JP2007199058A - X線検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】波長の異なるX線発生源とそれに対応するX線検出部とを組み合わせて連続して少なくとも2つ以上配置し、その各々の波長で得られた透視画像の複合処理によって、内容物とは異なる種々の密度を持った物体の識別精度を高めたX線画像が得られ、さらにまた、検査物塵芥除去装置を設けることによって、検査時に被検査物の外部に付着した物体の影響を除去して、識別精度を高めたX線画像が得られる。
【選択図】図1
Description
2 X線発生源
3 X線発生源
4 被検査物
5 被検査物
6 検査物塵芥除去装置
7 輸送部
8 X線検出部
9 検査物塵芥除去装置
10 X線検出部
11 検査物塵芥除去装置
12 輸送部
Claims (3)
- 被検査物にX線を照射するX線発生源と、該被検査物を透過したX線を検出するX線検出部と、該被検査物を搬送する搬送部からなるX線検査装置であって、X線の波長が異なるX線発生源とそれに対応するX線検出部との組み合わせを連続的に少なくとも2つ以上設けたことを特徴とするX線検査装置。
- 前記被検査物が波長の異なる少なくとも2つ以上のX線照射を連続して受けることにより得られた各透視画像情報を複合的に処理することを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記X線検出部およびX線検査装置の被検査物の挿入口に識別判定の支障となる物質の除去装置を設けたことを特徴とする請求項1または2に記載のX線検査装置。
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