JP2007199058A - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007199058A
JP2007199058A JP2006350489A JP2006350489A JP2007199058A JP 2007199058 A JP2007199058 A JP 2007199058A JP 2006350489 A JP2006350489 A JP 2006350489A JP 2006350489 A JP2006350489 A JP 2006350489A JP 2007199058 A JP2007199058 A JP 2007199058A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
inspection
inspection apparatus
inspection object
wavelengths
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006350489A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Omichi
喜之 大道
Shoichi Kusano
昌一 草野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sapporo Breweries Ltd
Original Assignee
Sapporo Breweries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sapporo Breweries Ltd filed Critical Sapporo Breweries Ltd
Priority to JP2006350489A priority Critical patent/JP2007199058A/ja
Publication of JP2007199058A publication Critical patent/JP2007199058A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】被検査物の内部に混入した内容物の密度とは異なる種々の物質の検出を容易にし、また、X線の透過画像に影響を及ぼす恐れのある塵芥などを除去して検査精度が高いX線検査装置。
【解決手段】波長の異なるX線発生源とそれに対応するX線検出部とを組み合わせて連続して少なくとも2つ以上配置し、その各々の波長で得られた透視画像の複合処理によって、内容物とは異なる種々の密度を持った物体の識別精度を高めたX線画像が得られ、さらにまた、検査物塵芥除去装置を設けることによって、検査時に被検査物の外部に付着した物体の影響を除去して、識別精度を高めたX線画像が得られる。
【選択図】図1

Description

本発明は、X線検査装置に関し、より詳細には、被検査物の透視画像を用いて、被検査物の内部に所望しない物体の有無の検査を行なうためのX線検査装置に関する。
従来、被検査物の内部の情報を認識するX線検査装置は、X線を発生するX線発生源と被検査物を透過したX線を検出するX線検出部と被検査物の固定部もしくは、搬送部からなる。そして、この機構により、被検査物にX線を照射し、照射により得られた透視画像において、内容物中に所望しない物体の有無を識別し、検査している。識別する方法は、内容物の密度が均一であれば、X線の透過量が均一で一様の透視画像が得られることに基づいており、内容物中に内容物の密度と異なる物質が含まれていた場合、明度が異なる模様が生じることを利用して識別している。
被検査物を効果的に検査するために、X線検査装置のX線発生源を有効に利用してきた。例えば、従来から被検査物に対して異なる2つの方向から放射線を照射するX線放射源を設けたX線検査装置などが知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開昭53−29790号公報
しかしながら、上述のX線検査装置では、X線発生源から照射されるX線の波長は1種類であるため、被検査物内に混入した物質の密度が複数の場合、物質によっては、X線が透過し、模様としての画像が得られず、検出が容易でないという問題点を有している。また、X線検出部に被検査物の内部ではなく、外部に付着する塵埃等の物質により、内容物中の混入した物体と誤って判定するという問題点を有している。
したがって、本発明は、上述の問題に鑑みてなされたものであり、被検査物の内部に混入した内容物の密度とは異なる種々の物質の検出を容易にするためのX線検査装置を提供することを目的とする。また、検査時に被検査物の外部に付着した物体の影響を取り除くためのX線検査装置を提供することを目的とする。
本発明者らは、波長の異なるX線発生源を連続して配置し、その各々の波長で得られた透視画像を複合して処理することに着目することによって、内容物とは異なる種々の密度を持った物体の識別精度を高め、また、X線検査装置の入口とX線検出部に塵芥除去装置を配置し、X線の透過画像に影響を及ぼす恐れのある塵芥の除去装置を設けることによって、本発明を開発するに至った。
即ち、上記目的は、請求項1に記載されるが如く、被検査物にX線を照射するX線発生源と、該被検査物を透過したX線を検出するX線検出部と、該被検査物を搬送する搬送部からなるX線検査装置であって、X線の波長が異なるX線発生源とそれに対応するX線検出部との組み合わせを連続的に少なくとも2つ以上設けたことを特徴とするX線検査装置によって達成できる。
請求項1に記載の発明によれば、被検査物にX線を照射するX線発生源と、該被検査物を透過したX線を検出するX線検出部と、該被検査物を搬送する搬送部からなるX線検査装置において、X線の波長が異なるX線発生源とそれに対応するX線検出部との組み合わせを連続的に少なくとも2つ以上設けることによって、従来の波長が1種類のX線検査装置で検出が困難であった密度の小さい混入物体についても、2種類以上の異なる波長で得られた透過画像によって、混入物体の識別精度を高めることが可能となり、より効果的な異物検査を実施することができる。
請求項2にかかる発明は、請求項1の発明において、前記被検査物が波長の異なる少なくとも2つ以上のX線照射を連続して受けることにより得られた各透視画像情報を複合的に処理することを特徴とする。
請求項2に記載の発明によれば、前記被検査物が波長の異なる少なくとも2つ以上のX線照射を連続して受けることにより得られた各透視画像情報を複合的に処理することによって、従来の波長が1種類のX線検査装置で検出が困難であった密度の小さい混入物体についても、より精度の高い識別が可能となり、内容物が目視出来ない被検査物の品質保証のレベルを高めることが可能である。
請求項3にかかる発明は、請求項1または2の発明において、前記X線検出部およびX線検査装置の被検査物の挿入口に識別判定の支障となる物質の除去装置を設けたことを特徴とする。
請求項3に記載の発明によれば、前記X線検出部およびX線検査装置の被検査物の挿入口に識別判定の支障となる物質の除去装置を設けることによって、被検出物の外部に付着する塵埃等の物質により、内容物中の混入した物体と誤って判定することがなく、識別精度を高めた、より効果的な異物検査を実施することができる。
本発明によれば、従来の波長が1種類であったX線検査装置で検出が困難であった密度の小さい混入物体についても、2種類以上の異なる波長で得られた透過画像を複合処理することにより、精度の高い識別が可能となり、内容物が目視出来ない被検査物の品質保証のレベルを高めることが可能である。
以下に添付図を参照しながら本発明を詳細に説明する。
図1は、X線発生源(2、3)、X線検出部(8、10)、搬送部(7、12)、X線漏洩遮断部(1)を示し、このX線検査装置は、2基のX線発生源と2基のX線検出部を備えている。
X線発生源(2、3)のうち、波長の短いX線は、透過率が強いため密度の大きいものの検出に適している一方、波長の長いX線は、透過率が弱いために密度の小さいものの検出に適していることから、少なくとも2種類以上の波長のX線照射を可能としたものである。この波長の異なるX線の発生方法は、管電流と管電圧の組み合わせにより達成される。また、X線検査装置の入口とX線検出部に検査物塵芥除去装置(6、9、11)を配置し、X線の透過画像に影響を及ぼす恐れのある塵芥の除去を行なう。
この検査物塵芥除去装置は、この被検査物の上面に付着又は堆積する、検査にとって邪魔になる不要物をエアー(エアーの吹付け状況を図1中、白抜き三角で表す)の吹き付けにより、除去する役割を有する(6)。したがって、検査物塵芥除去装置(9、11)はX線検出部(8、10)の透過X線の受光部に付着するゴミ等測定を阻害する障害物をエアーでもって除去する。
第1のX線発生源(3)は、第2のX線発生源(2)とは異なる波長のX線を照射し、第1のX線発生源で検出されたX線透視画像については、第1のX線検出部(10)で受像され、第2のX線発生源で検出されたX線画像については、第2のX線検出部(8)で受像される。次いで、第1のX線検出部1と第2のX線検出部で得られた2つの画像を統合した画像イメージとして処理することによって、被検査物の内容物を検品する。
本発明の代表的な実施態様としては、ビールや清涼飲料水が充填された金属缶もしくは、金属缶を所定数量に段ボール等で梱包された状態で、これらがコンベア上を通過する際にX線検査を行うものである。
検査対象について、例えばビール、清酒、蒸留酒、ワイン等のアルコール飲料や清涼飲料等の飲料全般について考慮すると、これら飲料の製造工程で誤って混入してしまう混入物としては金属、木、樹脂、ガラス、紙、ゴム、虫あるいは蛋白質等多岐に渡っており、X線の透過特性も大きく異なる(即ち、密度が広範囲に異なる)。また、検査対象が上記の飲料類であれば、上記混入物との密度差が明確であるため、検査対象に対する考慮は差ほどないが、検査対象と混入物との密度差が小さい場合には、検査対象と混入物との識別にも配慮する必要がある。
本発明においては、特に混入物のX線透過特性が広範囲に異なる場合にも混入物の有無を正確に検知できるように、互いにX線発生源のX線波長を適宜異ならせた複数段階のX線検査で本発明の目的を達成するものである。
以下に、本発明を実施例により説明するが、本発明はこれらによって制限されるものではない。
本実施例では、検査対象として缶(アルミ製)入りビールの異物混入検査を例に挙げて本発明を説明する。検査装置そのものの模式図は図1に示すものを利用するため、特に説明を省略するが、各X線発生源の管電圧及び管電流を表1に示す。
Figure 2007199058
また、検査対象については上記の如く缶入りビールをサンプルとして用いるが、より具体的には、製品として出荷する状態、即ち、段ボール箱に缶入りビールを24缶包装・収納されたものであり、本実施例では、その中に試験用混入物を封入したサンプルが含まれる。試験用混入物としては、3mm角のステンレス製小片と体長30mmのコガネムシとした。
次に、検査手順について説明すると、上記サンプル缶を含む段ボール箱をベルトコンベアで搬送し、X線異物検査装置1の挿入口(6)より装置内部に搬入する。搬入の直前に検査物塵芥除去装置(6)より箱上面に順次エアーを吹付け、X線撮影の障害になる付着物等を除去する。検査装置に搬入された箱は第1のX線検査装置(X線発生源3及びX線検出部10)を通過し、箱内部を撮影する。その撮影結果を図2の右図に示す。当該図はサンプルのみの画像を示すが、外苑がサンプル缶外形(アルミ部分)、外形内の白抜きがビール、そして白抜き部内の小四角部が混入物であるステンレス製小片である。
第1の検査装置を通過した段ボール箱は、次に第2のX線検査装置(X線発生源2、X線検出部8)に到達し、撮影を開始する。当該第2の検査装置における撮影画像を図2の左図に示す。当該図において白抜き部分が見られるが、これがコガネムシである。点線の囲い部分は実際の画像では識別出来ないが、図2の右図に見られるステンレス製小片の存在位置を示す。
以上の測定結果を統合した画像を図3に示す。即ち、X線透過特性の大きく異なる混入物が明確に認識することができる。なお、当該実施例の設定では、第1のX線検査装置で波長の短いX線を使用するために、金属、木片、樹脂等の密度が高い混入異物が判別できる。また、第2のX線検査装置では、波長の長いX線を使用するために、昆虫などの他に蛋白質等の比較的密度の小さい混入異物の検出が可能となり、このようにして、少なくとも2種類以上の波長のX線を照射することにより、広範囲の混入物の検出に対応することができる。
よって、本発明により、ビールや清涼飲料水が充填された金属缶もしくは、金属缶を所定数量に段ボール等で梱包された状態で、これらがコンベア上を通過する際に少なくとも2種類以上の波長のX線検査を行うことによって、検査時に内容物の密度とは異なる物体を検出した際は、検査装置の出口に備えられた排出装置により正常ラインから除去されるか、もしくは、搬送コンベアの停止により検出品の除去が可能である。
なお、本実施例では、二段階の検査で発明の目的を達成しているが、より広範囲のX線透過特性を有する混入物の検査に際しては、更なる複数段階の検査で対応することが可能である。
また、本発明のX線検査装置を用いて、上述した容器(缶)内の検査だけでなく、容器を包装・収容した段ボール箱等のパッケージ内の容器と容器との空間に存在する異物をも検出することが可能である。
したがって、本発明のX線検査装置は、従来の波長が1種類のX線検査装置で検出が困難であった密度の小さい混入物体についても、2種類以上の異なる波長で得られた透過画像を複合処理することにより、精度の高い識別が可能となり、内容物が目視出来ない被検査物の品質保証のレベルを高めることが可能となり、より効果的な検品を実施することができる。
以上本発明の好ましい実施例について詳述したが、本発明はかかる特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
本発明のX線検査装置の側断面図である。 本発明のX線検査装置により、異なる波長で得られた画像イメージを示す図である。 本発明のX線検査装置の2つの異なる波長で得られた図2の画像を統合加工した画像イメージを示す図である。
符号の説明
1 X線漏洩遮断部
2 X線発生源
3 X線発生源
4 被検査物
5 被検査物
6 検査物塵芥除去装置
7 輸送部
8 X線検出部
9 検査物塵芥除去装置
10 X線検出部
11 検査物塵芥除去装置
12 輸送部

Claims (3)

  1. 被検査物にX線を照射するX線発生源と、該被検査物を透過したX線を検出するX線検出部と、該被検査物を搬送する搬送部からなるX線検査装置であって、X線の波長が異なるX線発生源とそれに対応するX線検出部との組み合わせを連続的に少なくとも2つ以上設けたことを特徴とするX線検査装置。
  2. 前記被検査物が波長の異なる少なくとも2つ以上のX線照射を連続して受けることにより得られた各透視画像情報を複合的に処理することを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
  3. 前記X線検出部およびX線検査装置の被検査物の挿入口に識別判定の支障となる物質の除去装置を設けたことを特徴とする請求項1または2に記載のX線検査装置。
JP2006350489A 2005-12-28 2006-12-26 X線検査装置 Pending JP2007199058A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006350489A JP2007199058A (ja) 2005-12-28 2006-12-26 X線検査装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005379361 2005-12-28
JP2006350489A JP2007199058A (ja) 2005-12-28 2006-12-26 X線検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007199058A true JP2007199058A (ja) 2007-08-09

Family

ID=38453785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006350489A Pending JP2007199058A (ja) 2005-12-28 2006-12-26 X線検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007199058A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010210625A (ja) * 2009-03-10 2010-09-24 Wipotec Wiege-& Positioniersysteme Gmbh 生産機械用の検査装置
JP2010281648A (ja) * 2009-06-03 2010-12-16 Nagoya Electric Works Co Ltd 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム
JP2010281649A (ja) * 2009-06-03 2010-12-16 Nagoya Electric Works Co Ltd 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム
JP2010286406A (ja) * 2009-06-12 2010-12-24 Sii Nanotechnology Inc X線透過検査装置及びx線透過検査方法
JP2010286405A (ja) * 2009-06-12 2010-12-24 Sii Nanotechnology Inc X線透過検査装置及びx線透過検査方法
CN103033516A (zh) * 2011-10-10 2013-04-10 靖江市永盛光电科技有限公司 导电胶按键自动检测设备
CN109187592A (zh) * 2018-08-03 2019-01-11 山东建筑大学 木材内部结构成像系统

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH039252A (ja) * 1989-06-06 1991-01-17 Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd 貝剥身中の異物検査装置
JPH09271734A (ja) * 1996-04-03 1997-10-21 Sapporo Breweries Ltd 検査阻害物除去装置
JPH10104175A (ja) * 1996-10-01 1998-04-24 Shimadzu Corp 材質特定x線検査装置
JPH11316197A (ja) * 1998-05-06 1999-11-16 Matsushita Electric Works Ltd 平板材の内部検査方法及び装置
JP2000509141A (ja) * 1996-03-21 2000-07-18 クレンベルグ,ラグナー 密度を測定する方法と装置
JP2001091480A (ja) * 1999-09-22 2001-04-06 Shimadzu Corp X線検査装置および充填量算出方法
JP2002350366A (ja) * 2001-05-28 2002-12-04 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2002365368A (ja) * 2001-06-04 2002-12-18 Anritsu Corp X線検出器及び該検出器を用いたx線異物検出装置
JP2004148248A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Anritsu Sanki System Co Ltd 物品検査システム
JP2004177298A (ja) * 2002-11-28 2004-06-24 Hitachi Medical Corp X線異物検査装置
JP2004317184A (ja) * 2003-04-14 2004-11-11 Shimadzu Corp X線異物検査装置
JP2005127962A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Anritsu Sanki System Co Ltd X線検査装置
JP2005186967A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Toyo Seikan Kaisha Ltd ケース内容器の内圧不良検出方法およびその装置
JP2005257423A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Toshiba Corp 欠陥検出装置

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH039252A (ja) * 1989-06-06 1991-01-17 Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd 貝剥身中の異物検査装置
JP2000509141A (ja) * 1996-03-21 2000-07-18 クレンベルグ,ラグナー 密度を測定する方法と装置
JPH09271734A (ja) * 1996-04-03 1997-10-21 Sapporo Breweries Ltd 検査阻害物除去装置
JPH10104175A (ja) * 1996-10-01 1998-04-24 Shimadzu Corp 材質特定x線検査装置
JPH11316197A (ja) * 1998-05-06 1999-11-16 Matsushita Electric Works Ltd 平板材の内部検査方法及び装置
JP2001091480A (ja) * 1999-09-22 2001-04-06 Shimadzu Corp X線検査装置および充填量算出方法
JP2002350366A (ja) * 2001-05-28 2002-12-04 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2002365368A (ja) * 2001-06-04 2002-12-18 Anritsu Corp X線検出器及び該検出器を用いたx線異物検出装置
JP2004148248A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Anritsu Sanki System Co Ltd 物品検査システム
JP2004177298A (ja) * 2002-11-28 2004-06-24 Hitachi Medical Corp X線異物検査装置
JP2004317184A (ja) * 2003-04-14 2004-11-11 Shimadzu Corp X線異物検査装置
JP2005127962A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Anritsu Sanki System Co Ltd X線検査装置
JP2005186967A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Toyo Seikan Kaisha Ltd ケース内容器の内圧不良検出方法およびその装置
JP2005257423A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Toshiba Corp 欠陥検出装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010210625A (ja) * 2009-03-10 2010-09-24 Wipotec Wiege-& Positioniersysteme Gmbh 生産機械用の検査装置
US9440758B2 (en) 2009-03-10 2016-09-13 Wipotec Wiege- Und Positioniersysteme Gmbh Inspection device for a production machine
JP2010281648A (ja) * 2009-06-03 2010-12-16 Nagoya Electric Works Co Ltd 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム
JP2010281649A (ja) * 2009-06-03 2010-12-16 Nagoya Electric Works Co Ltd 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム
JP2010286406A (ja) * 2009-06-12 2010-12-24 Sii Nanotechnology Inc X線透過検査装置及びx線透過検査方法
JP2010286405A (ja) * 2009-06-12 2010-12-24 Sii Nanotechnology Inc X線透過検査装置及びx線透過検査方法
CN103033516A (zh) * 2011-10-10 2013-04-10 靖江市永盛光电科技有限公司 导电胶按键自动检测设备
CN109187592A (zh) * 2018-08-03 2019-01-11 山东建筑大学 木材内部结构成像系统
CN109187592B (zh) * 2018-08-03 2022-01-11 山东建筑大学 木材内部结构成像系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007199058A (ja) X線検査装置
JP5358073B2 (ja) 分包シート検査システム及び検査方法
JP2008026198A (ja) X線検査装置およびx線検査プログラム
JP2006505787A (ja) X線及びこれを用いた装置により、充填された容器を検査するための装置
JP2005024549A (ja) X線検査装置
JP3943072B2 (ja) X線検査装置
JP3860154B2 (ja) X線検査装置
US20170035919A1 (en) Inspection of containers
JP2003139723A (ja) X線異物検出装置
JP3618701B2 (ja) X線異物検出装置
JP2005003480A (ja) X線検査装置
CN115885170A (zh) 异物检查装置
JP3917129B2 (ja) X線検査装置
JP2009085627A (ja) X線ラインセンサモジュール及びx線異物検査装置
WO2019235022A1 (ja) 検査装置
JP3180313U (ja) 検査システム
JP4170366B2 (ja) X線検査装置
JP5017617B2 (ja) ボトルの残液検査方法
JP3860144B2 (ja) X線検査装置
JP7452185B2 (ja) 塗膜を有する容器の検査装置及び検査方法
JP2005091016A (ja) X線検査装置
JP3955559B2 (ja) X線検査装置
JP6556671B2 (ja) X線検査装置
JP5336758B2 (ja) X線検査装置
JP6434806B2 (ja) 検査装置および充填設備

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090515

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110629

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110705

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110902

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120321

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120510

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121113

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121228

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130618