JP2007192594A - パターン画像取得方法およびパターン画像取得装置 - Google Patents
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Abstract
【構成】 検出対象のパターンと平行とならないようにビームの走査方向あるいは検出対象のパターンを回転させるステップと、検出対象のパターンと平行とならないようにビームの走査方向が回転された状態で、パターンを異なる位置で横切る複数本の走査を行ってラインプロファイルを取得するステップと、取得したラインプロファイルをもとにパターンのエッジ位置を検出するステップとを有する。
【選択図】 図1
Description
図1において、電子光学系1は、細く絞った電子線ビームなどの荷電粒子線ビームを試料5の表面に照射しつつ平面走査し、放出された2次電子、光、反射された反射電子、更に、吸収された電子を検出し、表示装置20の画面上に試料5の拡大された画像を表示させるための公知のものである。
ステージ7は、回転機構6を介して試料5を搭載し、X、Y、Z方向に精密移動する機構である。尚、図示しないが、ステージ7(あるいは試料5)に反射鏡を取り付けて公知のレーザ干渉計で精密に位置測定を行い、所定の位置(座標)に移動するようにしている。
表示手段16は、画像、パターン画像を表示したり、回転手段13で回転させた角度だけ逆方向に回転させたパターン画像を表示したりなどするものである(図2から図4参照)。
表示装置20は、画像、パターン画像などを表示するものである。
図2は、本発明の動作説明フローチャートを示す。
S11は、3σが所定値以下か判別する。YESの場合には、3σが所定値以下でエッジ座標の偏差が小さく、測定結果が信頼できると判明したので、終了する。NOの場合には、3σが所定値以上でエッジ座標の偏差が大きく、測定結果が信頼できないと判明したので、S12で走査間隔を狭める、又は、角度(回転角度)を変更し、S6以降を繰り返す。これは、ライン走査の間隔を狭めて回転させてパターンを横切る数を増加させてエッジの測定精度を向上させて3σを所定値以下になるようにしたり、又は、走査方向の角度が最適範囲になかったので回転角度を変更(10度変更、−10度変更、更にだめなときは20度変更、−20度変更と繰り返す)して3σが所定値以下になるようにする。
図3の(a)は、回転角度0°で矩形の1辺に平行となる近傍の走査線の例を示す。これは、マスク上の矩形のパターンの1辺に、回転角度0°(平行)で細く絞った電子線ビームを走査してそのときに放出された2次電子画像(ラインプロファイル)を検出する様子を示す。走査Aは矩形のパターンのほぼ辺上を走査する様子を示す。走査Bは矩形のパターンの内部を走査する様子を示す。
図4の(a)は、パターンと回転角度0°のときの走査線の方向の例を示す。
2:偏向系
3:検出器
4:試料室
5:試料
6:回転機構
7:ステージ
11:PC(パソコン)
12:位置合わせ手段
13:回転手段
14:測定手段
16:表示手段
17:設計データファイル
18:画像ファイル
19:測定結果ファイル
20:表示装置
21:入力装置
Claims (8)
- 検出対象のパターンのパターン画像を取得するパターン画像取得方法において、
検出対象のパターンと平行とならないようにビームの走査方向あるいは検出対象のパターンを回転させるステップと、
前記検出対象のパターンと平行とならないようにビームの走査方向が回転された状態で、当該パターンを異なる位置で横切る複数本の走査を行ってラインプロファイルを取得するステップと、
前記取得したラインプロファイルをもとに前記パターンのエッジ位置を検出するステップと
を有するパターン画像取得方法。 - 前記検出したパターンのエッジ位置をもとに当該パターンの輪郭線を算出するステップを有することを特徴とする請求項1記載のパターン画像取得方法。
- 前記回転として、前記ビームの走査方向を回転あるいは前記検出対象のパターンを回転させることを特徴とする請求項1あるいは請求項2記載のパターン画像取得方法。
- 前記回転として、ビームがパターンとの平行から10度以上回転させたことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のパターン画像取得方法。
- 前記算出したパターンの輪郭線の画像について、逆方向に同じ角度だけ回転させて表示することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載のパターン画像取得方法。
- 前記検出したパターンのエッジ位置あるいは前記輪郭線をもとに当該パターンの測長を行うことを特徴とする請求項1から請求項5記載のパターン画像取得方法。
- 前記回転させたときに、当該回転によってビームがパターンを横切る間隔がほぼ等しくなるように当該ビームの走査間隔を調整することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載のパターン画像取得方法。
- 検出対象のパターンのパターン画像を取得するパターン画像取得装置において、
検出対象のパターンと平行とならないようにビームの走査方向あるいは検出対象のパターンを回転させる手段と、
前記検出対象のパターンと平行とならないようにビームの走査方向が回転された状態で、当該パターンを異なる位置で横切る複数本の走査を行ってラインプロファイルを取得する手段と、
前記取得したラインプロファイルをもとに前記パターンのエッジ位置を検出する手段と
を備えたことを特徴とするパターン画像取得装置。
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JP2006009253A JP2007192594A (ja) | 2006-01-17 | 2006-01-17 | パターン画像取得方法およびパターン画像取得装置 |
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- 2006-01-17 JP JP2006009253A patent/JP2007192594A/ja active Pending
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