JP2007191362A - ダイヤモンド製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マイクロ波プラズマCVD法によって、ダイヤモンド基板上にダイヤモンド結晶を成長させる方法において、
CVD装置内に設置する基板支持体として、基板載置部が凹部によって形成され、凹部の深さがダイヤモンド基板の厚さと同一又はダイヤモンド基板の厚さ以下である支持体を用い、
該基板載置部におけるダイヤモンド基板の載置位置を調整することによって、ダイヤモンドの成長面の形状を制御するダイヤモンド製造方法、並びに、
使用するダイヤモンド基板の形状に応じて形成された基板載置部を有する基板支持体。
【選択図】図5
Description
A.Chayahara, Y.Mokuno, Y.Takasu, H.Yoshikawa, N.Fujimori, Diamond Relat. Mater. 13 (2004), 1954-1958 M. Kamo, Y.Sato, S. Matsumoto, N. Setaka, J. Crystal Growth 62 (1983), 642-644 T. Tachibana, Y. Ando, A. Watanabe, Y. Nishibayashi, K. Kobashi, T. Hirao, K. Oura, Diamond Relat. Mater. 10 (2001), 1569-1572 電気学会・マイクロ波プラズマ調査専門委員会編、「マイクロ波プラズマの技術」、オーム社発行、151〜152頁
1.マイクロ波プラズマCVD法によって、ダイヤモンド基板上にダイヤモンド結晶を成長させる方法において、
CVD装置内に設置する基板支持体として、基板載置部が凹部によって形成されている支持体を用い、
該基板載置部におけるダイヤモンド基板の載置位置を調整することによって、ダイヤモンドの成長面の形状を制御するダイヤモンド製造方法。
2. 基板支持体における基板載置部の凹部の深さがダイヤモンド基板の厚さと同一又はダイヤモンド基板の厚さ以下である、上記項1に記載のダイヤモンド製造方法。
3. ダイヤモンド基板の中央部のダイヤモンド成長速度と比較して成長速度を向上させる部分については基板側面と基板載置部の内壁面との間隔を0.5mm以上とし、ダイヤ
モンド基板の中央部の成長速度と同一又はそれ以下の成長速度とする部分については基板側面と基板載置部の内壁面との間隔を0.5mm未満とする、上記項1又は2に記載のダイヤモンド製造方法。
4. 基板載置部の平面形状がダイヤモンド基板の平面形状と相似形であり、基板載置部の各内壁面と、各内壁面に平行な基板側面との間隔を0.5mm以上とすることによって、ダイヤモンドの成長面の形状を凹状とする、上記項1又は2に記載の方法。
5. 基板載置部の平面形状がダイヤモンド基板の平面形状と相似形又は同一であり、基板載置の各内壁面と各内壁面に平行な基板側面との間隔を0.5mm未満とすることによって、ダイヤモンドの成長面の形状を平坦状又は凸状とする、上記項1又は2に記載の方法。
6. 上記項1〜5のいずれかの方法に用いられる基板支持体であって、使用するダイヤモンド基板の形状に応じて形成された基板載置部を有する基板支持体。
れた載置部用部材7bと外周縁部用部材7cとが分離した構造の基板支持体7であっても良い。
なり、端部8aの成長が抑制されて、成長面の形状は中央部が隆起した凸状となり、ダイヤモンド基板の側面8aと載置部の内壁面7dとの間隔が離れていると、ダイヤモンド基板端部8bの温度がダイヤモンド基板の中央部8cより高くなり、これにより端部8bの成長が中央部より大きくなって、成長面の形状は端部が隆起した凹状となるものと考えられる。
、主成長方向に対して垂直方向に対して成長面が拡大することができる。
図1に示す空洞共振器型の反応容器を有するマイクロ波プラズマCVD装置を用い、冷却ステージ6のほぼ中心に、図3に示した形状の基板支持体7を設置した。尚、以下の実施例では、図3及び図5に示した記号を用いて説明する。
板の載置部7aである凹部が設けられている。
部7fまでの距離である凹部の深さd2は0.5mmである。該外周縁部用部材7cは、底面の直径がそれぞれ20mmと12mmであり高さが9mmである円錐台の形状をしており、図に示す様
に直径12mmの同心円状の空洞を有する。
した。その後、圧力、H2ガス流量、N2ガス流量、およびマイクロ波電力を徐々に増大させて、それぞれ圧力を160 Torr(21.3 KPa)、H2ガス流量を500cc(標準状態)/分、N2ガ
ス流量を1.8cc(標準状態)/分に設定した。次いで、マイクロ波電力を1000-3000 Wの間で基板温度が1130 ℃になるよう設定した後、N2ガス流量を0.6cc(標準状態)/分
へと変化し、CH4ガス60cc(標準状態)/分を導入して定常的なダイヤモンド成長を
行った。
力、H2ガス流量、およびマイクロ波電力を徐々に減少させてマイクロ波電力を0にし、反
応容器を大気開放した後、成長した結晶を取り出した。
ダイヤモンド基板(種結晶)としては、高圧合成法によって得られた単結晶ダイヤモンド
を{100}面に対して平行に切り出し研磨して得た3×3×0.5mm3の板状結晶を使用した。
ダイヤモンド基板(種結晶)としては、高圧合成法によって得られた単結晶ダイヤモンドを{100}面に対して平行に切り出し研磨して得た2×2×0.5mm3の板状結晶を使用した。
と平行な載置部の内側面との距離が0.8mmとなる様に載置されている。
3 マイクロ波を伝搬させる導波管、 4 マイクロ波導入石英窓
5 空洞共振器型の反応容器、 5a 原料ガス導入口
5b 排気口、 6 内部に冷却水Wが通っている冷却ステージ
7 ダイヤモンド基板支持体、 7a 基板支持体の載置部
7b 基板支持体の載置部用部材 7c 基板支持体の外周縁部用部材
7d 載置部の内壁面 7e 載置部の底面
7f 載置部の内壁面の上端部
8 ダイヤモンド基板、 8a ダイヤモンド基板の側面、
8b ダイヤモンド基板の端部、 8c ダイヤモンド基板の中央部
9 ダイヤモンド成長部分
Claims (6)
- マイクロ波プラズマCVD法によって、ダイヤモンド基板上にダイヤモンド結晶を成長させる方法において、
CVD装置内に設置する基板支持体として、基板載置部が凹部によって形成されている支持体を用い、
該基板載置部におけるダイヤモンド基板の載置位置を調整することによって、ダイヤモンドの成長面の形状を制御するダイヤモンド製造方法。 - 基板支持体における基板載置部の凹部の深さがダイヤモンド基板の厚さと同一又はダイヤモンド基板の厚さ以下である、請求項1に記載のダイヤモンド製造方法。
- ダイヤモンド基板の中央部のダイヤモンド成長速度と比較して成長速度を向上させる部分については基板側面と基板載置部の内壁面との間隔を0.5mm以上とし、ダイヤモンド基板の中央部の成長速度と同一又はそれ以下の成長速度とする部分については基板側面と基板載置部の内壁面との間隔を0.5mm未満とする、請求項1又は2に記載のダイヤモンド製造方法。
- 基板載置部の平面形状がダイヤモンド基板の平面形状と相似形であり、基板載置部の各内壁面と、各内壁面に平行な基板側面との間隔を0.5mm以上とすることによって、ダイヤモンドの成長面の形状を凹状とする、請求項1又は2に記載の方法。
- 基板載置部の平面形状がダイヤモンド基板の平面形状と相似形又は同一であり、基板載置の各内壁面と各内壁面に平行な基板側面との間隔を0.5mm未満とすることによって、ダイヤモンドの成長面の形状を平坦状又は凸状とする、請求項1又は2に記載の方法。
- 請求項1〜5のいずれかの方法に用いられる基板支持体であって、使用するダイヤモンド基板の形状に応じて形成された基板載置部を有する基板支持体。
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