電圧は“L”レベルになる。通常、Vcc=3V、抵抗5は約30MΩで、リード電流は約0.1μA程度である。また、ザップされていないビットについては、リード電流は流れず抵抗5の両端の電圧は0Vで、出力端子の電圧は“H”レベルになる。
特開2005−182899(図3)
しかしながら、上記従来の構成では、通常の回路動作時において、ザップされたツェナーザップ素子1には、リード電流が流れるためAlフィラメント線が断線しないよう常時150mA〜200mA程度のザップ電流を印加して太いAlフィラメント線を形成する必要がある。
その結果、ザップ電流150mA〜200mAを印加させるためのトランジスタ2、および流れ込み防止ダイオード3のセルサイズが大きくなり、特にビット数が多くPROM回路の占有面積率が大きい場合、製品のチップ面積が大きくなる問題点がある。
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、ザップされる臨界の低電流でザップした細いAlフィラメント線でも長期間使用ができ、セルサイズを小さくすることができ、チップサイズを小さくすることができるツェナーザップPROM回路を提供することを目的とする。
本発明に係るツェナーザップを用いたPROM回路は、ツェナーザップ素子に接続されて書き込み電流を駆動するトランジスタと、前記ツェナーザップ素子に電気的に接続されて読み出し電流を制御するスイッチ素子と、前記ツェナーザップ素子の出力側に入力端子が接続されたラッチ回路とを備え、前記ラッチ回路の出力端子からデータを読み出すことを特徴とする。
上記の構成において、前記ツェナーザップ素子と共通端子の間に接続された流れ込み防止ダイオードと、前記ツェナーザップ素子と前記スイッチ素子の間に接続された保護ダイオードをさらに備えたことが好ましい。
上記の構成において、前記トランジスタがバイポーラトランジスタ、MOSトランジスタ又はサイリスタであることが好ましい。
上記の構成において、前記スイッチ素子がバイポーラトランジスタ又はMOSトランジスタであることが好ましい。
上記の構成において、前記スイッチ素子がバイポーラトランジスタ又はMOSトランジスタであることが好ましい。
また、本発明に係るツェナーザップPROM回路の動作方法は、ツェナーザップ素子に接続されて書き込み電流を駆動するトランジスタと、前記ツェナーザップ素子に電気的に接続されて読み出し電流を制御するスイッチ素子と、前記ツェナーザップ素子の出力側に入力端子が接続されたラッチ回路とを備え、前記ラッチ回路の出力端子からデータを読み出すツェナーザップPROM回路を動作させるに際し、通常の回路動作をする前に、前記トランジスタを作動させて前記ツェナーザップ素子に書き込み電流を印加してデータを書き込むザップモードを実行し、前記トランジスタを遮断した後に、前記スイッチ素子を作動させて前記ツェナーザップ素子に読み出し電流を流して書き込まれたデータを読み出すと共に、読み出したデータを前記ラッチ回路に入力して前記データを保持するリードモードを実行し、前記スイッチ素子を遮断した後に、通常の回路動作を行って前記ラッチ回路が保持する前記データを出力する通常モードを実行することを特徴とする。
上記の構成において、前記リードモードでは、パルス信号を用いて前記スイッチ素子を作動させると共に、前記ラッチ回路のクロック端子に前記パルス信号を入力することが好ましい。
本発明に係るツェナーザップPROM回路およびその動作方法は、電源を投入してからツェナーザップPROM回路へパルスを入力することでリードモードになり、全ビットのツェナーザップ素子1へリード電流を流して、各ビットのツェナーザップ素子が未ザップかザップ済みかのデータを読み、そのデータをラッチ回路へ入力する。その後、通常の回路動作モードになり、全ビットのツェナーザップ素子へ電流を印加しない状態にし、リードモード時に読み込んだデータをラッチ回路から出力する。
上記の構成によると、リードモード時にのみツェナーザップ素子に電流が印加され、通常の回路動作モードでは電流が印加されないため、150〜200mAのザップ電流を流して太いAlフィラメント線を形成する必要がなく、ザップされる臨界の電流10〜20mA程度の低電流でザップした細いAlフィラメント線でも、長期間使用ができる。したがって、前記トランジスタ、流れ込み防止ダイオードのセルサイズを小さくすることができ、PROM回路の占有面積率が大きい製品では製品チップサイズが小さくなる。
実際、TCXO(温度補償型水晶発振器)向けアナログLSIにおいてPROM回路は20〜30ビットから構成されており、チップ全体の約34%を占めている。電流能力200mAのトランジスタ2、流れ込み防止ダイオード3を約1/10の20mAに相当するセルサイズまで縮小(約1/10)すると、PROM回路部の面積は約58%縮小され、製品チップ全体の占有面積率は約20%に低減される。
以下、本発明の実施形態について図1〜図4に基づいて説明する。
なお、従来例と同一の構成については同一の符号を付けて説明する。
図1は本発明のツェナーザップPROM回路を示し、ツェナーザップ素子1のアノード端子に接続されて書き込み電流を駆動するトランジスタ2と、ツェナーザップ素子1のカソード端子に電気的に接続されて読み出し電流を制御するスイッチ素子7と、ツェナーザップ素子1のカソード端子に入力端子INが電気的に接続されたラッチ回路6とを備え、ラッチ回路6の出力端子OUTからデータを読み出す。
なお、従来例と同一の構成については同一の符号を付けて説明する。
図1は本発明のツェナーザップPROM回路を示し、ツェナーザップ素子1のアノード端子に接続されて書き込み電流を駆動するトランジスタ2と、ツェナーザップ素子1のカソード端子に電気的に接続されて読み出し電流を制御するスイッチ素子7と、ツェナーザップ素子1のカソード端子に入力端子INが電気的に接続されたラッチ回路6とを備え、ラッチ回路6の出力端子OUTからデータを読み出す。
従来例を示した図5と異なるのは、リードモード時に読み込んだデータを通常動作時に出力し続けるラッチ回路6、ツェナーザップ素子1へリード電流を流すか流さないかを制御するスイッチ素子としてのPチャンネルMOSトランジスタ7が追加されている点である。
ラッチ回路6は、クロック端子CKに入力されている信号に応じて出力端子OUTの信号が変化する。クロック端子CKが“H”レベル時は、入力端子INの信号をそのまま出力端子OUTへ出力し、クロック端子CKが“L”レベル時は、“L"レベルに変化する前の“H"レベル時に入力された信号を出力端子OUTに出力し、入力端子INの信号が変化しても出力端子OUTの信号は変化しない。
ツェナーザップ素子1、ザップするビットのツェナーザップ素子1を選択しザップ電流を印加するためのトランジスタ2、通常モード時において、ザップされた各ビットに一定のリード電流がVccより流れて他のビットへ流れ込みを防止するための流れ込み防止ダイオード3、出力端子側の回路を保護するための保護ダイオード4、Vccからのリード電流による電圧降下を発生させるための抵抗5などは図5と同じである。
動作に基づいて回路構成を更に詳しく説明する。
まず、通常の回路動作をさせる前に、ザップモードに設定して回路特性のトリミングを行う。図2(a)は図2(b)にハッチングで示されているザップモードにおける各部のレベルを回路図中に記入したものである。
まず、通常の回路動作をさせる前に、ザップモードに設定して回路特性のトリミングを行う。図2(a)は図2(b)にハッチングで示されているザップモードにおける各部のレベルを回路図中に記入したものである。
ザップモード時において、ザップするビットに割り当てられているツェナーザップ素子1を各ビットごとに順番にザップする。
通常の回路動作を行う前に、図3(b)にハッチングで示すようにリセット端子RSTにリセットパルスが入力され、ツェナーザップPROM回路はリードモードとなる。図3(a)はリードモードにおける各部のレベルを回路図中に記入したもので、全ビットのツェナーザップ素子1に記憶されているデータを読み出し、ラッチ回路6へ出力する。
通常の回路動作を行う前に、図3(b)にハッチングで示すようにリセット端子RSTにリセットパルスが入力され、ツェナーザップPROM回路はリードモードとなる。図3(a)はリードモードにおける各部のレベルを回路図中に記入したもので、全ビットのツェナーザップ素子1に記憶されているデータを読み出し、ラッチ回路6へ出力する。
リセット端子RSTにリセットパルスが入力された後、ラッチ回路6は、電源が0ボルトになるまで、リードモード時に読み出したデータを動作回路へ出力し続ける。
リードモード後、通常モードとなり、ツェナーザップ素子1に電流が流れない状態にする。なお、図4(a)は図4(b)においてハッチングで示されている通常モードにおける各部のレベルを回路図中に記入したものである。
リードモード後、通常モードとなり、ツェナーザップ素子1に電流が流れない状態にする。なお、図4(a)は図4(b)においてハッチングで示されている通常モードにおける各部のレベルを回路図中に記入したものである。
上記のザップモード、リードモード、通常モードにおけるツェナーザップPROM回路の状態について詳しく説明する。
ザップモード時における各部のレベルは、図2(a)に示した通りで、ザップするビットのトランジスタ2をオン、その他のビットのトランジスタ2はオフし、ザップするビットのツェナーザップ素子1を選択する。次に共通端子PEより10〜20mAの電流パルスを印加する。電流パルスは、流れ込み防止ダイオード3およびトランジスタ2を通してツェナーザップ素子1に流れ込みザップされる。ザップされるとツェナーザップ素子1のコンタクト−コンタクト間に100〜1000Ω程度のAlのフィラメントが形成され、ダイオードからAl線となる。
ザップモード時における各部のレベルは、図2(a)に示した通りで、ザップするビットのトランジスタ2をオン、その他のビットのトランジスタ2はオフし、ザップするビットのツェナーザップ素子1を選択する。次に共通端子PEより10〜20mAの電流パルスを印加する。電流パルスは、流れ込み防止ダイオード3およびトランジスタ2を通してツェナーザップ素子1に流れ込みザップされる。ザップされるとツェナーザップ素子1のコンタクト−コンタクト間に100〜1000Ω程度のAlのフィラメントが形成され、ダイオードからAl線となる。
リードモード時における各部のレベルは、図3(a)に示した通りで、共通端子PEをオープン、全ビットのトランジスタ2をオンし、同時にリセット端子RSTが“H"レベルで、PチャンネルMOSトランジスタ7がオンとなり、ツェナーザップ素子1がザップされているビットでは、PチャンネルMOSトランジスタ7、抵抗5、保護ダイオード4を通してツェナーザップ素子1にリード電流が流れる。リード電流は、流れ込み防止ダイオード3により他のビットは流れない。その結果、ザップされた各ビットの抵抗5の両端には一定の同じ電圧が発生し、ラッチ回路6の入力端子INに“L"レベルが入力される。また、ザップされていないビットについては、リード電流は流れず抵抗5の両端の電圧は0Vでラッチ回路6の入力端子INに“H"レベルが入力される。ラッチ回路6のクロック端子CKは、リセット端子RSTに接続されているため、“H"レベルで、ラッチ回路6の入力端子INに入力されているデータがそのまま出力端子OUTに出力される。
通常モード時における各部のレベルは、図4(a)に示した通りで、共通端子PEをオープン、全ビットの駆動用トランジスタ2をオンし、リセット端子RSTが“L"レベルで、PチャンネルMOSトランジスタ7がオフとなり、全ビットのツェナーザップ素子1へ電流が流れない。また、ラッチ回路6のクロック端子CKが“L"レベルで、“H"レベルのリードモード時に読み込んだデータを出力端子OUTより出力する。
このように、リードモード時にのみツェナーザップ素子1に電流が印加され、通常の回路動作モードでは電流が印加されないため、ザップされる臨界の電流10〜20mA程度の低電流でザップした細いAlフィラメント線でも、長期間使用ができる。その結果、トランジスタ2、流れ込み防止ダイオード3のセルサイズを小さくすることができ、PROM回路の占有面積率が大きい製品でもチップサイズを小さくすることができる。
なお、本実施形態において、駆動用のトランジスタ2はバイポーラトランジスタであるが、これに代えてMOSトランジスタあるいはサイリスタでも良い。また、スイッチ素子はPチャンネルMOSトランジスタ7であるが、これに代えてNチャンネルMOSトランジスタあるいはバイポーラトランジスタでも良い。
本発明は、トリミング技術による回路特性の調整が必須で、更にチップサイズの縮小化が要求される携帯電話向けアナログLSI等の半導体製品分野において極めて有用である。
1 ツェナーザップ素子
2 トランジスタ
3 流れ込み防止ダイオード
4 保護ダイオード
5 抵抗
6 ラッチ回路
7 PチャンネルMOSトランジスタ
2 トランジスタ
3 流れ込み防止ダイオード
4 保護ダイオード
5 抵抗
6 ラッチ回路
7 PチャンネルMOSトランジスタ
Claims (6)
- ツェナーザップ素子に接続されて書き込み電流を駆動するトランジスタと、
前記ツェナーザップ素子に電気的に接続されて読み出し電流を制御するスイッチ素子と、
前記ツェナーザップ素子の出力側に入力端子が接続されたラッチ回路と
を備え、前記ラッチ回路の出力端子からデータを読み出す
ツェナーザップPROM回路。 - 前記ツェナーザップ素子と共通端子の間に接続された流れ込み防止ダイオードと、
前記ツェナーザップ素子と前記スイッチ素子の間に接続された保護ダイオードをさらに備えたことを特徴とする
請求項1に記載のツェナーザップPROM回路。 - 前記トランジスタがバイポーラトランジスタ、MOSトランジスタ又はサイリスタであることを特徴とする
請求項1に記載のツェナーザップPROM回路。 - 前記スイッチ素子がバイポーラトランジスタ又はMOSトランジスタであることを特徴とする
請求項1に記載のツェナーザップPROM回路。 - ツェナーザップ素子に接続されて書き込み電流を駆動するトランジスタと、前記ツェナーザップ素子に電気的に接続されて読み出し電流を制御するスイッチ素子と、前記ツェナーザップ素子の出力側に入力端子が接続されたラッチ回路とを備え、前記ラッチ回路の出力端子からデータを読み出すツェナーザップPROM回路を動作させるに際し、
通常の回路動作をする前に、前記トランジスタを作動させて前記ツェナーザップ素子に書き込み電流を印加してデータを書き込むザップモードを実行し、
前記トランジスタを遮断した後に、前記スイッチ素子を作動させて前記ツェナーザップ素子に読み出し電流を流して書き込まれたデータを読み出すと共に、読み出したデータを前記ラッチ回路に入力して前記データを保持するリードモードを実行し、
前記スイッチ素子を遮断した後に、通常の回路動作を行って前記ラッチ回路が保持する前記データを出力する通常モードを実行する
ツェナーザップPROM回路の動作方法。 - 前記リードモードでは、パルス信号を用いて前記スイッチ素子を作動させると共に、前記ラッチ回路のクロック端子に前記パルス信号を入力することを特徴とする
請求項5に記載のツェナーザップPROM回路の動作方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006089667A JP2007265540A (ja) | 2006-03-29 | 2006-03-29 | ツェナーザップprom回路およびその動作方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006089667A JP2007265540A (ja) | 2006-03-29 | 2006-03-29 | ツェナーザップprom回路およびその動作方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007265540A true JP2007265540A (ja) | 2007-10-11 |
Family
ID=38638369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006089667A Withdrawn JP2007265540A (ja) | 2006-03-29 | 2006-03-29 | ツェナーザップprom回路およびその動作方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007265540A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014103276A (ja) * | 2012-11-20 | 2014-06-05 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | トリミング回路、集積回路装置、及びトリミング方法 |
US9293219B2 (en) | 2012-04-13 | 2016-03-22 | Lapis Semiconductor Co., Ltd. | Non-volatile memory, semiconductor device and reading method |
-
2006
- 2006-03-29 JP JP2006089667A patent/JP2007265540A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9293219B2 (en) | 2012-04-13 | 2016-03-22 | Lapis Semiconductor Co., Ltd. | Non-volatile memory, semiconductor device and reading method |
US9928921B2 (en) | 2012-04-13 | 2018-03-27 | Lapis Semiconductor Co., Ltd. | Non-volatile memory, semiconductor device and reading method |
JP2014103276A (ja) * | 2012-11-20 | 2014-06-05 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | トリミング回路、集積回路装置、及びトリミング方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5179470B2 (ja) | プログラマブルセル | |
JP4772328B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
US20140078809A1 (en) | Nonvolatile latch circuit, nonvolatile flip-flop circuit, and nonvolatile signal processing device | |
JP2006303579A (ja) | 半導体装置 | |
JP2016511933A5 (ja) | ||
JP2016511933A (ja) | nウェル切替回路 | |
US20130279282A1 (en) | E-fuse array circuit | |
KR20020077035A (ko) | 어드레스 발생 회로 | |
JP5592599B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2005122574A (ja) | 半導体集積回路 | |
JP2007004887A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP3843974B2 (ja) | 表示駆動回路 | |
JPH10144090A (ja) | 半導体メモリ装置の冗長セルデコード回路 | |
JP2007265540A (ja) | ツェナーザップprom回路およびその動作方法 | |
JP2008153588A (ja) | 電気ヒューズ回路 | |
JP4772480B2 (ja) | 半導体集積装置 | |
JP2006331587A (ja) | 半導体メモリ回路駆動方法および半導体メモリ回路 | |
CN101714866A (zh) | 半导体器件和将内部电源提供给半导体器件的方法 | |
US8339191B2 (en) | Voltage generation circuit | |
US8526244B2 (en) | Anti-fuse circuit | |
KR102482147B1 (ko) | 이퓨즈 otp 메모리 | |
US20100110751A1 (en) | Semiconductor storage device | |
JP4322072B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2005285225A (ja) | 不揮発性メモリ回路及び半導体装置 | |
JP4441326B2 (ja) | 電圧検出回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20080430 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080904 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20091117 |