JP2007213016A - 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置 - Google Patents

Abstract

【課題】新たな部品を光路中に挿入することなく、積層フィルムを構成する位相差層の光学性能のばらつきを考慮した欠陥検出を行うことが可能な積層フィルムの欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】偏光板１と、位相差層（セパレータ２）が積層された積層フィルム１１の欠陥検出方法であって、積層フィルム１１のフィルム面の一方側に配置される光源１２と、フィルム面の他方側に配置される撮像部１３と、光源１２と撮像部１３の間に配置される検査用偏光フィルタ１５と、撮影された画像に基づいて、偏光板１に存在する欠陥の検出を行う欠陥検出部１４ｂと、偏光フィルタ１５の偏光軸Ｌ２と偏光子２の偏光軸Ｌ１との相対角度位置を調整する光軸調整部１６とを備え、偏光フィルタ１５の相対角度位置は、撮像部に入力される可視光の光量が最小値となるように、偏光フィルタの偏光軸角度ｘを０゜＜ｘ≦１５゜の範囲で調整される。
【選択図】図３

Description

本発明は、少なくとも、偏光板と、面内の配向角ばらつきが大きな位相差層とが積層された積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置に関するものである。

かかる積層フィルムとして、図１０に例示するような積層構造を有するものがある。この積層フィルム１１は、偏光子１ａの両側に接着層を介して積層された保護フィルム１ｂからなる偏光板１と、この偏光板１の一方の面に粘着剤層２ａを介して積層されたセパレータ２とで構成されている。この偏光板１に存在する異物、傷、クニック等の欠陥を検査する場合、偏光板１に対して適宜の光源により光を照射し、その反射光像や透過光像をラインセンサーや２次元ＴＶカメラなどの撮像部を介して取得し、取得された画像データに基づいて、欠陥検出を行う。また、偏光板１の検査を行う場合には、光源と撮像部の間の光路中に検査用偏光フィルタを介在させた状態で画像データを取得する。通常、この検査用偏光フィルタの偏光軸（例えば、偏光吸収軸）は、検査対象である偏光板１の偏光軸（例えば、偏光吸収軸）と直交する状態（クロスニコル）となるように配置される。クロスニコルに配置することで、仮に欠陥が存在しなければ撮像部から全面黒の画像が入力されるが、欠陥が存在すれば、その部分が黒にならない。従って、適宜のしきい値を設定することで、欠陥を検出することができる。

しかしながら、偏光板１がセパレータ２を有する積層フィルムである場合には、セパレータ２が複屈折性（位相差）を有するため、かかる場合には直線偏光を楕円偏光にしてしまい、実質的には偏光板１と検査用偏光フィルタとがクロスニコルの状態にはならない。その結果、積層フィルム１１に含まれる偏光板１の欠陥検査を精度よくできないという問題が生じていた。

かかる問題を解決した積層フィルムの欠陥検出装置として、下記特許文献１に開示される偏光板検査装置が公知である。この偏光板検査装置は、光源と、この光源からの光を直線偏光にする検査用偏光フィルタを有し、この直線偏光を保護膜（位相差層に相当）付き偏光板に入力させ、その透過光像に基づいて欠陥検出を行う。さらに、光源から保護膜付き偏光板を透過する光路上に、保護膜による光の複屈折を補償する位相差板が配置されている。この位相差板を別途配置することで、保護膜による位相変化をキャンセルして、保護膜による光の複屈折を補償するようにしている。さらに、製品ごとに微妙に異なる保護膜による複屈折を補償するため、電圧により光の位相角が調整可能な可変偏光用光学素子を配置する構成例も開示されている。

特開２００５−９９１９号公報

しかしながら、上記特許文献１では、検査用の位相差板や可変偏光用光学素子を別途配置する必要があるため、余分な部品が増加すると共に、余分に部品が介在することによる光源の光量低下を招き、検査精度を低下させてしまうため、近年の偏光板に要求される高精度、高品質な検査要求に耐えられない場合がある。さらに、積層フィルム１１を構成する位相差層が、セパレータのように最終的に使用する際には剥離されてしまう、仮着フィルムである場合、このようなフィルムは面内位相差や分子の配向角が厳密に制御される必要のないフィルムであり、フィルム面内及び製品ロットごとの配向角ばらつきが比較的大きくなるため、特許文献１にあるような検査用の特定の位相差板を用いても位相差がキャンセルしきれず、検査精度が上がらないという問題がある。

かかる位相差層は、直線偏光を楕円偏光にさせるだけでなく、上記ばらつきに起因して、画像中心部と端部とで偏光状態も異なり、撮像部に入力される画像も中心部と端部とで明るさが異なるという問題が生じる。理想的には、欠陥部とそれ以外の画像部分とのコントラストが、画像中の場所に限らず一定であることであるが、上記理由によりコントラストが不均一になる。その結果、明らかに大きなピンホールなどの輝点が存在するにもかかわらず合格と判定されたり、逆に、合格と判定されるべき非常に小さな欠陥であるにもかかわらず、不合格であると誤判定される恐れがある。例えば、図８では、左側の欠陥は比較的容易に検出することができるが、右側の欠陥は欠陥周囲の表示が明るくなりすぎるため、検出漏れが生じやすくなる。すなわち、画像の中央部と端部とでは、欠陥検出能力は一定である必要がある。従って、特許文献１のごとく、位相差板を挿入するだけでは、上記ばらつきを考慮した欠陥検査を行うことはできない。

本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、その課題は、新たな部品を光路中に挿入することなく、積層フィルムを構成する位相差層の光学性能のばらつきを考慮した欠陥検出を行うことが可能な積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置を提供することである。

上記課題を解決するため本発明に係る積層フィルムの製造方法は、
少なくとも、偏光板と、位相差層とを積層して積層フィルムを製造する工程と、
製造された積層フィルムの欠陥検査を行なう工程とを有する積層フィルムの製造方法であって、前記欠陥検査工程は、
積層フィルムのフィルム面の一方側に配置された光源により、積層フィルムに対して光を照射する工程と、
前記フィルム面の他方側に配置された撮像部により、積層フィルムの透過光像を撮影する工程と、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程と、
前記フィルム面と撮像部の間の光路上に配置される検査用の偏光フィルタの偏光軸と、前記偏光板の偏光軸との相対角度位置を調整する工程とを有し、
前記偏光フィルタの相対角度位置調整は、撮像部に入力される可視光の光量が最小値となるように、偏光フィルタの相対角度位置ｘを０゜＜ｘ≦１５゜の範囲で調整することを特徴とするものである。

また、上記課題を解決するため本発明に係る積層フィルムの欠陥検出方法は、
少なくとも、偏光板と、位相差層とが積層された積層フィルムの欠陥検出方法であって、
積層フィルムのフィルム面の一方側に配置された光源により、積層フィルムに対して光を照射する工程と、
前記フィルム面の他方側に配置された撮像部により、積層フィルムの透過光像を撮影する工程と、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程と、
前記フィルム面と撮像部の間の光路上に配置される検査用の偏光フィルタの偏光軸と、前記偏光板の偏光軸との相対角度位置を調整する工程とを有し、
前記偏光フィルタの相対角度位置調整は、撮像部に入力される可視光の光量が最小値となるように、偏光フィルタの相対角度位置ｘが０゜＜ｘ≦１５゜の範囲で調整されることを特徴とするものである。

この構成による積層フィルムの製造方法及び欠陥検出方法の作用・効果を説明する。検査対象となる積層フィルムは、少なくとも偏光板と、位相差層が積層されている。積層フィルムのフィルム面の一方側に光源が配置され、他方側に撮像部（例えば、ラインセンサカメラ）が配置される。また、光源と撮像部の間の光路中に検査用の偏光フィルタが配置される。検査用偏光フィルタは、フィルム面の一方側と他方側のいずれに配置してもよいが、光源の熱や光による偏光フィルタの劣化や光量の低下がなく、比較的小さいもので済むため、撮像部側に配置することが好ましい。光源から照射される光は、検査対象の積層フィルムを透過する際、正常部分は直線偏光のみを通過し欠陥部分は直線偏光以外の光も透過するため、偏光フィルタを通過した光は、欠陥のない部分が黒表示となり、欠陥部分はより明るく表示されて、撮像部には積層フィルムの透過光像が入力されることになる。欠陥検出部は、この入力された透過光像の画像データに基づいて、欠陥検出を行う。なお、欠陥検出を行う場合の手法やアルゴリズムは多数知られており、特定の検出方法に限定されるものではない。

また、本発明においては、検査用の偏光フィルタの偏光軸と、偏光子の偏光軸の相対角度位置を調整する機能を有している。これは前述の通り、位相差層による位相差や配向角ばらつきを考慮して、最適な相対角度位置を設定できるようにするためである。具体的には、偏光板と検査用偏光フィルタの偏光軸が直交する位置を相対角度位置の基準（０゜）としたときに、偏光フィルタの相対角度位置ｘを０゜＜ｘ≦１５゜の範囲内で、回転軸に直交する平面内で回転させることで、光量が最小になる位置に設定する。これにより、撮像部に入力される光量が、検査対象となる積層フィルムの面内で略一定となり、精度のよい欠陥検出が可能となる。なお、偏光フィルタの相対角度位置が大きくなりすぎると、撮像部に入力される光量が大きくなりすぎるため、欠陥の検出が困難なものになることが分かっている。また、前記相対角度位置は、位相差層の位相差及び配向角に応じて、基準位置（０゜）から±１５゜の範囲で適宜設定することができる。以上の結果、位相差フィルムのような新たな部品を光路中に挿入することなく、積層フィルムを構成する位相差層の光学性能のばらつきを考慮した欠陥検出を行うことができる。特に、配向角ばらつきが大きいときに、かかる作用・効果はより大きく発揮される。

本発明に係る積層フィルムの製造方法は、少なくとも、偏光板と、位相差層とを積層して積層フィルムを製造する工程と、前述のような積層フィルムの欠陥検査を行なう工程とを有しているため、欠陥検査工程においては、前述の通り、位相差フィルムのような新たな部品を光路中に挿入することなく、積層フィルムを構成する位相差層の光学性能のばらつきを考慮した欠陥検出を行なうことができる。

上記課題を解決するため本発明に係る積層フィルムの欠陥検出装置は、
少なくとも、偏光板と、位相差層とが積層された積層フィルムの欠陥検出装置であって、
積層フィルムのフィルム面の一方側に配置され、積層フィルムに対して光を照射する光源と、
前記フィルム面の他方側に配置され、積層フィルムの透過光像を撮影する撮像部と、
前記フィルム面と撮像部の間の光路上に配置される検査用の偏光フィルタと、
撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出部と、
偏光フィルタの偏光軸と前記偏光板の偏光軸との相対角度位置を調整する光軸調整部とを備え、
前記光軸調整部により、前記偏光フィルタの相対角度位置ｘは、撮像部に入力される可視光の光量が最小値となるように、０゜＜ｘ≦１５゜の範囲で調整されることを特徴とするものである。

かかる欠陥検出装置によれば、既に述べたように、位相差フィルムのような新たな部品を光路中に挿入することなく、積層フィルムを構成する位相差層の光学性能のばらつきを考慮した欠陥検出を行うことができる。

本発明において、前記光軸調整部は、偏光フィルタを回転させることで相対角度位置を調整することが好ましい。偏光フィルタを回転させることで、最適な相対角度位置を見出すことができ、積層フィルムの種類が異なっていても、偏光フィルムを回転させることで、個々の種類の製品に対して適切な位置に検査用偏光フィルタを配置することができる。

本発明において、前記光軸調整部は、偏光軸を異なる方向に設定した複数の偏光フィルタのうち、選択された１つの偏光フィルタを光路上に設置することが好ましい。偏光フィルタを平面内で回転させるのではなく、偏光軸を異なる方向に設定した複数の偏光フィルタのうちの１つを選択することによっても、最適な偏光フィルタを光路中に配置することができる。

本発明に係る積層フィルムの欠陥検出方法及び装置の好適な実施形態の一例を図面を用いて説明する。図１は、欠陥検出方法及び装置の構成を示す概念図である。検査対象である積層フィルム１１は、図１０に示したような積層構造を有しており、偏光板１の片側にセパレータ２（位相差層に相当）が積層されている。ただし、積層フィルム１１の断面構造は、これに限定されるものではなく、例えば、表面保護フィルムが更に積層された構造であってもよい。

図１において、積層フィルム１１を構成する偏光板１は、不図示のロールに巻き取られた状態から引き出されて、図の左側から右側へと搬送される。積層フィルム１１のフィルム面の一方側（図１では下方）には、検査用の光源１３が配置される。光源１３としては、蛍光灯、ハロゲンランプ、メタルハライドランプ、ＬＥＤ等を用いることができ、検査対象である積層フィルム１１（偏光板１）の種類に応じて適切な光源１３が選択される。光源１３の形状としては、平面状や電球形、フィルム幅方向に長形のもの等が適宜使用できる。

撮像部１２として、ラインセンサカメラや２次元ＴＶカメラなどにより構成される。撮像部１２は、積層フィルム１１の幅方向サイズに対応して、幅方向に沿って１つもしくは複数配置される。画像処理装置１４は、撮像部１２により撮影された画像データに対して画像処理を行うことで、積層フィルム１１（偏光板１）の欠陥検出を行う機能を有する。撮像部１２と光源１３を結ぶ光路は、積層フィルム１１のフィルム面に対して垂直となるように設定されているが、光源１３や撮像部１２の設置場所の制約により、図２に示すように光路をフィルム面に対して傾斜させて配置してもよい。

検査用偏光フィルタ１５は、図１に示すように、撮像部１２の前面に配置される。検査用偏光フィルタ１５の偏光軸Ｌ２（図３参照）は、偏光板１の偏光軸Ｌ１とクロスニコルの位置関係となるように配置されるのが通常であるが、既に説明したように、セパレータ２（位相差層）の存在により、実質的にはクロスニコルの関係とならない。また、このような位相差層は、配向角のばらつきが大きいという特性がある。従って、従来のように検査用偏光フィルタ１５をクロスニコルに配置することは検査精度の点で適切ではなく、位相差層の特性を考慮した最適な位置に検査用偏光フィルタ１５を配置する必要がある。なお、検査用偏光フィルタ１５は、偏光板１と同様のものであって、かつ欠陥が存在しないものを使用する。

図３は、検査用偏光フィルタ１５の偏光軸Ｌ２の調整を説明する図である。光軸調整部１６は、検査用偏光フィルタ１５を平面内で回転する機構を提供する。回転中心は、光源１３と撮像部１２を結ぶ光路に一致する。

さらに、検査対象となる積層フィルム１１には、種々の種類があるため、積層フィルム１１の種類によっては最適な検査用偏光フィルタ１５の配置が異なる。従って、図３に示すように検査用偏光フィルタ１５を水平に回転させる機構を設けておくことで、積層フィルム１１の種類に応じて適切な欠陥検出を行うことができる。この場合、検査用偏光フィルタ１５を基準位置に対して何度回転させたかが分かるように、検査用偏光フィルタ１５に回転角度を刻印・印刷したり、目印を貼り付けておくことが好ましい。また、偏光板１の種類と角度位置との関係をメモリに記憶させておき、光軸調整部１６により、所定の角度位置に自動設定されるように構成してもよい。

撮像部１２により撮影された画像信号は、画像データ取得部１７によりデジタルデータ化された画像データに変換され、画像処理装置１４へ送られる。画像処理装置１４は、ソフトウェアの機能を中核として構成され、光量検出部１４ａと欠陥検出部１４ｂの機能を備えている。光量検出部１４ａは、撮影された画像の明るさが最小となる位置を検出する。欠陥検出部１４ｂは、撮像部１２により取得された画像データを画像処理することで、欠陥検出を行うものであり、欠陥検出アルゴリズムについては公知の手法を用いることができる。例えば、欠陥が存在する場所の輝度は明るくなるため、取得された画像データを所定レベルのしきい値により二値化することで、欠陥を抽出することができる。抽出された欠陥の面積、長さ、幅、輝度などの特徴量を算出して、この特徴量から１つないしは複数を選んで合否判定を行うことができる。

モニター１８は、撮像部１２により撮影された画像を映し出すことができ、欠陥の存在を目視確認することができる。記憶装置１９は、欠陥を検出した場合に、その位置座標や欠陥の特徴量などを記憶しておく。マーキング装置２０は、欠陥が抽出された場合、その欠陥位置をマーキングするための装置である。マーキング制御部２１は、マーキング装置２０の動作を制御する。具体的には、記憶装置１９に記憶されている欠陥位置の座標信号に基づいて、欠陥位置（あるいは、偏光板１の幅方向の端部）に正確にマーキングができるようにマーキング装置２０を制御する。マーキング装置２０に関しては、公知の構造を有する装置を用いることができる。例えば、マーキングはマジックマーカーにより行うことができる。また、欠陥の特徴量（欠陥情報）をインクジェットプリンタ等により偏光板１上にプリントするようにしてもよい。

次に、検査用偏光フィルタ１５の配置に関して説明する。まず、検査用偏光フィルタ１５を、検査対象である積層フィルム１１中の偏光板１とクロスニコルとなる位置に設定する（基準位置＝０゜）。この状態は図８に示すような検出困難な欠陥を有する状態である。そこで次に、撮像部１３により入力され、光量検出部１４ａにより処理されたデータ（例えば、図６）を確認しながら、その光量が最小値となる位置に偏光フィルタ１５を回転させる。これにより、図５に示すように出力される光量がフィルム面内において略一定となるため、図９に示すように検出しにくかった欠陥も容易に検出することができるようになる。ここで、出力される光量を略一定にするとは、例えば、その明るさを２５６階調に分割（例えば、黒表示＝０、白表示＝２５５）した場合、明るさの最大値と最小値の差を４０以下とすることを示し、この差はより検出精度を上げるため２５以下とすることが好ましく、さらには１５以下とすることがより好ましい。さらに、この偏光フィルタ１５の設定は自動化することができ、図３に示すように光量検出部１４ａ及び光軸調整部１６を設け、コンピュータを介して光量が最小値となる位置に自動的に設定される機構を設けてもよい。このような自動化機構は、連続的に搬送される積層フィルムの状態に応じて最適な状態での検査が可能となるため、連続的な生産および検査の際に好ましく用いられる。

図４は、検査用偏光フィルタ１５の別実施形態を示す図である。図４（ａ）は、偏光軸が異なる３つの検査用偏光フィルタ１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃを直線的に連結させたものであり、いずれか１つの偏光フィルタ１５を光路上に設置することで、偏光軸の相対角度位置を調整することができる。各検査用偏光フィルタ１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃの偏光軸Ｌ２１，Ｌ２２，Ｌ２３は、少しずつ異ならせている。図４（ｂ）は、偏光軸が異なる３つの偏光フィルタ１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃを円周方向に連結させたものである。図４の例では、偏光フィルタ１５の数は、３つであるが、これに限定されるものではなく、適宜決めることができる。

次に、具体的な実施例をあげて説明する。光源１３としてハロゲンランプを使用し、撮像部１２としてラインセンサカメラを使用した。まず、検査対象の積層フィルム１１として、位相差層としてのセパレータ（東レフィルム加工製セラピールＭＤＡ３８、配向角ばらつき８．６゜）を有すると共に、欠陥が存在しないものを使用する。そして、検査用偏光フィルタ１５を回転させながら光量をモニターし、光量が最小値となる位置（偏光フィルタの相対軸角度５゜）での撮像部１２により得られた画像信号を図５に示す。画像の中央部と端部とで若干のゆらぎはあるものの、ラインセンサカメラの視野方向（主走査方向）の輝度はほぼ一定となっており、欠陥がどの位置にあったとしても安定して検査できるものと考えられる。

検証で使用した光源１３は、モリテックス社製ハロゲン光源装置ＭＨＦ−１００（１００ワット）を使用し、光源明るさ（光源より３０ｃｍ上方にて測定の明るさ）が６０６０ｃｄ／ｍ²になるように調整した。

一方、上記位相差層が積層されていない偏光板１を使用したときにクロスニコル（偏光フィルタの相対軸角度０゜）となるように検査用偏光フィルタ１５を配置し、その後、位相差層が積層されていない偏光板１を位相差層が積層されている偏光板１に置き換えて撮影したときに得られる画像信号を図６に示す。位相差層を有する場合に、クロスニコルに配置すると、中央部と端部で輝度の差が大きく安定していないため、安定して欠陥の合否の判定を行うことができない。

さらに、位相差層が積層されていない偏光板１で欠陥が存在しないものを使用して、検査用偏光フィルタ１５をクロスニコルに配置した場合の画像信号は図７に示される。

ここで、図７の中央部の位置で面積が「２０」と検出される欠陥を図５〜７の条件で左端、中央、右端の位置で検出したときの欠陥の面積（画素単位）を表１に示す。このときの面積算出にはＭａｔｒｏｘ社製Ｉｎｓｐｅｃｔｏｒを利用した。また、図５〜７において、明るさを２５６階調で表したときの最大値、最小値、最大値と最小値の差を表２に示す。表２中の数値は、表１と同様の方法で検出した値を示している。

また、図５Ａは、図５で使用したセパレータの代わりに、配向角ばらつき８．１１゜のセパレータを使用したときの画像信号を示す。このときの、偏光フィルタ１５の相対軸角度は７゜であった。図５Ｂは、図５で使用したセパレータの代わりに、配向角ばらつき７．３５゜のセパレータを使用したときの画像信号を示す。このときの、偏光フィルタ１５の相対軸角度は９゜であった。図５Ｃは、図５で使用したセパレータの代わりに、配向角ばらつき７．９３゜のセパレータを使用したときの画像信号を示す。このときの、偏光フィルタ１５の相対軸角度は６゜であった。これらのセパレータは、いずれも東レフィルム加工製セラピールＭＤＡ３８を使用した。いずれのセパレータも検査用偏光フィルタ１５の調整角度は１５゜以内である。

図５もしくは図７の場合は、欠陥がどの位置にあったとしても、ほぼ同じ大きさの面積となっているが、図６の場合は、位置によって面積が大きく異なっており、安定した欠陥検出ができないことがわかる。図６の場合の実際の画像を図８に示す。図８（ａ）は二値化画像であり、（ｂ）は二値化する前の原画像を示している。検査する位置によって欠陥の背景の輝度が異なっており、右側にある欠陥の大きさが実際よりも小さく検出されてしまっている。

図５の場合の実際の画像を同様に図９に示す。この場合、検査位置による背景の輝度の差がないため、中央部と端部とで検出精度は同じであり、図８とは異なり、どの位置の欠陥の面積も正しく検出されていることが分かる。

＜積層フィルムの具体例＞
本発明において扱う積層フィルム１１の例として、偏光板１を有するものをあげて説明したが、さらに具体的な構成例について説明する。偏光板は、長い帯状に形成され、フィルム状の偏光板原反から個々の大きさの偏光板を打ち抜きにより得るようにしている。偏光板原反は、例えば、予め製造しておいたＰＶＡフィルム（偏光子）の表裏両面に例えばＴＡＣフィルム（保護フィルム）を貼り合わせることで得ることができる。この多層構造とされた偏光板原反Ｎの表面あるいは内部に存在する欠陥（キズや異物など）を検出する必要がある。

偏光板原反Ｎは、（Ａ）染色、架橋および延伸処理を施したポリビニルアルコール系フィルムを乾燥して偏光子を得る工程、（Ｂ）該偏光子の片側または両側に保護層を貼り合わせる工程、（Ｃ）貼り合わせた後に加熱処理する工程、を含む製造方法により製造される。

ポリビニルアルコール系フィルムの染色、架橋、延伸の各処理は、別々に行う必要はなく同時に行ってもよく、また、各処理の順番も任意でよい。なお、ポリビニルアルコール系フィルムとして、膨潤処理を施したポリビニルアルコール系フィルムを用いてもよい。一般には、ポリビニルアルコール系フィルムを、ヨウ素や二色性色素を含む溶液に浸漬し、ヨウ素や二色性色素を吸着させて染色した後洗浄し、ホウ酸やホウ砂等を含む溶液中で延伸倍率３倍〜７倍で一軸延伸した後、乾燥する。ヨウ素や二色性色素を含む溶液中で延伸した後、ホウ酸やホウ砂等を含む溶液中でさらに延伸（二段階延伸）した後、乾燥することにより、ヨウ素の配向が高くなり、偏光度特性が良くなるため、特に好ましい。

上記のポリビニルアルコール系ポリマーとしては、例えば、酢酸ビニルを重合した後にケン化したものや、酢酸ビニルに少量の不飽和カルボン酸、不飽和スルホン酸、カチオン性モノマー等の共重合可能なモノマーを共重合したもの、等が挙げられる。ポリビニルアルコール系ポリマーの平均重合度は、特に制限されず任意のものを使用することができるが、１０００以上が好ましく、より好ましくは２０００〜５０００である。また、ポリビニルアルコール系ポリマーのケン化度は８５モル％以上が好ましく、より好ましくは９８〜１００モル％である。

製造される偏光子の厚さは、５〜８０μｍが一般的であるが、これに限定するものではなく、また、偏光子の厚さを調整する方法に関しても、特に限定するものではなく、テンター、ロール延伸や圧延等の通常の方法を用いることができる。

偏光子と保護層である偏光子保護フィルムとの接着処理は、特に限定されるものではないが、例えば、ビニルアルコール系ポリマーからなる接着剤、あるいは、ホウ酸やホウ砂、グルタルアルデヒドやメラミン、シュウ酸などのビニルアルコール系ポリマーの水溶性架橋剤から少なくともなる接着剤等を介して行うことができる。かかる接着層は、水溶液の塗布乾燥層等として形成されるが、その水溶液の調製に際しては必要に応じて、他の添加剤や、酸等の触媒も配合することができる。

偏光子の片側又は両側に設ける偏光子保護フィルムには、適宜な透明フィルムを用いることができる。中でも、透明性や機械的強度、熱安定性や水分遮蔽性等に優れるポリマーからなるフィルムが好ましく用いられる。そのポリマーとしては、トリアセチルセルロースの如きアセテート系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリアリレート、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリスルホン系樹脂、ポリエーテルスルホン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン系樹脂、ポリビニルアルコール系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂、ポリノルボルネン系樹脂、ポリメチルメタクリレート系樹脂、液晶ポリマー等が挙げられる。フィルムは、キャスティング法、カレンダー法、押出し法のいずれで製造したものでもよい。

また、特開２００１−３４３５２９号公報（ＷＯ０１／３７００７）に記載のポリマーフィルム、たとえば、（Ａ）側鎖に置換および／または非置換イミド基を有する熱可塑性樹脂と、（Ｂ）側鎖に置換および／非置換フェニルならびにニトリル基を有する熱可塑性樹脂を含有する樹脂組成物があげられる。具体例としてはイソブチレンとＮ−メチルマレイミドからなる交互共重合体とアクリロニトリル・スチレン共重合体とを含有する樹脂組成物のフィルムがあげられる。フィルムは樹脂組成物の混合押出品などからなるフィルムを用いることができる。これらのフィルムは位相差が小さく、光弾性係数が小さいため偏光板の歪みによるムラなどの不具合を解消することができ、また透湿度が小さいため、加湿耐久性に優れる。

また、偏光子保護フィルムは、できるだけ色付きがないことが好ましい。したがって、Ｒｔｈ＝［（ｎｘ＋ｎｙ）／２−ｎｚ］・ｄ（ただし、ｎｘ、ｎｙはフィルム平面内の主屈折率、ｎｚはフィルム厚方向の屈折率、ｄはフィルム厚みである）で表されるフィルム厚み方向の位相差値が−９０ｎｍ〜＋９０ｎｍである保護フィルムが好ましく用いられる。かかる厚み方向の位相差値（Ｒｔｈ）が−９０ｎｍ〜＋９０ｎｍのものを使用することにより、偏光子保護フィルムに起因する偏光板の着色（光学的な着色）をほぼ解消することができる。厚み方向位相差値（Ｒｔｈ）は、さらに好ましくは−８０ｎｍ〜＋８０ｎｍ、特に−７０ｎｍ〜＋７０ｎｍが好ましい。

偏光特性や耐久性などの点から、トリアセチルセルロースの如きアセテート系樹脂が好ましく、特に表面をアルカリなどでケン化処理したトリアセチルセルロースフィルムが好ましい。なお、偏光子の両側に偏光子保護フィルムを設ける場合、その表裏で異なるポリマーからなる偏光子保護フィルムを用いてもよい。偏光子保護フィルムの厚さは、任意であるが、一般には偏光板の薄型化等を目的に、５００μｍ以下、好ましくは１〜３００μｍ、特に好ましくは５〜２００μｍとされる。

前記偏光板に積層する位相差層としては、位相差を有する光学層であれば良く、位相差層の例としては、ポリマーの塗布乾燥層や、液晶分子の配向固定層および、粘結剤層を介して貼着した、位相差板や仮着フィルムのようなポリマーフィルムがあげられる。本発明は特にフィルム面内で位相差ばらつきの大きい位相差層を積層した積層フィルムの検査に適用することが好ましく、位相差ばらつきの大きな位相差層としては、前記偏光板に粘着剤を介して仮着されるセパレータや、粘着剤と積層されており、偏光板の表面保護のために仮着される偏光板保護フィルムが例示できる。これらの偏光板に仮着されるフィルムは一般に、運搬時に用いられるもので、偏光板の実装時には剥離されるフィルムであるため、フィルム面内の位相差ばらつきはそれほど厳密に制御されるものではない。そのため、このような仮着フィルムを積層した偏光板の欠陥検査は比較的困難なものになっている。

前記位相差ばらつきは分子の配向角ばらつきで示すことができる。配向角ばらつきは、位相差層の位相差を制御する分子の所望の配向角度からどの程度ずれているかを表す指標であるが、本発明は、配向角ばらつきが６゜以上ある位相差層を有する積層フィルムにおいても、好ましく適用することができ、精度の良い検査を可能とする。この配向角ばらつきは、例えば、フィルムの幅方向に均等に３〜６点程度の配向角を測定し、この最大値と最小値の差を求めれば良く、前記配向角は市販の位相差測定装置で測定でき、例えば、王子計測機器（株）製のＫＯＢＲＡ−２１ＡＤＨを用いて測定できる。

偏光子保護フィルムには、本発明の目的を損なわない限り、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキングの防止や拡散ないしアンチグレア等を目的とした処理等を施したものであってもよい。ハードコート処理は、偏光板表面の傷付き防止などを目的に施されるものであり、例えばシリコーン系などの適宜な紫外線硬化型樹脂による硬度や滑り性等に優れる硬化皮膜を透明保護フィルムの表面に付加する方式などにて形成することができる。

一方、反射防止処理は、偏光板表面での外光の反射防止を目的に施されるものであり、従来に準じた反射防止膜などの形成により達成することができる。また、スティッキング防止は隣接層との密着防止を目的に、アンチグレア処理は偏光板の表面で外光が反射して偏光板透過光の視認を阻害することの防止などを目的に施されるものであり、例えばサンドブラスト方式やエンボス加工方式等による粗面化方式や透明微粒子の配合方式などの適宜な方式にて透明保護フィルムの表面に微細凹凸構造を付与することにより形成することができる。

本発明による積層フィルムは、実用に際して各種光学層を積層して光学フィルムとして用いることができる。その光学層については特に限定されるものではないが、例えば、前記透明保護フィルムの偏光子を接着させない面（前記接着剤塗布層を設けない面）に対して、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキング防止や、拡散ないしアンチグレアを目的とした表面処理を施したり、視角補償等を目的とした配向液晶層を積層する方法があげられる。また、反射板や半透過板、位相差板（１／２や１／４等の波長板（λ板）を含む）、視角補償フィルムなどの液晶表示装置等の形成に用いられる光学フィルムを１層または２層以上貼りあわせたものもあげられる。特にシート状製品が偏光板であれば、反射板または半透過反射板が積層されてなる反射型偏光板または半透過型偏光板、位相差板が積層されてなる楕円偏光板または円偏光板、視角補償層または視角補償フィルムが積層されてなる広視野角偏光板、あるいは輝度向上フィルムが積層されてなる偏光板として好ましく適用される。

反射型偏光板は、偏光板に反射層を設けたもので、視認側（表示側）からの入射光を反射させて表示するタイプの液晶表示装置などを形成するためのものであり、バックライト等の光源の内蔵を省略できて、液晶表示装置の薄型化を図りやすいなどの利点を有する。反射型偏光板の形成は、必要に応じ透明保護層等を介して偏光板の片面に金属等からなる反射層を付設する方式などの適宜な方式にて行なうことができる。

なお、半透過型偏光板は、上記において反射層で光を反射し、かつ透過するハーフミラー等の半透過型の反射層とすることにより得ることができる。半透過型偏光板は、通常液晶セルの裏側に設けられ、液晶表示装置などを比較的明るい雰囲気で使用する場合には、視認側（表示側）からの入射光を反射させて画像を表示し、比較的暗い雰囲気においては、半透過型偏光板のバックサイドに内蔵されているバックライト等の内蔵光源を使用して画像を表示するタイプの液晶表示装置などを形成できる。すなわち、半透過型偏光板は、明るい雰囲気下では、バックライト等の光源使用のエネルギーを節約でき、比較的暗い雰囲気下においても内蔵光源を用いて使用できるタイプの液晶表示装置などの形成に有用である。

偏光板に更に位相差板が積層されてなる楕円偏光板または円偏光板について説明する。直線偏光を楕円偏光または円偏光に変えたり、楕円偏光または円偏光を直線偏光に変えたり、あるいは直線偏光の偏光方向を変える場合に、位相差板などが用いられる。特に、直線偏光を円偏光に変えたり、円偏光を直線偏光に変える位相差板としては、いわゆる１／４波長板（λ／４板とも言う）が用いられる。１／２波長板（λ／２板とも言う）は、通常、直線偏光の偏光方向を変える場合に用いられる。

楕円偏光板はスーパーツイストネマチック（ＳＴＮ）型液晶表示装置の液晶層の複屈折により生じた着色（青又は黄）を補償（防止）して、前記着色のない白黒表示する場合などに有効に用いられる。更に、三次元の屈折率を制御したものは、液晶表示装置の画面を斜め方向から見た際に生じる着色も補償（防止）することができて好ましい。円偏光板は、例えば画像がカラー表示になる反射型液晶表示装置の画像の色調を整える場合などに有効に用いられ、また、反射防止の機能も有する。

位相差板としては、高分子素材を一軸または二軸延伸処理してなる福屈折性フィルム、液晶ポリマーの配向フィルム、液晶ポリマーの配向層をフィルムにて支持したものなどがあげられる。延伸処理は、例えばロール延伸法、長間隙沿延伸法、テンター延伸法、チューブラー延伸法などにより行うことができる。延伸倍率は、一軸延伸の場合には１．１〜３倍程度が一般的である。位相差板の厚さも特に制限されないが、一般的には１０〜２００μｍ、好ましくは２０〜１００μｍである。

前記高分子材料としては、例えば、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、ポリメチルビニルエーテル、ポリヒドロキシエチルアクリレート、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロース、メチルセルロース、ポリカーボネイト、ポリアリレート、ポリスルホン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルファイド、ポリフェニレンオキサイド、ポリアリルスルホン、ポリビニルアルコール、ポリアミド、ポリイミド、ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、セルロース系重合体、またはこれらの二元系、三元系各種共重合体、グラフト共重合体、ブレンド物などがあげられる。これら高分子素材は延伸等により配向物（延伸フィルム）となる。

前記液晶ポリマーとしては、例えば、液晶配向性を付与する共役性の直線状原子団（メソゲン）がポリマーの主鎖や側鎖に導入された主鎖型や側鎖型の各種のものなどがあげられる。主鎖型の液晶性ポリマーの具体例としては、屈曲性を付与するスペーサ部でメソゲン基を結合した構造の、例えばネマチック配向性のポリエステル系液晶性ポリマー、ディスコティックポリマーやコレステリックポリマーなどがあげられる。側鎖型の液晶性ポリマーの具体例としては、ポリシロキサン、ポリアクリレート、ポリメタクリレートまたはポリマロネートを主鎖骨格とし、側鎖として共役性の原子団からなるスペーサ部を介してネマチック配向付与性のパラ置換環状化合物単位からなるメソゲン部を有するものなどがあげられる。これら液晶性ポリマーは、例えば、ガラス板上に形成したポリイミドやポリビニルアルコール等の薄膜の表面をラビング処理したもの、酸化ケイ素を斜方蒸着したものなどの配向処理面上に液晶性ポリマーの溶液を展開して熱処理することにより行われる。

位相差板は、例えば各種波長板や液晶層の複屈折による着色や視角等の補償を目的としたものなどの使用目的に応じた適宜な位相差を有するものであってよく、２種以上の位相差板を積層して位相差等の光学特性を制御したものなどであってもよい。

偏光板と輝度向上フィルムを貼り合わせた偏光板は、通常液晶セルの裏側サイドに設けられて使用される。輝度向上フィルムは、液晶表示装置などのバックライトや裏側からの反射などにより自然光が入射すると所定偏光軸の直線偏光または所定方向の円偏光を反射し、他の光は透過する特性を示すもので、輝度向上フィルムを偏光板と積層した偏光板は、バックライト等の光源からの光を入射させて所定偏光状態の透過光を得ると共に、前記所定偏光状態以外の光は透過せずに反射される。この輝度向上フィルム面で反射した光を更にその後ろ側に設けられた反射層等を介し反転させて輝度向上フィルムに再入射させ、その一部又は全部を所定偏光状態の光として透過させて輝度向上フィルムを透過する光の増量を図ると共に、偏光子に吸収させにくい偏光を供給して液晶表示画像表示等に利用しうる光量の増大を図ることにより輝度を向上させうるものである。

また、本発明の積層フィルムは、上記の偏光分離型偏光板の如く、偏光板と２層又は３層以上の光学層とを積層したものからなっていてもよい。従って、上記の反射型偏光板や半透過型偏光板と位相差板を組み合わせた反射型楕円偏光板や半透過型楕円偏光板などであってもよい。

偏光板に前記光学層を積層した光学フィルムは、液晶表示装置等の製造過程で順次別個に積層する方式にても形成することができるが、予め積層して光学フィルムとしたものは、品質の安定性や組立作業等に優れていて液晶表示装置などの製造工程を向上させうる利点がある。積層には粘着剤層等の適宜な接着手段を用いうる。前記の偏光板と他の光学層の接着に際し、それらの光学軸は目的とする位相差特性などに応じて適宜な配置角度とすることができる。

本発明による偏光板や、前記の積層光学部材には、液晶セル等の他部材と接着するための粘着層を設けることもできる。その粘着層は、特に限定されるものではないが、アクリル系等の従来に準じた適宜な粘着剤にて形成することができる。吸湿による発泡現象や剥がれ現象の防止、熱膨脹差等による光学特性の低下や液晶セルの反り防止、ひいては高品質で耐久性に優れる画像表示装置の形成性等の点により、吸湿率が低くて耐熱性に優れる粘着層であることが好ましい。また、微粒子を含有して光拡散性を示す粘着層などとすることができる。粘着層は必要に応じて必要な面に設ければよく、例えば、偏光子と保護フィルムからなる偏光板について言及するならば、必要に応じて、保護フィルムの片面または両面に粘着層を設ければよい。

前記粘着層の露出面に対しては、実用に供するまでの間、その汚染防止等を目的にセパレータが仮着されてカバーされる。これにより、通例の取扱状態で粘着層に接触することを防止できる。セパレータとしては、ポリエステルやポリエチレンテレフタレート等の透光性プラスチックフィルムに、シリコーン系や長鎖アルキル系、フッ素系や硫化モリブデン等の適宜な剥離剤でコート処理したものなどの、易剥離性能および透光性能を有する従来に準じた適宜なものを用いうる。また、積層フィルムの粘着剤層を有しない面には、前記のような透光性プラスチックフィルムに粘結剤層が積層された、易剥離型の保護フィルムを仮着し、積層フィルムを保護しても良い。

なお本発明において、上記した偏光板を形成する偏光子や透明保護フィルムや光学フィルム等、また粘着層などの各層には、例えばサリチル酸エステル系化合物やべンゾフェノール系化合物、ベンゾトリアゾール系化合物やシアノアクリレート系化合物、ニッケル錯塩系化合物等の紫外線吸収剤で処理する方式などの方式により紫外線吸収能をもたせたものなどであってもよい。

本発明による積層フィルムは、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置、ＰＤＰ等の画像表示装置の形成に好ましく用いることができる。
本発明の偏光板または光学フィルムは液晶表示装置等の各種装置の形成などに好ましく用いることができる。液晶表示装置の形成は、従来に準じて行いうる。すなわち液晶表示装置は一般に、液晶セルと偏光板または光学フィルム、及び必要に応じての照明システム等の構成部品を適宜に組立てて駆動回路を組込むことなどにより形成されるが、本発明においては本発明による偏光板または光学フィルムを用いる点を除いて特に限定はなく、従来に準じうる。液晶セルについても、例えばＴＮ型やＳＴＮ型、π型などの任意なタイプのものを用いうる。

液晶セルの片側又は両側に偏光板または光学フィルムを配置した液晶表示装置や、照明システムにバックライトあるいは反射板を用いたものなどの適宜な液晶表示装置を形成することができる。その場合、本発明による偏光板または光学フィルムは液晶セルの片側又は両側に設置することができる。両側に偏光板または光学フィルムを設ける場合、それらは同じものであってもよいし、異なるものであってもよい。さらに、液晶表示装置の形成に際しては、例えば拡散板、アンチグレア層、反射防止膜、保護板、プリズムアレイ、レンズアレイシート、光拡散板、バックライトなどの適宜な部品を適宜な位置に１層又は２層以上配置することができる。

次いで有機エレクトロルミネセンス装置（有機ＥＬ表示装置）について説明する。一般に、有機ＥＬ表示装置は、透明基板上に透明電極と有機発光層と金属電極とを順に積層して発光体（有機エレクトロルミネセンス発光体）を形成している。ここで、有機発光層は、種々の有機薄膜の積層体であり、例えばトリフェニルアミン誘導体等からなる正孔注入層と、アントラセン等の蛍光性の有機固体からなる発光層との積層体や、あるいはこのような発光層とペリレン誘導体等からなる電子注入層の積層体や、またあるいはこれらの正孔注入層、発光層、および電子注入層の積層体等、種々の組合せをもった構成が知られている。

電圧の印加によって発光する有機発光層の表面側に透明電極を備えるとともに、有機発光層の裏面側に金属電極を備えてなる有機エレクトロルミネセンス発光体を含む有機ＥＬ表示装置において、透明電極の表面側に偏光板を設けるとともに、これら透明電極と偏光板との間に位相差板を設けることができる。

位相差板および偏光板は、外部から入射して金属電極で反射してきた光を偏光する作用を有するため、その偏光作用によって金属電極の鏡面を外部から視認させないという効果がある。特に、位相差板を１／４波長板で構成し、かつ偏光板と位相差板との偏光方向のなす角をπ／４に調整すれば、金属電極の鏡面を完全に遮蔽することができる。

本発明による積層フィルムは、液晶表示装置等の各種装置の形成などに好ましく用いることができる。液晶表示装置は、本発明による積層フィルム（例えば偏光板）を液晶セルの片側または両側に配置してなる透過型や反射型、あるいは透過・反射両用型の従来に準じた適宜な構造を有するものとして形成することができる。従って、液晶表示装置を形成する液晶セルは任意であり、例えば薄膜トランジスタ型に代表される単純マトリクス駆動型のものなどの適宜なタイプの液晶セルを用いたものであってもよい。

積層フィルムの欠陥検出装置の構成を示す概念図 積層フィルムの欠陥検出装置の別構成を示す概念図 検査用偏光フィルタの偏光軸の調整機構を説明する図 検査用偏光フィルタの偏光軸の調整機構の別実施形態を説明する図 位相差層を有する偏光板に対して、光量が最小となる位置に偏光フィルタを回転させて撮影したときの画像信号を示す図 位相差層を有する偏光板に対して、光量が最小となる位置に偏光フィルタを回転させて撮影したときの画像信号を示す図 位相差層を有する偏光板に対して、光量が最小となる位置に偏光フィルタを回転させて撮影したときの画像信号を示す図 位相差層を有する偏光板に対して、光量が最小となる位置に偏光フィルタを回転させて撮影したときの画像信号を示す図 位相差層を有する偏光板に対してクロスニコルに配置した偏光フィルタを用いて撮影したときの画像信号を示す図 位相差層を有さない偏光板に対してクロスニコルに配置した偏光フィルタを用いて撮影したときの画像信号を示す図 図６の例での原画像と二値化画像を示す図 図５の例での原画像と二値化画像を示す図 積層フィルムの断面構成を示す図

符号の説明

１ 偏光板
１ａ 偏光子
１ｂ 保護フィルム
２ セパレータ
１１ 積層フィルム
１２ 撮像部
１３ 光源
１４ 画像処理装置
１４ａ 光量検出部
１４ｂ 欠陥検出部
１５ 検査用偏光フィルタ
１６ 光軸調整部
１７ 画像データ取得部
１８ モニター
１９ 記憶装置
２０ マーキング装置
２１ マーキング制御部
Ｌ１，Ｌ２ 偏光軸

Claims (9)

1. 少なくとも、偏光板と、位相差層とを積層して積層フィルムを製造する工程と、
   製造された積層フィルムの欠陥検査を行なう工程とを有する積層フィルムの製造方法であって、前記欠陥検査工程は、
   積層フィルムのフィルム面の一方側に配置された光源により、積層フィルムに対して光を照射する工程と、
   前記フィルム面の他方側に配置された撮像部により、積層フィルムの透過光像を撮影する工程と、
   撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程と、
   前記フィルム面と撮像部の間の光路上に配置される検査用の偏光フィルタの偏光軸と、前記偏光板の偏光軸との相対角度位置を調整する工程とを有し、
   前記偏光フィルタの相対角度位置調整は、撮像部に入力される可視光の光量が最小値となるように、偏光フィルタの相対角度位置ｘを０゜＜ｘ≦１５゜の範囲で調整することを特徴とする積層フィルムの製造方法。
2. 少なくとも、偏光板と、位相差層とが積層された積層フィルムの欠陥検出方法であって、
   積層フィルムのフィルム面の一方側に配置された光源により、積層フィルムに対して光を照射する工程と、
   前記フィルム面の他方側に配置された撮像部により、積層フィルムの透過光像を撮影する工程と、
   撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出工程と、
   前記フィルム面と撮像部の間の光路上に配置される検査用の偏光フィルタの偏光軸と、前記偏光板の偏光軸との相対角度位置を調整する工程とを有し、
   前記偏光フィルタの相対角度位置調整は、撮像部に入力される可視光の光量が最小値となるように、偏光フィルタの相対角度位置ｘが０゜＜ｘ≦１５゜の範囲で調整されることを特徴とする積層フィルムの欠陥検出方法。
3. 前記位相差層は、面内の配向角ばらつきが６゜以上であることを特徴とする請求項２に記載の積層フィルムの欠陥検出方法。
4. 少なくとも、偏光板と、位相差層とが積層された積層フィルムの欠陥検出装置であって、
   積層フィルムのフィルム面の一方側に配置され、積層フィルムに対して光を照射する光源と、
   前記フィルム面の他方側に配置され、積層フィルムの透過光像を撮影する撮像部と、
   前記フィルム面と撮像部の間の光路上に配置される検査用の偏光フィルタと、
   撮像部により撮影された透過光像に基づいて、積層フィルムに存在する欠陥の検出を行う欠陥検出部と、
   偏光フィルタの偏光軸と前記偏光板の偏光軸との相対角度位置を調整する光軸調整部とを備え、
   前記光軸調整部により、前記偏光フィルタの相対角度位置ｘが、撮像部に入力される可視光の光量が最小値となるように、０゜＜ｘ≦１５゜の範囲で調整されることを特徴とする積層フィルムの欠陥検出装置。
5. 前記光軸調整部は、偏光フィルタを回転させることで相対角度位置を調整することを特徴とする請求項４に記載の積層フィルムの欠陥検出装置。
6. 前記光軸調整部は、偏光軸を異なる方向に設定した複数の偏光フィルタのうち、選択された１つの偏光フィルタを光路上に設置することを特徴とする請求項４に記載の積層フィルムの欠陥検出装置。
7. 請求項４〜６のいずれか１項に記載の欠陥検出装置により検査された積層フィルム。
8. 請求項７に記載の積層フィルムに少なくとも１層の光学層を積層した積層フィルム。
9. 請求項７又は８に記載の積層フィルムを有する画像表示装置。

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