JP2007212428A - 光源装置および光断層画像化装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光源装置10は、それぞれ所定の波長幅を有し、中心波長が異なる3つ以上の光源SLD1、SLD2、SLD3、SLD4を備え、これらの光源は中心波長の長さの順番で奇数番目の光源からなる第1群と偶数番目の光源からなる第2群とに群分けされている。また、光源装置10には、同一群内の光源の光を合波して、各群の光をそれぞれ射出させる波長選択性を有する1または複数の合波手段DM1、DM2と、前記第1群および前記第2群から射出した光を合波する波長選択性を有しない合波手段HMとが設けられている。
【選択図】図2
Description
1≦d/w≦1.2
の関係を有することが好ましい。
I(k)=∫0 ∞S(l)[1+cos(kl)]dl ・・・(1)
で表される。ここで、kは波数、lは光路長差である。式(1)は波数kを変数とする光周波数領域のインターフェログラムとして与えられていると考えることができる。このため、画像取得手段50において、干渉光検出手段40が検出した干渉光をフーリエ変換にかけて周波数解析を行い、干渉光L4の光強度S(l)を決定することにより、測定対象Sの各深さ位置における反射情報を取得し、断層画像を生成することができる。そして、生成された断層画像は、表示装置60において表示される。
図4に、光源SLD1、SLD3の発光スペクトルを破線で、これらのダイクロイックミラーDM1による合波光の発光スペクトルを実線で示す。また、図5に、光源SLD2、SLD4の発光スペクトルを破線で、これらのダイクロイックミラーDM2による合波光の発光スペクトルを実線で示す。図4および図5に示すように、ダイクロイックミラーDM1、DM2による合波は、光量損失が少なく、各合波光の発光スペクトルは、中央に深い凹みをもった形状となる。
3 光分割手段
4 合波手段
5 光カプラ
10、210、310、410、510 光源装置
12 光学系
20 光路長調整手段
21 コリメータレンズ
22 反射ミラー
23 可動ステージ
24 ミラー駆動手段
25 位相変調器
30 プローブ
40、240 干渉光検出手段
40a、40b 検出器
41 コリメータレンズ
42 分光手段
44 光検出手段
50 画像取得手段
60 表示装置
C 光カプラ
DM1、DM2、DM3 ダイクロイックミラー
HM、HM1、HM2、HM3 ハーフミラー
L 光
L1 測定光
L2 参照光
L3 反射光
L4 干渉光
OC 光学コネクタ
PC 偏波面保存光カプラ
PM 偏光ミラー
S 測定対象
SLD1、SLD2、SLD3、SLD4 光源
WDMC1、WDMC2 WDMカプラ
Claims (7)
- それぞれ所定の波長幅を有し、中心波長が異なる3つ以上の光源と、
前記光源を中心波長の長さの順番で奇数番目の光源からなる第1群と偶数番目の光源からなる第2群とに群分けしたものに対し、同一群内の光源の光を合波して、各群の光をそれぞれ射出させる波長選択性を有する1または複数の合波手段と、
前記第1群および前記第2群から射出した光を合波する波長選択性を有しない合波手段と、を備えたことを特徴とする光源装置。 - 前記各光源の発光スペクトルは単峰性であり、該発光スペクトルの半値全幅(w)と前記順番で隣り合う前記光源同士のピーク波長の間隔(d)が、
1≦d/w≦1.2
の関係を有することを特徴とする請求項1記載の光源装置。 - 前記波長選択性を有する合波手段が、ダイクロイックミラー、ダイクロイックプリズム、回折光学素子、WDMカプラのいずれかであることを特徴とする請求項1または2記載の光源装置。
- 前記波長選択性を有しない合波手段が、ハーフミラー、ハーフプリズム、偏光ミラー、偏光プリズム、光カプラのいずれかであることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項記載の光源装置。
- 前記波長選択性を有しない合波手段が、偏光方向が直交する光を合波するものであることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項記載の光源装置。
- 前記各光源が、前記順番の端から中心に向かうほど、該光源のピーク波長での強度が大きくなるよう設定されていることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項記載の光源装置。
- 請求項1から6のいずれか1項記載の光源装置と、
前記光源装置から射出された光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
前記合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と、
前記干渉光検出手段により検出された前記干渉光から前記測定対象の断層画像を取得する画像取得手段と、を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。
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