JP2007248315A - 電磁波を用いたセンシング装置 - Google Patents
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 134
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims abstract description 26
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 21
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 20
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 20
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000012792 core layer Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000004038 photonic crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000005211 surface analysis Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】センシング装置は、伝送路103と、伝送路103に電磁波102を入力するための電磁波入力手段101と、伝送路103から伝搬してくる電磁波102を検出するための電磁波検出手段106と、折れ曲がり部105を有する。伝送路103は、これに沿ってその周囲までに広がって電磁波102を伝搬させる伝送路であり、折れ曲がり部105は、伝送路103において検体104と伝搬電磁波102との相互作用を生じさせるために伝送路103に形成されたものである。折れ曲がり部105に対して検体104を配するとき、折れ曲がり部105において生じる伝搬電磁波102と検体104との相互作用による電磁波102の状態の変化を電磁波検出手段106で検出し、検出情報に基づいて検体104の情報を取得する。
【選択図】図1
Description
本発明による実施例1のセンシング装置を、図3を用いて説明する。本実施例は、電磁波入力手段301と、伝送路303と、伝送路303において検体304と電磁波302との相互作用効果を上げるための伝送路折れ曲がり部305と、電磁波検出手段306と、伝送路走査手段307を有する。
図5は本発明による実施例2を示す。本実施例のセンシング装置は、電磁波入力手段と電磁波検出手段と伝送路と伝送路折れ曲がり部と伝送路被膜構造を有する。図5では、伝送路501と伝送路被膜構造502と折れ曲がり部503と電磁波504と検体505が図示されている。伝送路501を被膜する伝送路被膜構造502は、折れ曲がり部503以外の伝送路を伝搬する電磁波504と大気との相互作用効果を減らし、大気中の水分の影響による電磁波の変動を減らし、SN比を上げる為のものである。伝送路被膜構造502としては、分散性の少ない誘電体などがよく、これで伝送路501を覆うのがよい。
図6は本発明による実施例3を示す。本実施例のセンシング装置は、電磁波入力手段と電磁波検出手段と伝送路と折れ曲がり部と伝送路被膜構造とスペーサーを有する。図6は、伝送路601、伝送路被膜構造602、伝送路折れ曲がり部603、電磁波604、検体605、スペーサー606を図示している。
図7は本発明による実施例4を示す。本実施例のセンシング装置は、電磁波入力手段と、伝送路と、伝送路において検体と電磁波との相互作用効果を上げるための伝送路折れ曲がり部と、伝送路折れ曲がり部の折れ曲がり角度を時間的に変調する機構と、電磁波検出手段を有する。図7は、伝送路701と、電磁波702と、折れ曲がり部703と、折れ曲がり部703の折れ曲がり角度を調整する角度変調手段である駆動装置704を図示している。
102、302、403、504、604、702:電磁波
103、201、303、501、601、701:伝送路
104、203、304、505、605:検体(検体表面)
105、305、503、603、703:伝送路折れ曲がり部
106、306:電磁波検出手段(クロスワイヤ)
202:伝送路を伝搬する電磁波と近接場
307:走査手段(可動ステージ)
502、602:被膜(伝送路被膜構造)
606:スペーサー
704:角度変調手段(伝送路折れ曲がり制御機構、駆動装置)
Claims (9)
- 電磁波が当該伝送路に沿ってその周囲までに広がって伝搬する伝送路と、前記伝送路に電磁波を入力するための電磁波入力手段と、前記伝送路から伝搬してくる電磁波を検出するための電磁波検出手段と、前記伝送路において検体と前記伝搬電磁波との相互作用を生じさせるために伝送路に形成された折れ曲がり部と、を有し、
前記折れ曲がり部に対して検体を配するとき、前記折れ曲がり部において生じる前記伝搬電磁波と検体との相互作用による電磁波の状態の変化を前記電磁波検出手段で検出し、該検出情報に基づいて検体の情報を取得することを特徴とするセンシング装置。 - 前記折れ曲がり部の伝送路と前記折れ曲がり部に対して配された検体との距離について、前記折れ曲がり部の伝送路とこれに一番近い検体の領域との距離が前記伝搬電磁波の波長以下であることを特徴とする請求項1に記載のセンシング装置。
- 前記伝送路が被膜されていることを特徴とする請求項1または2に記載のセンシング装置。
- 前記折れ曲がり部が、前記折れ曲がり部の伝送路と検体との距離を規定するためのスペーサーを有していることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のセンシング装置。
- 前記折れ曲がり部において折れ曲がり角度を変調するための角度変調手段を備えることを特徴とする請求項1から4のいずれかにセンシング装置。
- 前記伝送路が単一線路であることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載のセンシング装置。
- 前記電磁波の周波数が30GHzから30THzの領域内にあることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載のセンシング装置。
- 前記折れ曲がり部において生じる検体と前記折れ曲がり部との相互作用の領域を走査するための走査手段を備えることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載のセンシング装置。
- 請求項8に記載のセンシング装置と、検体のイメージングを行う回路系を有し、
前記折れ曲がり部に対して検体を配するとき、前記走査手段により前記相互作用領域を走査しつつ、前記折れ曲がり部において生じる前記伝搬電磁波と検体との相互作用による電磁波の特性変化を前記電磁波検出手段で検出し、前記回路系により、該検出情報に基づいて各相互作用領域における検体の情報を取得して、検体のイメージングを行なうことを特徴とするイメージング装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006073612A JP4732201B2 (ja) | 2006-03-17 | 2006-03-17 | 電磁波を用いたセンシング装置 |
US11/717,714 US7498577B2 (en) | 2006-03-17 | 2007-03-14 | Sensing device employing electromagnetic waves |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006073612A JP4732201B2 (ja) | 2006-03-17 | 2006-03-17 | 電磁波を用いたセンシング装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007248315A true JP2007248315A (ja) | 2007-09-27 |
JP2007248315A5 JP2007248315A5 (ja) | 2009-04-23 |
JP4732201B2 JP4732201B2 (ja) | 2011-07-27 |
Family
ID=38516821
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006073612A Expired - Fee Related JP4732201B2 (ja) | 2006-03-17 | 2006-03-17 | 電磁波を用いたセンシング装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7498577B2 (ja) |
JP (1) | JP4732201B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016178402A (ja) * | 2015-03-19 | 2016-10-06 | 株式会社Nttドコモ | 無線アンテナ、無線通信システム |
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JP5043488B2 (ja) | 2007-03-30 | 2012-10-10 | キヤノン株式会社 | 検出装置、及びイメージング装置 |
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JP4732201B2 (ja) | 2011-07-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090116 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090116 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090306 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110120 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |